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Agilent T4010S LTE RFデザイン検証テスト・システム

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Agilent T4010S LTE RFデザイン検証テスト・システム
Agilent
T4010S LTE RFデザイン検証
テスト・システム
Technical Overview
概要
T4010S DV(デザイン検証)LTE RF
テスタは、Agilent T4010Sシリーズ
の自動LTE RFテスト・システムの
最新機種の1つです。RFパラメトリッ
ク検証用のテスト・ケースを簡単に
作成/カスタマイズして、独自のデ
ザイン検証環境を構築できるので、
新しいLTE UE
(ユーザ機器)のデザ
インの信頼性を高め、製品化までの
時間を短縮できます。
ベースバンド開発者やRFハードウェ
ア開発者のテスト・ニーズを考慮し
て設計された、カスタマイズ可能な
テスト・ソリューションなので、信
頼できる正確な測定結果を得ること
だけに専念できます。
A g i l e n t T4010S D V は、 3G P P
36.521-1テスト仕様に準拠した包括
主な特長
Agilent T4010S DVの主な特長を以
下に示します。
• すべてのハードウェア構成で
LTEで定義されている3 GHzまで
の全周波数バンドをサポート。
• 主要なLTEシグナリング/テスト
条件の設定パラメータにアクセス
して、RFテスト・ケースを作成/
カスタマイズできるので、3GPP
のコンフォーマンス・テスト仕様
の範囲外の設定でテストが可能。
• カスタム・テスト・ケースをテス
ト・ライブラリにパッケージ化し
て、社内のすべてのT4010S DV
LTEテスト・システムに配布でき
るので、再利用が容易。
• T4010S DVは、T4010S CTと同
じハードウェア構成とソフトウェ
ア・アーキテクチャをベースにて
いるので、コンフォーマンス要件
に完全にトレーサブル。
的なテスト・ケースを備えているた
め、LTE UEのデザインのプリコン
フォーマンス・テストをすぐに実行
できます。また、デザイン検証から
コンフォーマンス・テストへのアッ
プグレードも簡単で、すべてのハー
ドウェア・コンポーネントとほとん
どのソフトウェア・コンポーネント
を再利用できます。
• Agilentのテスト・システムの高
度なロギング機能により、L1 ∼
L3の実装の問題も非常に簡単に
デバッグ可能。
• 同一のテスト・カバレージで比較
すると、業界で最もコンパクトで
機 器 効 率 の 高 い ハ ー ド ウ ェ ア・
アーキテクチャ。これにより、運
用保守コストを削減可能。
• RF経路補正手順を自動化/
無人化。
• テスト・システムのUE自動化機
能を使用すれば、テスト・システ
ムを無人で操作でき、エンジニア
リング・リソースを削減。
• テスト・システムのレポート作成
機能を使用すれば、テスト結果に
直接アクセスできます。エクス
ポ ー ト 機 能 で は、 さ ま ざ ま な
フォーマット(html、CSV、XML
など)に対応可能。
T4010S DVを開発の初期段階で使用
すれば、デザインのRF特性を検証し、
プロジェクトの後半でコストのかか
る再設計や変更を回避することがで
きます。T4010S DVは、モジュール
方式で柔軟性が高いため、品質保証
や量産スクリーニングにも最適です。
Agilent T4010Sシリーズのテスト・
システムには、デザイン/検証に加
えて、LTE UEメーカ/テスト・ハ
ウス向けのT4010S CT
(コンフォー
マンス・テスト)
LTE RFテスタと
キャリア承認用バンド17 RF
Supplementaryが含まれています。
これにより、GCF/PTCRB検証済み
のテスト・プラットフォームを提供
し、3GPPで定義されているLTE RF
テストのコンフォーマンス・テスト・
ケースをすべて実行できます。
2
主な特長
UEの特性を評価するための
さまざまなRF測定手順
使いやすいテスト・ケース作成
環境
高度なデバッグ機能
T4010S DVは、規格や周波数バンド
に依存しないカスタマイズ可能なテ
スト手順をすべて備えています。こ
れらのテスト手順(テスト・メソッド)
は、LTE UEの特性評価に通常必要
な測定をすべてカバーしています。
