「第24回 日本NCSLI技術フォーラム」 プログラム

計測標準フォーラム　「第24回 日本NCSLI技術フォーラム」　プログラム
場所：東京都大田区産業プラザPiO　会場：4Fコンベンションホール
開催日：
受付開始：
2015年11月10日（火）
9：00～　4F コンベンションホール
後援： （国研）産業技術総合研究所
開　会　の　挨　拶
10：00-10：05 早川 和己　日本NCSLI会長 / （株）TFF フルーク社
講　演
10：05-10：55
講演[1]
ISO規格、JIS規格”量と単位”の最近の動向
ISO Standardization for "Quantities and Units"
田中　充　Mitsuru TANAKA
（国研）産業技術総合研究所　計量標準総合センター　NMIJ, AIST
ISO横断規格、JIS規格には”量と単位”があり、約６００個以上の測定量の名称、意味や単位を規定している。現在ISOでは数１０年振りの大幅改訂が進
行中、JISでもそれへの適合を図りつつある。多くの組立量のトレーサビリティーを考える上で一目触れておくことをお勧めしたい。本講演では、そのト
ピックを紹介する。
10：55-11：15 休 憩 、「展 示 会」
11：15-11：45
講演[2]
計測器が物流中の落下衝撃で受ける問題と解決へのアプローチ
Approach for Solution of Distribution Trouble of Measurement Instruments
川口　和晃　Kazuaki KAWAGUCHI
神栄テストマシナリー株式会社　Shinyei Testing Machinery Co., LTD.
計測機器は、その物流過程および使用環境の中で様々なハザードに遭遇し、それらが機器不具合の原因となる場合がある。ここでは、機械的ハザード
である落下・衝撃事象を取り上げ、これらに関する公的試験規格と試験装置の解説とともに、計測機器の不具合を未然に防止するための取り組みとし
て、製品設計強度向上、包装設計の改善、物流ハザード抑制からのアプローチ方法を紹介する。
11：45-12：15
講演[3]
自動校正の利点とISO17025から見た注意点と解決案
Advantage of Automated Calibration relating to ISO17025
久保田　忍　Shinobu KUBOTA
株式会社メビウス　Mebius Corporation
コンピュータ制御による自動校正の利点と、安定した状態での測定を保証する同期技術について説明する。また、自動校正ソフトウェアの実現例を示
し、ISO17025から見た注意点と、その解決方法の例を示す。
12：15-12：20 日本NCSLI　総会
12：20-14：00 休 憩　（昼 食）、　「展 示 会」
14：00-15：00
講演[4]
シリコンの同位体濃縮によるアボガドロ定数の精密測定
Accurate measurement of the Avogadro constant by isotope enrichment of silicon
藤井　賢一 Kenichi FUJII
（国研）産業技術総合研究所　計量標準総合センター　NMIJ, AIST
2014年に開催された国際度量衡総会においてキログラム、アンペア、ケルビン、モルの定義を将来改定することが決議された。キログラムの定義を改
定するために、産総研では同位体を濃縮したシリコン結晶によってアボガドロ定数を高精度化するための研究を行っている。最新のアボガドロ定数やプ
ランク定数などから導かれる基礎物理定数の推奨値、ジョセフソン定数やフォン・クリッツィング定数の推奨値などについて報告する。
15：00-15：30 休 憩 、　「展 示 会」
15：30-16：00
講演[5]
フルーク　赤外線カメラ　TiX1000シリーズの紹介とアプリケーション
Introduction and application of Fluke Infrared Camera TiX1000 series
村井　瑛二　Eiji MURAI
株式会社TFF　フルーク社　Fluke Japan
フルークから赤外線カメラTiX1000シリーズが昨年末発売となった。ハンドヘルドでは世界最高クラスの1024x768画素、フレームレート240 fps、2000 ℃ま
での高温測定、等の特徴を持ち、より高度な測定が可能となった。ここではTiX1000シリーズの特徴と、そのアプリケーションを紹介する（例「熱電対と
データロガーへの置き換え」など）。　さらにTiX1000シリーズに関わらず、フルークサーモグラフィーが活躍しているあらたな分野も合わせて紹介する。
16：00-16：30
講演[6]
表面汚染用サーベイメータの校正と不確かさ評価事例
Calibration of Surface Contamination meter, and Case Study on Uncertainty Evaluation
高島　誠　Makoto TAKASHIMA
（一財）日本品質保証機構　JQA
非密封線源（密封されていない放射性同位元素）は医療や生物学等さまざまな分野で利用されているが、扱う際には不要な汚染等が無いかの検査が
必要である。人体や物品等に放射性同位元素が付着していないか確認のための汚染検査には表面汚染用サーベイメータが用いられる。表面汚染用
サーベイメータは機器効率を定期的に校正し、品質管理を行っている。本講演では機器効率の校正方法および不確かさ評価について紹介する。
16：30-17：00
講演[7]
JEMICにおける磁気標準
The magnetic standard of JEMIC
野中 賢一　Kenichi NONAKA
日本電気計器検定所　JEMIC
日本電気計器検定所では，1965年より磁気標準に関する研究，開発及び標準供給業務を行ってきた。当所が実施している校正サービスには，直流磁
束密度，直流磁束及び交流磁束密度などがある。本稿では，校正原理や校正範囲について述べるとともにJCSS取得に向けた取り組みを紹介する。
17：10-18：40 懇 親 会
会場：4Fコンベンションホール
※講演プログラムは事前の予告なしに変更する場合があります。ご了承下さい。