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MELQIC 設計事例集

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MELQIC 設計事例集
お問合せは下記へどうぞ
本社機器営業部…………… 〒10 0 - 8310
北海道支社………………… 〒060-8693
東北支社…………………… 〒 980 - 0011
福島支店…………………… 〒963-8002
関越支社…………………… 〒330-6034
新潟支店…………………… 〒950-8504
神奈川支社………………… 〒 2 20 - 8118
北陸支社…………………… 〒 920-0031
中部支社…………………… 〒450-8522
豊田支店…………………… 〒471- 0 034
関西支社…………………… 〒530-8206
中国支社…………………… 〒730-8657
四国支社…………………… 〒760-8654
九州支社…………………… 〒810 -8686
三菱データ収集アナライザ
三菱データ収集アナライザ
〒100-8310 東京都千代田区丸の内2丁目7番3号
(東京ビル)
東京都千代田区丸の内2丁目7番3号(東京ビル)………………………………(03)3218- 6760
札幌市中央区北二条西4丁目1(北海道ビル)……………………………………(011)212- 379 4
仙台市青葉区上杉1-17-7(仙台上杉ビル)………………………………………(022)216-4546
郡山市駅前2-11-1(ビッグアイ)…………………………………………………(024)923-5624
さいたま市中央区新都心11番地2(明治安田生命さいたま新都心ビル ランド・アクシス・タワー34F)…(048)600-5835
新潟市中央区東大通2-4-10(日本生命ビル)…………………………………(025)241-72 27
横浜市西区みなとみらい2-2-1(横浜ランドマークタワー)……………………(045)224-2624
金沢市広岡3-1-1(金沢パークビル)……………………………………………(076)233-5502
名古屋市中村区名駅3-28-12(大名古屋ビル)…………………………………(052)565-3314
豊田市小坂本町1-5-10(矢作豊田ビル)………………………………………(0565)34 - 4112
大阪市北区堂島2-2-2(近鉄堂島ビル)…………………………………………(06)6347-2771
広島市中区中町7番32号(ニッセイ広島ビル)…………………………………(082)248-5445
高松市寿町1-1-8(日本生命高松駅前ビル)……………………………………(087)825-0055
福岡市中央区天神2-12-1(天神ビル)……………………………………………(092)721-2247
三菱電機システムサービス株式会社
北日本支社……………………………
北海道支店…………………………
東京機電支社…………………………
神奈川機器サービスステーション…
関 越 機 器サービスステーション…
新 潟 機 器サービスステーション…
中部支社………………………………
北陸支店……………………………
静岡 機 器サービスステーション…
関西機電支社…………………………
京滋 機 器サービスステーション…
姫 路 機 器サービスステーション…
中四国支社……………………………
四国支店………………………………
倉 敷 機 器サービスステーション…
九州支社………………………………
長崎機器サービスステーション……
〒 984-0042
〒 004- 0041
〒108 - 0022
〒 224-0053
〒338-0822
〒 950-8504
〒4 61- 8 675
〒 920 - 0811
〒422- 8058
〒 5 31- 0 076
〒 612- 8444
〒 670-0836
〒732- 0802
〒760 - 0072
〒 712- 8 011
〒 812- 0 0 07
〒850-8652
仙台市若林区大和町2-18-23………………………………………(022)238 -1761
札幌市厚別区大谷地東2-1-18………………………………………(011)8 9 0 -7515
東京都港区海岸3-19-22(三菱倉庫芝浦ビル)……………………(03)3454-5521
横 浜 市 都 筑 区 池 辺 町 3 9 6 3 -1… … … … … … … … … … … … …(045)938-5420
さいたま市桜区中島2-21-10………………………………………(048)859-7521
新潟市中央区東大通2-4-10(日本生命ビル6F)……………………(025)241-7261
名古屋市東区矢田南5-1-14…………………………………………(052)722-7601
金沢市小坂町北255…………………………………………………(076)252-9519
静岡市駿河区中原877-2……………………………………………(054)287-8866
大阪市北区大淀中1-4-13……………………………………………(06)6458-9728
京都市伏見区竹田田中宮町8番地…………………………………(075)611- 6 211
姫路市神屋町6-76……………………………………………………(07 9)2 81-1141
広島市南区大州4-3-26………………………………………………(082)28 5 -2111
高松市花園町1-9-38…………………………………………………(087)831-3186
倉敷市連島町連島445-4……………………………………………(086)448-5532
福岡市 博多区東 比恵3 -12-16……………………………………(092)483-8208
長崎市丸尾町4番4号…………………………………………………(095)818- 0700
MELFANSwebのFAランドでは、
ソフトウェアアップデートのダウンロードサー
ビスがご利用いただけます。
FAランドのID登録
(無料)
が必要です。
三菱電機FA機器電話技術相談
対象機種
MELQIC
IU2シリーズ
※土・日・祝祭日、春期・夏期・年末年始の休日を除く通常業務日
電話番号
受付時間※
079-298-9440
月曜∼金曜 9:00∼17:00
安全に関するご注意
本カタログに記載された製品を正しくお使いいただくため
ご使用の前に必ず「マニュアル」をお読みください。
JZ990C39301B
(MEE)
この印刷物は2010年8月の発行です。
なお、
お断りなしに仕様を変更することがありますのでご了承ください。
2010年8月作成
設計事例集
サービスのお問合わせは下記へどうぞ
三菱データ収集アナライザ
設計事例集
三菱データ収集アナライザ システムパートナーのご紹介
INDEX
モータ検査装置
M E LQ I C をご 使 用され た 検 査 装 置 のシステムやソフトウェアの 構 築 をご 希 望 の 場 合、下 記 のシステム
パートナーを 紹 介 いたします。
﹁ パソコンの 検 査 ではメンテが 不 安 だ ⋮ ﹂
東日本営業所……………………………………… 〒102-0073 東京都千代田区九段北1-13-5(日本地所第一ビル)………(03)3288-1108
基板検査装置
田町支所………………………………………… 〒108-0073 東京都港区三田3-13-16(三田43MTビル15階) ……………(03)5484-6755
中日本営業所……………………………………… 〒450-0002 名古屋市中村区名駅3-14-16(東洋ビル)…………………(052)565-3435
西日本営業所……………………………………… 〒530-0003 大阪市北区堂島2-2-2(近鉄堂島ビル)………………………(06)6347-2969
老朽化したパソコンベースの検査装置や
データ収集アナライザ、三菱
中国営業グループ………………………………… 〒730-0037 広島市中区中町7-41(三栄第一ビル)………………………(082)248-5390
専用の検査装置に代わる、
九州営業所………………………………………… 〒810-0001 福岡市中央区天神4丁目1-7(第3明星ビル)………………(092)721-2202
の
《MELQIC》
。 システム技術相談 電話番号(079)297-9544 FAX番号(079)297-4421
圧力センサ検査装置
﹁ 専 用 の 検 査 機 を 導 入 す る 予 算 は ない⋮ ﹂
1.三菱電機エンジニアリング株式会社
2.三菱電機コントロールソフトウェア株式会社
ソリューション事業部 営業第1部…………… 〒108-0074 東京都港区高輪3-26-33(秀和品川ビル6F)………………(03)5798-2288
三菱データ収集
アナライザ
3.三菱電機システムサービス株式会社
ソリューション事業部 営業第2部…………… 〒553-0003 大阪市福島区福島7-15-26(大阪YMビル6F) ……………(06)6454-2001
北日本支社
(機 電 営 業 課)………………〒984-0042 仙台市若林区大和町2-18-23…………………………………(022)236-3818
北海道支店 (機 電 営 業 課)………………〒004-0041 札幌市厚別区大谷地東2-1-18…………………………………(011)890-7515
東京機電支社 (システム部)…………………〒108-0022 東京都港区海岸3-19-22………………………………………(03)3454-1561
中部支社
(機電部機電システム課)……〒461-8675 名古屋市東区矢田南5-1-14……………………………………(052)722-7603
北陸支店
(機 電 営 業 課)………………〒920-0811 金沢市小坂町北255……………………………………………(076)251-0559
関西機電支社 (システム部)…………………〒531-0076 大阪市北区大淀中1-4-13………………………………………(06)6454-0191
中四国支社
(機電システム課)……………〒732-0802 広島市南区大州4-3-26…………………………………………(082)285-2112
四国支店
(機 電 営 業 課)………………〒760-0072 高松市花園町1-9-38……………………………………………(087)831-3186
九州支社
(機電部 機電営業 課)………〒812-0007 福岡市博多区東比恵3-12-16(東比恵スクエアビル)……(092)483-8208
産業システムセンター(システム営業課)……………〒108-0022 東京都港区海岸3-19-22………………………………………(03)5484-3612
(システムエンジニアリング部)…〒461-8675 名古屋市東区矢田南5-1-14……………………………………(052)722-8711
安全にお使いいただくために
これまで検査工程には専用のFA製品がなく、パソコンベースの検査装置や、専用の検査装置
に頼っているのが現状でした。
しかし、パソコンベースのものはOS環境のトレンドに左右され、
また専用機は非常に高価なことがネックとなっていたのです。
●本製品は一般工業製品の検査・データ収集を対象とした汎用品として設計・製作されたもので、
公共への影響、
人命や財産
への影響が大きい機器あるいはシステムに用いられる部品や製品の検査・データ収集を目的に設計、
製造されたものではあり
ません。
●本製品を原子力用、
電力用の機器あ
るいはシステムなど特殊用途に用いられる部品や製品の検査
・データ収集へ適用をご検
OS環境に左右されない
検査デ−タを
統合化ソフトウェアで
討の際には、
当社の営業担当窓口までご照会ください。
ソフトウェア
品質管理に有効活用
開発効率アップ
●本製品は厳重な品質管理体制の下に製造しておりますが、
本製品の故障・不具合により重大な損失または事故の発生が予
測される部品や製品の検査・データ収集への適用に際しては、
バックアップやフェールセーフ、
自己診断の機能をシステム的に設
パソコンベースの検査装置と異なり、
OS環
置して
ください。検査データを分析・加工、ネットワークに連動 Windowsベースの統合化プログラミングソ
●本導入事例の掲載内容は、
すべての状況下において動作を保証しているものではありません。
そこで開発されたのが、三菱のデータ収集アナライザ《MELQIC》。
境のトレンドに左右されないソフトウェアであ
検査内容に最適なプログラムにより、作業効率を一気に向上。製造ラインのタクトタイムを
●本導入事例を利用する
ことによって生じ
た如何なる損害も
当社は補償をいた
しません。
短縮。グラフィ
カルプログラミングにより、開
不良率の算出)
が可能
ることも大きなメリット。長期にわたるサポー
ト つき、平均値の推移、
大幅に短縮します。これまでの検査装置に代わる、FAラインのための新しいユニットです。
も安心、耐久性・信頼性にも優れています。
して集計・解析
(検査データの統計処理、
ばら
フトウェア「IU Developer」で、開発期間を
●本導入事例は、
MELQIC本体のプログラムを行う際の基本的な考え方や具体的なプログラミングの一例を示したものです。
です。品質管理に有効に活用できます。
発効率とメンテナンス性が格段に向上します。
商標、登録商標について
Microsoft, Windows, Visio, Excelは、
米国Microsoft Corporationの米国およびその他の国における登録商標または商標です。
VxWORKS, TORNADOは、
Wind River Systems,Incの登録商標です。
SH4は、
ルネサスエレクトロニクス株式会社の登録商標です。
その他の会社名や商品名は、
それぞれの会社の商標または登録商標です。
3
INDEX
モータ検査装置
基板検査装置
圧力センサ検査装置
アナライザ
﹁ パソコンの 検 査 ではメンテが 不 安 だ ⋮ ﹂
専用の検査装置に代わる、
の
《MELQIC》。
OS環境に左右されない
ソフトウェア
検査デ−タを
品質管理に有効活用
統合化ソフトウェアで
開発効率アップ
パソコンベースの検査装置と異なり、OS環
検査データを分析・加工、
ネットワークに連動
Windowsベースの統合化プログラミングソ
境のトレンドに左右されないソフトウェアであ
して集計・解析
(検査データの統計処理、
ばら
フトウェア「IU Developer」で、開発期間を
ることも大きなメリット。長期にわたるサポート
つき、平均値の推移、不良率の算出)
が可能
短縮。グラフィカルプログラミングにより、開
も安心、耐久性・信頼性にも優れています。
です。品質管理に有効に活用できます。
発効率とメンテナンス性が格段に向上します。
3
プログラミングの流れ
三菱データ収集アナライザMELQIC IU2シリーズにおいてはIU Developerにより
プログラムを作成します。
IU Developerは、MELQIC IU2シリーズ専用のアプリケーション開発環境です。
プログラム作成、デバッグ、ユーザ画面作成から装置のドキュメント作成までをグラフィカルな操作性で実現します。
IU Developerは、マイクロソフト社製「Microsoft® Visio® Professional/Standard Version2002/2003/2007」
のCOMアドイン・アドオン機能を使い、Visio上で動作するソフトウェアです
IU Developerの機能
区 分
作成データ
初期設定
コンフィグレーション
フローチャート
プログラム
説 明
MELQIC本体に装着した増設ボードのシステム設定やデバイス割付けをします。
全体の処理の流れと実行するプログラムステップを記述します。
BLD(ブロックダイアグラム)
FB(ファンクションブロック)
を使って処理内容を記述します。
表形式
CSV形式で記述された測定条件や判定基準で動作させます。
ユーザインタフェース
画面プログラム
ドキュメント
図面作成
MELQIC本体の液晶表示部に表示するユーザ画面を作成します。
ドキュメントページを使って、装置図などを作成します。
MELQIC IU2シリーズのプログラムはフローチャートを上位
として階層化されています。
各階層には、同じ階層のプログラムとその下位のプログラムが
記述できます。
上位階層
下位階層
フローチャート
BLD
表形式
装置開発手順
装置 仕様書作成
1
初期設定(コンフィグレーション)
2
フローチャート作成
モニタリング, デバッグ
NO
完成?
YES
3
表形式プログラム作成
4
信号処理・データ演算
印刷(作成したデータのプリント)
5
表示画面デザイン
ファイリング
IU2へ転送
4
6
7
装置図など図面作成
終 了
IU Developerによるプログラミングの流れ
1 初期設定(コンフィグレーション)
MELQIC本体に装着した増設ボードのシステム構成やI/O割付けなどを
グラフィカルで直感的な画面操作で効率的に行うことができます。
また、
デバイスや増設ボードのI/Oにタグをつけプログラム作成時にタグを
活用することができます。
タグは自由に変更することや一括で登録するこ
とも可能です。
コンフィグレーション結果はシステム構成図としてドキュメント化することが
できます。
2 フローチャート
全体の処理の流れをフローチャート方式で記述します。
フローチャート方式の各ステップには、BLD(Block Diagram)、表形式
が使用できるため、
処理内容やユーザの開発環境に応じた方式でプロ
グラムが記述できます。
3 表形式プログラム
一般的な表作成ソフトウェアなどで作成したCSV形式の判定値ファイル
をプログラムとします。MELQIC本体はこのプログラムをインタプリタで
実行します。
(左画面は、
マイクロソフト社のExcelを使った例です)
5
プログラミングの流れ
IU Developerによるプログラミングの流れ
4
信号処理・データ演算
あらかじめ用意されたFB(Function Block)を使いドラッグ&ドロップでプ
ログラミングします。
完成したプログラムは機能ブロックにより組み立てられた可視性の高いド
キュメントとして扱うことができます。
FBは基本用FBと、各増設ボードに対応する応用FBが用意されています。
処理内容に適したFBを組合わせることにより、複雑なプログラムも最小
限の開発工数で完成します。
1msタイマ割り込みTINTのプログラムもFBでプログラミングできます。
5
表示画面デザイン
本体に装備されている液晶表示部に表示するユーザ画面を作成します。
画面の作成は、
あらかじめ用意された表示部品をドラッグ&ドロップするこ
とで容易に行うことができます。
6
モニタリング、デバッグ
IU Developerのプログラムチェックとモニタ機能を用いて行います。
プログラムチェックは、
フローチャートの断線チェックや設定したパラメータ
の整合性チェックなどを行います。
モニタには、
フローチャートの進行に自動追従しモニタスクロールする機
能やFBの接続端子の値をモニタ表示する機能のほか、
デバイスの値を
表示するデバイスモニタや本体動作の処理時間をモニタするタスクモニ
タがあります。
また、表形式ではステップ実行でデバッグできます。 7
装置図など図面作成
ドキュメント専用のページを追加し、Visioの標準機能を用いて装置図な
どの図面を作成します。
これによりプログラムと装置のドキュメントを同一プロジェクト内で一括管
理することができます。
IU DeveloperにはMELQICを使用したシステムの構成図や装置のドキ
ュメント作成に便利なマスタシェイプが用意されています。
また、作成したプログラムの空き部分に、
プログラムとは関係のないコメン
トや図表などを差し込むことができます。
6
安全上のご注意
(ご使用の前に必ずお読みください)
データ収集アナライザの取付け,運転,保守・点検の前に、必ずこの取扱説明書および他関連する機器の
付属書類をすべて熟読し、正しくご使用ください。機器の知識,安全の情報、そして注意事項のすべてに
ついて習熟してからご使用ください。
この取扱説明書では、安全に関する注意事項のランクを
として区分してあります。
取り扱いを誤ったばあいに、危険な状況が起こりえて、死亡または重傷を受ける可能性が想
定されるばあい。
取り扱いを誤ったばあいに、危険な状況が起こりえて、中程度の傷害や軽傷を受ける可能
性が想定されるばあい、および物的損害だけの発生が想定されるばあい。
なお、
に記載した事項でも、状況によっては重大な結果に結びつく可能性があります。
いずれも重要な内容を記載していますので、必ず守ってください。
また、製品に付属している取扱説明書は必要なときに取り出して読めるよう大切に保管すると共に、必ず最
終需要家までお届け頂きますようにお願いいたします。
1.設計上の注意
● 外部電源の異常、MELQIC 本体の故障などでも、必ずシステム全体が安全側に働くように、MELQIC
本体の外部で安全回路を設けてください。 誤動作,誤出力により、事故の恐れがあります。
(1) 非常停止回路,保護回路,正転逆転などの相反する動作のインタロック回路,位置決め上限
/下限などデータ収集対象品の破損防止用インタロック回路などは、必ずMELQIC本体の外部
で回路構成してください。
(2) MELQIC 本体が、ウオッチドッグタイマエラーなどの自己診断機能で異常を検出したときは、全出力
をOFFします。また、CPUで検出できない入出力制御部分などの異常時は、出力制御が不能にな
ることがあります。
このとき、機械の動作が安全側に働くように外部回路や機構の設計を行ってください。
(3) 出力素子の故障によっては、出力がONしっぱなしになったり、OFFしっぱなしになったりすること
があります。
重大な事故につながるような出力信号については、機械の動作が安全側に働くよう外部回路
や機構の設計を行ってください。
● データ収集対象品、およびこれに供給される電源は、必ずAC系と絶縁してください。
MELQIC本体、およびデータ収集対象品の損傷や劣化の原因になります。
7
安全上のご注意
(ご使用の前に必ずお読みください)
2.取付け上の注意
● MELQIC本体、および関連機器は、このマニュアルに記載の一般仕様の環境で使用してください。
ほこり,油煙,導電性ダスト,腐食性ガス,可燃性ガスのある場所、高温,結露,風雨にさらされる
場所、振動,衝撃がある場所で使用しないでください。
感電,火災,誤動作,製品の損傷あるいは劣化の原因となることがあります。
● ネジ穴加工や配線工事を行うときに、切粉や電線屑をMELQIC本体の通風窓へ落とし込まないでくだ
さい。
火災,故障,誤動作の原因となります。
● 増設ケーブルなどの接続ケーブルやメモリカードなどは、所定のコネクタに確実に装着してください。
接触不良により誤動作の原因となることがあります。
● 増設ボードの導電部分には直接触らないでください。
増設ボードの誤動作, 故障の原因になります。
● 増設ボードの取扱い前には静電気防止リストバンド等を使用し、人体に帯電した静電気を除去して
ください。
増設ボードの誤動作, 故障の原因になります。
● 増設ボードの取付けは必ず本体の電源をOFFして取付けてください。
製品が損傷する恐れがあります。
3.配線上の注意
● 取付け,配線作業などを行うときは、必ず電源を外部にて全相共遮断してから行ってください。
感電や製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。
● DC電圧系の端子に、AC電圧を印加しないでください。
感電や製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。
● 増設ボードの配線は、製品の定格電圧および端子配列を確認した上で正しく行ってください。
定格と異なった電源を接続したり、誤配線すると、火災, 故障, 誤動作の原因になります。
● 付属のAC電源ケーブルは、定格7A/125Vです。AC85∼120V以外の電源範囲ではご使用になれませ
ん。AC85∼120V以外の電源範囲もしくは海外でご使用のばあいは、その国の規格に適合し、MELQIC
本体を使用する電圧に応じた電源ケーブルをお求めになりお使いください。
● アース端子付AC電源ケーブルは、このマニュアルに記載したとおり専用コネクタに接続してください。
感電や製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。
● 電源ケーブルのアース端子、またはMELQIC本体のアース端子は2mm2 以上の電線を用いてD種接地
(100Ω以下)を施してください。ただし、強電系とは共通接地しないでください。
感電や製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。
● 増設ボードに、切粉や配線クズなどの異物が付着しないように注意してください。
火災, 故障, 誤動作の原因になります。
● 入出力ケーブルは、主回路や動力線などと束線したり、近接したりしないでください。
100mm以上を目安としてください。
ノイズにより、誤動作の原因になります。
● 増設ボードや入出力ケーブルに力が加わらない状態で使用ください。
断線や故障の原因になります。
8
安全上のご注意
(ご使用の前に必ずお読みください)
4.立上げ・保守時の注意
● 通電中には端子に触れないでください。
感電の恐れや、誤動作の原因となることがあります。
● 清掃およびコネクタ類の接続確認などは、電源をOFFしてから行ってください。
通電中に行うと感電の恐れや、製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。
● メモリバックアップ用バッテリは本マニュアルに定められた内容に従って、正しくご使用ください。
- 定められた用途以外に使用しないでください。
- 正しく接続してください。
- 充電,分解,過熱,火中投入,ショート,逆接続,ハンダ付け,飲み込む,焼却,過度の力(振
動・衝撃・落下など)を加えるなどを行わないでください。
- バッテリの取扱いを誤ると、過度な発熱,破裂,発火,燃焼,漏液,変形などによりケガなど人
体への影響や、火災,設備・他機器などの故障や誤動作の原因となる恐れがあります。
● 運転中のRUN,STOPなどの操作はマニュアルを熟読し、十分に安全を確認してから行ってください。
操作ミスにより装置やデータ収集対象品の破損や事故の原因となることがあります。
● 分解,改造はしないでください。
故障、誤動作、火災の原因となることがあります。
*修理については、三菱電機システムサービス株式会社にお問い合わせください。
● MELQIC本体や増設ボードを落下させたり、強い衝撃を与えないでください。
破損の原因になります。
● 拡張ケーブルや増設ボードなどの接続ケーブルの着脱は電源をOFFしてから行ってください。
故障,誤動作の原因となることがあります。
5.操作時の注意
● 表示画面上のタッチスイッチの操作は手または、PDAで使用されているスタイラスで行ってください。
また必要以上に強い力を加えたり、硬いものや、尖ったもので操作しないでください。
故障の原因となることがあります。
● 液晶表示部のバックライトが切れた状態で使用しないでください。
タッチスイッチの誤操作により事故につながる恐れがあります。
液晶表示部のバックライトが切れると表示部が真っ暗になり、モニタ画面が見えなくなりますが、タッ
チスイッチの入力は有効なままになっています。
操作者がバックライトの消灯状態と間違えて、バックライトの消灯機能を解除しようと表示部をタッチし
たばあい、タッチスイッチが動作する恐れがあります。
バックライトが切れたばあいは、下記現象が発生します。
・ バックライトの消灯機能を設定していないのにモニタ画面が消える。
・ バックライトの消灯機能を設定時、モニタ画面が消えた状態で表示部をタッチしてもモニタ画面が
表示されない。
9
安全上のご注意
(ご使用の前に必ずお読みください)
6.廃棄時の注意
● 製品を廃棄するときは、産業廃棄物として扱ってください。
バッテリを廃棄する際には各地域に定められている法令に従い分別を行ってください。
(EU加盟国内でのバッテリ規制についての詳細は付録Bを参照してください。)
7.輸送・保管上の注意
● MELQIC本体や増設ボードは精密機器なので輸送の間あらゆる衝撃を避けてください。故障の原因
になります。
● 輸送後は製品の動作確認を行ってください。
● リチウムを含有しているバッテリの輸送時には、輸送規制に従った取扱いが必要となります。
(規制対象機種についての詳細は付録Aを参照してください。)
10
モータ検査装置
もくじ
1.検査装置の概要.................................................................................................................................... A-1
2.検査内容
1.耐電圧検査...................................................................................................................................................... A-1
2.絶縁抵抗検査................................................................................................................................................ A-1
3.無負荷回転時特性検査......................................................................................................................... A-2
4.負荷回転時特性検査............................................................................................................................... A-2
3.