T4010S DVの概念/開発の主な目的
は、カスタム・テストの作成に関連
する開発/検証作業からユーザを解
放することです。
T4010S DVは、包括的なロギング/
トレース機能を備えています。レイヤ
1からRRC/NASまでのすべてのレイ
ヤがトレース・ファイルに記録/保存
されます。機器の構成、測定手順、測
定結果に関する情報も記録されます。
使用可能なテスト・メソッドに関す
る情報を以下にリストします。
• パワー/パワー制御測定
• グローバル・インチャネル測定
• レシーバ測定
• レシーバ性能測定
• CQI/サブバンドCQI/PMIレポー
ト測定
• 占有帯域幅/スペクトラム・マス
ク/隣接チャネル漏洩電力測定
• ブロッキング/相互変調測定
これまでは、実装に関してコンフォー
マンス要件を上回るテストを行う必
要がある場合、ユーザが目標を達成
するためには、テスト機器メーカの
下位レベルのアプリケーション・プ
ログラミング・インタフェース
(API)
に頼るしかありませんでした。その
ため、選択したテスト・システムに
関する豊富な知識が必要になり、テ
スト機器メーカへの依存性が高く
な っ て い ま し た。Agilent T4010S
DVでは、一般的なテスト・メソッド
の概念を導入し、パラメータによっ
てテストの実行をカスタマイズする
ことができるようになっています。
Agilentは、LTE DVTのユーザを念
頭に置いて、非常に実用的なテスト・
ケース編集ツールを開発しました。
テスト・ケース作成ツール
(TCC)は、
コンフォーマンス要件を上回るテス
トを実行する際の時間とリスクを大
幅に低減する優れた編集/値検証機
能を備え、新しいテスト・ケースを
簡単に作成できるように設計されて
います。
3
レイヤ1の情報の記録機能は、UEベー
スバンド実装機能の開発者に特に有
用です。以下のような、L1に関する
重要な情報が記録されます。
• 各TTIのDCIコンテンツ
• 各TTIのPHICHコンテンツ
• 各TTIのUCIコンテンツ
• 各TTIのDL-SCH情報
• 各TTIのUL-SCH情報
主な特長(続き)
コスト・パフォーマンスの
高い汎用ハードウェア
Agilent T4010S DV は、 T2010A
LTE無線通信テスト・セットをベー
スに構築されています。この高性能
のMulti-RATネットワーク・エミュ
レータは、複数の機能を内蔵してい
ます。
• 3GPPで定義されているすべての
帯域幅およびバンド(3 GHzまで)
に 対 応 す るFDD LTE/TD-LTE
ネットワーク・エミュレータ。
• チャネル内測定用の内蔵LTE UL
シグナル・アナライザ。
• 実環境下でのレシーバ特性評価用
の内蔵マルチパス・フェージング・
チャネル・エミュレータ。
• 目 的 の 信 号 にAWGN、OCNG、
任意波形を付加することができる
内蔵干渉発生器。
T4010S DVは、これらの機能をすべ
て 備 え て い る の で、 包 括 的 なLTE
RFテスト機能をベンチトップ構成で
提供できます。
チャネル外測定が必要な場合でも、最
小限の機器を追加するだけで済みま
す。以下の測定器を追加するだけで、
T4010S DVのフル構成が可能です。
• 外部スペクトラム・アナライザ
(チャネル外UEトランスミッタ測
定用)。
• 外部CW信号発生器(レシーバ・ブ
ロッキング測定用)。
• Agilent T1250A Smart RFス
イッチング・ユニット
(上記のす
べての測定器とT2010A広帯域無
線テスト・セットおよびUEとの
相互接続用)。
T1250A Smart RFス イ ッ チ ン グ・
ユニットは、システム・コンポーネ
ント間の相互接続に対応できるだけ
でなく、RF信号のコンディショニン
グ/フィルタリング機能があります。
このため、システムに専用のフィル
タ・バンクが不要で、ハードウェア
を変更しなくても3 GHzまでのすべ
ての周波数バンドに対応する共通の
ハードウェア・プラットフォームを
実現できます。
他社のLTE RFテスト・システムと
比べて、T4010S DVは、最もコンパ
クトで機器効率の高いテスト・プラッ
トフォームです。このため、保守/
校正コストの削減が可能で、最小限
の消費電力で動作します。また、設
置に必要な面積もわずかです。
4
3GPPのコンフォーマンス要件に
直接トレーサブル
Agilent T4010S DVは、LTE RFテ
