計測標準フォーラム第11回講演会 「第22回 日本NCSLI技術フォーラム」 プログラ

計測標準フォーラム第11回講演会　「第22回
日本NCSLI技術フォーラム」　プログラム　（予定）
場所：東京都大田区産業プラザPiO　会場：4Fコンベンションホール 鶯 （奥側）
開催日：
受付開始：
2013年（平成25年）11月8日（金）
9：00～　1F 大展示ホール
後援： 計測標準フォーラム，（独）産業技術総合研究所
10：00-10：10
開　会　の　挨　拶　／　来 賓 者 挨 拶
杉山　喬、　計測標準フォーラム代表　／　多田　拓一郎、　経済産業省 知的基盤課長
10：10-10：50
基 調 講 演
計測標準フォーラム　基調講演　「科学計測とイノベーション」
会場：2F小展示ホール　※会場が異なりますのでご注意下さい
吉田 佳一 、(株)島津製作所　常務執行役員　技術基盤副担当　基盤技術研究所長
会場：2F小展示ホール　※会場が異なりますのでご注意下さい
11：00-11：05
日 本 N C S L I 技 術 フ ォ ー ラ ム　開　会　挨　拶
早川 和己　日本NCSLI会長 / （株）TFF フルーク社
講　演
11：05-11：35
講演[1]
国家標準級雷インパルス電圧測定システムの比較試験と測定の不確かさ
Comparison Test and Uncertainty of Measurement by National-standard Class Measuring System for Lightning Impulse voltage
日野　悦弘　Etsuhiro HINO
三菱電機（株）　Mitsubishi Electric Corporation
電力流通設備においては、製品の形式試験，受入試験等が各機器の規格で規定されており、雷撃などの異常電圧に対する絶縁強度検証を目的としてインパルス電圧を用いた高電圧
試験が実施される。試験結果の信頼性は試験電圧の測定精度に左右されるため、高電圧試験法に関するIEC規格では、直流・交流電圧と同様にインパルス電圧測定についても国家
または国際計量標準へのトレーサビリティ確保が規定されている。これらの状況を踏まえ、我が国の国家標準級雷インパルス電圧測定システムの開発状況ならびに本測定システムに
よる比較試験の実施状況を紹介する。
11：35-12：05
講演[2]
Phasor measurement unit (PMU)の概要とその校正
An overview of a phasor measurement unit (PMU) and its calibration
昆　盛太郎　Saytaro KON
（独） 産業技術総合研究所　計測標準研究部門　電磁気計測科　Electricity and Magnetism Division, NMIJ, AIST
Phasor Measurement Unit (PMU)はGPS等からの情報を用いて、設置地点ごとに同時刻の電圧フェーザ、電流フェーザなどのデータを収集し、電力網の状態監視を行う機器である。し
たがって、スマートグリッド技術においても重要な機器の一つとして注目されており、その設置台数は欧米・中国を中心に急速に増加している。このような事情から、PMUに関する計測ア
ルゴリズムや校正手法に関する研究開発が世界中で盛んに行われており、今後の動向を注視していく必要がある。そこで本講演ではPMUの概要と校正方法について紹介する。
12：05-12：10
12：10-13：20
13：20-13：50
日本NCSLI　総会
休 憩　（昼食）、　「展 示 会　・　ポスターセッション　1F 大展示ホール」
講演[3]
特許から見るフルーク・スーパーサーモメーターの紹介
Fluke Thermometer and its patents
川部　直人　Naoto KAWABE
（株）TFF　フルーク社　TFF Cooperation Fluke Company
標準白金抵抗温度計の読み取りにはブリッジが多く用いられてきている。フルークは以前よりブリッジに近い精度で、高い操作性も兼ね備えたスーパーサーモメーターを提案してきてい
る。近年、フルークでは長年の温度における測定技術の蓄積により、スーパーサーモメーターの測定回路の大幅な改善を行った。それらの新しい回路や機能については特許の申請お
よび取得を行っている。それら実際の測定回路を紹介しながら、製品の特長について紹介する。
13：50-14：20
講演[4]
酸化物分散強化白金熱電対（TEMPLAT）の特性
Thermocouples with Improved High-Temperature Creep Property by Oxide Dispersion Strengthening
浜田 登喜夫 ・ 山嵜 春樹 ・ 児玉 武臣 Tokio HAMADA ・ Haruki YAMASAKI ・ Takeomi KODAMA
田中貴金属工業（株）　Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K.