MELQIC導入時の特長............................................................................................................... A-3
4.
システム構成
1.構成図................................................................................................................................................................. A-4
2.使用機器 ........................................................................................................................................................... A-4
5.
インターフェース仕様............................................................................................................... A-5
6.
耐電圧/絶縁抵抗検査の設定 ............................................................................................. A-5
7.
検査の流れ ........................................................................................................................................... A-6
8.
プログラム例
1.システム設定................................................................................................................................................ A-7
2.スクリーンページ .................................................................................................................................... A-8
3.メインルーチン ...................................................................................................................................... A-12
4.サブルーチン............................................................................................................................................ A-12
5.ブロックダイヤグラム……BLD.............................................................................................. A-16
6.プログラム一覧 ...................................................................................................................................... A-35
7.規格ファイルフォーマット ......................................................................................................... A-51
9.
パソコンとのデータ通信プログラム例……IU-Links応用事例...........A-52
1.Excel VBA操作画面 .......................................................................................................................... A-52
2.プログラムリスト ................................................................................................................................ A-53
モータ検査装置
1. 検査装置の概要
この検査装置はDCモータの特性検査を行います。
3
DC 24V、0.5A(無負荷時)、3A(0.3N・m時)
I
下記出力特性グラフによる。
N
0
0
トルク― 電流特性
2000r/min
(無負荷時)
2
電源仕様
1
仕様
1000
項目
回転数 N (r/min)
検査・データ収集対象モータの仕様は下記の通りです。 消費電流 I(A)
たサーボモータで行います。
回転数
2000
検査・データ収集対象モータへの負荷の印加は負荷軸に接続され
0
0.1
0.2
0.3
負荷トルク T (N・m)
出力特性グラフ
2. 検査内容
1. 耐電圧検査 . . . . . モータのフレーム~端子間の耐電圧検査
設定項目
仕様
印加電圧
2500V AC
漏れ電流
20mA以下
印加時間
60sec
2. 絶縁抵抗検査 . . . モータのフレーム~端子間の絶縁抵抗検査
設定項目
仕様
印加電圧
500V DC
絶縁抵抗値
10MΩ以上
印加時間
60sec
IU2 設計事例集
A-1
モータ検査装置
3. 無負荷回転時特性検査
無負荷回転時の出力特性グラフ上の右記①、
②の特性を検査し
3
2
1
②
N
回転数 N (r/min)
1000
0
0
消費電流 I(A)
I
2000
①
ます。
0
0.1
0.2
0.3
負荷トルク T (N・m)
4. 負荷回転時特性検査
指定負荷を印加したときの特性検査を行います。
グラフ特性(負荷を変化させた場合の特性測定)と定点特性(指定トルクを印加した場合の特性)の2種類の検査ができます。
(1) グラフ特性
出力特性グラフ上の下記の①~④の特性を測定します。測定時は負荷トルクを連続的に変化させその結果をグラフ
で表示します。
①低トルク特性:回転速度
3
2000
N
③高トルク特性:消費電流
I
④高トルク特性:回転速度
①
2
④
1
②
回 転 数 N (r/min)
③
1000
消 費 電 流 I(A)
②低トルク特性:消費電流
0
0
0
0.1
0.2
0.3
負荷 トルク T (N・m)
低トルク特性
高トルク特性
(2) 定点特性
グラフ特性と測定内容は同じですが、指定トルクを印加して測定します。
無負荷時特性と低トルク特性を測定します。
測定はグラフ特性か定点特性を選択して行います。
A-2
IU2 設計事例集
モータ検査装置
3. MELQIC導入時の特長
(1) 測定器との通信が容易です。
【Bld1、131~133、135、136】
・検査装置を構築する上で必要となる測定器との通信(本事例では耐電圧/絶縁抵抗検査装置との通信をGPIB通信す
る)を行うためのFBが用意されています。これらを組み合わせることにより容易に通信が実現できます。
・様々な測定器と簡単に通信でき、種々の検査項目への対応が可能です。
①
1EGPIB
Initialize
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
本体GPIBアドレス : 1
終端文字1 : 0x8000000D
終端文字2 : 0x8000000A
End メッセージ : 使用する
システム コントローラー : ON
②
④
③
1EGPIB
Uniline
Message
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
メッセージ種別 : IFC
1EGPIB
Uniline
Message
1EGPIB
Universal
Command
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
メッセージ種別 : REN
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
コマンド : DCL
⑦
⑥
⑤
-->
_COMM_OK
(POINT)
1EGPIB
Send
"START_I"
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
送信先アドレス : 15
送信タイムアウト[mSec] : 1000
終端設定 : デフォルト設定
タグ名 : _COMM_OK
〔処理説明〕
記載箇所
①
②③④
⑤⑥
処理内容
備考
GPIBカードの初期化を行います。
自局アドレス1
IFC⇒REN⇒DCL出力します。
相手アドレス15
データ
(コマンド)を送信します。
受信もほぼ同様に実施可能
(2) パソコンとのデータ通信が容易です。
・管理室などから検査装置の監視 / 保守を必要とする場合、IU-Links(通信ミドルウェア)を使用することで容易に実
現することが出来ます。
本導入事例では以下のIU-Linksのプログラム例を添付します。
(IU‐Linksの機能を利用するためMELQIC側にはプ
ログラムは必要ありません。) ……9章参照ください。
- 検査装置監視項目:生産実績(OK/NG数)、検査モード(定点/グラフ特性)
検査中機種情報(MODEL‐01~05)
- 保守情報
:検査規格ファイル(パソコンで編集の規格ファイルをMELQICに送信)
IU2 設計事例集
A-3
モータ検査装置
4. システム構成
1. 構成図
【注1】耐電圧/絶縁抵抗検査装置からの出力と電源装置からの出力を切り替えます。
【注2】計測器からの測定信号を絶縁するためにアイソレションAMPを使用します。
【注3】負荷発生用サーボモータ
2. 使用機器
形名
種別
保有入出力
IU2-5M10
本体
IU2-1EGPIB
GPIB通信ボード
GPIB通信ポート:1CH
IU2-32EDIO-CPTR
入出力ボード
フォトカプラ入力 :32CH
オープンコレクタ出力:32CH
IU2-8EDA-100M
アナログ出力ボード
汎用DA:8CH
CMOS入出力:各2CH
IU2-16EAD-20M
アナログ入力ボード
汎用AD:16CH
CMOS入出力:各2CH
A-4
IU2 設計事例集
モータ検査装置
5. インターフェース仕様
項目
仕様
備考
耐電圧/絶縁抵抗検査
専用の測定装置にて絶縁抵抗検査及び絶縁耐圧検査を実施します。
※耐電圧/絶縁抵抗検査装置の設定、立ち上げは事前にオフラインにて実施します。
IU2本
体からは試験の開始要求と結果の受信のみを行います。
DC電源装置
検査・データ収集対象モータに対し電源電圧を供給します。
DC電源装置に対して、
電圧制御
信号を印加する方式とします。
電圧制御信号0~10V⇒電源出力0~24V
MELQICと測定器
の接続はGPIBにて
行います。
特性測定時と耐電圧/絶縁抵抗検査時で測定回路の切り替えを行います。
・特性測定時
DC電源回路及び測定回路を接続します。
切り替え回路
・耐電圧/絶縁抵抗検査時
上記を切離し、
耐電圧/絶縁抵抗検査器を検査・データ収集対象モータに接続します。
切り替え信号 ON ⇒通常測定回路
OFF⇒絶縁耐圧検査回路
検査開始信号
画面の起動ボタン"MANU STEP"で開始します。
次試験への画面移動は画面の">>"ボタンで行います。
トルク/速度信号
回転速度入力信号
トルク入力信号
電流検出信号
0~10A⇒0~10V
0~3000rpm⇒0~10V
0~5N・m⇒0~10V
検査・データ収集対象のモータに対する負荷の印加はサーボモータで行います。
このサーボ
モータへのトルク指令制御を行います。
指令値0~8V⇒発生トルク0~3.8N・m
印加負荷の制御
※トルク指令は検査・データ収集対象モータに印加されたトルク値をトルク検出器でモニ
タしながら行います。
※本例において、MELQICではトルク指令以外のサーボモータの制御は行っておりません。
パソコン通信
Ethernet接続、IU‐Linksを使用しExcel VBAで記述。
6. 耐電圧/絶縁抵抗検査の設定
一般的には以下の様な項目の設定を行って使用します。実際に使用される測定器の仕様を確認の上、通信仕様(プロトコル)
も含めて設定を行って下さい。
絶縁抵抗検査
耐電圧検査
設定項目
仕様
設定項目
仕様
印加電圧
500V DC
印加電圧
2500V AC
絶縁抵抗値
10MΩ以上
漏れ電流
20mA以下
印加時間
60sec
印加時間
60sec
IU2 設計事例集
A-5
モータ検査装置
7. 検査の流れ
スタート
リレー回路切替
(計測ライン切離し)
(注)
耐電圧/絶縁抵抗測定装置などの各機
器の設定、立ち上げは事前にオフライ
ンにて実施します。
本例ではすでに設定された耐電圧/絶
(注)
縁抵抗測定器装置などに通信で実行コ
絶縁抵抗検査実施
マンドを送信し、結果を受信する構成
とします。
耐電圧検査実施
(注)
リレー回路切替
(計測ライン接続)
グラフ特性
検査モード
定点特性
指定トルク発生
~電流測定
~判定
2点確認
グラフ描画
指定範囲でトルク
を連続可変
トルク可変中に指
定トルクで判定
2点確認
3種の処理を同時に行います。
結果表示
エンド
A-6
IU2 設計事例集
モータ検査装置
8. プログラム例
1. システム設定
(1) コンフィグレーション スロット
本体
ユーザ名称
形名
種別
保有入出力
_IU2_5M10_0
IU2-5M10
本体
[0]
_IU2_32EDIO_CPTR_0
IU2-32EDIO-CPTR
GPIB通信ボード
GPIB通信ポート:1CH
[1]
_IU2_8EDA_100M_0
IU2-8EDA-100M
入出力ボード
フォトカプラ入力 :32CH
オープンコレクタ出力:32CH
[2]
_IU2_16EAD_20M_0
IU2_16EAD_20M
アナログ出力ボード
汎用DA:8CH
CMOS入出力:各2CH
[3]
_IU2_1EGPIB_0
IU2_1EGPIB
アナログ入力ボード
汎用AD:16CH
CMOS入出力:各2CH
[4]
vacancy
(2) I/O割付け……詳細はI/O割付け表を参照ください。……A-36~A-40
(3) CHタグ……CHタグリスト参照ください。……A-41~A-45
(4) デバイスタグリスト……デバイスタグリスト参照ください。……A-46~A-50
IU2 設計事例集
A-7
モータ検査装置
2. スクリーンページ
(1) Scr1:起動画面……検査装置の表示画面を選択します。
・警報画面 :警報画面を表示します。
・操作モード:操作モード(機種設定、検査モード)選択画面を表示します。
・検査画面 :検査実施画面を表示します。
(2) Scr2:耐電圧/絶縁抵抗検査画面
・MODEL-0* :操作モード画面で選択された機種が表示されます(各画面共通)。
・中止
:検査を中止し、起動画面へ移動します。
・MANU START :検査開始スイッチです(各画面共通)。
・>>
:総合判定画面に移動します。
A-8
IU2 設計事例集
モータ検査装置
(3) Scr3:特性検査(定点測定モード)画面
・ワーク状態:検査・データ収集対象のモータの状態を表示します。
・検査結果:検査結果を表示します。
(4) Scr4:特性検査(グラフ特性モード)画面
・グラフ:試験中の特性を表示します。
IU2 設計事例集
A-9
モータ検査装置
(5) Scr5:検査結果表示画面
(6) Scr100:検査規格表示画面……各画面に設けた
『規格表示』スイッチで呼び出される画面。
A-10 IU2 設計事例集
モータ検査装置
(7) Scr200:警報確認画面……警報の発生状態を表示します。
・サーボアンプリセット:サーボアンプに対するアラーム解除スイッチです。
(8) Scr250:条件設定画面
・特性検査の内容(検査モード)と機種を選択できます。
IU2 設計事例集 A-11
モータ検査装置
3. メインルーチン
(1) Main1:DCモータ検査フロー
試験ごとの判定情報
等のクリアと試験規
格ファイルの読出し
等を行います。
Jump_M1_2
※1
T
T
START
DCモータ検査装
置
SUB3
耐電圧絶縁試験
CALL
SUB2
初期化-2(TEMPクリア他)
CALL
SUB1
初期化-1
CALL
F
F
F
T
(_Start_Step_1==1)&&(_Start_Master==1)
MANU START ON?
_Start_Step_0==1
Jump_M1_1
_Start_Master==0
Jump_M1_1
試験画面へ移ったか?
※1
T
Jump_M1_1
F
Jump_M1_3
MANU START ON?
Jump_M1_3
F
BLD125
定点特性 OR グラフ特性?
_Start_Master==0
1
_Test_Step=2設定(定点特性)
次試験開始?
T
Jump_M1_2
T
(_Start_Step_2==1)&&(_Start_Master==1)
T
CALL
CALL
SUB4
定点特性試験実施
SUB6
総合判定表示
Jump_M1_4
F
T
Jump_M1_1
_Restart==1
T
F
CALL
※1
SUB5
グラフ特性試験実施
BLD126
_PSW_1_1==1
1
_Test_Step=3設定(グラフ特性)
F
_Start_Master==0
F
(_Start_Step_3==1)&&(_Start_Master==1)
T
Jump_M1_1
F
Jump_M1_4
MANU START ON?
※1
_Start_Master==0
※1:”中止”操作を画面から行った際に、遷移状態を初期状態に戻します。
表示画面を指定します。
AFLOW1
試験対象の状態(回転、トルク、
印加、電圧、電流)およびエ
ラー状態をモニタします。
CALL
CALL
SUB21
画面制御
SUB22
動作モニタ
4. サブルーチン
(1) Sub1:初期化-1……グラフ類の初期化
SUB
初期化-1
A-12 IU2 設計事例集
BLD1
1
初期化
RET
モータ検査装置
(2) Sub2:初期化-2
SUB
初期化-2
判定値などの初期化
を行います。
ファイル名格納用メモ
リをクリアします。
BLD100
BLD105
1
データクリア
1
ファイル名格納メモリクリア
1
1
2
2
3
3
4
4
ファイル名を設定
します。
指定のファイル名の
規格を読込みます。
BLD110
BLD120
1
ファイル名指定MODEL-01
1
設定ファイル読出し1/4
BLD111
Def
BLD121
1
ファイル名指定MODEL-02
_Model
『条件設定』画面で選択
した _Model に従い、適
合するファイル名を設定
します。
1
設定ファイル読出し2/4
BLD112
1
ファイル名指定MODEL-03
BLD122
BLD113
1
設定ファイル読出し3/4
1
ファイル名指定MODEL-04
BLD114
1
ファイル名指定MODEL-05
RET
BLD123
BLD124
1
設定ファイル読出し4/4
1
_Test_Step=1設定(耐電圧絶縁検査)
(3) Sub3:耐電圧/絶縁抵抗検査
耐電圧絶縁検査器に絶
縁抵抗測定要求コマン
ドを送信します。
SUB
耐電圧絶縁検査
BLD130
BLD131
1
検査回路切り替え
T
BLD132
耐電圧絶縁検査器
からの検査結果を
受信します。
BLD133
BLD134
1
1
1
1
GPIB回線制御 絶縁抵抗測定要求コマンド送信 絶縁抵抗測定結果受信 絶縁抵抗測定結果表示
耐電圧絶縁検査器に耐
電圧検査要求コマンド
を送信します。
耐電圧絶縁検査器
からの検査結果を
受信します。
BLD135
BLD136
BLD137
BLD138
1
1
1
絶縁耐圧測定要求コマンド送信 絶縁耐圧測定結果受信 絶縁耐圧測定結果表示
1
検査回路切替
F
_I_OK==1
F
画面移動待ち
T
RET
_Next_Step==1
IU2 設計事例集 A-13
モータ検査装置
(4) Sub4:定点特性測定
モータの回転
待ちタイマ
規格ファイル内の印
加トルク【低】の値
を印加します。
データの初期化
等を行います。
試験用モータの起
動を行います。
BLD150
BLD151
BLD152
BLD153
1
初期化
1
モータ起動
1
無負荷回転特性測定
1
負荷印加(低)
SUB
定点特性測定
1
1000 ms
印加トルク到達?
印加トルク再監
視迄のタイマ
印加トルクを監
視します。
無負荷回転時のデータ
を記録します。
F
2
F
BLD154
T
1
トルク監視
T
100 ms
_Time_Over1>=_Time_Over_Set
印加トルクタイム
オーバ?
_Load_Trq_Low_Ok==1
RET
BLD155
BLD156
BLD157
1
印加トルク【低】測定
1
モータ停止
1
判定表示
印加トルク【低】印
加時のデータ測定を
行います。
判定処理を行い
ます。
(5) Sub5:グラフ特性測定
被検査モータ
の起動を行い
ます。
データの初期化
等を行います。
0.01kg・cm毎の
負荷上昇を行
います。
モータの回転
待ちタイマ
Jump_S4_2
3
SUB
BLD200
BLD201
BLD202
BLD203
BLD204
グラフ特性測定
1
初期化
1
モータ起動
1
グラフスタート
1
負荷増加1
1
トルク監視1
印加トルク再監
視迄のタイマ
1000 ms
印加トルク
【低】到達?
4
F
100 ms
T
上昇中での指定トル
ク到達?
F
F
タイムオーバ?
Jump_S4_2
T
_Load_Trq_Low_Ok==1
印加トルク
【低】データ測
定を行います。
BLD205
BLD206
BLD207
1
印加トルク【低】測定
1
負荷増加2
1
トルク監視2
0.01kg・cm毎の
負荷上昇を行
います。
Jump_S4_3
印加トルク再監
視迄のタイマ
5
Jump_S4_1
T
_Load_Trq_Temp_OK==1 _Time_Over2>=_Time_Over_Set
上昇中での指定トル
ク到達?
印加トルク
【高】到達?
F
F
F
タイムオーバ?
100 ms
T
T
_Load_Trq_Hi_Ok==1
Jump_S4_1
_Load_Trq_Temp_OK==1
T
_Time_Over3>=_Time_Over_Set
BLD210
BLD211
BLD212
BLD213
1
印加トルク【高】測定
1
グラフストップ
1
モータ停止
1
判定表示
印加トルク【高】
データ測定を行い
ます。
A-14 IU2 設計事例集
Jump_S4_3
モータを停止さ
せます。
判定処理をします。
RET
モータ検査装置
(6) Sub6:総合判定表示……測定モードに応じた判定処理と画面切り替えを行います。
T
SUB
総合判定表示
BLD300
1
総合判定結果set(定点特性)
T
F
F
_PSW_1_1==1
BLD301
1
総合判定結果set(グラフ特性)
_Next_Step==1
1
1
2
2
3
3
4
4
BLD302
BLD310
BLD303
Def
RET
BLD320
1
1
model01結果加算 model01結果セット
1
総合判定画面要求
BLD311
1
1
model02結果加算 model02結果セット
_Model
BLD304
BLD312
1
1
model03結果加算 model03結果セット
BLD305
BLD313
1
1
model04結果加算 model04結果セット
BLD306
BLD314
1
1
model05結果加算 model05結果セット
(7) Sub21:画面制御……各処理で要求される画面を読出します。
RET
BLD460
1
耐電圧/絶縁抵抗検査画面表示
RET
BLD461
T
SUB
画面制御
1
1
2
2
3
3
4
4
5
5
1
定点特性モード画面表示
RET
BLD462
1
グラフ特性モード画面表示
Def
F
BLD463
_Start_Master==1
_Test_Step
RET
1
総合判定画面表示
BLD464
RET
1
警報画面
RET
RET
IU2 設計事例集 A-15
モータ検査装置
(8) Sub22:動作モニタ
೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎Ɂ࿡ৰɥᄶ᛾ȪɑȬǿ
ᴥ‫و‬ᢆǾ„™xǾԱӏǾ᫖٢Ǿ᫖ํᴦ
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57$
Ӧͽʬʕʉ
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t—p“†€
4'6
5. ブロックダイヤグラム……BLD
(1) Bld1:初期化-1……データ(フラグ類)を初期化。
-->
_Start_Master
(POINT)
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Start_Master
1
--> _PSW_1_1
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _PSW_1_1
0
--> _PSW_1_2
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _PSW_1_2
0
--> _Err
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Err
-->
_Start_Step_0
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_0
-->
_Start_Step_1
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_1
-->
_Start_Step_2
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Test_Step
0
--> _SV_RS1
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS1
1
--> _SV_RS2
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS2
0
--> _SV_ON
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_ON
-->
_Start_Step_3
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_3
-->
_Start_Step_4
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_4
1
--> _PSW_2_1
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _PSW_2_1
0
--> _PSW_2_2
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _PSW_2_2
--> _PSW_2_3
(POINT)
タグ名 : _PSW_2_3
--> _PSW_2_4
(POINT)
タグ名 : _PSW_2_4
--> _PSW_2_5
(POINT)
タグ名 : _PSW_2_5
A-16 IU2 設計事例集
-->
_Test_Step
(POINT)
0
1
--> _Model
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Model
0
サーボアンプ
に対してトルク
発生を禁止
GPIBの初期化
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _DA_ch0
1
--> _SV_EMG
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_EMG
1EGPIB
Initialize
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
本体GPIBアドレス : 1
終端文字1 : 0x8000000D
終端文字2 : 0x8000000A
End メッセージ : 使用する
システム コントローラー : ON
モータ検査装置
(2) Bld100:初期化-2……データ(フラグ類)を初期化。……処理時間:約14ms
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_0
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
0
タグ名 : _Status_Disp_1_0データ型 : 32 ビット浮動小数点タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_rev
直接入力 : 10進数
-->
-->
_Status_Disp_1
_Keisoku_Poin
... (POINT)
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_1
タグ名 : _Status_Disp_1_1
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_Trq
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_2
タグ名 : _Status_Disp_1_2
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_I
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_3
タグ名 : _Status_Disp_1_3
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_V
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_4
タグ名 : _Status_Disp_1_4
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_5
タグ名 : _Status_Disp_1_5
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_6
タグ名 : _Status_Disp_1_6
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
0
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_0データ型 : 32 ビット浮動小数点タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Hi
直接入力 : 10進数
-->
-->
_Status_Disp_2
_Keisoku_Poin
... (POINT)
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_1
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq_Hi
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_2
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Hi
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_3
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V_Hi
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_4
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Low
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_5
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq_Low
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_6
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Low
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V_Low
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_0
-->
_Time_Over1
(POINT)
タグ名 : _Time_Over1
-->
_Time_Over2
(POINT)
タグ名 : _Time_Over2
-->
_Time_Over3
(POINT)
タグ名 : _Time_Over3
0
-->
_Trq_Counter
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Trq_Counter
0
--> _Restart
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Restart
IU2 設計事例集 A-17
モータ検査装置
-->
_COMM_OK
(POINT)
0
--> _I_OK
(POINT)
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _I_OK
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _COMM_OK
--> _W_OK
(POINT)
-->
_Start_Step_1
(POINT)
0
タグ名 : _W_OK
タグ名 : _Start_Step_1
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
-->
_Start_Step_2
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_2
-->
_Start_Step_3
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_3
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Graph_Clear_
1 (POINT)
タグ名 : _Graph_Clear_1
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Graph_Start_
1 (POINT)
タグ名 : _Graph_Start_1
(3) Bld105:ファイル名格納メモリクリア……処理時間:約12ms
Delete
DBL
タグ名 : _Value_File_name
(4) Bld110:ファイル名指定MODEL-01……MODEL-01用規格ファイルを指定。……処理時間:約13ms
"_Value_model01.TXT"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
(5) Bld111:ファイル名指定MODEL-02……MODEL-02用規格ファイルを指定。
"_Value_model02.TXT"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
(6) Bld112:ファイル名指定MODEL-03……MODEL-03用規格ファイルを指定。
"_Value_model03.TXT"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
(7) Bld113:ファイル名指定MODEL-04……MODEL-04用規格ファイルを指定。
"_Value_model05.TXT"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
A-18 IU2 設計事例集
モータ検査装置
(8) Bld114:ファイル名指定MODEL-05……MODEL-05用規格ファイルを指定。
-->
_Value_File_n
a...