スト用のAgilent GCF/PTCRB検証
済 み の テ ス ト・ プ ラ ッ ト フ ォ ー ム
(GCF/PTCRBプラットフォーム番
号95)、T4010S CTと同じハードウェ
ア/ソフトウェア・プラットフォー
ムをベースにしたものです。
このため、カスタム開発のテスト・
ケースが3GPP要件に最大限に適合
する保証が得られ、製品の認証前か
ら認証までのリスクを低減できます。
同じプラットフォームにコンフォー
マンスとデザイン検証のソフトウェ
ア・バージョンを同時にインストー
ルして、それらを切り替えることも
できます。
主な特長(続き)
優れたRF測定確度と再現性
包括的なテスト・システム
自動化機能
LTEテクノロジーは、測定確度と不
確かさに関して、テスト・プラット
フォームに厳しい要件を課していま
す。コンフォーマンス・テスト仕様
では、1 dBを大幅に下回る確度/不
確かさが一般的です。
Agilent T4010S DVは、自動化を考
慮して設計されています。単独でも
動作できるので、生産性を最大限ま
で向上できます。
ATコマンドを使って、被試験UEを
T4010S DVテスタは、最高レベルの
確度と不確かさを実現します。これ
は、テスト・システムのアーキテク
チャを変更し、信号処理手法を一新
し、テスト・システムの構成要素の
数を減らし、RF経路の補正ルーチン
を自動化してテスト・システムへの
オペレータの影響を最小限に抑える
ことによって実現しています。
自動制御するようにテスト・システ
ムを設定できます。さらに、UE固有
の非標準コマンド・セットを使用で
き る よ う に、T4010Sを 設 定 す る こ
ともできます。
RF経路補正ルーチンの自動化によっ
て、作業が完全に自動化され、テスト・
システムのオペレータが不要になり
ました。T4010Sシリーズは、RF経
路補正ルーチンがこれまで以上に高
速です。さらに、システムの保守が
容易になり、ダウンタイムの低減が
できるという点でも、性能が大幅に
向上しています。
図1. 解析結果
(表形式ビュー)
図2. プロトコル解析
(MSCビュー)
5
さらに、UEの自動制御をカスタマイ
ズしたい場合には、UEを自動制御す
る際に使用しているAPIが公開され
ているので、独自のUEドライバを開
発して、テストを自動化することも
できます。
T4010S DVは、電源や気候室などの
補助装置も自動制御できるので、極
限条件のテストも完全に無人化でき
ます。
システム・コンポーネント
Agilent T4010SシリーズのLTE RF
テスタには、2種類のハードウェア構
成(DVとCTの両方のバージョンに共
通)があります。
ベンチトップ構成
ス ケ ー ラ ビ リ テ ィ は、T4010Sの 最
大の特長の1つです。さまざまなニー
ズに容易に適合できるように、2種類
のベンチトップ構成が用意されてい
ます。
1台 のAgilent T2010A LTE無 線 通
信テスト・セットでは、レシーバの
性能テストやCSIテストはもちろん、
UEトランスミッタ/レシーバのチャ
ネル内特性などのテストが可能です。
帯域外測定(スプリアス・エミッショ
ン、ACLR、OBW、SEMなど)が必
要な場合、ワンボックス・ソリュー
シ ョ ン にN9020A MXAとT1250A
RFスイッチング・ユニットを追加す
ることで、より対応範囲の広いベン
チトップ構成に容易にアップグレー
ドできます。
フル・テスタ構成
測定器の種類を減らして1つのラック
に収納した構成です。すべてのUEの
RF特性をテストでき、ベンチトップ
構成でサポートされている一連のテ
ス ト に 加 え て、ACS、ACLR、
OBW、帯域内/帯域外ブロッキング、
相互変調、トランスミッタ/レシー
バのスプリアス・テストが可能です。
1.6 mのラック
1×N9020A MXA
1×T2010Aユニット
オプション1×
E66311B DC PSU
1×T1250A RF
スイッチング・
ユニット
T2010Aユニット
1×E8257D CW SG
6
ユーザ・インタフェース
Agilent T4010S DVには、テスト・
ケースの開発/カスタマイズからテ
ストの実行、結果の解析まで、テスト・
サイクル全体をサポートする使いや
すいソフトウェア・ツール・セット
が付属しています。
テスト・ケース作成ツールには使いや
すいグラフィカル・ユーザ・インタ
フェース
(GUI)が搭載され、T4010S
DVを使用してフル・カスタマイズの
