平成24年度機器活用セミナー(ものづくりFS支援事業)一覧

2012/12/6
平成２４年度機器活用セミナー(ものづくりFS支援事業)一覧
番
号
1
コース名
(対象機器名)
X線マイクロアナライザー装置の測定原理と応用
(X線マイクロアナライザー装置)
セミナー内容
募集
人数
（人）
開催日
（時間数）
技術交流館に新たに導入した『X線マイクロアナライザー装置』の機器紹介を行いま
す。本装置において、加速した電子線を物質試料の微小領域（おおよそ1μm3）に照射
し、放出される特性X線から、試料の微小領域における構成元素と各構成元素の比率
（濃度）を求めることができ、固体の試料をほぼ非破壊で分析することが可能です。
コンピュータによる制御や測定データ処理により、単純な元素の定性分析・定量分析
以外にもカラーマップと呼ばれる面分析など、分析や評価を支援する多彩な機能が盛
り込まれています。本セミナーでは、技術の基礎と活用事例の紹介、および、導入さ
れた実機と簡単なデモ測定を見学していただきます。
講義：20
2月
(　/日×　日間)
講義・見学
：20
実習：5
3月19日(火)
(5時間/日×1日間)
講義・見学
：20
実習：5
12月12日(水)
(6時間/日×1日間)
技術交流館に新設に伴い更新されました『X線光電子分光分析（XPS）装置』の機器紹
介を行います。本装置は、固体試料にX線を照射することにより表面から数nm程度の深
さから放出される光電子のスペクトルを測定し、表面の組成や化学結合状態を評価す
る装置です。また、各種イオン銃を用いた深さ方向分析や紫外光電子分光分析も可能
となっています。本セミナーでは、XPS装置の基礎と活用事例の紹介、および、導入さ
れた実機の見学と、実機を用いた実習（デモ）を行います。
技術交流館に新たに導入した『反射分光膜厚計』の機器紹介を行います。本装置は、
紫外領域から可視領域の広い波長範囲での光干渉法により、非破壊・非接触で、薄膜
の屈折率や消衰係数などの光学定数と膜厚とを求めることが可能です。本セミナーで
は、反射分光膜厚計の基礎と活用事例の紹介、および、導入された実機と簡単なデモ
測定をご見学いただきます。
2
X線光電子分光分析（XPS）測定の基礎と応用
(X線光電子分光分析装置)
3
薄膜の膜厚測定と光学特性評価
(反射分光膜厚計)
4
高分子材料の形態観察及びその前処理技術
(ミクロトーム)
フィラー充填系高分子材料やポリマーブレンド・ポリマーアロイなどの各種顕微鏡に
よる形態観察事例や観察手法についての講義を行います。また、技術交流館に新たに
導入した『ミクロトーム』の見学実習ならびにこの装置を用いた超薄切片の切削や面
出しなどの観察用試料の作製に関する実習を行います。
5
ラピッドプロトタイピング技術の基礎と実習
(ラピッドプロトタイピングマシン)
講義・実
ラピッドプロトタイピング（ＲＰ）の基礎講義およびラピッドプロトタイピングマシ
習：午前・
ン（樹脂噴射式の３次元プリンタ）を用いた実習を行います。
午後で各5
6
技術交流館に新たに導入した『レーザ回折式粒子径分布測定装置』の機器紹介を行い
ます。粒子にレーザ光を照射すると、その粒子の大きさに応じて様々な方向へ回折・
散乱光が発せられます。本装置は、これらの光の回折・散乱強度分布を解析して粒度 講義・見学
：20
レーザ回折散乱法による粒子径分布の測定原理と応用 分布を求める装置で、湿式と乾式の両方での測定が可能です。測定範囲は、17nmから
2500μmにおよび、測定時間も短く、リアルタイムでの粒子径分布の変化も監視できる 実測(デモ)
(レーザ回折式粒子径分布測定装置)
：5
ため、種々の粉末の粒度分布測定に対応可能です。本セミナーでは、粒子径測定技術
の基礎と活用事例の紹介、および、導入された実機と簡単なデモ測定を見学いただき
ます。
1月28日(月)
(4時間/日×1日間)
7
技術交流館に新たに導入された『集束イオンビーム加工装置』の機器紹介を行いま
す。本装置は、電場で加速したガリウムイオンビームを細く絞り、試料の表面をス