"_Value_model05.TXT"
タグ名 : _Value_File_name
(9) Bld120:設定ファイル読出し1/4(文字)……指定の規格ファイルからのデータを読出し。
String
Length
_Value_File_n
a... -->
7
Subtract
14
0
ReadFile
(TEXT)
タグ名 : _Value_File_name
--> _Type
(ARRAY)
String
Subset
0
タグ名 : _Type
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(10)Bld121:設定ファイル読出し2/4(数値)
……処理時間:約196ms
String
Length
_Value_File_n
a... -->
10
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
タグ名 : _Value_Voltage
表記法 : 10進数浮動小数
タグ名 : _Value_File_name
-->
_Value_Voltag
e (POINT)
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
12
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Noload
_... (POINT)
タグ名 : _Value_Noload_Current
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
14
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Noload
_... (POINT)
タグ名 : _Value_Noload_Current_Bnd
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
16
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Load_C
u... (POINT)
タグ名 : _Value_Load_Current_Hi
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
18
ReadFile
(TEXT)
Subtract
0
String
Subset
String
To
Number
表記法 : 10進数浮動小数
-->FLOAT
-->
_Value_Load_C
u... (POINT)
タグ名 : _Value_Load_Current_Hi_Bnd
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
IU2 設計事例集 A-19
モータ検査装置
(11)Bld122:設定ファイル読出し3/4(数値)
String
Length
_Value_File_n
a... -->
20
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
タグ名 : _Value_Load_Current_Low
表記法 : 10進数浮動小数
タグ名 : _Value_File_name
-->
_Value_Load_C
u... (POINT)
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
22
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Load_C
u... (POINT)
タグ名 : _Value_Load_Current_Low_Bnd
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
24
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Noload
_... (POINT)
タグ名 : _Value_Noload_Rev
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
26
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Noload
_... (POINT)
タグ名 : _Value_Noload_Rev_Bnd
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
28
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Load_R
e... (POINT)
タグ名 : _Value_Load_Rev_Hi
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(12)Bld123:設定ファイル読出し4/4
(数値)
String
Length
_Value_File_n
a... -->
30
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Hi
表記法 : 10進数浮動小数
タグ名 : _Value_File_name
-->
_Value_Load_R
e... (POINT)
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
32
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Load_R
e... (POINT)
タグ名 : _Value_Load_Rev_Low
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
34
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Load_R
e... (POINT)
タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Low
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
36
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Trq_Hi
(POINT)
タグ名 : _Value_Trq_Hi
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
38
ReadFile
(TEXT)
タグ名 : _File_Read_Err
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
A-20 IU2 設計事例集
0
String
Subset
String
To
Number
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
2
Subtract
-->FLOAT
-->
_Value_Trq_Lo
w (POINT)
タグ名 : _Value_Trq_Low
モータ検査装置
(13)Bld124:テストステップ1設定……テストステップに耐電圧/絶縁抵抗検査(=1)を設定。
-->
_Test_Step
(POINT)
1
タグ名 : _Test_Step
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(14)Bld125:テストステップ2設定……テストステップに定点特性測定
(=2)を設定。
-->
_Test_Step
(POINT)
2
タグ名 : _Test_Step
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(15)Bld126:テストステップ3設定……テストステップにグラフ特性測定(=3)を設定。
-->
_Test_Step
(POINT)
3
タグ名 : _Test_Step
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(16)Bld130:検査回路切り替え……検査回路を耐電圧/絶縁抵抗検査に切り替えます。
(本例では具体的な切り替え回路を添付しませんが、実際の検査装置を構築する際には切り替え回路が必要です。)
-->
_IW_TEST_CIR
CU... (POINT)
1
タグ名 : _IW_TEST_CIRCUIT
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
(17)Bld131:GPIB回線制御
1
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
1EGPIB
Uniline
Message
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
メッセージ種別 : IFC
1EGPIB
Uniline
Message
1EGPIB
Universal
Command
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
メッセージ種別 : REN
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
コマンド : DCL
(18)Bld132:絶縁抵抗検査要求コマンド送信
画面に『絶縁抵抗検査中』を表示させた後、耐電圧/絶縁抵抗検査器に絶縁抵抗検査コマンドを送信します。
1
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
"START_I"
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_0
1EGPIB
Send
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
送信先アドレス : 15
送信タイムアウト[mSec] : 1000
終端設定 : デフォルト設定
-->
_COMM_OK
(POINT)
Transition
タグ名 : _COMM_OK
IU2 設計事例集 A-21
モータ検査装置
(19)Bld133:絶縁抵抗検査結果受信
-->
_COMM_OK
(POINT)
1EGPIB
Receive
Transition
タグ名 : _COMM_OK
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
送信元アドレス : 15
受信タイムアウト[mSec] : 1000
受信バッファ[Byte] : 256
終端設定 : デフォルト設定
0
Match
Pattern
Not
--> _I_OK
(POINT)
タグ名 : _I_OK
"Result_I_OK"
(20)Bld134:絶縁抵抗検査結果表示
Not
_COMM_OK -> (POINT)
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_6
タグ名 : _COMM_OK
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
_I_OK -->
(POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_2
タグ名 : _I_OK
Not
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_3
(21)Bld135:耐電圧検査要求コマンド送信
画面に『絶縁耐圧検査中』を表示させた後、
耐電圧/絶縁抵抗検査器に耐電圧検査コマンドを送信します。
1
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
"START_W"
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_1
1EGPIB
Send
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
送信先アドレス : 15
送信タイムアウト[mSec] : 1000
終端設定 : デフォルト設定
-->
_COMM_OK
(POINT)
Transition
タグ名 : _COMM_OK
(22)Bld136:耐電圧検査結果受信
-->
_COMM_OK
(POINT)
1EGPIB
Receive
ボード名 : _IU2_1EGPIB_0
送信元アドレス : 15
受信タイムアウト[mSec] : 1000
受信バッファ[Byte] : 256
終端設定 : デフォルト設定
Transition
タグ名 : _COMM_OK
0
Match
Pattern
Not
--> _W_OK
(POINT)
タグ名 : _W_OK
"Result_W_OK"
A-22 IU2 設計事例集
モータ検査装置
(23)Bld137:耐電圧検査結果表示
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
Not
_COMM_OK -> (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_6
タグ名 : _COMM_OK
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
_W_OK -->
(POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_4
タグ名 : _W_OK
-->
_Status_Disp_0
... (POINT)
Not
タグ名 : _Status_Disp_0_5
(24)Bld138:検査回路切り替え
-->
_IW_TEST_CIR
CU... (POINT)
0
タグ名 : _IW_TEST_CIRCUIT
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
(25)Bld150:初期化
・ 負荷発生後に目的のトルク到達までの遅れ時間(_Time_Over_Set値)を設定します。
・ RS1、2の出力でサーボモータに対して負荷発生方向を指示します。
(サーボモータの速度制限は、サーボアンプでのパラメータで設定します。)
-->
_Time_Over_S
et (POINT)
100
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Time_Over_Set
0
--> _SV_RS1
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS1
1
--> _SV_RS2
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS2
正転(CCW)の回転
に対して負荷を発生。
(26)Bld151:モータ起動……平均処理時間:19ms
・ 検査・データ収集対象モータを起動します。
・ 規格ファイルに設定の定格電圧から指定電圧を換算して出力します。
(0~10Vの信号電圧で0~24Vの電圧をモータに出力する電源装置を使用するものとします。)
_Value_Voltag
e -->
(POINT)
Multiply
Divide
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Value_Voltage
タグ名 : _DA_ch0
10
-->
_Divide_ERR
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Divide_ERR
24
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
IU2 設計事例集 A-23
モータ検査装置
(27)Bld152:無負荷回転特性測定……処理時間:約14ms
回転発生
_Status_Disp_1
... -->
(POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
_Mon_Rev -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Rev
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_rev
タグ名 : _Status_Disp_1_1
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_Trq
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
_Mon_I -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_I
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_I
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
_Mon_V -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_V
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_V
(28)Bld153:負荷印加
・ 0~8Vの信号電圧で0~3.8.N・mの負荷トルクを印加できるものとして、規格ファイル内の印加トルク値を換算し
てトルク指令信号を出力します。
_Value_Trq_Lo
w -->
(POINT)
Multiply
Divide
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Value_Trq_Low
タグ名 : _DA_ch1
8
-->
_Divide_ERR
(POINT)
タグ名 : _Divide_ERR
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
38.79
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
1
--> _SV_ON
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_ON
(29)Bld154:トルク監視
・ 規格ファイルに記載の負荷トルクがモータに印加されているかどうかを±2%の範囲で監視します。
(本例では、
サーボアンプに対して要求負荷トルクに相当するトルク指令電圧与えることで規定の負荷が発生すると想定して
います。)
・ 指定トルクタイムオーバ監視タイマのカウントアップを行います。
トルク追込み精度2%
0.02
Multiply
Add
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
_Value_Trq_Lo
w -->
(POINT)
Subtract
タグ名 : _Time_Over1
A-24 IU2 設計事例集
-->
_Load_Trq_Lo
w_... (POINT)
タグ名 : _Load_Trq_Low_Ok
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
タグ名 : _Value_Trq_Low
_Time_Over1 -> (POINT)
Zone
Compare
出力モード : セット
Increment
-->
_Time_Over1
(POINT)
タグ名 : _Time_Over1
モータ検査装置
(30)Bld155:負荷回転特性測定
回転発生
_Mon_Rev -->
(POINT)
_Status_Disp_1
... -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Rev
タグ名 : _Status_Disp_1_1
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
_Mon_I -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_I
_Mon_V -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_V
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V
(31)Bld156:モータ停止……検査・データ収集対象モータ、サーボモータを停止。
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
0
0
--> _SV_RS1
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _DA_ch0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS1
0
--> _SV_ON
(POINT)
0
--> _SV_RS2
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_ON
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS2
(32)Bld157:判定表示……規格ファイルに従って判定処理を行います。……処理時間:約19ms
_Value_Noload
_... -->
(POINT)
Multiply
Multiply
Add
タグ名 : _Value_Noload_Rev_Bnd
0.01
_Keisoku_Poin
t... -->
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_rev
_Value_Noload
_... -->
(POINT)
Zone
Compare
Subtract
タグ名 : _Value_Noload_Rev
And
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
-->BOOL
タグ名 : _Status_Disp_1_2
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
_Value_Noload
_... -->
(POINT)
Multiply
Multiply
Add
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
Not
タグ名 : _Value_Noload_Current_Bnd
タグ名 : _Status_Disp_1_3
_Keisoku_Poin
t... -->
(POINT)
0.01
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_I
_Value_Noload
_... -->
(POINT)
Zone
Compare
Subtract
タグ名 : _Value_Noload_Current
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
トルク制御タイムオーバー
_Time_Over1 -> (POINT)
_Value_Load_R
e... -->
(POINT)
Multiply
Multiply
タグ名 : _Time_Over1
Add
タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Low
_Time_Over_S
et -->
(POINT)
_Keisoku_Poin
t... -->
(POINT)
0.01
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
Compare
条件比較 : 入力1 >= 入力2
タグ名 : _Status_Disp_1_6
タグ名 : _Time_Over_Set
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev
_Value_Load_R
e... -->
(POINT)
Zone
Compare
Subtract
And
-->BOOL
タグ名 : _Value_Load_Rev_Low
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_1_4
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
_Value_Load_C
u... -->
(POINT)
Multiply
Multiply
Add
Not
タグ名 : _Value_Load_Current_Low_Bnd
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_1_5
_Keisoku_Poin
t... -->
(POINT)
0.01
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
_Value_Load_C
u... -->
(POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I
Subtract
Zone
Compare
タグ名 : _Value_Load_Current_Low
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
IU2 設計事例集 A-25
モータ検査装置
(33)Bld200:初期化
・ 負荷発生後に目的のトルク到達までのタイムオーバ値を設定します。
・ トルクを印加する際の上昇ステップ値を設定します。
・ サーボアンプの正転選択 (RS1) ・逆転選択 (RS2) 入力信号端子への指令により、サーボモータのトルク発生方向を
指示します。
100
-->
_Time_Over_S
et (POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Time_Over_Set
0.01
--> _Trq_step
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Trq_step
0
--> _SV_RS1
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS1
1
--> _SV_RS2
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS2
正転(CCW)の回転に
対して負荷を発生。
(34)Bld201:モータ起動
・ 検査・データ収集対象モータを起動します。
・ 規格ファイルに設定の定格電圧から指定電圧を換算して出力します。
(0~10Vの信号電圧で0~24Vの電圧をモータに出力する電源装置を使用するものとします。)
_Value_Voltag
e -->
(POINT)
Multiply
Divide
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Value_Voltage
タグ名 : _DA_ch0
10
-->
_Divide_ERR
(POINT)
タグ名 : _Divide_ERR
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
24
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
(35)Bld202:グラフスタート……Scr4の変数グラフの描画を開始します。
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
A-26 IU2 設計事例集
-->
_Graph_Start_
1 (POINT)
タグ名 : _Graph_Start_1
モータ検査装置
(36)Bld203:負荷増加1
・ 0~8Vの信号電圧で0~3.8.N・mの負荷トルクを印加できるものとして、規格ファイル内の印加トルク値を換算し
てトルク指令信号を出力します。
・ トルク制御中のタイムオーバ用カウンタなどの初期化を行います。
_Trq_Temp -> (POINT)
Multiply
Divide
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Trq_Temp
タグ名 : _DA_ch1
8
-->
_Divide_ERR
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Divide_ERR
-->
_Time_Over2
(POINT)
0
タグ名 : _Time_Over2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
1
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Status_Disp_2_0
38.79
-->
_Load_Trq_Te
mp... (POINT)
0
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
_Trq_Temp -> (POINT)
Add
タグ名 : _Trq_Temp
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Load_Trq_Temp_OK
1
--> _SV_ON
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_ON
-->
_Trq_Temp
(POINT)
タグ名 : _Trq_Temp
0.01
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
(37)Bld204:印加トルク監視1
トルク追込み精度2%
0.02
Multiply
Add
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
_Trq_Temp -> (POINT)
Subtract
Zone
Compare
-->
_Load_Trq_Te
mp... (POINT)
タグ名 : _Load_Trq_Temp_Ok
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
タグ名 : _Trq_Temp
トルク追込み精度2%
0.02
Multiply
Add
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
_Value_Trq_Lo
w -->
(POINT)
Subtract
タグ名 : _Value_Trq_Low
_Time_Over2 -> (POINT)
タグ名 : _Time_Over2
Increment
Zone
Compare
-->
_Load_Trq_Lo
w_... (POINT)
タグ名 : _Load_Trq_Low_Ok
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
-->
_Time_Over2
(POINT)
タグ名 : _Time_Over2
IU2 設計事例集 A-27
モータ検査装置
(38)Bld205:印加トルク(低)測定
回転発生
_Status_Disp_1
... -->
(POINT)
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
_Mon_Rev -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Rev
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Low
タグ名 : _Status_Disp_1_1
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq_Low
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
_Mon_I -->
(POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Low
タグ名 : _Mon_I
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
_Mon_V -->
(POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V_Low
タグ名 : _Mon_V
(39)Bld206:負荷増加2
_Trq_Temp -> (POINT)
Multiply
Divide
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Trq_Temp
タグ名 : _DA_ch1
8
-->
_Divide_ERR
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Divide_ERR
38.79
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
_Trq_Temp -> (POINT)
タグ名 : _Trq_Temp
0.01
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
A-28 IU2 設計事例集
Add
-->
_Trq_Temp
(POINT)
タグ名 : _Trq_Temp
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
-->
_Time_Over3
(POINT)
タグ名 : _Time_Over3
-->
_Load_Trq_Te
mp... (POINT)
タグ名 : _Load_Trq_Temp_OK
モータ検査装置
(40)Bld207:印加トルク監視2
トルク追込み精度2%
0.02
Multiply
Add
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
_Trq_Temp -> (POINT)
Subtract
Zone
Compare
-->
_Load_Trq_Hi_
O... (POINT)
タグ名 : _Load_Trq_Hi_Ok
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
タグ名 : _Trq_Temp
トルク追込み精度2%
0.02
Multiply
Add
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
_Value_Trq_Hi
--> (POINT)
Subtract
Zone
Compare
-->
_Load_Trq_Hi_
O... (POINT)
タグ名 : _Load_Trq_Hi_Ok
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
タグ名 : _Value_Trq_Hi
_Time_Over3 -> (POINT)
-->
_Time_Over3
(POINT)
Increment
タグ名 : _Time_Over3
タグ名 : _Time_Over3
(41)Bld210:印加トルク(高)測定
回転発生
_Status_Disp_1
... -->
(POINT)
_Mon_Rev -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Rev
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Hi
タグ名 : _Status_Disp_1_1
_Mon_Trq -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_Trq
_Mon_I -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_I
_Mon_V -->
(POINT)
タグ名 : _Mon_V
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq_Hi
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Hi
-->
_Keisoku_Poin
t... (POINT)
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V_Hi
(42)Bld211:グラフストップ……Scr4の変数グラフの描画を停止します。
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Graph_Start_
1 (POINT)
タグ名 : _Graph_Start_1
IU2 設計事例集 A-29
モータ検査装置
(43)Bld212:モータ停止……検査・データ収集対象モータ、サーボモータを停止。
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
0
0
--> _SV_RS1
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _DA_ch0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS1
0
--> _SV_ON
(POINT)
0
--> _SV_RS2
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_ON
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _SV_RS2
(44)Bld213:判定表示……規格ファイルに従って判定処理をします。
_Value_Load_R
e... -->
(POINT)
Multiply
Multiply
Add
タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Hi
0.01
_Keisoku_Poin
t... -->
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Hi
_Value_Load_R
e... -->
(POINT)
Subtract
Zone
Compare
And
-->BOOL
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_2
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
タグ名 : _Value_Load_Rev_Hi
_Value_Load_C
u... -->
(POINT)
Multiply
Not
Multiply
Add
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_3
タグ名 : _Value_Load_Current_Hi_Bnd
_Keisoku_Poin
t... -->
(POINT)
0.01
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Hi
_Value_Load_C
u... -->
(POINT)
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
タグ名 : _Value_Load_Current_Hi
_Value_Load_R
e... -->
(POINT)
Multiply
Zone
Compare
Subtract
出力モード : セット
Multiply
Add
タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Low
0.01
_Keisoku_Poin
t... -->
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Low
_Value_Load_R
e... -->
(POINT)
Zone
Compare
Subtract
And
-->BOOL
タグ名 : _Value_Load_Rev_Low
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_4
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
_Value_Load_C
u... -->
(POINT)
Multiply
Multiply
Add
Not
タグ名 : _Value_Load_Current_Low_Bnd
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_5
0.01
_Keisoku_Poin
t... -->
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Low
_Value_Load_C
u... -->
(POINT)
Subtract
Zone
Compare
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
タグ名 : _Value_Load_Current_Low
出力モード : セット
トルク制御タイムオーバー
_Time_Over2 -> (POINT)
タグ名 : _Time_Over2
Compare
条件比較 : 入力1 >= 入力2
_Time_Over_S
et -->
(POINT)
タグ名 : _Time_Over_Set
_Time_Over3 -> (POINT)
タグ名 : _Time_Over3
_Time_Over_S
et -->
(POINT)
タグ名 : _Time_Over_Set
A-30 IU2 設計事例集
Compare
条件比較 : 入力1 >= 入力2
Or
-->BOOL
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_6
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_0
モータ検査装置
(45)Bld300:総合判定結果セット(定点特性)