テスト・ライブラリを作成して、後
でT4010Sシステムに無制限に配布
することができます。
実行する測定の種類
(パワー、EVM、
BLERなど)に応じて使用するテス
ト・メソッドを選択するだけで、設
定可能なパラメータがすべて表示さ
れます。
テスト・ケース作成ツールにはグルー
プ化やフィルタリングなどのさまざま
な編集機能があるため、単一のテスト・
ケースに対して、バンド、帯域幅など、
数千のステップを簡単に作成すること
ができます。この他にも、
入力パラメー
タの種類/範囲の検証、3GPP仕様に
準拠して設定された値の有効性の確
認、各種パラメータのループをベース
にしたステップの自動作成などの機能
を追加できます。
図3. テスト・ケースのカスタマイズ
テスト・ライブラリを作成したら、
実 際 の テ ス ト を 実 行 で き ま す。
Agilentが開発、デバッグ、統合した
テスト・メソッドをカスタマイズす
るだけなので、テストの作成から実
行までほとんど時間はかかりません。
デバッグ時間も不要です。
図4. テスト・プランの作成
7
ユーザ・インタフェース(続き)
ドラッグ・アンド・ドロップの簡単
な操作で、実行するテスト・ケース
を選択できます。このテスト・シー
ケンスをカスタム・テスト・プラン
として保存して、後で再利用するこ
ともできます。
簡単なダイアログ・ボックスで設定
した値に基づいて、周波数バンド、
チャネル帯域幅、特定の周波数チャ
ネル、極限条件でのテストの設定が
テスト・システムに自動的に設定さ
れます。
さらに、一部のパラメータを変更し
てテストを実行する必要がある場合
には、プロジェクト管理ツール内の
テスト・キャンペーン編集ウィンド
ウから変更できます。テスト開発者
がこの段階で編集に使用するパラ
メータを管理することができます。
最後に、UEの自動制御、電源/気候
室の管理、自動テストの再試行に関
連するパラメータも、テスト・シス
テムのオペレータが設定することが
できます。これらはT4010S DVシス
テム固有の機能ではなく、Agilentの
ほとんどの製品に共通の機能です。
テスト完了後、テスト・システムの
データ解析ツール(テキスト表示とグ
ラ フ ィ ッ ク 表 示 の 両 方 )を 使 っ て、
RF測定結果を簡単に処理することが
できます。結果をさまざまなフォー
マットでエクスポートして、すべて
の関係者と簡単にデータを共有でき
ます。
図5. 解析結果
(グラフィック・ビュー)
図6. プロトコル解析
(表形式ビュー)
8
T4010S DVに付属しているトレース
/ログ解析ツールを使用すれば、メッ
セージ・デコード機能を含む数種類
の デ ー タ・ ビ ュ ー
( ロ グ、 表 形 式、
MSCなど)によって、相互運用性の
問題を簡単に特定できます。
T4010S移動機テスト・アプリケーション
Agilent T4010S LTE移動機テスト・
ア プ リ ケ ー シ ョ ン(T4010S-MTA)
は、LTE対応UE用の究極の開発ツー
ルです。
T4010S- MTAテスト・アプリケー
ションは、T2010A LTE無線通信テ
スト・セット上で動作し、UEおよび
チップセットの開発者向けに、ベン
チトップLTEネットワーク・エミュ
レータ、マルチパス・フェージング・
エミュレータ、アップリンク・シグ
ナル・アナライザの機能を提供しま
す。RF開発に必要な機能を1台の測
定器に統合しています。
また、T4010S-MTAは、nonsignaling動作モードでの柔軟な信号
生成/解析手法により、LTE UEの
開発の早い段階でのコンポーネント・
テストから統合フェーズまでサポー
トしています。
9
T4010S-MTAでは、HARQフィード
バックに基づいたレシーバ測定も可
能です。内蔵チャネル・エミュレー
タとの組み合わせにより、完全なレ
シーバ特性評価テスト・スイートを
ベンチ測定器で実現できます。
T4010S移動機テスト・アプリケーション(続き)
LTE UEレシーバ測定
強力なLTE ULシグナル・
アナライザ機能
MTAは、測定中にUEをネットワー
クから切断せずに、セル・パワー・
レベル、AWGN、マルチパス・フェー
ジング・エミュレーション、アンテ
ナ相関を変更でき、レシーバ性能解
析とベンチマーク測定に最適です。
またMTAでは、UEから測定レポー
ト(RSRPおよびRSRQ)とチャネル・
ステート情報(CSI)を報告させてそ
の正確さを測定することもできます。