パッタリングにより微細加工するもので、金属材料、セラミックス材料、高分子材料 講義・見学
：50
などの固体材料を、ナノ領域からミクロン領域にわたって断面加工、あるいは、薄片
化加工が可能です。本セミナーでは、集束イオンビーム加工装置の基礎と活用事例の
紹介、および、導入された実機と簡単なデモ操作を見学いただきます。
1月下旬
(3時間/日×1日間)
集束イオンビーム加工装置の紹介
(集束イオンビーム加工装置)
担当部所
(お問合せ先)
講義・見学
2月上旬
材料技術部
：30
(6.5時間/日×1日間) (TEL: 078-731-4492)
実習：6
12月18日(火)
(3時間×2回
(午前・午後)）
2012/12/6
番
号
コース名
(対象機器名)
セミナー内容
募集
人数
（人）
開催日
（時間数）
担当部所
(お問合せ先)
12月13日(木)
(4時間/日×1日間)
材料技術部
(TEL: 078-731-4492)
8
透明導電膜の電荷輸送特性評価
(電気電子特性評価装置)
透明導電膜は、ガラスのように透明で、かつ金属のように電気を通す薄膜で、いま注
目されている太陽電池、LED（発光ダイオード）、有機EL素子などには必須の材料で 講義・見学
：20
す。今回新たに導入した『電気電子特性評価装置』は、透明導電膜などのキャリア濃
度や移動度といった電荷輸送特性を評価することが可能です。本セミナーでは、電気 実測(デモ)
：5
電子特性評価装置の基礎と活用事例の紹介、および、導入された実機と簡単なデモ測
定を見学いただきます。
9
触感に関する物性計測関連機器のご紹介
(摩擦感測定装置、迅速熱伝導率計)
樹脂、ゴムなどの有機材料を対象にした摩擦感測定装置、迅速熱伝導率計のご紹介を
行います。材料の触感を評価するために、摩擦係数を測定できる摩擦感測定装置と、
迅速に熱伝導率を測定する迅速熱伝導率計について機器の測定原理と使用方法につい
てそれぞれのメーカー担当者よりご説明します。また工業製品の触感評価の事例につ
いてご紹介いただきます。
講義・見学
：20
実測(デモ)
：5名ずつ
未定
(4時間/日×1日間)
10
構造解析システム ―最新のCAD/CAM/CAEの紹介―
(構造解析システム)
構造解析システムとして導入したCAD/CAM/CAEのソフトウェア（SolidWorks、Marc及び
CAM-TOOL）についての概要説明とモデル作製・解析事例等を紹介します。
講義・見学
：20
1月25日(金)
(3時間/日×1日間)
講義・見学
：15
1月22(火)
(2時間/日×1日間)
モーションキャプチャを活用した事例紹介、さらには工業技術センターデザイン評価
デザイン評価開発室の紹介
11 (デザイン評価開発システム(モーションキャプチャ、 室の見学（デモンストレーション）を行います。デザイン評価室では、モーション
キャプチャとアイマークレコーダを用いて、製品のユーザビリティ評価が行えます。
アイマークレコーダ))
ものづくり開発部
(TEL: 078-731-4487)
マイクロX線CTスキャナーによる内部構造の観察
12
(マイクロX線CTスキャナー)
本装置では、物体を回転させながらＸ線を照射し、撮影した透過画像を合成すること
によって内部構造を非破壊で立体的に表示することができます。複雑な形状の製品や
部品の内部欠陥を精度良く検査でき、微少な欠陥や異物、剥離などの検出および解析
に利用できます。本講演では、X線CT装置の原理等について紹介し、実際のCT像の撮影
を見学いただきます。
講義・見学
：15
2月
(4時間/日×1日間)
紫外レーザ加工
13
(紫外レーザ加工装置)
技術交流館に新たに導入された『紫外レーザ加工装置』の機器紹介を行います。本装
置は、波長266nmと355nmの紫外レーザ光をレンスで集光し、金属材料、セラミックス
講義・見学
材料、高分子材料などの固体材料をを微細に除去加工することができます。本セミ
：10
ナーでは、紫外レーザ加工装置の基礎と加工事例の紹介させていただき、導入した
『紫外レーザ加工装置』と簡単なデモ加工を見学していただきます。