絶縁抵抗OK
_Status_Disp_0
... -->
(POINT)
総合判定
And
And
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
-->BOOL
タグ名 : _Status_Disp_0_2
タグ名 : _Status_Disp_3_0
絶縁耐圧OK
_Status_Disp_0
... -->
(POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_4
無負荷OK
_Status_Disp_1
... -->
(POINT)
And
タグ名 : _Status_Disp_1_2
負荷OK
_Status_Disp_1
... -->
(POINT)
タグ名 : _Status_Disp_1_4
(46)Bld301:総合判定結果セット(グラフ特性)
絶縁抵抗OK
総合判定
_Status_Disp_0
... -->
(POINT)
And
And
-->BOOL
タグ名 : _Status_Disp_0_2
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_0
絶縁耐圧OK
_Status_Disp_0
... -->
(POINT)
タグ名 : _Status_Disp_0_4
印加トルク高
_Status_Disp_2
... -->
(POINT)
And
タグ名 : _Status_Disp_2_2
印加トルク低
_Status_Disp_2
... -->
(POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_4
(47)Bld302:Model01結果加算……処理時間:約16ms
_Status_Disp_3
... -->
(POINT)
_Model01_OK_
Co... -->
(POINT)
-->
_Model01_OK_
Co... (POINT)
Increment
タグ名 : _Model01_OK_Count
タグ名 : _Model01_OK_Count
タグ名 : _Status_Disp_3_0
_Model01_NG_
Co... -->
(POINT)
Not
Increment
-->
_Model01_NG_
Co... (POINT)
タグ名 : _Model01_NG_Count
タグ名 : _Model01_NG_Count
(48)Bld303:Model02結果加算
_Status_Disp_3
... -->
(POINT)
_Model02_OK_
Co... -->
(POINT)
-->
_Model02_OK_
Co... (POINT)
Increment
タグ名 : _Model02_OK_Count
タグ名 : _Model02_OK_Count
タグ名 : _Status_Disp_3_0
Not
_Model02_NG_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model02_NG_Count
Increment
-->
_Model02_NG_
Co... (POINT)
タグ名 : _Model02_NG_Count
IU2 設計事例集 A-31
モータ検査装置
(49)Bld304:Model03結果加算
_Model03_OK_
Co... -->
(POINT)
_Status_Disp_3
... -->
(POINT)
Increment
-->
_Model03_OK_
Co... (POINT)
タグ名 : _Model03_OK_Count
タグ名 : _Model03_OK_Count
タグ名 : _Status_Disp_3_0
_Model03_NG_
Co... -->
(POINT)
Not
Increment
-->
_Model03_NG_
Co... (POINT)
タグ名 : _Model03_NG_Count
タグ名 : _Model03_NG_Count
(50)Bld305:Model04結果加算
_Status_Disp_3
... -->
(POINT)
_Model04_OK_
Co... -->
(POINT)
Increment
-->
_Model04_OK_
Co... (POINT)
タグ名 : _Model04_OK_Count
タグ名 : _Model04_OK_Count
タグ名 : _Status_Disp_3_0
_Model04_NG_
Co... -->
(POINT)
Not
Increment
-->
_Model04_NG_
Co... (POINT)
タグ名 : _Model04_NG_Count
タグ名 : _Model04_NG_Count
(51)Bld306:Model05結果加算
_Status_Disp_3
... -->
(POINT)
_Model05_OK_
Co... -->
(POINT)
Increment
-->
_Model05_OK_
Co... (POINT)
タグ名 : _Model05_OK_Count
タグ名 : _Model05_OK_Count
タグ名 : _Status_Disp_3_0
_Model05_NG_
Co... -->
(POINT)
Not
Increment
タグ名 : _Model05_NG_Count
-->
_Model05_NG_
Co... (POINT)
タグ名 : _Model05_NG_Count
(52)Bld310:Model01セット……処理時間:約12ms
_Model01_OK_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model01_OK_Count
-->
_OK_Count
(POINT)
タグ名 : _OK_Count
_Model01_NG_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model01_NG_Count
-->
_NG_Count
(POINT)
タグ名 : _NG_Count
(53)Bld311:Model02セット
_Model02_OK_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model02_OK_Count
-->
_OK_Count
(POINT)
タグ名 : _OK_Count
_Model02_NG_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model02_NG_Count
-->
_NG_Count
(POINT)
タグ名 : _NG_Count
(54)Bld312:Model03セット
_Model03_OK_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model03_OK_Count
-->
_OK_Count
(POINT)
タグ名 : _OK_Count
_Model03_NG_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model03_NG_Count
-->
_NG_Count
(POINT)
タグ名 : _NG_Count
(55)Bld313:Model04セット
_Model04_OK_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model04_OK_Count
A-32 IU2 設計事例集
-->
_OK_Count
(POINT)
タグ名 : _OK_Count
_Model04_NG_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model04_NG_Count
-->
_NG_Count
(POINT)
タグ名 : _NG_Count
モータ検査装置
(56)Bld314:Model05セット
_Model05_OK_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model05_OK_Count
-->
_OK_Count
(POINT)
タグ名 : _OK_Count
_Model05_NG_
Co... -->
(POINT)
タグ名 : _Model05_NG_Count
-->
_NG_Count
(POINT)
タグ名 : _NG_Count
(57)Bld320:テストステップ4(総合判定画面)設定
4
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Test_Step
(POINT)
タグ名 : _Test_Step
(58)Bld460:耐電圧/絶縁抵抗検査画面表示……Scr2を表示します。
2
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(59)Bld461:定点測定モード画面表示……Scr3を表示します。
3
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(60)Bld462:グラフ特性特性画面表示……Scr4を表示します。
4
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(61)Bld463:総合判定画面表示……Scr5を表示します。
5
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(62)Bld464:応答性検査(AUTO)画面表示……Scr200を表示します。
200
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
IU2 設計事例集 A-33
モータ検査装置
(63)Bld472:動作モニタ……トルク、
回転数、印加電圧、消費電流の監視などを行います。
0.2
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
30
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
Schmitt
Trigger
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Status_Disp_1_0
0.1
10
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
トルク入力
Schmitt
Trigger
タグ名 : _Status_Disp_1_1
回転数入力
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
Multiply
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
--> _Mon_Trq
(POINT)
Divide
タグ名 : _Mon_Trq
タグ名 : _AD_ch1
50
-->
_Divide_ERR
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Divide_ERR
Multiply
300
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
電流入力
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
電圧入力
タグ名 : _AD_ch2
--> _Mon_I
(POINT)
タグ名 : _Mon_I
Multiply
--> _Mon_V
(POINT)
Divide
タグ名 : _AD_ch3
タグ名 : _Mon_V
24
-->
_Divide_ERR
(POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Divide_ERR
10
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
(64)Bld473:エラーモニタ
_File_Read_Err
--> (POINT)
Or
タグ名 : _File_Read_Err
_Divide_ERR -> (POINT)
Or
タグ名 : _Divide_ERR
Or
タグ名 : _SV_ALM
_SV_EMG -->
(POINT)
Not
タグ名 : _SV_EMG
0
現在表示中のスクリーン番号
_Disp -->
(POINT)
タグ名 : _Disp
警報画面のスクリーン番号
200
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
A-34 IU2 設計事例集
--> _Err
(POINT)
タグ名 : _Err
_SV_ALM -->
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
Compare
-->
_SV_ALM_RST
(POINT)
タグ名 : _SV_ALM_RST
条件比較 : 入力1 != 入力2
--> _Mon_Rev
(POINT)
タグ名 : _Mon_Rev
タグ名 : _AD_ch0
10
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
モータ検査装置
6. プログラム一覧
(1) プログラム一覧
区分
システム
ページ
プログラムページ
内容
ページ
ページ
システム設定
M-7
Bld135
Scr1
起動画面
M-8
Bld136
耐電圧検査結果受信
M-22
Bld137
耐電圧検査結果表示
M-23
Bld138
検査回路切り替え
M-23
Bld150
初期化
M-23
Bld151
モータ起動
M-23
Bld152
無負荷回転特性測定
M-24
Scr3
特性検査(定点測定モード)
画面
M-9
スクリーン
Scr4
ページ
特性検査(グラフ特性モー
ド)画面
M-9
BLD
プログラム
内容
Sys1
耐電圧/絶縁抵抗検査画
面
サブ
ルーチン
プログラムページ
耐電圧検査要求コマンド
送信
Scr2
メイン
ルーチン
区分
M-8
M-22
Scr5
検査結果表示画面
M-10
Bld153
負荷印加
M-24
Scr100
検査規格表示画面
M-10
Bld154
トルク監視
M-24
Scr200
警報確認画面
M-11
Bld155
負荷回転特性測定
M-25
Scr250
条件設定画面
M-11
Bld156
モータ停止
M-25
Main1
DCモータ検査フロー
M-12
Bld157
判定表示
M-25
Bld200
初期化
M-26
Sub1
初期化-1
M-12
Sub2
初期化-2
M-13
Sub3
耐電圧/絶縁抵抗検査
M-13
Sub4
定点特性測定
M-14
Sub5
グラフ特性測定
M-14
Sub6
総合判定表示
M-15
Sub21
画面制御
M-15
Sub22
動作モニタ
M-16
Bld1
初期化-1
M-16
Bld100
初期化-2
M-17
Bld105
ファイル名格納メモリク
リア
M-18
Bld201
モータ起動
M-26
Bld202
グラフスタート
M-26
Bld203
負荷増加1
M-27
Bld204
印加トルク監視1
M-27
Bld205
印加トルク(低)測定
M-28
Bld206
負荷増加2
M-28
Bld207
印加トルク監視2
M-29
Bld210
印加トルク(高)測定
M-29
Bld211
グラフストップ
M-29
Bld212
モータ停止
M-30
判定表示
M-30
M-31
BLD
プログラム Bld213
Bld110
ファイル名指定
model-01
M-18
Bld300
総合判定結果セット
(定点特性)
Bld111
ファイル名指定
model-02
M-18
Bld301
総合判定結果セット
(グラフ特性)
M-31
Bld112
ファイル名指定
model-03
M-18
Bld302
Model01結果加算
M-31
Bld303
Model02結果加算
M-31
Bld113
ファイル名指定
model-04
M-18
Bld114
ファイル名指定
model-05
M-19
Bld120
設定ファイル読出し1/4
(文字)
M-19
Bld121
設定ファイル読出し2/4
(数値)
M-19
Bld122
設定ファイル読出し3/4
(数値)
M-20
Bld123
設定ファイル読出し4/4
(数値)
M-20
Bld304
Model03結果加算
M-32
Bld305
Model04結果加算
M-32
Bld306
Model05結果加算
M-32
Bld310
MODEL01セット
M-32
Bld311
MODEL02セット
M-32
Bld312
MODEL03セット
M-32
Bld313
MODEL04セット
M-32
Bld314
MODEL05セット
M-33
Bld320
テストステップ4(総合判
定画面)設定
M-33
Bld460
耐電圧/絶縁抵抗検査画
面表示
M-33
Bld124
テストステップ1設定
M-21
Bld125
テストステップ2設定
M-21
Bld126
テストステップ3設定
M-21
Bld461
定点測定モード画面表示
M-33
グラフ特性測定画面表示
M-33
Bld130
検査回路切り替え
M-21
Bld462
Bld131
GPIB回線制御
M-21
Bld463
総合判定画面表示
M-33
M-33
Bld132
絶縁抵抗検査要求コマン
ド送信
M-21
Bld464
応答性検査(AUTO)画面
表示
Bld133
絶縁抵抗検査結果受信
M-22
Bld472
動作モニタ
M-34
M-22
Bld473
エラーモニタ
M-34
Bld134
絶縁抵抗検査結果表示
IU2 設計事例集 A-35
A-36 IU2 設計事例集
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_1EGPIB _0
[0]
[1]
[1]
[1]
[2]
[2]
[2]
[3]
M 7999
M 9999
D 7999
D 9999
X 31
X 255
X 31719
Y 31
Y 255
Y 31719
D 10015
M0
M 8000
D0
D 8000
X0
X 32
X 1000
Y0
Y 32
Y 1000
D 10000
先頭 アト ゙レス
I/O 割付け一覧
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
[0]
スロット
I/O 割付け設定
IOMap 1 -
最終 アト ゙レス
ユーサ ゙名称
[1]
[0]
[0]
スロット
Parallel 1
出力 2
入力 2
AD 16
出力 2
入力 2
DA 8
出力 32
入力 32
入出力
D 10000 - D 10127
D 10000 - D 10127
Y 0- Y 255
X 0-X 255
割付先 テ ゙ハ ゙イス
_IU 2_8 EDA _100 M _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
無
無
有
無
無
有
有
有
割付
ユーサ ゙名称
float
float
割付 テ ゙ータ 型
32
16
32
32
割付点数
DA
出力
入力
10016
10000
0
0
入出力
先頭 アト ゙レス
16
32
32
10047
10015
31
31
割付点数
最終 アト ゙レス
モータ検査装置
(2) I/O割付け表
D 10047
D 10127
DBL 255
DB 30719
DC 30719
DS 30719
DL 30719
DF 30719
DD 30719
D 10016
D 10048
DBL 0
DB 0
DC 0
DS 0
DL 0
DF 0
DD 0
先頭 アト ゙レス
IOMap 2 -
最終 アト ゙レス
[2]
スロット
_IU2_16 EAD _20 M _0
ユーサ ゙名称
AD
入出力
32
割付点数
モータ検査装置
IU2 設計事例集 A-37
A-38 IU2 設計事例集
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :31 CH
X 31
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :5CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :6CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :7CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :8CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :9CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :10 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :11 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :12 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :13 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :14 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :15 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :16 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :17 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :18 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :19 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :20 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :21 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :22 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :23 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :24 CH
X5
X6
X7
X8
X9
X 10
X 11
X 12
X 13
X 14
X 15
X 16
X 17
X 18
X 19
X 20
X 21
X 22
X 23
X 24
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
Y 11
Y 10
Y9
Y8
Y7
Y6
Y5
Y4
Y3
Y2
Y1
Y0
アト ゙レス
_SV _ALM _RST
_SV _EMG
_SV _RS 2
_SV _RS 1
_SV _ON
_IW _TEST _CIRCUIT
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
テ ゙ハ ゙イス 確認 <Y 0-Y 255 >
アト ゙レス
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :11 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :10 CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :9CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :8CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :7CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :6CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :5CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :4CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :3CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :2CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :1CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :0CH
I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :30 CH
X 30
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :4CH
X4
テ ゙ハ ゙イス 確認 <X 1000 -X 31719 >
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :29 CH
X 29
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :28 CH
X 28
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :3CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :27 CH
X 27
X3
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :26 CH
X 26
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :2CH
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :25 CH
X 25
I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
X2
[0] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :0CH
I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
[0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :1CH
_SV _ALM
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
アト ゙レス
X1
X0
アト ゙レス
テ ゙ハ ゙イス 確認<X 0-X 255>
IOMap 3 -
モータ検査装置
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 13 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 14 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 15 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 16 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 17 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 18 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 19 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 20 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 21 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 22 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 23 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 24 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 25 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 26 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 27 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 28 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 29 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 30 CH
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 31 CH
Y 13
Y 14
Y 15
Y 16
Y 17
Y 18
Y 19
Y 20
Y 21
Y 22
Y 23
Y 24
Y 25
Y 26
Y 27
Y 28
Y 29
Y 30
Y 31
I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
[0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 12 CH
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
Y 12
アト ゙レス
IOMap 4 -
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
_DA _ch 1
_DA _ch 1_
D 10002
D 10003
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 4CH
D 10008
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 6CH
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 6CH
D 10012
D 10013
_AD _ch 1_
_AD _ch 2
D 10019
D 10020
_AD _ch 1
_AD _ch 0_
D 10017
D 10018
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 0CH
_AD _ch 0
D 10016
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 2CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 1CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 1CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 0CH
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 7CH
D 10015
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 7CH
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 5CH
D 10011
D 10014
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 5CH
D 10010
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 4CH
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 3CH
D 10007
D 10009
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 3CH
D 10006
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 2CH
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 1CH
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 1CH
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 0CH
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 0CH
I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
[1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 2CH
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
D 10005
D 10004
_DA _ch 0_
_DA _ch 0
D 10001
D 10000
アト ゙レス
デバイス確認<D10000-D10127>
アト ゙レス
デバイス確認<Y1000-Y31719>
モータ検査装置
IU2 設計事例集 A-39
A-40 IU2 設計事例集
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 4CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 5CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 5CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 6CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 6CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 7CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 7CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 8CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 8CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 9CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 9CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 10 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 10 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 11 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 11 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 12 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 12 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 13 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 13 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 14 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 14 CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 15 CH
D10026
D10027
D10028
D10029
D10030
D10031
D10032
D10033
D10034
D10035
D10036
D10037
D10038
D10039
D10040
D10041
D10042
D10043
D10044
D10045
D10046
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 3CH
D10025
_AD _ch 3_
D10023
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 3CH
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 2CH
I/O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 4CH
_AD _ch 3
D10022
デバイスタク ゙
D10024
_AD _ch 2_
D10021
アト ゙レス
IOMap 5 -
D10047
アト ゙レス
デバイスタク ゙
[2] : _IU 2_16 EAD _20 M_0 : AD : 15 CH
I/O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 )
モータ検査装置
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
ユーサ ゙名称
[0]
[3]
スロット
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
スロット
CH タク ゙
[0]
CH タグ確認
_IU 2_1EGPIB _00
CH タグ一覧
ChTag 1 -
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入出力
_IU 2_1EGPIB _0
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
ユーサ ゙名称
CH 番号
Parallel
入出力
CH タク ゙
0
CH 番号
コメント
コメント
モータ検査装置
(3) CHタグ一覧
IU2 設計事例集 A-41
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
ユーサ ゙名称
[0]
スロット
ChTag 2 -
A-42 IU2 設計事例集
出力
出力
出力
出力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入出力
3
2
1
0
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
CH 番号
CH タク ゙
コメント
モータ検査装置
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
ユーサ ゙名称
[0]
スロット
ChTag 3 -
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
入出力
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
CH 番号
CH タク ゙
コメント
モータ検査装置
IU2 設計事例集 A-43
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_32 EDIO _CPTR _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
_IU 2_8EDA _100 M _0
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[0]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
ユーサ ゙名称
[0]
スロット
ChTag 4 -
A-44 IU2 設計事例集
出力
出力
入力
入力
DA
DA
DA
DA
DA
DA
DA
DA
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
入出力
1
0
1
0
7
6
5
4
3
2
1
0
31
30
29
28
27
26
25
24
CH 番号
CH タク ゙
コメント
モータ検査装置
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
_IU 2 _1 EGPIB _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
[3 ]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
[2]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
[2]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
[2]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
_IU 2_16 EAD _20 M _0
[2]
[2]
_IU 2_16 EAD _20 M _0
ユーサ ゙名称
[2]
スロット
ChTag 5 -
Parallel
出力
出力
入力
入力