リモート制御および自動化機能
T4010S-MTAはSCPIイ ン タ フ ェ ー
T4010S-MTAには、高度な信号解析
機能(チャネル・パワー、コンスタレー
ション、スペクトラム・フラットネス、
CCDFなど)を備えたULシグナル・
アナライザが内蔵されています。ユー
ザは基準測定チャネルを容易に変更
でき、シグナル・アナライザは自動
的に設定を変更して、LTE対応UEか
ら送信される信号の品質を適切に解
析します。
10
スからリモート制御でき、システム
のリモート制御と自動化が可能です。
付録1. 技術仕様
3GPP LTE eNodeBトランスミッタ
周波数バンド
FDD
バンド1、2、3、4、5、7、8、9、10、11、12、13、14、17、18、19、20、21、23、24、25、26、27
TDD
バンド33、34、35、36、37、38、39、40、41
帯域幅
1.4、3、5、10、15、20 MHz
サイクリック・プレフィックス
ノーマル、拡張
搬送波間隔
15 kHz
コネクタの出力レベル範囲
TX
−110 ∼ 0 dBm
TX/RX
−110 ∼−7 dBm
出力レベル分解能
0.1 dB
MIMO構成
2×2、4×2
3GPP LTE eNodeBレシーバ
周波数バンド
入力レベル・レンジ
FDD
バンド1、2、3、4、5、7、8、9、10、11、12、13、14、17、18、19、20、21、23、24、25、26、27
TDD
バンド33、34、35、36、37、38、39、40、41
+26 ∼−50 dBm
11
付録2. オーダ情報
オプション
概要
T4010Sハードウェア・オプション
T4010S-H01
T4010S LTE RFベンチトップ・ワンボックスH01
T4010S-H02
T4010S LTE RFベンチトップH02
T4010S-H10
T4010S LTEフル・コンフォーマンスRFテスタ
T4010S-H11
T4010S LTEフル・コンフォーマンス/補助RFテスタ
T4010Sプラットフォーム・ソフトウェア・オプション
T4010S-SOP
T4010S LTE RFオペレーション・ソフトウェア・パッケージ
T4010S-DRV
T4010S LTE RF外部測定器ドライバ・パッケージ
T4010S-TCC
T4010S LTE RF DVテスト・ケース作成ツール
T4010S-MTA
T4010S LTE移動機テスト・アプリケーション
T4010S DVソフトウェア・オプション
T4010S-D00
FDDパワー/パワー制御測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D01
FDDグローバル・インチャネル測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D02
FDDレシーバ測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D03
FDDレシーバ性能測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D04
FDD CQI/サブバンドCQI/PMIレポート測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D05
FDD OBW/スペクトラム・マスク/ACLR測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D06
FDDスプリアス測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D07
FDDブロッキング測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D08
FDD Rel-9レシーバ性能測定テスト・メソッド・パッケージ(バッチ1)
T4010S-D09
FDD rel-9レシーバ性能測定テスト・メソッド・パッケージ(バッチ2)
T4010S-D50
TDDパワー/パワー制御測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D51
TDDグローバル・インチャネル測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D52
TDDレシーバ測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D53