3月
(4時間/日×1日間)
イオンクロマトグラフの紹介
14
(イオンクロマトグラフ)
技術交流館に新設に伴い導入されました『イオンクロマトグラフ』の機器紹介を行い
ます。本セミナーでは、イオンクロマトグラフの基礎と簡単なデモ操作を見学いただ
きます。
講義・見学
：5
実測(デモ)
：5
未定
(3時間/日×1日間)
液体クロマトグラフ質量分析装置の紹介
15
(液体クロマトグラフ質量分析装置)
技術交流館に新設に伴い導入されました『液体クロマトグラフ質量分析装置（リニア
イオントラップ型LC-MSn）』の機器紹介を行います。本セミナーでは、液体クロマト
グラフ質量分析装置の基礎と活用事例の紹介および簡単なデモ操作を見学いただきま
す。
講義・見学
未定
環境・バイオ部
：10
実測(デモ) (4.5時間/日×1日間) (TEL: 078-731-4195)
：5
技術交流館に新設に伴い導入されました『ガスクロマトグラフ質量分析装置（四重極
GC-MS）』の機器紹介を行います。本セミナーでは、ガスクロマトグラフ質量分析装置
の基礎と活用事例の紹介および簡単なデモ操作を見学いただきます。
講義・見学
未定
：10
実測(デモ) (4.5時間/日×1日間)
：7
16
ガスクロマトグラフ質量分析装置の紹介
(ガスクロマトグラフ質量分析装置)
2012/12/6
番
号
コース名
(対象機器名)
セミナー内容
募集
人数
（人）
開催日
（時間数）
担当部所
(お問合せ先)
環境・バイオ部
(TEL: 078-731-4195)
17
全窒素測定装置の紹介
(全窒素測定装置)
技術交流館に新設に伴い導入されました『全窒素測定装置』の機器紹介を行います。
本セミナーでは、全窒素測定装置の基礎と活用事例の紹介および簡単なデモ操作を見
学いただきます。
講義・見学
：10
実測(デモ)
：7
未定
(6時間/日×1日間)
18
フローサイトメーターの紹介
(フローサイトメーター)
技術交流館に新設に伴い導入されました『フローサイトメーター』の機器紹介を行い
ます。本セミナーでは、フローサイトメーターの基礎と活用事例の紹介および簡単な
デモ操作を見学いただきます。
講義・見学
：10
実測(デモ)
：5
未定
(4時間/日×1日間)
未定
未定
MEMS
19 (MEMSデバイス化検査システム、MEMS描画システム、
MEMS露光システム)
電子機器・部品特性測定システム
20
(電子機器・部品特性測定システム)
21
サーモグラフィ
(光計測システム)
光スペクトラムアナライザ
22
(光スペクトラムアナライザ)
23
未定
技術交流館に新設に伴い設置されました『電子機器・部品特性測定システム』の機器
紹介を行います。本セミナーでは、オシロスコープ、発信器、高抵抗計、ミリオーム 講義・見学
メータについて、測定技術の基礎の座学ののち、新設機器の仕様、機能、活用事例を
：5
紹介を行い、実機によるデモを見学いただきます。
未定
(3時間/日×2日間)
技術交流館に新設に伴い設置されました『光計測システム』のうち、サーモグラフィ
の機器紹介を行います。本セミナーでは、サーモグラフィによる２次元熱分布測定の
基本と機器の活用事例の紹介の後、実機でのデモを見学いただきます。
講義・見学
：5
未定
(3時間/日×1日間)
技術交流館に新設に伴い設置されました『光スペクトラムアナライザ』の機器紹介を
行います。本セミナーでは、光スペクトラムアナライザによる発光素子のスペクトル 講義・見学
：5
測定、光フィルタなどの受動部品の減衰・透過特性測定の基礎と機器の活用事例の紹
介の後、実機でのデモを見学いただきます。
未定
(3時間/日×1日間)
蛍光Ｘ線式膜厚計および塩水噴霧試験機の概要と活用
蛍光Ｘ線式膜厚計および塩水噴霧試験機の原理と事例紹介を行う。
(蛍光Ｘ線式膜厚計、塩水噴霧試験機)
講義・見学
3月
：5
(2.5時間/日×1日間)
情報技術部
(TEL: 078-731-4328)
機械金属工業技術
支援センター
(TEL: 0794-82-0026)
兵庫県立工業技術センター