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
入出力
0
1
0
1
0
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
CH 番号
_IU 2 _1 EGPIB _00
CH タク ゙
コメント
モータ検査装置
IU2 設計事例集 A-45
A-46 IU2 設計事例集
割付先 デハ ゙イスアト ゙レス
_Graph _Clear _1
_Graph _Start _1
_Restart
_Next _Step
_PSW _1_1
_PSW _1_2
_PSW _2_1
_PSW _2_2
_PSW _2_3
_PSW _2_4
_PSW _2_5
_Start _Master
_Start _Step _0
_Start _Step _1
_Start _Step _2
_Start _Step _3
_Start _Step _4
M4
M5
M6
M 10
M 11
M 12
M 13
M 14
M 15
M 16
M 19
M 20
M 21
M 22
M 23
M 24
デバイスタク ゙
M3
アト ゙レス
デバイスタグ確認<M0-M7999>
デハ ゙イスタク ゙
デバイスタク ゙一覧
DevTag 1 -
コメント
コメント
_I_OK
_W _OK
M 30
M 31
_Status _Disp _0_0
M 100
_Status _Disp _0_5
M 105
_Status _Disp _0_9
_Status _Disp _1_0
M 109
M 110
_Status _Disp _1_2
_Status _Disp _1_3
M 112
M 113
_Status _Disp _1_1
_Status _Disp _0_8
M 108
M 111
_Status _Disp _0_7
M 107
_Status _Disp _0_6
_Status _Disp _0_4
M 104
M 106
_Status _Disp _0_3
_Status _Disp _0_2
M 103
M 102
_Status _Disp _0_1
_Load _Trq _Temp _OK
M 42
M 101
_Load _Trq _Hi _Ok
M 41
_Load _Trq _Low _Ok
_Start _Step _9
M 29
M 40
_Start _Step _8
_Start _Step _7
M 28
M 27
_Start _Step _6
M 26
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
_Start _Step _5
アト ゙レス
M 25
定点特性
定点特性
定点特性
定点特性
( 予備 )
( 予備 )
( 予備 )
( 予備 )
絶縁耐圧 NG
絶縁耐圧 OK
絶縁抵抗 NG
絶縁抵抗 OK
無負荷 NG
無負荷 OK
回転 /停止
ON で 回転
ON で 負荷
絶縁耐圧検査中
絶縁抵抗測定中
負荷 /無負荷表示
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
耐電圧絶縁試験
絶縁耐圧検査 OK
絶縁抵抗検査 OK
コメント
モータ検査装置
(4) デバイスタグリスト
_Status _Disp _2_6
_Status _Disp _2_7
_Status _Disp _2_8
_Status _Disp _2_9
_Status _Disp _3_0
_Status _Disp _3_1
_Status _Disp _3_2
_Status _Disp _3_3
M 126
M 127
M 128
M 129
M 130
M 131
M 132
M 133
_Status _Disp _3_9
_Status _Disp _2_5
M 125
M 139
_Status _Disp _2_4
M 124
_Status _Disp _3_8
_Status _Disp _2_3
M 123
M 138
_Status _Disp _2_2
M 122
_Status _Disp _3_7
_Status _Disp _2_1
M 121
M 137
_Status _Disp _2_0
M 120
_Status _Disp _3_6
_Status _Disp _1_9
M 119
M 136
_Status _Disp _1_8
M 118
_Status _Disp _3_5
_Status _Disp _1_7
M 117
M 135
_Status _Disp _1_6
M 116
_Status _Disp _3_4
_Status _Disp _1_5
M 115
M 134
_Status _Disp _1_4
デハ ゙イスタク ゙
M 114
アト ゙レス
DevTag 2 -
タイムオーバ
定格負荷 NG
定格負荷 OK
負荷増加中
ON で 増加中
印加 トルク
高 OK
低 NG
低 OK
高 NG
タイムオーバ
印加 トルク
印加 トルク
印加 トルク
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
結果表示 ( 予備 )
ク ゙ラフ 特性 ( 予備 )
ク ゙ラフ 特性 ( 予備 )
ク ゙ラフ 特性 ( 予備 )
ク ゙ラフ 特性
ク ゙ラフ 特性
ク ゙ラフ 特性
ク ゙ラフ 特性
ク ゙ラフ 特性
ク ゙ラフ 特性 ( 予備 )⇒ 定点 を 共用
ク ゙ラフ 特性
定点特性 ( 予備 )
定点特性 ( 予備 )
定点特性 ( 予備 )
定点特性
定点特性
定点特性
コメント
D 21
D 20
D 10
D9
D8
D7
D6
D5
D4
D3
D2
D1
D0
アト ゙レス
デバイスタグ確認<D0-D7999>
M 8640
アト ゙レス
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
_Divide _ERR
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
_Model 02 _OK _Count
_Model 01 _OK _Count
_Trq _Counter
_Time _Over 3
_Time _Over 2
_Time _Over 1
_Time _Over _Set
_Test _L _Time _Disp
_Test _L _Time
_Test _Step
_Err _Code
_Model _Disp
_Model
_Main 1_Start
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
_Err _Skip _PS _Test
_COMM _OK
_File _Read _Err
_Err
デバイスタグ確認<M8000-M9999>
M 206
M 205
M 204
M 203
M 200
アト ゙レス
Tset target
コメント
コメント
コメント
モータ検査装置
IU2 設計事例集 A-47
A-48 IU2 設計事例集
_Model 05 _OK _Count
_Model 01 _NG _Count
_Model 02 _NG _Count
_Model 03 _NG _Count
_Model 04 _NG _Count
_Model 05 _NG _Count
_OK _Count
_NG _Count
_TEST _DATA 00
D 24
D 25
D 26
D 27
D 28
D 29
D 30
D 31
D 1000
X0
_SV _ALM
_AD _ch 0
_AD _ch 0_
D 10016
D 10017
_DA _ch 1_
D 10003
コメント
アト ゙レス
デハ ゙イスタク ゙
_DA _ch 1
D 10002
_DA _ch 0
デバイスタグ確認<X0-X255>
D 10000
アト ゙レス
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
_SV _ALM _RST
_SV _EMG
_SV _RS 2
_SV _RS 1
_SV _ON
デバイスタグ確認<D10000-D10127>
アト ゙レス
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
_IW _TEST _CIRCUIT
デバイスタク ゙確認<Y1000-Y31719>
Y5
Y4
Y3
Y2
Y1
Y0
アト ゙レス
デバイスタク ゙確認 <Y0-Y255 >
アト ゙レス
デバイスタグ確認<X1000-X31719>
_DA _ch 0_
_Dis _OV 1
D 8501
Display select
コメント
コメント
D 10001
_Disp
D 8500
アト ゙レス
デハ ゙イスタク ゙
_Model 04 _OK _Count
D 23
デバイスタグ確認<D8000-D9999>
_Model 03 _OK _Count
デハ ゙イスタク ゙
D 22
アト ゙レス
DevTag 3 -
B 接点
コメント
コメント
コメント
コメント
モータ検査装置
_AD _ch 1 _
_AD _ch 2
_AD _ch 2 _
_AD _ch 3
_AD _ch 3 _
D 10019
D 10020
D 10021
D 10022
D 10023
_Type
アト ゙レス
デバイスタグ確認<DL0-DL30719>
アト ゙レス
デバイスタグ確認<DS0-DS30719>
DC 0
アト ゙レス
デバイスタグ確認<DC0-DC30719>
アト ゙レス
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
_Value _File _name
デバイスタグ確認<DB0-DB30719>
DBL 0
アト ゙レス
デバイスタグ確認<DBL0-DBL255>
_AD _ch 1
D 10018
アト ゙レス
DevTag 4 -
コメント
コメント
コメント
コメント
コメント
コメント
_Value _Noload _Current _Bnd
_Value _Load _Current _Hi
_Value _Load _Current _Hi _Bnd
_Value _Load _Current _Low
DF 22
DF 23
DF 24
DF 25
_Mon _Rev
DF 37
_Mon _Trq
_Mon _I
DF 36
DF 38
_Mon _V
_Value _Trq _Low
_Value _Trq _Hi
DF 35
DF 34
DF 33
_Value _Load _Rev _Bnd _Low
_Value _Load _Rev _Low
DF 31
DF 32
_Value _Load _Rev _Bnd _Hi
_Value _Load _Rev _Hi
DF 29
DF 30
_Value _Noload _Rev _Bnd
_Value _Noload _Rev
DF 28
DF 27
_Value _Load _Current _Low _Bnd
_Value _Noload _Current
DF 21
DF 26
_Value _Voltage
テ ゙ハ ゙イスタク ゙
DF 20
アト ゙レス
デバイスタグ確認<DF0-DF30719>
コメント
モータ検査装置
IU2 設計事例集 A-49
A-50 IU2 設計事例集
_Keisoku _Point_Nld_I
_Keisoku _Point_Nld_V
_Keisoku _Point_Ld_rev
_Keisoku _Point_Ld_Trq
_Keisoku _Point_Ld_I
_Keisoku _Point_Ld_V
_Keisoku _Point_Ld_rev_Hi
_Keisoku _Point_Ld_Trq_Hi
_Keisoku _Point_Ld_I_Hi
_Keisoku _Point_Ld_V_Hi
_Keisoku _Point_Ld_rev_Low
_Keisoku _Point_Ld_Trq_Low
_Keisoku _Point_Ld_I_Low
_Keisoku _Point_Ld_V_Low
_Trq_Temp
_Trq_step
DF41
DF42
DF43
DF44
DF45
DF46
DF47
DF48
DF49
DF50
DF51
DF52
DF53
DF54
DF60
DF61
アドレス
デバイスタグ
_Keisoku _Point_Nld_Trq
DF40
デバイスタク ゙確認 <DD0-DD30719 >
_Keisoku _Point_Nld_rev
デバイスタグ
DF39
アドレス
DevTag 5 -
トルク上昇ステップ
コメント
コメント
モータ検査装置
モータ検査装置
7. 規格ファイルフォーマット
注】データフォーマットを変更すると正しく読み込みできません。
************************************************************
保存ファイル名
_VALUE_MODEL01.txt
************************************************************
型式
MODEL-01
************************************************************
定格電圧(V)
24
無負荷電流(A)
0.5
同上許容値±(%)
15
定格負荷電流【高】
(A)
3.0
同上許容値±(%)
10
定格負荷電流【低】
(A)
0.6
同上許容値±(%)
10
無負荷回転数(rpm)
2000
同上許容値±(%)
15
定格負荷回転数【高】
(rpm)
400
同上許容値±(%)
10
定格負荷回転数【低】
(rpm)
1800
同上許容値±(%)
10
印加トルク【高】
(kg・cm)
3.0
印加トルク【低】
(kg・cm)
0.78
************************************************************
IU2 設計事例集 A-51
モータ検査装置
9. パソコンとのデータ通信プログラム例……IU-Links応用事例
1. Excel VBA操作画面
※ 2頁のプログラムを実行する前にIU_Linksをインストールする必要があります。
※ ファイルの保存先、送信元は絶対パスで指定して下さい。
※ ファイル名は、検査規格のファイル名を指定します。
※ _VALUE_MODEL01.txt は機種毎の検査規格ファイルです。パソコンへ MELQIC 内の規格ファイルを読み込み、修正した
ものを通信経由でMELQICに送信できます。
A-52 IU2 設計事例集
モータ検査装置
2. プログラムリスト
〇標準モジュール
''**************************************************************
''Public関数の設定
''**************************************************************
Public IUComm As New IUCOMLib.Client
''**************************************************************
''処理名称 : 通信パラメータの設定
''処理概要 : IU2と通信に必要なパラメータを一括でセットする
''引数
''戻り値
: なし
: なし
''***************************************************************
Public Sub SetDefaultPropaty()
Dim lValue As Long
'=============================================================
'●処理概要
' 各種パラメータを設定する。
'パラメータの設定 -> プロパティ設定メソッドの実行
lValue = 0
IUComm.ClientProperty("CommunicationMode") = lValue
lValue = &HAC110001
IUComm.ClientProperty("IPAddress") = lValue
lValue = 0
IUComm.ClientProperty("PortNumber") = lValue
lValue = 20
IUComm.ClientProperty("TimeOut") = lValue
End Sub
〇更新ボタン
''**************************************************************
''処理名称 : デバイス読出し
''処理概要 : IU2の指定デバイスの値を取得する
''引数
''戻り値
: なし
: なし
''***************************************************************
Private Sub Moniter_Start_Click()
IU2 設計事例集 A-53
モータ検査装置
Dim lType As Long
Dim lStartNum As Long
Dim lDBLOffSet As Long
Dim lNum As Long
Dim liDataType As Long
Dim loData As Long
Dim varArrayData
Dim lRet As Long
Dim ID As Integer
'=============================================================
'●処理概要
' IU2の指定デバイスの値を取得する
'=============================================================
'■通信ミドルウェア通信パラメータのセット
'通信パラメータセット
SetDefaultPropaty
'各種パラメータの設定
lType = &H80000005
'読出しデバイス種別=M
lStartNum = 10
'読出し開始デバイス番号=10
lNum = 7
'読出し点数
liDataType = &H22000000
'読み出したデバイスデータ型=Bool型
'IU2通信M/W COMコール(デバイス読出し)
On Error Resume Next
IUComm.DeviceRead lType, lStartNum, lDBLOffSet, lNum, _
liDataType, loData, varArrayData
'=============================================================
'■エラーコードを取得
lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode")
'=============================================================
If lRet <> 0 Then
MsgBox "エラーコード:" & lRet
End If
A-54 IU2 設計事例集
モータ検査装置
'■セルへ結果を出力する
If varArrayData(1) = 1 Then
Range("B5").Value = "定点特性モード"
ElseIf varArrayData(2) = 1 Then
Range("B5").Value = "グラフ特性モード"
End If
Range("B10:B14").Select
Selection.Interior.ColorIndex = xlNone
If varArrayData(3) = 1 Then
Range("B10").Select
With Selection.Interior
.ColorIndex = 8
.Pattern = xlSolid
.PatternColorIndex = xlAutomatic
End With
ID = 1
ElseIf varArrayData(4) = 1 Then
Range("B11").Select
With Selection.Interior
.ColorIndex = 8
.Pattern = xlSolid
.PatternColorIndex = xlAutomatic
End With
ID = 2
ElseIf varArrayData(5) = 1 Then
Range("B12").Select
With Selection.Interior
.ColorIndex = 8
.Pattern = xlSolid
.PatternColorIndex = xlAutomatic
End With
ID = 3
ElseIf varArrayData(6) = 1 Then
Range("B13").Select
With Selection.Interior
.ColorIndex = 8
.Pattern = xlSolid
.PatternColorIndex = xlAutomatic
End With
ID = 4
IU2 設計事例集 A-55
モータ検査装置
ElseIf varArrayData(7) = 1 Then
Range("B14").Select
With Selection.Interior
.ColorIndex = 8
.Pattern = xlSolid
.PatternColorIndex = xlAutomatic
End With
ID = 5
End If
'各種パラメータの設定
lType = &H80000007
lStartNum = 20
'読出しデバイス種別=D
'読出し開始デバイス番号=20
lNum = 10
'読出し点数
liDataType = &H2C000000
'読み出したデバイスデータ型=Short型
'IU2通信M/W COMコール(デバイス読出し)
On Error Resume Next
IUComm.DeviceRead lType, lStartNum, lDBLOffSet, lNum, _
liDataType, loData, varArrayData
'=============================================================
'■エラーコードを取得
lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode")
'=============================================================
If lRet <> 0 Then
MsgBox "エラーコード:" & lRet
End If
A-56 IU2 設計事例集
モータ検査装置
'■セルへ結果を出力する
Select Case ID
Case 1
Range("C10").Value = varArrayData(1)
Range("D10").Value = varArrayData(6)
Case 2
Range("C11").Value = varArrayData(2)
Range("D11").Value = varArrayData(7)
Case 3
Range("C12").Value = varArrayData(3)
Range("D12").Value = varArrayData(8)
Case 4
Range("C13").Value = varArrayData(4)
Range("D13").Value = varArrayData(9)
Case 5
Range("C14").Value = varArrayData(5)
Range("D14").Value = varArrayData(10)
End Select
End Sub
〇受信ボタン
''**************************************************************
''処理名称 : 指定ファイルの受信
''処理概要 : IU2から指定のファイルを取得する
''引数
''戻り値
: なし
: なし
''***************************************************************
Private Sub File_Get_Click()
Dim strFileName As String
Dim strFilePath As String
Dim strFullPath As String
Dim strName As String
Dim lRet As Long
'=============================================================
'●処理概要
' IU2から指定のファイルを取得する
'=============================================================
IU2 設計事例集 A-57
モータ検査装置
'■通信ミドルウェア通信パラメータのセット
'通信パラメータセット
SetDefaultPropaty
'各種パラメータセット
strFilePath = Range("H5").Value
strFileName = Range("H6").Value
strName = Application.Substitute(strFilePath, ":\", ":\\")
strFullPath = strName + "\" + strFileName
If vbYes = MsgBox("ファイルを受信しますか?", vbYesNo) Then
If Dir(strFullPath) = "" Then
'IU2通信M/W COMコール(ファイル受信)
On Error Resume Next
IUComm.FileGet strFileName, strFilePath
'=============================================================
'■エラーコード取得
lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode")
'=============================================================
If lRet = 0 Then
MsgBox "ファイルを受信しました"
Else
MsgBox "エラーコード:" & lRet
End If
Else
If vbYes = MsgBox("同じファイル名が在ります。" & vbcrl & "削除しますか?", vbYesNo) Then
'保存先ディレクトリの同じファイル名のファイルを削除
Kill strFullPath
'IU2通信M/W COMコール(ファイル受信)
On Error Resume Next
IUComm.FileGet strFileName, strFilePath
'=============================================================
'■エラーコード取得
lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode")
'=============================================================
A-58 IU2 設計事例集
モータ検査装置
If lRet = 0 Then
MsgBox "ファイルを受信しました"
Else
MsgBox "エラーコード:" & lRet
End If
End If
End If
End If
End Sub
〇送信ボタン
''**************************************************************
''処理名称 : 指定ファイルを送信
''処理概要 : IU2へ指定のファイルを送信する
''引数
''戻り値
: なし
: なし
''***************************************************************
Private Sub File_Put_Click()
Dim strFileName As String
Dim strFilePath As String
Dim strFullPath As String
Dim strName As String
Dim lRet As Long
'=============================================================
'●処理概要
' IU2から指定のファイルを取得する
'=============================================================
'■通信ミドルウェア通信パラメータのセット
'通信パラメータセット
SetDefaultPropaty
'各種パラメータセット
strFilePath = Range("H10").Value
strFileName = Range("H11").Value
strName = Application.Substitute(strFilePath, ":\", ":\\")
strFullPath = strName + "\" + strFileName
IU2 設計事例集 A-59
モータ検査装置
If vbYes = MsgBox("ファイルを送信しますか?", vbYesNo) Then
'IU2通信M/W COMコール(ファイル送信)
On Error Resume Next
IUComm.FilePut strFullPath
'=============================================================
'■エラーコード取得
lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode")
'=============================================================
If lRet = 0 Then
MsgBox "ファイルを送信しました"
Else
MsgBox "エラーコード:" & lRet
End If
End If
End Sub
〇クリアボタン
''**************************************************************
''処理名称 : 画面のクリア
''処理概要 : 検査モード、OK数、NG数を初期化する
''引数
''戻り値
: なし
: なし
''***************************************************************
Private Sub Moniter_Clear_Click()
If vbYes = MsgBox("クリアしますか?", vbYesNo) Then
Range("B5").Value = ""
Range("B10:B14").Select
Selection.Interior.ColorIndex = xlNone
Range("C10:D14").Value = "0"
Range("J18").Select
End If
End Sub
A-60 IU2 設計事例集
基板検査装置
もくじ
1.
検査装置の概要................................................................................................................................ B-1
2.
検査項目................................................................................................................................................. B-1
3.
MELQIC導入時の特長............................................................................................................... B-2
4.
システム構成
1.構成図................................................................................................................................................................. B-4
2.使用機器 ........................................................................................................................................................... B-5
3.搬送コンベヤ、ピンボード冶具の制御.................................................................................... B-5
4.シーケンサとMELQIC間の通信 .................................................................................................. B-5
5.
検査の流れ ........................................................................................................................................... B-6
6.
プログラム例
1.システム設定................................................................................................................................................ B-7
2.スクリーンページ .................................................................................................................................... B-8
3.メインルーチン .......................................................................................................................................B-13
4.サブルーチン.............................................................................................................................................B-14
5.ブロックダイヤグラム......................................................................................................................B-17
6.表形式..............................................................................................................................................................B-28
7.プログラム一覧 .......................................................................................................................................B-30
基板検査装置
1. 検査装置の概要
この検査装置はマイコンを搭載した基板の検査を行います。
検査・データ収集対象基板の仕様は下記の通りです。 項 目
仕 様
電源仕様
DC 24V、0.4A
電圧測定点
24V出力、
5V出力
RS232C通信
仕様:9600bps, 8bit,stop1bit, パリティなし
内容:受信データしたデータをそのまま送信する。
入力回路仕様
フォトカプラ入力(シンク入力:LでON、HでOFF)内部で24Vにプルアップ
出力回路仕様
NPNオープンコレクタトランジスタ出力
外部にプルアップ負荷を接続する。
入力パターンと同じ出力パターンとなる。
2. 検査項目
項 目
内 容
判定方法
目視検査
検査・データ収集対象に電源を供給する前に、基板部品の誤挿入・欠品などがないか目
OK/NGタッチキーによる判定
視確認する。
電流検査
24V消費電流の測定
判定値以内
電圧確認検査
24V電圧、
5V電圧の測定
判定値以内
RS232C通信検査
ASCII文字の送受信(送信したデータが受信データと一致することでOKとする。)
送受信データ一致
入出力回路検査
入力パターンを印加し、出力パターンを測定する。
入出力データ一致
リセット電圧検査
電源電圧を低下させて基板の低電圧監視回路が働き出力がクリアされることを確認
する。
出力全点OFF
IU2 設計事例集
B-1
基板検査装置
3. MELQIC導入時の特長
(1) 表形式プログラムの使用により、よりプログラム時間を削減できます。
・プログラムを表形式(csv形式)で記述できるのでプログラム時間を削減できます。
・表のみを表計算ソフトウェア(EXCEL等)により編集する事により、検査仕様変更への迅速な対応が可能です。
・表(csvファイル)を追加することにより機種の追加が容易です。
TEST1.csvという表形式プ
ログラムを実行します。
本検査の主たる検査内容
がここに収められていま
す。
BLD5
SHEET
1
動作検査前処理
TEST1.csv
SUB
動作CHECK
RET
TEST1.CSVの内容(抜粋)
STEP
1
2
3
4
COMMENT
POWER ON
CURRENT
P24_CHK
P5_CHK
5
6
7
8
9
TX_RX_CHK0
TX_RX_CHK1
TX_RX_CHK2
TX_RX_CHK3
TX_RX_CHK4
TSEL
0
3
3
3
POWER
0
24
24
24
PWR_RLY
ON
ON
ON
ON
1
1
1
1
1
24
24
24
24
24
ON
ON
ON
ON
ON
SHANT_RLY
OFF
OFF
ON
TX_NUM
TXD
0x00
0x00
0x41
0x41
INPUT
WAIT
0x00000000
2000
0x00000000
500
0x00000000
500
0x00000000
500
UNIT
TARGET
0
0
0
0
A
V
V
I_P24
V_P24
V_P5
1
1
1
1
1
0x41
0x42
0x43
0x44
0x45
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
HEX
HEX
HEX
HEX
HEX
RXD
RXD
RXD
RXD
RXD
900
900
900
900
900
MIN
MAX
0.1
23.5
4.5
EQUAL[HEX] OK/TRUE
NG/FALSE
0.2
24.5
5.5
0x41
0x42
0x43
0x44
0x45
(2) シーケンサとの高い親和性
MELQICは、シーケンサ(三菱電機(株)製MELSECシーケンサ FX、A、QnA、Qシリーズ)との計算機リンク通信専用
のファンクションブロック(FB)がありますので簡単にMELSECシーケンサとデータ通信が実現できます。
(適用例)
・ 通信設定
『PLC_COM INIT』FBによりボーレート/データビット長等を設定します。
B-2
IU2 設計事例集
基板検査装置
・ シーケンサへの書き込み例
『TEST_MODE』というデバイスタグ(データレジスタ)1個をシーケンサのデータレジスタD0へ書込みます。
PLC_COM
Write Point
TEST_MODE
--> (POINT)
タグ名 : TEST_MODE
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
PLCタイプ : FX
デバイス : D
インデックス : 0
局番 : 0
送信WAIT[Sec] : 0
・ シーケンサからの読み出し例
シーケンサの M0 ~ M3 の 4bit データを読み出し、MELQIC の『PLC_START』というデバイスから、その4bit
データを出力します。
PLC_COM
Read Point
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
PLCタイプ : FX
デバイス : M
インデックス : 0
読み出しビット数 : 4
局番 : 0
送信WAIT[Sec] : 0
WORD
-->
BIT
タグ名 : PLC_START
ポイント数 : 4
(3) 複数のメインフローを登録できます。
本事例においては、
main10 を管理用フローとして、main1(動作検査)の動作管理を実施しています。
これを応用さ
せ、main1、2、3・・・というように、
複数のフローを登録し管理フローにて条件判断させて、
動作させる検査プログラ
ムを切り換えることが可能です。
mainは最大30個まで登録可能です。
IU2 設計事例集
B-3
基板検査装置
4. システム構成
1. 構成図
/'.3+%ᴥ+7/*#ᴦ
ɬʔʷɺҋӌ
ʦ˂ʓ
+7'#&/
ᵻ8
оӌ
ժ۰᫖ໃ
ᵻ8
ҋӌ
ِް᫖ໃ
ፏᎅ‫ࢃټ‬Ӧɬʽʡ
4.
8
Ω
4.
-
4.
-
4.
᫖ໃ‫و‬ᡅ
оҋӌʦ˂ʓ
+7'&164
ཟ෱ႊоӌ‫و‬ᡅ
оҋӌʦ˂ʓ
+7'&+%2
ཟ෱ႊҋӌ‫و‬ᡅ
%*
45%ᣮαʦ˂ʓ
+7'-
ɬʔʷɺоӌʦ˂ʓ
ᴥటͶюᖽʦ˂ʓᴦ
/ +6 5 7 $ +5
*+
45%
%*
෱ႊ#&
ǽᴷM*\Ă8DKV
ʨɮɽʽ‫౉ژ‬
ᴥ೫౼ˁʑ˂ʉ
Ֆᪿߦ៎‫౉ژ‬ᴦ
ґ٢‫و‬ᡅ
᫖٢ລްཟ
ढջ
(
(
(
/#+0
15%+..1 (.19
.%&
%74514
(
(
(
(
4'5'6
5612
5'.'%6
%#0%'.