TDDレシーバ性能測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D54
TDD CQI/サブバンドCQI/PMIレポート測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D55
TDD OBW/スペクトラム・マスク/ACLR測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D56
TDDスプリアス測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D57
TDDブロッキング測定テスト・メソッド・パッケージ
T4010S-D58
TDD rel-9レシーバ性能測定テスト・メソッド・パッケージ(バッチ1)
T4010S-D59
TDD rel-9レシーバ性能測定テスト・メソッド・パッケージ(バッチ2)
T4010S LTE 10776 R1 Supplementaryオプション
T4010S-AT1
LTE 10776 R1 Supplementary帯域内テスト・ケース(バッチ1)
T4010S-AT2
LTE 10776 R1 Supplementary帯域外テスト・ケース(バッチ1)
T4010S-AT3
LTE 10776 R1 Supplementary帯域内テスト・ケース(バッチ2)
T4010S-AT4
LTE 10776 R1 Supplementary帯域外テスト・ケース(バッチ2)
T4010Sサポート・オプション
T4010SC
T4010S LTE RFテスタ年間サポート契約
12
www.agilent.co.jp
www.agilent.co.jp/find/systems
www.agilent.co.jp/find/T4010S
Agilent Advantage Services
myAgilent
myAgilent
http://www.agilent.co.jp/find/myAgilent
www.agilent.co.jp/find/AdvantageServices
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ントの修理・校正サービスの総称です。
Agilent Electronic Measurement Group
契約販売店
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DEKRA Certified
ISO 9001:2008
Quality Management System
Sys
www.agilent.co.jp/quality
アジレント契約販売店からもご購入頂けます。
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SIG, Inc.が所有する登録商標であり、Agilent
Technologies, Inc.にライセンスされています。
LTEロゴおよびLTE-Advancedロゴは、ETSIの商
標です。
その他のAgilentテスト・システム
Agilentのテスト・システムは、以下のような幅広い無線テク
ノロジーに対応したソリューションが用意されています。
• Bluetooth®
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• UMTS、HSPA
アジレント・テクノロジー株式会社
本社〒 192-8510 東京都八王子市高倉町 9-1
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受付時間 9:00-18:00(土・日・祭日を除く)
TEL ■■ 0120-421-345
(042-656-7832)
FAX ■■ 0120-421-678
(042-656-7840)
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記載事項は変更になる場合があります。
ご発注の際はご確認ください。
© Agilent Technologies, Inc. 2013
Published in Japan, November 22, 2013
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