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【VLSI速報】バラつきの克服に向けたSRAM回路技術が

耐タンパディペンダブルVLSIシステムの開発・評価

自己修復機能を有する3次元VLSIシステムの創製

著書および学術雑誌等に発表したもの - Institute of Industrial Science

ディジタル回路設計の基礎

FinFET の高周波回路用の素子特性評価と E 級電力増幅器設計への応用

プロセスインテグレーション、デバイス

Annual Research Report Vol2(2010年度発行, PDF, 10.34MB)

(A ) V - 岩井・角嶋研究室

こちらからダウンロードください。 - 神戸大学大学院 システム情報学研究科
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