75$
8᫖٢ɁລްɂȾґ٢
Ȫȹᴾᵁ۰૰ȪɑȬ
ʁ˂ɻʽɿ
(
45 %
(
(
(
(
(
(
(
(
45%
ɽʽʛɹʒʟʳʍʁʯ
ᝁ᮷ʑ˂ʉί‫ސ‬
B-4
IU2 設計事例集
ˁଂᣞɽʽʣɬɁҤॅ
ˁʞʽʦ˂ʓผщɁҤॅ
ˁҜްፀ౓Ɂ՘ी
基板検査装置
2. 使用機器
形名
種別
保有入出力
IU2-4M10HA
本体
1MHzAD:2CH 200kHzAD:16CH
IU2-2E232-38K
RS-232C通信ボード
RS-232C通信ポート:2CH
IU2-64EDO-TR
入出力ボード
フォトカプラ入力 :4CH
オープンコレクタ出力:64CH
IU2-64EDI-CP
入出力ボード
フォトカプラ入力 :64CH
オープンコレクタ出力:4CH
IU2-8EAD-100M
アナログ出力ボード
DA出力
:8CH
CMOS入力:2CH
CMOS出力:2CH
3. 搬送コンベヤ、ピンボード治具の制御
・ 下図のように、基板はコンベヤ上を移動しますが、
ストッパーによって停止させられ、ピンボード 1、ピンボード 2 にて基板
を挟み込みながら特性検査を行います。
・ シーケンサは、基板搬送の為のコンベア制御、ストッパー制御、ピンボード治具上昇下降制御を行います。
4. シーケンサとMELQIC間の通信
・ シーケンサのデータレジスタD0
(動作モード)が2(リモートモード)のばあいにおいて、シーケンサとMELQICは下表に示
すデバイスを介してシリアル通信を行い、シーケンサから検査スタート操作及び判定結果モニタを行います。
MELQICとシーケンサ間の通信のデバイス対応表
MELQICのデバイス シーケンサのデバイス データ
TEST_MODE
D0
PLC_START
M0
PLC_IN_TEST
M1
PLC_JUDGE
M2
PLC_JUDGE_RESET
M3
0
1
2
1
0
1
0
1
0
1
0
動作
自動
マニュアル
リモート
検査スタート
-
検査中
OK
NG
判定RESET
-
データ方向(MELQIC動作)
MELQIC→シーケンサ(書込み)
MELQIC←シーケンサ(読出し)
MELQIC→シーケンサ(書込み)
MELQIC→シーケンサ(書込み)
MELQIC←シーケンサ(読出し)
・ リモートモード(D0 = 2)のばあい、シーケンサはピンボード治具によって基板の特性検査ができたことを確認した後に
M0を1にします。MELQICはM0を読出し、1の場合はM1
(検査中)に1を書込みます。検査終了時MELQICはM2(判定)を
書込み、その後M1(検査中)に0を書込みます。
IU2 設計事例集
B-5
基板検査装置
・ シーケンサがM3(判定RESET)を1にすると、MELQICはM2(判定)に0を書込みます。シーケンサは一定時間後M3を0に
します。
M0
検査中
M1
OK
M2
判定
NG
判定 RESET
M3
本事例においてシーケンサは FX2N-48MR を使用し、
RS232C通信設定は以下のように設定します。
プロトコル :専用プロトコル通信
データ長 :8bit、パリティ無し
ストップビット:1bit、
ボーレート :19200
H/Wタイプ :RS232C
サムチェック :付加する
伝送制御手順 :形式4
5. 検査の流れ
スタート
目視検査
N
OK?
Y
電流検査
N
OK?
Y
電圧検査
N
OK?
Y
RS-232C
通信検査
N
OK?
Y
入出力検査 及び
リセット検査
N
OK?
Y
結果表示
エンド
B-6
IU2 設計事例集
基板検査装置
6. プログラム例
1. システム設定
(1) コンフィグレーション
スロット
ユーザ名称
形名
_IU2_4M10HA_0
IU2-4M10HA
本体
1MHzAD:2CH 200kHzAD:16CH
[0]
_IU2_2E232_38K_0
IU2-2E232-38K
RS-232C通信ボード
RS-232C通信ポート:2CH
[1]
_IU2_64EDO_TR_0
IU2-64EDO-TR
入出力ボード
フォトカプラ入力 :4CH
オープンコレクタ出力:64CH
[2]
_IU2_64EDI_CP_0
IU2-64EDI-CP
入出力ボード
フォトカプラ入力 :64CH
オープンコレクタ出力:4CH
[3]
_IU2_8EAD_100M_0
IU2-18EAD-100M
アナログ出力ボード
DA出力
:8CH
CMOS入力:2CH
CMOS出力:2CH
[4]
vacancy
本体
種別
保有入出力
(2) I/O割付け……詳細はI/O割付け表を参照ください。・・・・・B-31~B-34
(3) CHタグ……CHタグ一覧表を参照ください。・・・・・B-35~B-40
(4) デバイスタグ……デバイスタグリストを参照ください。・・・・・B-41, B-42
IU2 設計事例集
B-7
基板検査装置
2. スクリーンページ
(1) Scr1: 起動画面
(2) Scr3:検査メイン画面
・START
:基板の検査を開始します。
・RESET
:基板の検査を停止します。
・SAVE SELECT :データ保存選択画面(Scr20)を表示します。
・STEP SELECT :STEP選択画面(Scr21)を表示します。
・STOP SELECT :STOP選択画面(Scr22)を表示します。
・COUNT CLEAR :総検査数、OK数、NG数をリセットします。
・MANUAL STEP :STEP実行時のステップ送りを行います。
・END
:検査を終了し、メイン画面(Scr1)に戻ります。
B-8
IU2 設計事例集
基板検査装置
(3) Scr10:目視検査結果選択画面
(4) Scr20:データ保存選択画面
・破棄 :試験結果を保存しません。
・保存 :試験結果を試験結果ファイルに保存します。
・キャンセル:メニューを消します。
(5) Scr21:STEP選択画面
・REMOTE :シーケンサからのスタート信号で『AUTO』が開始します。
・AUTO
:表形式プログラムのステップを続けて実行します。
・MANUAL:表形式プログラムの1ステップが終了する毎にF7キーの入力を待ちます。
IU2 設計事例集
B-9
基板検査装置
(6) Scr22:STOP選択画面
・FAIL STOP
:判定結果がNGとなったステップで検査を終了します。
・FAIL NON-STOP:判定結果がNGとなっても最後まで検査を実行します。
(7) Scr23:目視検査選択画面
・実施する :目視検査結果選択画面(Scr10)を表示します。
・実施しない:Scr10を表示しません。
(8) Scr30:通信検査表示画面
部品名 :数値表示
デバイス名:D8831
データ長 :16ビット
表示形式 :符号付き10進数
通信検査
検査ステップNo.
012
検査項目
AB
検査結果
判定
AB
部品名 :アスキー表示
デバイス名:D8836
B-10
IU2 設計事例集
送信データ
動作検査
判定値
AB
部品名 :アスキー表示
デバイス名:D8848
部品名 :アスキー表示
デバイス名:TXD
OK
部品名 :コメント表示(ワード)
デバイス名:D8831
開始番号 :49
部品名 :コメント表示(ワード)
デバイス名:D8832
開始番号 :10
基板検査装置
(9) Scr31:入出力検査表示画面
入出力検査
部品名 :数値表示
デバイス名:D8831
データ長 :16ビット
表示形式 :符号付き10進数
検査ステップNo.
012
検査項目
ロジック入力
動作検査
01234567
検査結果
判定
01234567
OK
部品名 :数値表示
デバイス名:D8836
データ長 :32ビット
表示形式 :16進数
判定値
01234567
部品名 :数値表示
デバイス名:D8848
データ長 :32ビット
表示形式 :16進数
部品名 :数値表示
デバイス名:D40
データ長 :32ビット
表示形式 :16進数
部品名 :コメント表示(ワード)
デバイス名:D8831
開始番号 :49
部品名 :コメント表示(ワード)
デバイス名:D8832
開始番号 :10
(10) Scr32:電圧検査表示画面
電圧検査
検査ステップNo.
部品名 :数値表示
デバイス名:D8831
データ長 :16ビット
表示形式 :符号付き10進数
012
検査項目
部品名 :コメント表示(ワード)
デバイス名:D8831
開始番号 :49
動作検査
規格最大値
規格最小値
01.345
01.345
部品名 :数値表示
デバイス名:D8844
データ長 :32ビット
表示形式 :実数
検査結果
01.345
部品名 :数値表示
デバイス名:D8840
データ長 :32ビット
表示形式 :実数
判定
OK
部品名 :コメント表示(ワード)
デバイス名:D8832
開始番号 :10
部品名 :数値表示
デバイス名:D8836
データ長 :32ビット
表示形式 :実数
(11)Scr90:OK画面
IU2 設計事例集
B-11
基板検査装置
(12) Scr91:NG画面
(13)Scr100:プログラム終了画面
Mainフローを停止しました。
再開する場合はリセット、又は電源の再投入を行ってください。
B-12
IU2 設計事例集
基板検査装置
3. メインルーチン
(1) Main1:基板検査フロー
リモートモードの場合は、
シーケンサへ検査中である
ことを知らせます。
デバイスの初期化
を行います。
T
T
START
基板検査
目視検査は、オーバ
ーラップウィンドウ
で、ダイアログを表
示してOK/NGタッチ
キーで良否を判定し
ます。
CALL
SUB1
目視検査
BLD42
1
リモートテスト中
BLD7
1
初期化処理
M13が0なら目視検査を
実施し、1なら目視検
査を飛ばします。
M13は検査スタート前
にF10キーによる目視
検査選択ダイアログで
実施有無の選択を行い
ます。
F
F
M13==0
TEST_MODE==2
CALL
CALL
SUB2
動作チェック
SUB4
終了処理
表形式プログラムに
よる動作チェックで
す。検査の内容によ
り、電圧確認検査・
RS232C通信検査・入
出力回路検査ありま
す。
目視検査と動作チェ
ックの結果から総合
判定を行います。
END
(2) Main10:動作管理……メインフローの動作管理を行います。
START
動作管理
CALL
CALL
SUB100
初期化処理
SUB101
アイドル処理
AFLOW1
BLD110
D8500==3
バックグランド処理
T
ベース画面が画面3(検査画面)の間、常にファンク
ションキー(F1~F16)の状態を監視します。監視結
果は、タッチキーの状態と共にD100(検査動作指示)
として更新されます
BLD116
D8600==0x0200
試験時間積算
AFLOW2
D100(検査動作指示)の状態に従って、メインルーチ
ン1(Main1)の動作を制御します。
F
検査時間測定:
D8600(メインルーチン1~16のRUN/STOP状態)を観
察し、メインルーチン1と10(Main1,Main10)がRUN
状態の間の時間を積算することで、検査に要した時
間を計測します。
D8600==0x0201
試験時間クリア
1
AFLOW3
BLD121
1
PLC_MONITOR
500 ms
IU2 設計事例集
B-13
基板検査装置
4. サブルーチン
(1) Sub1:目視検査
目視検査用のダイ
アログボックスの
OKとNGのいずれか
のキーが押される
のを待ちます。
デバイスの初期化
を行います。
目視検査用のダイアロ
グボックス(Scr 10)
を表示します。
T
SUB
目視検査
目視検査用のダイ
アログボックスを
消します。
BLD12
1
目視検査チェック
BLD7
BLD10
1
初期化処理
1
目視検査前処理
F
M32==1
判定入力待ち
T
T
F
BLD13
M30==1
1
NG処理
F
M12==1
目視検査がOKなら
M30が1、NGならM30
が0になります。
STOP条件(M12)
を確認します。
BLD14
D8500==0x0200
FAIL STOP処理
STOP条件がFAIL STOP
の場合、ここでメイ
ンルーチン1(Main1)
を停止します。
(2) Sub2:動作CHECK
表形式プログラムTEST1.CSVを
実行します。本検査の主たる
検査内容がここに収められて
います。
SUB
動作CHECK
AFLOW1
BLD5
SHEET
1
動作検査前処理
TEST1.csv
RET
常にRS232Cでの送受信を実施します。
BLD2
0
動作検査処理
AFLOW2
BLD3
検査項目の種類により、オーバーラップ画面で
表示するフォーマットを選んで表示させます。
1
測定内容別表示
AFLOW3
BLD4
1
動作試験処理2
B-14
IU2 設計事例集
被検査物へのDIGITAL信号入出力とP24電圧とP5
電圧等の測定を行います。
電源電圧の設定も行います。
RET
基板検査装置
(3) Sub4:終了処理……検査終了処理と判定表示を行います。
表計式プログラムの全
判定結果(D8833)が1の
ときOK。
目視検査結果、動作検
査結果がともにOKのと
き総合判定OK。
1
M30=1のときOK。
動作検査結果
BLD40
目視検査結果
T
1
総合判定OK処理
200 ms
T
SUB
F
終了処理
F
BLD41
1
総合判定NG処理
D8833==1
M30==1
1
RET
BLD43
1
MAIN_FLOW1終了処理
200 ms
(4) Sub100:初期処理……プログラムの初期化処理を行います。
SUB
初期処理
RET
BLD1
1
内部レジスタ初期化
(5) Sub101:アイドル処理
SUB
アイドル処理
1
1
2
2
3
3
4
4
Def
CALL
RET
SUB102
検査プログラム中アイドル処理
BLD113
1
終了処理
D20
IU2 設計事例集
B-15
基板検査装置
(6) Sub102:検査プログラム中アイドル処理
F9キーがおされていると
M8008は1になります。
T
1
F9によるSTART処理
SUB
検査プログラム
中アイドル処理
F
M8008==1
タッチキーとファンクシ
ョンキーの状態のORデー
タが入っているD100の内
容で分岐します。
1
1
2
2
3
4
4
8
5
16
BLD101
6
32
7
64
1
リセット処理
8
128
9
256
10
512
1
START処理
BLD101
F2キーまたはRESETタッチキーで検査を中断しま
す。
BLD102
F3キーまたはSAVE SELECTタッチキーで、検査デ
ータをCFに保存する/しないを選択します。
BLD103
F4またはSTEP SELECTタッチキーで検査動作モー
ド(オート/マニュアル)を選択します。
BLD102
M20==1
保存選択
Def
BLD103
BLD119
BLD108
M21==1
STEP選択
1
TEST_MODE書込み
1
画面表示後処理
BLD104
M22==1
STOP選択
BLD105
1
統計データクリア
BLD106
1
NEXT
BLD107
T
F
BLD108
オーバーラップ画面で表示したダイアログを消去
します。
BLD104
F5キーまたはSTOP SELECTタッチキーで検査終了
の方法を選択します。FAIL STOPはNG発生時に検
査を完了し、FAIL NON STOPはOK/NGにかかわらず
検査最終ステップまで継続します。
BLD105
F6キーあるいはCOUNT CLEARタッチキーで、総検
査数/OK数/NG数の積算をクリアします。
BLD106
STEP条件がMANUALの時に、F7キーで次のSTEPに
移ります。(NEXTタッチキーは無効です)
BLD107
F8キーあるいはENDタッチキーでメインフルーチ
ン1を終了し、起動画面(Scr1)に戻ります。
BLD118
BLD118
F10キーで、目視検査の実施有無を選択します。
BLD120
1
START処理
(TEST_MODE==2)&&(PLC_START==1)
RET
1
END
M23==1
目視検査選択
IU2 設計事例集
BLD100
F1キーあるいはSTARTタッチキーで検査を開始(メ
インルーチン1を開始)します。
BLD100
D100
B-16
BLD117
F9キーでも検査スタートします。(隠れスタート
キー)
BLD117
基板検査装置
5. ブロックダイヤグラム
(1) Bld1:内部レジスタ初期化
通信用レジスタ初期化
画面表示レジスタ初期化
特殊デバイス初期化
100
RS232C
Clear
RS232C Init
Baud Rate: 9600
Number of Data Bits: 8
Stop Bit: 1
Parity: 偶数
Flow Control: なし
0
DataType: BOOL
8602
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
8500
1
DataType: 16 ビット整数
STEPキー割り付け
0
7
DataType: 16 ビット整数
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
8501
8820
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
0
DataType: BOOL
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
PLC_COM
Init
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
ボーレート : 19200
データビット : 8
ストップビット : 1
パリティ : なし
タイムアウト[Sec] : 5
伝聞WAIT : 0
制御手順 : 4
サムチェック : ON
フロー制御 : None
0
DataType: BOOL
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
DataType: BOOL
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
0
DataType: BOOL
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
条件設定用I/O初期化
DataType: BOOL
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A0
DataType: BOOL
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A1
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Tag Name: PWR_RLY
Device Name: D
8812
JDEVICE
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
8813
20
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
0
DataType: BOOL
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: D
8811
22
0
Device Name: D
8810
21
0
Device Name: D
8802
20
RS-232Cによるシーケンサ
との通信をIU2-2E232-38K
基板のCH1で行う為の準備
を行います。
Device Name: D
8801
JDEVICE
(POINT)
12
0
Device Name: M
8800
11
シーケンサ通信初期化
Device Name: M
8641
10
MANUAL時F7を押す
Device Name: D
8640
Device Name: D
8814
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
8815
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
13
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
8820
7
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
汎用レジスタ初期化
0
1
DataType: BOOL
5
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
1
0
DataType: 16 ビット整数
DataType: 16 ビット整数
0
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
DataType: 16 ビット整数
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
JDEVICE
(POINT)
Device Name: M
Device Name: M
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
Device Name: M
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
8
DataType: 16 ビット整数
Device Name: M
102
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
101
7
通信コマンド番号
DataType: 16 ビット整数
Device Name: M
JDEVICE
(POINT)
3
0
0
6
JDEVICE
(POINT)
2
0
15
JDEVICE
(POINT)
103
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
9
4
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: M
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: M
IU2 設計事例集
B-17
基板検査装置
(2) Bld2:動作検査処理……RS-232Cによる検査・データ収集対象基板との通信処理を行います。
TXDタグで示されるDCレジスタデバイスアレイを
IU2-2E232-38KボードのCH0に送信します。
1
2E232-38K
Send
DEVICEJ
(ARRAY)
Tag Name: TXD
Board Name: _IU2_2E232_38K_0
CH Number: 0
Send time out [sec]: 0
Synch
2E232-38K
Receive
17
1
JDEVICE
(ARRAY)
--> RXD
(POINT)
DC17 -->
(POINT)
デバイス名 : DC
0
Board Name: _IU2_2E232_38K_0
CH Number: 0
Receive time out [sec]: 1
Receive maximum bytes: 16
1
17
Transition
タグ名 : RXD
デバイス名 : DC
IU2-2E232-38KボードのCH0が受信したデータを”RXD”デバイスタグ
で示されるDCレジスタデバイスアレイに格納します。
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(3) Bld3:測定内容別表示……STEP毎に表示する画面のフォーマットを選択してOK/NG表示をします。
DEVICEJ
(POINT)
30
Tag Name: TSEL
0
DataType: 16 ビット整数
1
DataType: 16 ビット整数
2
DataType: 16 ビット整数
3
DataType: 16 ビット整数
B-18
IU2 設計事例集
Compare
8501
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
条件比較:入力1 =入力2
Compare
30
8501
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
条件比較:入力1 =入力2
Compare
31
8501
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
条件比較:入力1 =入力2
Compare
32
DataType: 16 ビット整数
8501
JDEVICE
(POINT)
Device Name: D
条件比較:入力1 =入力2
基板検査装置
(4) Bld4:動作検査処理2
検査・データ収集対象基板へのデジタル入出力信号、5V電源、24V電源等の測定、および電源電圧の設定を行います。
೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎‫౉ژ‬ɋɁ᫖ໃ᫖٢ᜫް
೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎‫౉ژ‬ɋɁ&+)+6#.αհоҋӌ
8EDA- 100M
Analog
Output [V]
೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎‫౉ژ‬ɋɁ&+)+6#.αհоҋӌ᚜ᇉɁȲɔ&Ⱦɕɽʞ˂ȪɑȬǿ
↓
POWER
( POINT)
Divide
Ž žp„ žջA+7A'&#A/A
%* Ⴍհ
↓
↓
WORD
INPUT
(POINT)
BIT
€xžջ219'4
LONG
D[n],D[n+1]
3.0
€xžջ
+0276
↓
40
ƒ žp€ ‫ž‹ټ‬o„๙Ӧߴୣཟ
ᄽ૚оӌ᣹ୣ
BIT
↓
WORD
↓
DEVICE
( POINT)
6CI0COG 176276
42
↓
LONG
D[n],D [n+1]
3
↓
2᫖٢Ǿ2ᴲ᫖٢ລްȻ2๡៵᫖ํɁລް
DEVICE
(POINT)
Multiply
&CVC6[RG‹žo„๙Ӧߴୣཟ
CH3
2ɂǾʰʕʚ˂ɿʵ‫౉ژ‬юȺȾ઀੷ґ٢Ȫȹȗ
ɞɁȺລްϏȾɥ̋አȪȹʑ˂ʉɥಐጞȪɑȬǿ
44
GetNewData
[V]
↓
FLOAT
D[n],D[ n+1]
DEVICE
(POINT)
↓
CH2
6CI0COG 8 A2 GetNewData
[V]
6CI0COG 8 A 2 46
↓
FLOAT
D[n],D[n+1]
DEVICE
(POINT )
↓
30
Multiply
ƒ žp€ ‫ž‹ټ‬o„๙Ӧߴୣཟ
€xžջ+A2 48
GetNewData
[V]
FLOAT
D[n],D[n+1]
↓
CH4
2Ɂ๡៵᫖ํɂǾʰʕʚ˂ɿʵ‫౉ژ‬юȺĞʁ
ʭʽʒ઀੷Ɂ˵ብ᫖٢ɥȾ઀੷ґ٢ȪȹȗɞɁ
ȺລްϏȾɥ̋አȪȹʑ˂ʉɥಐጞȪɑȬǿ
(5) Bld5:動作検査前処理
105
1
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
デバイス名 : D
IU2 設計事例集
B-19
基板検査装置
(6) Bld7:内部レジスタ初期化(試験毎)
RS232C Init
RS232C
Clear
条件設定用I/Oの初期化
10
Baud Rate: 9600
Number of Data Bits: 8
Stop Bit: 1
Parity: 偶数
Flow Control: なし
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
画面表示レジスタの初期化
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
108
8500
3
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
8501
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
8502
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Tag Name: WAVE_GENERATOR_A0
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Tag Name: WAVE_GENERATOR_A1
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
0
JDEVICE
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Tag Name: PWR_RLY
0
DataType: 16 ビット整数
Device Name: M
8
(7) Bld10:目視検査前処理……Scr10を表示します。
30
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: M
DataType: BOOL
31
8501
10
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: M
DataType: BOOL
32
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
(8) Bld12:目視検査後処理……Scr10を消します。
ダイアログ消去
8501
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
(9) Bld13:目視検査NG
総合判定NG
10
B-20
ダイアログ表示
1
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
IU2 設計事例集
105
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: D
基板検査装置
(10)Bld14:目視Fail Stop
総合判定NG
101
101
8502
91
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
JDEVICE
(POINT)
Increment
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: D
Device Name: D
103
103
JDEVICE
(POINT)
Increment
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: D
Device Name: D
メインフローのRESET
8602
JDEVICE
(POINT)
リセットモード
0
Device Name: D
DataType: BOOL
8640
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
0
1
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
(11)Bld40:総合判定OK
OK画面表示
-->
PLC_JUDGE
(POINT)
1
8502
90
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
PLC_COM
Write Point
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
PLCタイプ : FX
デバイス : M
インデックス : 2
書き込みビット数 : 1
局番 : 0
送信WAIT[Sec] : 0
SUMインクリメント
101
101
DEVICEJ
(POINT)
タグ名 : PLC_JUDGE
JDEVICE
(POINT)
Increment
Device Name: D
Device Name: D
OKインクリメント
102
102
DEVICEJ
(POINT)
Increment
JDEVICE
(POINT)
Device Name: D
Device Name: D
(12)Bld41:総合判定NG
NG画面表示
0
8502
91
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
101
DEVICEJ
(POINT)
タグ名 : PLC_JUDGE
PLC_COM
Write Point
SUMインクリメント
101
-->
PLC_JUDGE
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
Increment
Device Name: D
Device Name: D
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
PLCタイプ : FX
デバイス : M
インデックス : 2
書き込みビット数 : 1
局番 : 0
送信WAIT[Sec] : 0
NGインクリメント
103
103
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: D
Increment
JDEVICE
(POINT)
Device Name: D
IU2 設計事例集
B-21
基板検査装置
(13)Bld42:リモートテスト中……リモートモードの場合、シーケンサへ検査中であることを知らせます。
-->
PLC_IN_TEST
(POINT)
1
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : PLC_IN_TEST
PLCへ書込み
BIT
-->
WORD
-->
PLC_JUDGE
(POINT)
0
タグ名 : PLC_JUDGE
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
PLC_COM
Write Point
タグ名 : PLC_IN_TEST
ポイント数 : 2
PLC_IN_TEST=1、PLC_JUDGE=0に設定
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
PLCタイプ : FX
デバイス : M
インデックス : 1
書き込みビット数 : 2
局番 : 0
送信WAIT[Sec] : 0
(14)Bld43:MAIN_FLOW1終了処理
ᵊCKPʟʷ˂Ɂ4'5'6
8602
D8602
(POINT)
↓
ʴʅʍʒʬ˂ʓ
0
ƒ žŠ žr} ջ&
&CVC6[RG$11.
