品質保証・分析 - 高純度化学研究所

High Purity Materials
KOJUNDO CHEMICAL LABORATORY CO.,LTD
株式会社
高純度化学研究所
品質保証・分析
■ 品質保証部門
【Quality
Assurance
Division】
■ 品質保証体制
【Quality
Assurance
System 】
■ 主な分析機器
【Major
Analytical
Equipment】
Quality Assurance & Analysis
品質保証部門
Quality Assurance Division
当社品質保証部門は、品質保証部の元に品質保証課、検査課、分析課で構成され、当社の品質保証体制を支えています。
Our Quality Assurance Division (consists of three sections: Quality Assurance Section, Quality Inspection Section and Quality
Analysis Section) is supporting the quality assurance system of our products.
品質保証体制
Quality Assurance System
当社は、「技術革新の源は高純度材料にあり」をモットーに多種多様な有機材料、無機材料、合金、セラミック
ス、液体ソース等の幅広い高純度技術に挑戦し、その研究、開発、製造、サービスなどを長年にわたり展開して
います。
品質については、1998年にISO9002を取得しました。2003年にはISO9001（2000年版）へ更新し、品質保証体
制を強化するなど、お客様から高い信頼をいただけるよう努めています。
また環境活動の一環として、ISO14001を取得し、法規制順守はもちろんのこと、環境負荷の低減、リサイクルの
推進などを通して地球環境の保全活動にも参画しています。
当社では製品の品質を保証するために、品質マネジメントシステムの確立とともに、「高純度」を確認保証するた
めの分析力の充実を図っています。 種々広範な分析機器を設備し、経験豊富な分析技術者により高精度な分析
力でお客様のご要望にお応えできる体制を整えています。
Under our motto of “High-Purity materials always bring technical innovation,” we have
challenged a wide range of the advanced technologies such as various organic or inorganic
materials, metal alloys, ceramics and liquid sources and also we have expanded its research
and development as well as its production and service over a long period of time.
We obtained the ISO9002 certification in 1998 and renewed it in 2003 in accordance with the
new standard ISO9001: 2000. We are making best efforts to establish relationship of trust with
our customers including the improvement of our quality assurance system.
Furthermore, we obtained ISO 4001 certification as a part of environmental practice and are
actively participating in environmental conservation activities including regulatory compliances,
further reduction of the environmental burdens and promotion of recycling activities.
To guarantee the quality of our products, not only establishing the quality management system,
we are also conducting the analytical improvements in confirming high-purity products. Our
division is equipped with up-to-date analytical instruments and maintains high-accuracy
analysis by experienced technicians to meet a wide variety of requests from our customers.
主な分析機器
Major Analytical Equipment
ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析装置）
Inductively Coupled Plasma Mass Spectroscopy (ICP-MS)
ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析装置）は高温アルゴンプラズマ中に試料を噴霧し、
イオン化された元素を質量分析する高感度無機元素分析装置です。その測定濃度範囲は
ppb からppt 濃度領域に及びます。 当装置はマトリックスに強い多原子イオン干渉の除去を
目的としたオクタポールリアクションセルシステムを搭載した装置です。
ICP-MS is a supersensitive analyzer of inorganic elements and it mists
high-temperature argon plasma with a sample and measures the mass of
an ionized element. Its measured concentration ranges from ppb to ppt and
it is equipped with the matrix and Octupole Reaction System (ORS) to
denucleate polyatomic ion interference.
ICP-AES（誘導結合プラズマ発光分光分析装置）
Inductively Coupled Plasma Analyzer of
Emission Spectroscopy (ICP-AES)
ICP-AES（誘導結合プラズマ発光分光分析装置）は励起源は ICP-MSと同じですが、励
起された光を分光器により分光し、そのスペクトルを測定する装置です。 光の波長は元素特
有であり、また光の強度はその元素の量に比例することから高感度な定性・定量が出来る装
置です。ダイナミックレンジが 4 ∼ 5 桁におよび多元素同時に定量出来るという特徴を持って
います。
ICP-AES is equipment that has mostly same excitation origin as ICP-MS,
but it disperses the excitation light by a spectroscope and measures its
spectrum. Wavelength of the light is particular to each elements and high
sensitive analyze of its quality and quantity is possible because the strength
o the light is proportional to the quantity of elements. Its dynamic range is a
4 to 5 digit and also it is able to analyze with other elements at same time.