高温測定に使われるType R, S熱電対は、使用中にPt側でしばしば断線する。断線原因は様々であるが、かなりの割合としてPt線の高温Creep強度の低い事が挙げられる。高温Creep
強度を向上させる目的で、酸化物分散強化Ptを作製しType R熱電対のマイナス脚に適用した所、熱起電力はJIS（IEC）Class 1を満たし、高温Creep強度も純Ptの約一桁上の値が得ら
れた。なお本内容は"The 9th International Temperature Symposium (March 19-23,2012 Anaheim CA)" で発表済である。また概要は "まてりあ Vol.52 No.1 (2013)" にも掲載されてお
り、日本金属学会 第36回技術開発賞（2013年）を受賞した。
14：20-15：00
15：00-15：30
休 憩 、　「展 示 会　・　ポスターセッション　1F 大展示ホール」
講演[5]
高露点域での露点計校正
Measurement and Standard of High Dewpoint
浜　新一郎　Shinichiro HAMA
神栄テクノロジー株式会社　開発技術部　Shinyei Technology Co., Ltd.　/　R&D Division
昨今、工業炉や燃料電池分野などで使用される高露点域での露点計の校正の需要が増している。当社ではNMIJにおいて30 ℃～95 ℃DP（ jcss校正としては85 ℃DPまで）で校正され
た高露点用標準器と専用の発生装置を保有している。高露点測定では結露対策が困難で、高露点用標準器はサンプルガスの経路で結露が発生しないように内部を加熱・保温し、露
点計と流量計及び吸引ポンプが一体化したシステムとなっている。高露点域での校正方法、設備に関して紹介する。
15：30-16：00
講演[6]
触針式表面粗さ測定機の校正について
Calibration of contact instruments for measurement of surface texture
大淵　晴久　Haruhisa OFUCHI
（一財）日本品質保証機構　計量計測センター　JQA
一般財団法人 日本品質保証機構は2012年5月に触針式表面粗さ測定機の校正について米国試験所認定協会（A2LA）による認定を取得した。校正項目としてのパラメータは、算術平
均粗さRa、最大高さ粗さRz及び深さｄである。国内では初の触針式表面粗さ測定機校正の認定取得となる。本講演では認定取得に至った経緯や触針式表面粗さ測定機の校正手順、ト
レーサビリティ及び不確かさ評価について述べる。
16：00-16：30
講演[7]
測定リスクの管理と検査規格の適正化　～標準的な消費者リスクを考慮した測定システムによるリスク管理～
The management of the measurement risk and adequacy of the inspection specification.
～Risk management by the measuring system in consideration of a standard consumer’s risk.～
鶴　輝久　Teruhisa　TSURU
（株）村田製作所 生産本部　品質保証統括部　Murata Manufacturing Co., Ltd.
(株)村田製作所は、電子部品を多品種大量生産し、販売している。大量生産された製品を保証する上で、検査工程で製品規格内の良品と判定した消費者リスクは標準的な消費者リス
ク以下に保障されている必要がある。これを解決するために、検査工程の測定システムの消費者リスクと生産者リスクを求めるプログラムを開発した。生産ロットの平均値と標準偏差の
変動と測定システムの不確かさを考慮した、標準的な消費者リスク以下に設定できる測定システムのリスク管理と検査規格の適正化について述べる。
16：40-17：10
招　待 講 演
計測標準フォーラム　招待講演　「血漿中アミノ酸分析の臨床的意義と標準物質」
宮野 博 、味の素（株） イノベーション研究所 研究管理部 先端価値創造グループ長 兼 基盤技術研究所 分析応用研究グループ
会場：2F小展示ホール　※会場が異なりますのでご注意下さい
17：10-17：15
閉　会　挨　拶
三木　幸信、　（独）産業技術総合研究所 理事 兼 計量標準総合センター 代表
会場：2F小展示ホール　※会場が異なりますのでご注意下さい
※懇親会会場は4Fコンベンションホールとなります
17：30-19：00
懇親会
会場：4Fコンベンションホール