8640
↓
M8640
(POINT)
0
ƒžŠ žr} ջ/
&CVC6[RG$11.
0
M0
(POINT)
&CVC6[RG$11.
ƒ žŠ žr} ջ/
↓
1
೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎‫౉ژ‬ɋɁ᫖ໃɥҒɞ
↓
PWR_RLY
(POINT)
0
€xžջ294A4.;
↓
&CVC6[RG$11.
PLC_IN_TEST
(POINT)
€xžջ2.%A+0A6'56
PLC_COM
Write Point
೫౼˹ɥ৙֞Ȭɞʁ˂ɻʽ
ɿɁ/Ⱦᴥɬɮʓʵ˹ᴦ
ɥంȠᣅɒɑȬǿ
Žžp„žջA+7A'A-A
%*Ⴍհ
2.%€rŒŸ(:
ƒžŠžr}/
rƒžox}
ంȠᣅɒ‹žo„ୣ
ࠈႭ
ᣞα9#+6=5GE?
3
(ARRAY)
€xžջ%*'%-A07/
%*'%-A07/Ǿ1-A07/Ǿ0)A07/
Ɂʑ˂ʉɥ2.%Ɂ&ᵻ&Ⱦం
ȠᣅɒɑȬǿ
B-22
IU2 設計事例集
PLC_COM
Write ARRAY
↓
CHECK_NUM
Žžp„žջA+7A'A-A
%*Ⴍհ
2.%€rŒŸ(:
ƒžŠžr}&
rƒžox}
ంȠᣅɒཟୣ
ࠈႭ
ƒžp€€rŒŸDKV
ᣞα9#+6=5GE?
基板検査装置
(15)Bld100:START処理……F1キーまたはSTARTキーで検査(Main1)を開始します。
START/STOPボタン
押下処理
Mainフロー
START/STOP処理
0
0
8602
JDEVICE
(POINT)
Not
DEVICEJ
(POINT)
1
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
Device Name: M
Device Name: M
100
8640
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
0
JDEVICE
(POINT)
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: M
Device Name: M
(16)Bld101:リセット処理……F2キーまたはRESETキーで検査を中断します。
1
1
検査プログラムのRESET
JDEVICE
(POINT)
Not
DEVICEJ
(POINT)
8602
Device Name: M
Device Name: M
100
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: D
8640
8502
JDEVICE
(POINT)
0
0
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
0
1
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
(17) Bld102:データ保存選択画面表示
F3キーまたはSAVE SELECTキーで検査データをCFに保存/保存しないを選択します。
8501
20
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
0
8801
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
2
2
DEVICEJ
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
Not
10
Device Name: M
Device Name: M
8502
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
DEVICEJ
(POINT)
Not
Device Name: M
1
8801
DataType: 16 ビット整数
JDEVICE
(POINT)
Device Name: D
(18)Bld103:STEP選択画面表示……F4キーまたはSTEP SELECTキーで検査モード(AUTO/MANU)を選択します。
8501
21
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
3
3
DEVICEJ
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
Not
Device Name: M
Device Name: M
8502
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
IU2 設計事例集
B-23
基板検査装置
(19)Bld104:STOP選択画面表示……F5キーまたはSTOP SELECTキーで検査終了の方法を選択します。
8501
22
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
4
4
DEVICEJ
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
Not
Device Name: M
Device Name: M
8502
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
(20)Bld105:データクリア……F6キーまたはCOUNT CLEARキーで総試験数/OK数/NG数の積算をクリアします。
101
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
102
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
103
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
100
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
5
5
DEVICEJ
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
Not
Device Name: M
Device Name: M
(21)Bld106:NEXT処理……STEP条件がMANUALのときにF7キーで次のステップに移ります。
6
6
DEVICEJ
(POINT)
Not
Device Name: M
Device Name: M
ストップ選択画面表示
B-24
IU2 設計事例集
JDEVICE
(POINT)
基板検査装置
(22)Bld107:END処理……F8キーまたはENDキーでMain1を終了し、起動画面(Scr1)へ戻ります。
7
7
条件設定用I/Oの初期化
JDEVICE
(POINT)
Not
DEVICEJ
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
0
Device Name: M
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A0
8602
リセットモード
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: D
検査プログラムの終了
JDEVICE
(POINT)
0
DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A1
8640
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
0
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Tag Name: PWR_RLY
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
100
8501
JDEVICE
(POINT)
メイン画面の表示
0
メインフローのRESET
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
15
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
8500
1
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
20
8502
0
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
DataType: BOOL
Device Name: D
(23)Bld108:画面表示後処理
ボタンステータス クリア
検査ステータスの更新
20
8801
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
10
JDEVICE
(POINT)
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: M
Device Name: M
21
8800
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
11
JDEVICE
(POINT)
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: M
Device Name: M
22
8802
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
12
JDEVICE
(POINT)
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: M
Device Name: M
23
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
オーバラップウィンドウクローズ
メイン画面ボタンステータスクリア
100
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
8501
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
IU2 設計事例集
B-25
基板検査装置
(24)Bld110:バックグランド処理
Functionキー
BIT
L
WORD
110
JDEVICE
(POINT)
Device Name: D
キーステータス反映
100
100
DEVICEJ
(POINT)
JDEVICE
(POINT)
Or
Device Name: D
110
Device Name: D
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: D
(25)Bld113:フロー全終了
リセットモード
8602
終了画面の表示
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
JDEVICE
(POINT)
100
JDEVICE
(POINT)
Device Name: M
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
0
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
デバイス名 : M
DataType: BOOL
デバイス名 : M
メインフロー1の終了
8640
0
DataType: BOOL
8500
8649
メインフロー10の終了
15
100
20
0
JDEVICE
(POINT)
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
DataType: BOOL
Device Name: D
(26)Bld116:検査時間積算
108
1
JDEVICE
(POINT)
Add
DataType: 16 ビット整数
108
Device Name: D
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: D
8054
Pulse
DEVICEJ
(POINT)
Device Name: M
Pulse Action Setup: 立ち上がり、立下り両方でパルス信号出力
(27)Bld117:F9によるSTART処理
100
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
Mainフロー
START/STOP処理
8602
JDEVICE
(POINT)
1
Main1続行
Device Name: D
DataType: 16 ビット整数
8640
B-26
8501
0
1
JDEVICE
(POINT)
DataType: BOOL
Device Name: M
IU2 設計事例集
Main1スタート指令ON
基板検査装置
(28)Bld118:目視検査選択……F10キーで、目視検査の実施有無を選択します。
目視検査選択画面表示
8501
23
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
8502
0
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
(29)Bld119:TEST_MODE書込み
TEST_MODEをシーケンサのD0に書込み
PLC_COM
Write Point
TEST_MODE
--> (POINT)
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
PLCタイプ : FX
デバイス : D
インデックス : 0
局番 : 0
送信WAIT[Sec] : 0
タグ名 : TEST_MODE
(30)Bld120:シーケンサによるSTART処理
8602
1
JDEVICE
(POINT)
DataType: 16 ビット整数
Device Name: D
D8602(メインルーチン1~6の継続/リセット)
を『継続』にします。
8640
JDEVICE
(POINT)
1
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
メインルーチン1の起動
Device Name: M
(31)Bld121:シーケンサ モニタ
TEST_MODE書込み後、シーケンサの
M0~M3レジスタを読出します。読
出しのデータ型はSHORT型です。
読出したSHORT型のデータをPLC_START、
PLC_IN_TEST、PLC_JUDGE、
PLC_JUDGE_RESET
というデバイスタグにビット展開します。
WORD
-->
BIT
PLC_COM
Read Point
タグ名 : PLC_START
ポイント数 : 4
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
PLCタイプ : FX
デバイス : M
インデックス : 0
読み出しビット数 : 4
局番 : 0
送信WAIT[Sec] : 0
PLC_JUDGE_
RESE... -->
(POINT)
タグ名 : PLC_JUDGE_RESET
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
PLC_COM
Write Point
シーケンサがPLC_JUDGE_RESETを1にした場合、シー
ケンサのM2に0を書込みします。
→次にこのBLD21を処理する時に、シーケンサ
のM2が読込まれPLC_JUDGEが0になります。
ボード名 : _IU2_2E232_38K_0
CH 番号 : 1
PLCタイプ : FX
デバイス : M
インデックス : 2
書き込みビット数 : 1
局番 : 0
送信WAIT[Sec] : 0
IU2 設計事例集
B-27
B-28
IU2 設計事例集
TEST_A_bit13_ON
TEST_A_bit14_ON
TEST_A_bit15_ON
TEST_A_bit16_ON
TEST_A_bit17_ON
29
30
31
32
TEST_A_bit12_ON
27
28
TEST_A_bit11_ON
26
TEST_A_bit2_ON
17
TEST_A_bit10_ON
TEST_A_bit1_ON
16
25
TEST_A_bit0_ON
15
TEST_A_bit9_ON
TEST_A_all_OFF
TEST_A_bit8_ON
TX_RX_CHK8
13
14
23
TX_RX_CHK7
12
24
TX_RX_CHK6
11
TEST_A_bit7_ON
TX_RX_CHK5
10
TEST_A_bit6_ON
TX_RX_CHK4
9
22
TX_RX_CHK3
8
21
TX_RX_CHK2
7
TEST_A_bit5_ON
TX_RX_CHK1
6
20
TX_RX_CHK0
5
TEST_A_bit3_ON
P5_CHK
4
TEST_A_bit4_ON
P24_CHK
3
19
CURRENT
2
18
POWER ON
COMMENT
1
STEP
TEST_1…基板検査
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
1
1
1
1
1
1
1
1
1
3
3
3
0
TSEL
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
0
POWER
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
PWR_RLY
ON
OFF
OFF
SHANT_RLY
TXD
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x48
1 0x47
1 0x46
1 0x45
1 0x44
1 0x43
1 0x42
1 0x41
0 0x41
0 0x41
0 0x00
0 0x00
TX_NUM
0x00020000
0x00010000
0x00008000
0x00004000
0x00002000
0x00001000
0x00000800
0x00000400
0x00000200
0x00000100
0x00000080
0x00000040
0x00000020
0x00000010
0x00000008
0x00000004
0x00000002
0x00000001
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
0x00000000
INPUT
V
V
A
UNIT
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
900 HEX
900 HEX
900 HEX
900 HEX
900 HEX
900 HEX
900 HEX
900 HEX
900 HEX
500
500
500
2000
WAIT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
RXD
RXD
RXD
RXD
RXD
RXD
RXD
RXD
RXD
V_P5
V_P24
I_P24
TARGET
4.5
23.5
0.1
MIN
5.5
24.5
0.2
MAX
0x00020000
0x00010000
0x00008000
0x00004000
0x00002000
0x00001000
0x00000800
0x00000400
0x00000200
0x00000100
0x00000080
0x00000040
0x00000020
0x00000010
0x00000008
0x00000004
0x00000002
0x00000001
0x00000000
0x41
0x48
0x47
0x46
0x45
0x44
0x43
0x42
0x41
EQUAL[HEX]
OK/TRUE
NG/FALSE
基板検査装置
6. 表形式
TEST_A_bit26_ON
TEST_A_bit27_ON
TEST_A_bit28_ON
TEST_A_bit29_ON
TEST_A_bit30_ON
TEST_A_bit31_ON
TEST_A_even_ON
TEST_A_odd_ON
TEST_A_all_ON
RESET_IN
TEST_A_all_OFF
41
42
43
44
45
46
47
48
49
50
51
38
TEST_A_bit24_ON
TEST_A_bit23_ON
37
TEST_A_bit25_ON
TEST_A_bit22_ON
36
40
TEST_A_bit21_ON
35
39
TEST_A_bit19_ON
TEST_A_bit20_ON
34
TEST_A_bit18_ON
COMMENT
33
STEP
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
TSEL
0
8
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
24
POWER
OFF
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
PWR_RLY
OFF
SHANT_RLY
TXD
1
0
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
1 0x41
TX_NUM
0
0x00000000
0xffffffff
0xaaaaaaaa
0x55555555
0x80000000
0x40000000
0x20000000
0x10000000
0x08000000
0x04000000
0x02000000
0x01000000
0x00800000
0x00400000
0x00200000
0x00100000
0x00080000
0x00040000
INPUT
UNIT
100 HEX
1000 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
100 HEX
WAIT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
OUTPUT
TARGET
MIN
MAX
0
0xffffffff
0xffffffff
0xaaaaaaaa
0x55555555
0x80000000
0x40000000
0x20000000
0x10000000
0x08000000
0x04000000
0x02000000
0x01000000
0x00800000
0x00400000
0x00200000
0x00100000
0x00080000
0x00040000
EQUAL[HEX]
OK/TRUE
NG/FALSE
基板検査装置
IU2 設計事例集
B-29
基板検査装置
7. プログラム一覧
(1) プログラム一覧
区分
システム
ページ
プログラムページ
内容
ページ
Sys1
システム設定
B-7
Scr1
起動画面
B-8
Scr3
検査メイン画面
B-8
Scr10
目視検査結果選択画面
B-9
Scr20
データ保存選択画面
B-9
Scr21
STEP選択画面
B-9
Scr22
STOP選択画面
B-10
スクリーン
Scr23
ページ
目視検査選択画面
B-10
Scr30
通信検査表示画面
B-10
Scr31
入出力検査表示画面
B-11
Scr32
電圧検査表示画面
B-11
Scr90
OK画面
B-11
Scr91
NG画面
B-12
Scr100
プログラム終了画面
B-12
Main1
基板検査フロー
B-13
Main10
動作管理
B-13
Sub1
目視検査
B-14
Sub2
動作CHECK
B-14
Sub4
終了処理
B-15
Sub100
初期処理
B-15
Sub101
アイドル処理
B-15
Sub102
検査プログラム中アイド
ル処理
B-16
Bld1
内部レジスタ初期化
B-17
Bld2
動作検査処理
B-18
Bld3
測定内容別表示
B-18
Bld4
動作検査処理2
B-19
Bld5
動作検査前処理
B-19
Bld7
内部レジスタ初期化(試験
毎)
B-20
目視検査前処理
B-20
目視検査後処理
B-20
Bld13
目視検査NG
B-20
Bld14
目視Fail Stop
B-21
Bld40
総合判定OK
B-21
Bld41
総合判定NG
B-21
Bld42
リモートテスト中
B-22
Bld43
MAIN_FLOW1終了処理
B-22
メイン
ルーチン
サブ
ルーチン
BLD
Bld10
プログラム
Bld12
B-30
IU2 設計事例集
区分
プログラムページ
ページ
Bld100
START処理
B-23
Bld101
リセット処理
B-23
Bld102
データ保存選択画面表示
B-23
Bld103
STEP選択画面表示
B-23
Bld104
STOP選択画面表示
B-24
Bld105
データクリア
B-24
Bld106
NEXT処理
B-24
Bld107
END処理
B-25
画面表示後処理
B-25
バックグランド処理
B-26
Bld113
フロー全終了
B-26
Bld116
検査時間積算
B-26
Bld117
F9によるSTART処理
B-26
Bld118
目視検査選択
B-27
Bld119
TEST_MODE書込み
B-27
Bld120
シーケンサによるSTART
B-27
処理
Bld121
シーケンサ モニタ
B-27
TEST_1
基板検査
B-28
BLD
Bld108
プログラム
Bld110
SHEET
ファイル
内容
_IU2_2E232 _38K_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
[0]
[1]
[1]
[2]
[2]
[3]
[3]
[3]
M7999
M9999
D7999
D9999
X63
X255
X31719
Y63
Y255
Y31719
D10127
DBL 255
DB30719
DC30719
DS30719
DL30719
DF30719
DD30719
M0
M8000
D0
D8000
X0
X64
X1000
Y0
Y64
Y1000
D10000
DBL 0
DB0
DC0
DS0
DL0
DF0
DD0
先頭 アドレス
I/O割付け一覧
_IU2_4M10HA_0
本体内蔵
スロット
I/O割付け設定
IOMap 1 -
最終 アドレス
ユーサ ゙名称
[1]
[2]
スロット
出力 2
入力 2
DA8
出力 4
入力 64
出力 64
入力 4
Serial 2
AD18
入出力
割付
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDI _CP_0
無
無
無
無
有
有
無
無
X0-X255
Y0-Y255
割付先 デバイス
ユーサ ゙名称
割付 データ型
64
64
割付点数
出力
入力
0
0
入出力
先頭 アドレス
64
64
63
63
割付点数
最終 アドレス
基板検査装置
(2) I/O割付け表
IU2 設計事例集
B-31
B-32
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 1CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 2CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 3CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 4CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 5CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 6CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 7CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 8CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 9CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 10CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 11CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 12CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 13CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 14CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 15CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 16CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 17CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 18CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 19CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 20CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 21CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 22CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 23CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 24CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 25CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 26CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 27CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 28CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 29CH
X1
X2
X3
X4
X5
X6
X7
X8
X9
X10
X11
X12
X13
X14
X15
X16
X17
X18
X19
X20
X21
X22
X23
X24
X25
X26
X27
X28
X29
I/O割付 (スロット :ユーザ名称 :入出力 :CH番号 )
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 0CH
デバイスタク ゙
X0
アドレス
デバイス確認<X0-X255>
IOMap 2 -
IU2 設計事例集
X60
X59
X58
X57
X56
X55
X54
X53
X52
X51
X50
X49
X48
X47
X46
X45
X44
X43
X42
X41
X40
X39
X38
X37
X36
X35
X34
X33
X32
X31
X30
アドレス
デバイスタク ゙
I/O割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH番号 )
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 60CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 59CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 58CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 57CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 56CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 55CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 54CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 53CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 52CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 51CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 50CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 49CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 48CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 47CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 46CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 45CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 44CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 43CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 42CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 41CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 40CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 39CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 38CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 37CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 36CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 35CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 34CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 33CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 32CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 31CH
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 30CH
基板検査装置
デバイスタク ゙
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 13CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 14CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 15CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 16CH
Y13
Y14
Y15
Y16
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 22CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 12CH
Y12
Y22
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 11CH
Y11
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 21CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 10CH
Y10
Y21
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 9CH
Y9
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 20CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 8CH
Y8
Y20
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 7CH
Y7
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 19CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 6CH
Y6
Y19
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 5CH
Y5
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 18CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 4CH
Y4
Y18
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 3CH
Y3
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 17CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 2CH
Y2
Y17
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 1CH
Y1
I/O割付 (スロット :ユーザ名称 :入出力 :CH番号 )
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 0CH
デバイスタク ゙
Y0
アドレス
デバイス確認<Y0-Y255>
アドレス
I/O割付 (スロット :ユーザ名称 :入出力 :CH番号 )
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 63CH
X63
デバイス確認<X1000-X31719>
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 62CH
X62
I/O割付 (スロット :ユーザ名称 :入出力 :CH番号 )
[2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 61CH
デバイスタク ゙
X61
アドレス
IOMap 3 I/O割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH番号 )
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 30CH
Y30
WAVE _GENERATOR _A1
PWR _RLY
SHANT _RLY
Y33
Y34
Y35
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 39CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 44CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 48CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 49CH
Y48
Y49
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 53CH
Y53
IU2 設計事例集
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 58CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 59CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 57CH
Y58
Y59
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 56CH
Y57
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 55CH
Y56
Y55
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 54CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 52CH
Y52
Y54
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 51CH
Y51
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 50CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 47CH
Y47
Y50
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 46CH
Y46
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 45CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 43CH
Y44
Y45
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 42CH
Y43
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 41CH
Y42
Y41
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 40CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 38CH
Y39
Y40
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 37CH
Y38
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 36CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 35CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 34CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 33CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 32CH
Y37
Y36
WAVE _GENERATOR _A0
Y32
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 31CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 29CH
Y31
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 28CH
Y29
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 27CH
Y28
Y27
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 26CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 24CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 23CH
[1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 25CH
デバイスタク ゙
Y26
アドレス
Y25
Y24
Y23
基板検査装置
B-33
B-34
IU2 設計事例集
[1] : _IU2_64EDO_TR_0 : 出力 : 63CH
Y63
デバイスタグ
アドレス
デバイスタグ
デバイス確認<D10000-D10127>
アドレス
I/O割付(スロット:ユーザ名称:入出力:CH番号)
I/O割付(スロット:ユーザ名称:入出力:CH番号)
[1] : _IU2_64EDO_TR_0 : 出力 : 62CH
Y62
デバイス確認<Y1000-Y31719>
[1] : _IU2_64EDO_TR_0 : 出力 : 61CH
Y61
I/O割付(スロット:ユーザ名称:入出力:CH番号)
[1] : _IU2_64EDO_TR_0 : 出力 : 60CH
デバイスタグ
Y60
アドレス
IOMap4 -
基板検査装置
_IU2_4M10HA_0
_IU2_4M10HA_0
_IU2_4M10HA_0
_IU2_4M10HA_0
_IU2_4M10HA_0
_IU2_4M10HA_0
_IU2_2E232 _38K_0
_IU2_2E232 _38K_0
_IU2_64EDO _TR_0
本体
本体
本体
本体
本体
本体
[0]
[0]
[1]
IU2 設計事例集
[1]
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_4M10HA_0
本体
[1]
_IU2_4M10HA_0
本体
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_4M10HA_0
本体
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_4M10HA_0
本体
[1]
_IU2_4M10HA_0
本体
[1]
_IU2_4M10HA_0
本体
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_4M10HA_0
本体
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_4M10HA_0
本体
[1]
_IU2_4M10HA_0
本体
[1]
_IU2_4M10HA_0
本体
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_4M10HA_0
本体
[1]
_IU2_4M10HA_0
スロット
CHタグ
本体
CHタグ確認
CHタグ一覧
ChTag 1 -
ユーサ ゙名称
スロット
出力
出力
出力
出力
入力
入力
入力
入力
Serial
Serial
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
入出力
3
2
1
0
3
2
1
0
1
0
17
16
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
ユーサ ゙名称
CH番号
入出力
CHタグ
CH番号
コメント
コメント
基板検査装置
(3) CHタグ一覧
B-35
B-36
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
スロット
ChTag 2 ユーサ ゙名称
IU2 設計事例集
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
入出力
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
CH番号
CHタグ
コメント
基板検査装置
IU2 設計事例集
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDO _TR_0
_IU2_64EDI _CP_0
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[1]
[2]
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDO _TR_0
[1]
[2]
_IU2_64EDO _TR_0
[1]
スロット
ChTag 3 ユーサ ゙名称
入力
入力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
入出力
1
0
63
62
61
60
59
58
57
56
55
54
53
52
51
50
49
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
CH番号
CHタグ
コメント
基板検査装置
B-37
B-38
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
スロット
ChTag 4 ユーサ ゙名称
IU2 設計事例集
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入出力
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
CH番号
CHタグ
コメント
基板検査装置
IU2 設計事例集
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
[2]
_ IU 2_ 64 EDI _ CP _0
_IU2_64EDI _CP_0
[2]
[ 2]
_IU2_64EDI _CP_0
[2]
スロット
ChTag 5 ユーサ ゙名称
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入出力
63
62
61
60
59
58
57
56
55
54
53
52
51
50
49
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
CH番号
CHタグ
コメント
基板検査装置
B-39
B-40
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_64EDI _CP_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
_IU2_8EDA _100 M_0
[2]
[2]
[2]
[2]
[3]
[3]
[3]
[3]
[3]
[3]
[3]
[3]
[3]
[3]
[3]
[3]
スロット
ChTag 6 ユーサ ゙名称
IU2 設計事例集
出力
出力
入力
入力
DA
DA
DA
DA
DA
DA
DA
DA
出力
出力
出力
出力
入出力
1
0
1
0
7
6
5
4
3
2
1
0
3
2
1
0
CH番号
CHタグ
コメント
基板検査装置
RESET
SAVE _SEL
STEP _SEL
STOP _SEL
COUNT _CLR
NEXT
END _BUTTON
NEXT _DISP
OK_NG
SAVE _FLG
STEP _FLG
STOP _FLG
MAIN _MENU
DATA _STORE _SELECT
STEP _SELECT
STOP _SELECT
MOKUSHI _SELECT
MOKUSHI _OK
MOKUSHI _NG
MOKUSHI _END
PLC _START
PLC _IN_TEST
PLC _JUDGE
PLC _JUDGE _RESET
M1
M2
M3
M4
M5
M6
M7
M8
M9
M10
M11
M12
M15
M20
M21
M22
M23
M30
M31
M32
M50
M51
M52
M53
IU2 設計事例集
TSEL
D50
MAIN _SEL
TX_NUM
D2
D100
TEST _MODE
D0
アドレス
デバイスタグ確認<D0-D7999>
アドレス
デバイスタク ゙確認<M8000-M9999>
START
M0
アドレス
デバイスタグ確認<M0-M7999>
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙一覧
DevTag 1 -
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
割付先 デバイスアト ゙レス
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1:FAIL NON -STOP
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TEST _MODE 0:AUTO /1:MANU /2:REMOTE
PLC _JUDGE _END (M3)
PLC _JUDGE (M2)
PLC _IN_TEST (M1)
PLC _START (M0)
目視入力確認
目視検査 NG
目視検査 OK
目視検査選択 ボタン
STOP 選択 ボタン
STEP 選択 ボタン
データ 選択 ボタン
MAIN _MENU ボタン 押下確認
STOP 選択 0:FAILSTOP
STEP 選択 0:AUTO 1:MANUAL
データ 保存 0:破棄 1:保存
OK/NG 確認 ボタン
NEXT ボタン 表示 /非表示選択
END ボタン
NEXT ボタン
COUNT _CLR ボタン
STOP _SEL ボタン
STEP _SEL ボタン
SAVE _SEL ボタン
RESET ボタン
START ボタン
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SampleData
UpperLimit
LowerLimit
D151
D152
アドレス
SHANT _RLY
PWR _RLY
WAVE _GENERATOR _A1
WAVE _GENERATOR _A0
アドレス
デバイスタグ確認<DB0-DB30719>
アドレス
デバイスタグ確認<DBL0-DBL255>
アドレス
デバイスタク ゙確認<D10000-D10127>
アドレス
デバイスタグ確認<Y1000-Y31719>
Y35
Y34
Y33
Y32
デバイスタク ゙確認 <Y0-Y255>
アドレス
デバイスタグ確認<X1000-X31719>
アドレス
デバイスタグ確認<X0-X255>
アドレス
デバイスタグ確認<D8000-D9999>
NG_NUM
D150
OK_NUM
D102
D103
CHECK _NUM
アドレス
D101
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
デバイスタク ゙
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基板検査装置
(4) デバイスタグリスト
B-41
B-42
IU2 設計事例集
RXD
DC16
OUTPUT
DL1
V_P5
I_P24
POWER
DF1
DF2
DF16
アドレス
デバイスタグ確認<DD0-DD30719>
V_P24
DF0
アドレス
デバイスタグ確認<DF0-DF30719>
INPUT
DL0
アドレス
デバイスタグ確認<DL0-DL30719>
アドレス
デバイスタグ確認<DS0-DS30719>
TXD
DC0
アドレス
デバイスタグ確認<DC0-DC30719>
DevTag2 -
デバイスタグ
デバイスタグ
デバイスタグ
デバイスタグ
デバイスタグ
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基板検査装置
圧力センサ検査装置
もくじ
1.