原子吸光光度計
Atomic Absorption Spectrophotometer (AAS)
原子吸光光度計は原子状の蒸気が金属固有の波長の光を吸収する特徴を用いてその吸収
量を測定する無機元素測定装置です。
当装置はバックグラウンドの補正に原子化部に磁場をかけるゼーマン補正を利用しています。
またフレーム分析とグラファイト炉分析を切り替えて一台で行えるタンデム原子吸光光度計です。
Atomic Absorption Spectrophotometer is measuring equipment of inorganic
elements which measures the absorbed amount by a specific characteristic
that atomic vapor absorbs light of metal-specific wavelength. It utilizes
Zeeman-effect background correction and also it is a tandem spectrometer
that is able to complete both of frame analysis and graphite furnace
analysis by just switching back and forth.
GD-MS（グロー放電質量分析装置）
Glow Discharge Mass Spectrometry (GD-MS)
GD-MS（グロー放電質量分析装置）はグロー放電による Ar スパッタリングによりイオン化
された元素を（二重収束型）質量分析計により測定する高感度多元素分析装置です。 当
装置は導電性試料を溶液化することなく直接測定することが出来るので前処理不要です。
またスパッタリングしながら測定していくため、深さ方向の元素分析も可能です。
GD-MS is a supersensitive analyzer of multielement. An ionized element by
Ar sputtering of grow discharge is analyzed by using a (double-focusing)
mass spectrometry. Even conductive sample is available directly without
putting it into solution; therefore there is no necessary preparation for this
analysis. Additionally in-depth analyze of a sample is possible since it is
measured with the sputtering.
酸素窒素分析装置
Oxygen / Nitrogen Analyzer
He 気流中でサンプルを黒鉛るつぼに入れ大電流を流すと電気抵抗により急速に加熱され、
サンプルは熱分解され酸素は COとして、窒素は N2としてキャリアガスによって運ばれます。
これを酸素は赤外線検出器で、窒素は熱伝導度検出器で測定しそれぞれの濃度に換算して
定量します。
Putting a sample into a graphite crucible in the helium stream and applying
the high current heat it heated rapidly by its electric resistance and
pylolyzed. During the pyrolysis, oxygen as CO and nitrogen as N2 are
carried to each carrier gas. After this, an infrared sensing device measures
CO and a thermal conductivity detector measures N2, and the
determination quantity will be completed by converting each figure to its
equivalent concentration.
電位差滴定装置
Potentiometric Titrator
電位差滴定は容量分析法の一種であり、電極電位の変化と滴定量とで滴定曲線を作成し
滴定の終点を求める方法です。これをオートビュレットを用い自動的に行うのがこの装置です。
当社では銀電極を用い塩素量の定量分析を行っています。
Potentiometric titration is one of volumetric analysis methods and finds the
titration end-point by a titration curve reflecting the change of electric
potential and the titer. Using auto buret, our equipment is able to achieve
this automatically and we are using this method for the quantitative analysis
of chlorine by using silver electrode.
FE-SEM（フィールドエミッション走査電子顕微鏡）
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
SEM は電子線を試料に照射した際に発生する二次電子線を検出して表面状態を観察する
装置です。 当装置は電界放射型（FE）で電子線を細く絞っても充分な輝度が得られるため、
汎用型（タングステンフィラメント使用）に比べ高分解能観察が可能です。また付属のエ
ネルギー分散型の X 線分析装置により試料表面の微小領域における元素分析（マッピング）
が可能です。
Scanning Electron Microscope is a type of electron microscope capable of
producing high-resolution images of a sample surface by secondary
electrons generated during a sample is irradiated by electron beam. Since
this equipment is a field emission type and high-brightness can be obtained
even with a very narrow electro beam, high resolution images are available
compared with a multipurpose type (tungsten filament use). Furthermore, its
accessory, an energy dispersive X-ray analyzer, makes it possible to realize
the elemental mapping of microscopic region of the sample surface.
