テクトロニクス／ケースレー イノベーション・フォーラム大阪 2013

μVからGHzまで
開催日
11月26 日
（火）
テクトロニクス／ケースレー
イノベーション・フォーラム大阪 2013
今年のフォーラムは、高効率電源の評価、
ノイズの特定／解析、さらに高速シリアルやメモリ・システム設計などにおける
さまざまな課題にフォーカスし、最新の技術動向や最新のソリューション、活用事例をご紹介いたします。また、本年より
ケースレーインスツルメンツによる講演も加え、パワーデバイス、太陽電池、有機材料などの評価も含めました。7月に東
京で開催したテクトロニクス・イノベーション・フォーラムの人気セッションを最新情報にアップデートしてご紹介します。
開催要項
日　時
2013年11月26日
（火）10:00 -17:00
ソリューション展示：11:50-17：20
開催場所
新大阪ブリックビル 3F
大阪府大阪市淀川区宮原1丁目6番1　入場無料
（JR 新大阪駅西口より 徒歩3分、地下鉄御堂筋線 新大阪駅1番出口より 徒歩2分）
http://lasante-brick.jp/brick/brickbld.html
お申込み方法
事前登録制： http://tektronix-seminar.jp
※登録サイトオープンは、2013年9月26日(木)より
■ JR東海道線：新大阪駅　西口出口より　徒歩３分
■ 地下鉄御堂筋線：新大阪駅　1番出口より　徒歩2分
プログラムは裏面をご覧ください
TIF大阪ではセミナとあわせてソリューション展示に力を入れております。昨年比2倍の展示会場をご用意して、
皆様のご来場をお待ちしております。裏面にセッション内容、展示概要を掲載しておりますので、
ご参考になさって
ください。
パートナー企業様の展示も充実しております。
テクトロニクス／ケースレー
イノベーション・フォーラム大阪 2013
プログラムのご紹介
高速シリアル・伝送路・DDR
時間
∼
10:00
10:50
∼
B-1
高速シリアル・インタフェース物理層はこう測る：基本編（∼2.5Gbps） 車載LANの技術動向と計測ソリューション
畑山 仁
宮崎 強
A-2
B-2
高速シリアル・インタフェース物理層はこう測る：上級編（3Gbps∼）
最新ディスプレイ・インタフェース規格動向と計測ソリューション
畑山 仁
脇本 雄太
11:00
11:50
電源・ノイズ・基本計測
A-1
昼食（11:50∼13:00）
∼
13:00
A-3
B-3
高効率スイッチング電源の評価技術
最新のワイヤレス通信（IEEE802.11ac/ad）の
測定課題と測定技術
宮崎 強
14:00
A-4
B-4
電力測定の基礎と応用
EthernetやUSB2.0インタフェースの評価手法
宮崎 強
脇本 雄太
∼
13:50
14:50
岡田 信孝
∼
15:10
16:00
∼
16:10
17:00
A-5
B-5
高速・広帯域通信時代の最新ノイズ計測技術
電圧、電流、抵抗測定の誤差要因と対策
岡田 信孝
宮尾 豊
A-6
B-6
複雑なメモリ測定を簡単に！ 最新DDRメモリのコンプライアンス試験 パワーマネージメントICの特性評価
宮本 純一
高橋 誠
展示コーナのご紹介
会場内では、最新の計測ソリューションの展示・デモンストレーションのほか、当社エンジニアが直接ご質問、ご相談を承ります。
Tektronix／Keithley
コーナ名
外部企業様
製品展示概要
高速シリアル・
インタフェース
高速シリアル規格のデバッグ、
コンプライアンス・テスト
イーサネット
USB2.0
Ethernet及びUSB2.0インタフェースの
評価ソリューション
DDR
MSO70000Cを使ったメモリ測定
無線LAN
最新無線LAN規格に対応したRF品質測定
ノイズ解析
制御信号の時間相関によるノイズ源の特定
スイッチング
電源解析
最新のパワーアナライザと
電源解析アプリケーション
自動車関連計測
PA4000、Wifi、eDP、HDMI、車載イーサネット、
MOST150（仮）
Keithley
材料・デバイスの最新DC特性評価装置
出展社名
製品展示内容
アルティマ
FPGAで実現！映像系高速シリアルI/F
ATEサービス
TDR/iConnect、SDLAビジュアライザ
アポロウェーブ
DCからRF信号まで対応可能な
マニュアルプローバとプローブカード
アリオン
HDMIやUSBなどの規格テスト・サービスのご紹介
アイチップス
DDR SDRAM JEDEC規格コンプライアンスの
受託測定のご紹介
林栄精器
ロボットによる自動EMIスキャン・システム、
iSight（ビデオ・デモ）
汎用
設計／テストでの効率をUPする基本計測器
ディスプレイ
eDPやMHLなど内部／外部のディスプレイIFの計測
パルテック
Xilinx VCXO リムーバルソリューション
計測コンシェルジュ
修理、校正から測定手法、プローブの選択、
コンプライアンス・テストなど、計測に関するご質問、
お困りごとについて何でもご相談ください！
セレブレクス
高精細ディスプレイパネル内
シリアルインターフェース Cool Pepper®
フルーク
1台でオシロスコープとDMMの校正が可能な
マルチプロダクト校正器
※敬称略・社名順不同
プログラムについては変更される可能性がありますのでご了承下さい。 ■ お申込み時にご登録いただいたメールアドレスに受講票をお送りします。
■ 同業他社の方のお申込みについては、参加をご遠慮いただく場合がございますのでご了承下さい。
■ www.tektronix.com/ja www.keithley.jp
テクトロニクス／ケースレーインスツルメンツお客様コールセンター
TEL: 0120-441-046 電話受付時間／9：00∼12：00・13：00∼18：00（土・日・祝・弊社休業日を除く）
〒108-6106 東京都港区港南2-15-2 品川インターシティB棟6階
記載内容は予告なく変更することがありますので、あらかじめご了承ください。
Copyright © Tektronix, Keithley Instruments. All rights reserved. TEKTRONIXおよびTEKは、Tektronix Inc.の登録商標です。
KEITHLEYは、Keithley Instruments, Inc.の登録商標です。記載された製品名は、各社の商標又は登録商標です。
2013年9月