レーザー回折／散乱式粒度分布測定装置
Laser Diffraction Particle Size Distribution Analyzer
粒子にレーザー光を照射したときに空間的に回折／散乱現象が起こり、光強度分布パター
ンが生じます。これは照射された粒子の大きさに依存しています。 粒度分布とは測定全粒
子の複合パターンからFraunhofer 回折理論及び Mie 散乱理論を用いた理論的な計算によ
り粒径の分布を求めるものです。この方式は測定時間が短く、再現性に優れていて操作が
簡単であるなどの特徴を持っています。
Diffraction or scattering phenomenon occurs spatially and the light intensity
distribution is appeared when a particle is irradiated by a laser beam, and it
varies depending on the size of the irradiated particle. Particle size
distribution can be obtained by the theoretical calculation utilizing combined
patterns of all measured particles, Fraunhofer Diffraction Theory and Mie
Scattering Theory. This method is highly reproducible and easy to operate
as well as rapid measurement is available.
XRD（粉末X線回折装置）
Powder X-ray Diffraction (XRD) Equipment
X 線の回折現象を利用し、粉末状の結晶もしくは多結晶体の情報を得る装置です。 サンプ
ルからの回折された X 線の角度と強度を測定することにより、サンプルの定性・定量分析を
始めとする材料評価・解析等を行うことが出来ます。
This equipment uses X-ray diffraction to provide information about
powdered crystal or polycrystalline substances in a sample. By measuring
an angle and an intensity of diffracted X-ray, material evaluation and
analysis including qualitative or quantitative of a sample are possible.
■ 分析料金表 Analysis price list
分析項目 Analysis
原子吸光定量分析
Atomic absorption determination
ICP分析
ICP analysis
螢光 X 線定性分析
Fluorescent X-ray analysis
X線回折定性分析
X-ray diffraction qualitative analysis
料金／円 Price (yen)
1試料1成分につき
One constituent in one sample
試料調製料1試料につき
Sample preparation for one sample
5,000 ∼
1試料1元素につき
One element in one sample
試料調製料1試料につき
Sample preparation for one sample
5,000 ∼
5,000 ∼
5,000 ∼
チャートのみ1試料につき
Chart only for one sample
解析料1試料につき
Analysis of one sample
15,000
チャートのみ1試料につき
Chart only for one sample
解析料1試料につき
Analysis of one sample
15,000
15,000
15,000
電子顕微鏡走査型
Scanning electron microscopy
1試料につき
Analysis of one sample
23,000
粒度分布
Grain size analysis
1試料につき
Analysis of one sample
15,000
1試料につき
Analysis of one sample
10,000
ラジオフレックス
（X 線透過写真）
Radioflex
(X-ray transmission photography)
Quality Assurance & Analysis
株式会社
高純度化学研究所
High Purity Materials
KOJUNDO CHEMICAL LABORATORY CO.,LTD
【本社・営業部】
埼玉県坂戸市千代田5丁目1番28号
〒350-0284
Tel. 049（284）1511㈹ Fax. 049（284）1351
【Head Office】
1-28, Chiyoda 5-chome, Sakado, Saitama,
〒350-0284 JAPAN
Tel. 049-284-1511 Fax. 049-284-1351
【大阪支店】
大阪市中央区南船場1丁目11番23号
ダイジェスト南船場ビル
〒542-0081
Tel. 06（6264）1230 Fax. 06（6264）1254
【Osaka Office】
Digest Minami-Senba Building, 11-23,
Minami-Senba 1-chome, Chuo-ku, Osaka,
〒542-0081 JAPAN
Tel. 06-6264-1230 Fax. 06-6264-1254