圧力センサの概要
1.機能....................................................................................................................................................................... C-1
2.特性....................................................................................................................................................................... C-1
2.
検査内容
1.圧力センサの圧力もれ検査(リーク検査)........................................................................... C-1
2.圧力センサの応答性検査 ................................................................................................................... C-2
3.
MELQIC採用の検査装置
1.MELQIC導入時の特長......................................................................................................................... C-3
2.検査装置の構成 .......................................................................................................................................... C-5
3.検査の流れ...................................................................................................................................................... C-6
4.
プログラム例
1.システム設定................................................................................................................................................ C-8
2.スクリーンページ .................................................................................................................................... C-9
3.メインルーチン ...................................................................................................................................... C-14
4.サブルーチン............................................................................................................................................ C-14
5.ブロックダイヤグラム……BLD.............................................................................................. C-20
6.表形式............................................................................................................................................................. C-39
7.プログラム一覧 ...................................................................................................................................... C-41
圧力センサ検査装置
1. 圧力センサの概要
1. 機能
圧力導入口に通じる密閉空間に圧力検出用素子が配置さ
れ、密閉空間に導入された圧力と大気圧の差に対応したア
ナログ電圧を出力するものです。
2. 特性
大気圧を基準として、
圧力導入口に導入される圧力と大気
圧の差に対応した直流電圧を出力します。
出力電圧 Vout(V)
4
2.5
1
0 (大気圧)
-50
50
気圧(差圧、mmHg)
2. 検査内容
1. 圧力センサの圧力もれ検査(リーク検査)
(1) 圧力センサと圧力測定器に同一圧力を印加し、圧力
測定器の出力電圧を測定します。
圧力発生器
(2) 圧力導入弁を閉じで所定時間待ちます。
(3) 所定時間経過後の圧力測定器の出力電圧を測定し
ます。
バルブ1: 開→閉
(4) 出力電圧の変化より圧力の変化を求め、所定の圧力
変化以内にあるかどうかを判定します。
圧力測定器
出力電圧(Vout)を
測定
圧力センサ
IU2 設計事例集
C-1
圧力センサ検査装置
2. 圧力センサの応答性検査
(1) 加圧応答性検査
圧力を急激に印加したときの検査・データ収集対象センサの出力電圧を測定し、所定の出力電圧 (VthL - VthH) を横
切る時間を測定します。
開
バルブ 1
圧力発生器
閉
バルブ 2
バルブ 1
(500ms)
開
バルブ 2
閉
→ 大気開放
圧力発生器
の発生圧力
圧力測定器
Vout
時間を計測
出力電圧(Vout)を測定
圧力センサ
(2) 減圧応答性検査
圧力を印加後、
急激に大気開放したときの出力電圧を測定し、
所定の出力電圧値(VthH - VthL) を横切る時間を測定
します。
バルブ 1
開
閉
(500ms)
バルブ 2
閉
開(大気開放)
圧力発生器
の発生圧力
Vout
時間 を計測
加圧応答性
減圧応答性
VthH
(3.5V)
V out
V out
VthH
(3.5V)
VthL
(1.5V)
VthL
(1.5V)
T1
T2
(0) (100) (200) (300)
時間(ms)
C-2
IU2 設計事例集
T3
(10) (20)
T4
(30)
時間(ms)
圧力センサ検査装置
3. MELQIC採用の検査装置
1. MELQIC導入時の特長
(1) アナログデータ集録処理が容易です。
【Bld253, 303】
高速、汎用のデータ集録専用のFBがあります。これらを組合わせることにより少ないプログラム量でアナログデータ
のサンプリング機能が容易に実現できます。
①
1
CH0
High-Speed
DAQ
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
集録CH : CH0
サンプリング周波数[Hz] CH0 , CH1 : 1000
サンプリング周波数[Hz] CH2~CH17 : 200000
集録時間[Sec] : 1
プリトリガー時間[Sec] : 0.1
トリガー種別 : トリガーなし
ロックモード[Sec] : 0
DAQ
-->
ANALOG
-->
_Daq_Err_Flag_.
.. (POINT)
②
③
Transition
-->
_Daq_Data_1
タグ名 : _Daq_Data_1
④
タグ名 : _Daq_Err_Flag_1
⑤
Wait
Transition
Wait 時間[ms] : 0
〔処理説明〕
記載箇所
①
処理内容
備考
サンプリング周期1000Hzで1sec間データを集録する様に設定します。
(1000点のデータが収集されます。)
入力の1は実
行指示
②③
①で集録したデータを型変換し_Daq_Data_1という名前のデータブロックに保存します。
④⑤
データ集録時のエラーフラグの処理を行います。
(⑤はタイミング調整用)
(2) グラフ表示が簡単にできます。
【Scr4~5】
変数グラフ表示専用FBがあります。必要な情報を設定することで簡単にグラフ表示ができます。
(上記はIU Developer画面上の表示イメージです。)
IU2 設計事例集
C-3
圧力センサ検査装置
(3) マルチタスクプログラムが簡単にできます。
【Sub5~6】
並進分岐というフローツールを準備しております。この機能を使用することで並列処理プログラムを簡単に設定す
ることができます。
並進分岐
BLD 252
1
加圧
後処理
後処理
BLD 253
1
テ ゙ータ 集録
最大 32個の分岐 が可能 です 。
(“加圧制御 ”と“データ 集録 ”を実行 する 例です 。)
(4) フラッシュメモリのファイルが簡単に検査装置へ読出しできます。
【Bld30~33】
パソコンで作成した設定値ファイルがフラッシュメモリ
(PCMCIA カード)を介して簡単に検査装置へ読出しできま
す。
①
②
_Value_File_
na...-->
タグ名:_Value_File_name
ReadFile
(TEXT)
読出データ
③
10
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名:_File_Read_Err
〔処理説明〕
記載箇所
C-4
処理内容
①
読出ファイル名を指定します。
②
①で指定したファイルの10行目を読出します。
③
ファイル読出し時のエラー発生時のフラグ処理を行います。
IU2 設計事例集
(次の処理へ)
圧力センサ検査装置
2. 検査装置の構成
(1) 構成図
/'.3+%ᴥ+7/*#ᴦ
ʃʉ˂ʒαհ
ൡሗҒఉαհ
Ҝްፀ౓αհ
оҋӌʦ˂ʓ
+7'&+1%264
٢ӌ઩͎αհ
ɬʔʷɺҋӌʦ˂ʓ
+7'&#/
Ă8DKV
٢ӌᄉႆ‫ب‬
ᵻ8
٢ӌລް‫ب‬
ᄉႆ٢ӌʬʕʉႊᴦ
ʚʵʠ
ᮠӦ‫و‬ᡅ
ʚʵʠ
‫۾‬෥ᩒ୐
ᵻ8
෱ႊ#&ᴷM*\Ă8DKV
ʚʵʠ
٢ӌລް‫ب‬
ɬʔʷɺоӌʦ˂ʓ
ᴥటͶюᖽᴦ
ʚʵʠᴷ٢ӌԱӏᴬ߈ᩐႊ
ʚʵʠᴷ٢ӌԱӏᴬ‫۾‬෥ᩒ୐ႊ
٢ӌʅʽɿລްႊᴦ
10ᴷʚʵʠᩒ
1((ᴷʚʵʠᩐ
ᯚᣱ#&ᴷ/*\Ă8DKV
ᵻ8
٢ӌʅʽɿҋӌ᫖٢
ᚱ೫౼
٢ӌʅʽɿ
8
᫖ໃ᫖٢
/ +65 7$ +5* +
ढջ
೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ႊ
᫖ໃ
(
(
(
/#+0
15%+..1 (.19
.%&
%74514
(
(
(
(
4'5'6
5612
5'.'%6
%#0%'.
75$
(
45 %
(
(
(
(
(
(
(
(
(2) 使用機器
形名
種別
保有入出力
IU2-4M10HA
本体
1MHzAD:2CH 200kHzAD:16CH
IU2-16EDIO-CPTR
入出力ボード
フォトカプラ入力:16CH オープンコレクタ出力:16CH
IU2-8EDA-100M
アナログ出力ボード
汎用DA:8CH CMOS入出力:各2CH
IU2 設計事例集
C-5
圧力センサ検査装置
3. 検査の流れ
(1) 検査の全体フロー……検査時間:約31s
検査 の全体 フロー
検査装置 の
電源 をON
機種 を選択
検査開始 ?
Y
電源電圧 が規定値
以外 の場合電源 を
OFF する 。
圧力 センサ の
電源 をON
電源電圧 が
規定値以内 か?
N
圧力 センサ の
電源 をOFF
処理時間 :約3s
Y
圧力 もれ 検査
加圧応答性
検査
処理時間 :約9s(待機時間含む)
減圧応答性
検査
処理時間 :約9s(待機時間含む)
検査結果 を
PCカード へ出力
Y
検査 を継続 するか ?
N
終了
C-6
IU2 設計事例集
処理時間 :約10s(待機時間 8s含む)
圧力センサ検査装置
(2) 圧力もれ検査
圧力もれ検査
バルブ1開放
バルブ2遮断
圧力発生器で
圧力発生
圧力発生器の
発生圧力測定
圧力測定器1で圧力発生器の圧力を測定
規定の圧力値
になったか?
N
規定の圧力になるまで待機
Y
バルブ1遮断
圧力センサ測定用
圧力測定器の
出力電圧(V1)測定
所定時間計測
圧力センサ測定用
圧力測定器の
出力電圧(V2)測定
|V1-V2|
バルブ1を遮断し、直後の圧力測
定器2の出力電圧(V1)を測定
所定時間(8s)待機する
圧力測定器2の出力電圧(V2)を測定
|V1-V2|を演算し、圧力換算し
て所定の範囲かどうか判定する
終了
(3) 応答性検査
加圧応答性検査
減圧応答性検査
バルブ1、2遮断
バルブ1開放
バルブ2遮断
圧力発生器 で
圧力発生
圧力発生器 の
発生圧力測定
規定の圧力値
になったか ?
圧力発生器 で
圧力発生
圧力測定器 1で圧力発生器 の圧力を測定
N
規定の圧力になるまで 待機
圧力発生器 の
発生圧力測定
規定の圧力値
になったか ?
圧力測定器 1で圧力発生器 の圧力を測定
N
規定の圧力になるまで 待機
Y
圧力センサ測定用
圧力測定器器 の
出力電圧測定開始
Y
圧力測定器 2の出力電圧 の測定を開始する
バルブ1を開く
応答時間算出
終了
圧力センサ測定用
圧力測定器器 の
出力電圧測定開始
圧力測定器 2の出力電圧 の測定を開始する
バルブ2を開く
圧力測定器 2の出力電圧 がVthL→VthH
(1.5V→3.5V)となる時間を測定し、所
定の範囲かどうか 判定する
応答時間算出
圧力測定器 2の出力電圧 がVthH→VthL
(3.5V→1.5V)となる時間を測定し、所
定の範囲かどうか 判定する
終了
IU2 設計事例集
C-7
圧力センサ検査装置
4. プログラム例
1. システム設定
(1) コンフィグレーション スロット
ユーザ名称
形名
種別
_IU2_4M10HA_0
IU2-4M10HA
本体
1MHzAD:2CH
200kHzAD:16CH
[0]
_IU2_16EDIO_CPTR_0
IU2-16EDIO-CPTR
入出力ボード
フォトカプラ入力:16CH
オープンコレクタ出力:16CH
[1]
_IU2_8EDA_100M_0
IU2-8EDA-100M
アナログ出力ボード
汎用DA:8CH
CMOS入出力:各2CH
[2]
vacancy
[3]
vacancy
本体
(2) I/O割付け……詳細はI/O割付け表を参照ください。……C-42~C-44
(3) CHタグ……CHタグ一覧を参照ください。……C-45~C-47
(4) デバイスタグ……デバイスタグリストを参照ください。……C-48~C-54
C-8
保有入出力
IU2 設計事例集
圧力センサ検査装置
2. スクリーンページ
(1) Scr1:操作メニュー画面……検査装置の操作内容を設定する画面です。
・試験開始:試験開始スイッチ
・MANU :試験モードのAUTO/MANUを切り替えます。
・設定 :条件設定画面に切り替わります。
・確認 :エラー表示画面に切り替わります。
(2) Scr2:電源電圧検査画面……検査の進行状況を表示します。
・終了 :試験を終了し操作メニュー画面へ戻ります。
・MANU START:MANUモード時の開始スイッチ。
・>> :MANUモード時の画面送りスイッチ。
IU2 設計事例集
C-9
圧力センサ検査装置
(3) Scr3:圧力もれ検査画面……検査の進行状況を表示します。
(4) Scr4:加圧応答性検査画面……検査の進行状況を表示します。
・グラフ:検査中の圧力変化を表示します。
C-10 IU2 設計事例集
圧力センサ検査装置
(5) Scr5:減圧応答性検査画面……検査の進行状況を表示します。
(6) Scr10:検査結果表示画面
IU2 設計事例集 C-11
圧力センサ検査装置
①
②
③
④
⑤
⑥
⑦
⑧
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _Vcc _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _Vcc _L_DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _Vcc _H _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _L_Pa _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _L_Pa _min _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _L
_Pa _max _DF 表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _L_Time _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _R _Pa _DF
表示形式 :実数
⑨
⑩
⑪
⑫
⑬
⑭
⑮
⑯
(7) Scr100:条件設定画面……検査装置の動作条件を設定します。
C-12 IU2 設計事例集
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _R _Vth_L_DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _R _Vth_H _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _R _Time _min _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Value _R _Time _max _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_Vcc _Data _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_L_Result_Data _DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_R _Result_Data 1_DF
表示形式 :実数
部品名 :数値表示
デバイス 名:_R _Result_Data 2_DF
表示形式 :実数
圧力センサ検査装置
(8) Scr200:エラー表示画面……エラー発生時の確認画面です。
IU2 設計事例集 C-13
圧力センサ検査装置
3. メインルーチン
(1) Main1:圧力センサ試験フロー
電源検電圧
検査開始?
検査開始?
②
T
CALL
T
START
圧力セ
サ 試験
ン
フロー
F
もれ検査
を実施
T
SUB3
電源電圧測定
F
加圧応答性
検査開始?
T
CALL
CALL
SUB2
初期化-2(TEMPクリア他)
CALL
SUB1
初期化-1
もれ検査開始?
電源電圧
検査を実施
(_Start_Step_1==1)&&(_Start_Master==1)
SUB4
圧力もれ検査
F
F
(_Start_Step_3==1)&&(_Start_Master==1)
(_Start_Step_2==1)&&(_Start_Master==1)
(_Start_Step_0==1)&&(_Start_Master==1)
T
①
③
T
Jump_M1_1
③
F
_Start_Master==0
T
Jump_M1_1
③
F
_Start_Master==0
Jump_M1_1
F
_Start_Master==0
Jump_M1_1
減圧応答性
検査開始?
加圧応答性
検査を実施
T
CALL
SUB5
加圧応答性検査
F
減圧応答性
検査を実施
出力信号
を初期化
CALL
CALL
CALL
CALL
SUB6
減圧応答性検査
SUB7
出力初期化
SUB8
結果出力
SUB9
結果保存
(_Start_Step_4==1)&&(_Start_Master==1)
T
③
検査結果をPC
カードへ出力
全検査の結果
をまとめて総
合検査結果を
出力(DO)
Jump_M1_1
AFLOW1
③
CALL
CALL
CALL
SUB21
画面切換え制御
SUB22
動作モニタ
(1) Sub1:初期化-1……判定値、試験ステップ制御フラグ、エラーフラグ等の初期化
SUB
C-14 IU2 設計事例集
F
①検査開始を監視し、開始条件が整えば次の処理に遷移します。
・検査開始後は終了するまでこの条件は成立したままとしています。
・各検査ステップも同様に遷移を制御しています。
②検査が1回完了する毎に結果のクリア等を行います。
・PCカードから検査条件読出しも行います。
③ 『終了』操作を画面からされた場合に、遷移状態を検査開始画面に戻
します。
4. サブルーチン
判定値などの初期化
Jump_M1_1
_Start_Master==0
SUB20
条件設定/機種表示
初期化-1
F
T
F
検査モードAUTO時の外
部信号による起動やエ
ラー情報の集約
検査モードAUTO時の
画面移行制御
T
(_Start_Step_5==1)&&(_Start_Master==1)
_Start_Master==0
検査モードAUTO時に
検査が自動遷移する
ためのフラグ制御と
機種表示を実施。
検査続行?
試験ステップ制御フラグやエラー
フラグ等の初期化
BLD1
BLD2
1
初期化1/2
1
初期化2/2
RET
圧力センサ検査装置
(2) Sub2:初期化-2……判定データ、検査遷移情報、検査ステップ等の初期化
判定データの初期クリア
(継続検査用)
SUB
初期化-2
(TEMPクリア他)
検査ステップを
1(電源電圧検査)
にセット
画面毎の検査遷移
情報表示の初期化
設定/結果保存ファイ
ル名のメモリの初期化
BLD100
BLD101
BLD102
BLD104
1
判定データクリア
1
検査ステータスクリア(全画面)
1
検査STEP情報=1 Set
1
ファイル名格納メモリクリア
1
0
2
1
BLD10
BLD30
1
ファイル名指定model0
3
2
4
3
5
4
6
5
BLD12
7
6
8
7
1
ファイル名指定model2
9
8
10
9
1
設定ファイル読出し1/4
BLD11
1
ファイル名指定model1
BLD31
指定されたファイル
名に従い、設定ファ
イル(検査条件)の
読出しを実施
1
設定ファイル読出し2/4
BLD13
1
ファイル名指定model2
BLD14
Def
1
ファイル名指定model4
_Model
BLD32
1
設定ファイル読出し3/4
BLD15
1
ファイル名指定model5
BLD16
1
ファイル名指定model6
RET
BLD33
1
設定ファイル読出し4/4
BLD17
1
ファイル名指定model7
BLD18
1
ファイル名指定model8
BLD19
1
ファイル名指定model9
機種番号【_Model】の情報に従い、対応する設定読出ファイルと検査結果保存用ファイル
の名称を指定します。
※機種は0~9までに対応し、各々に対応したファイル名を指定して動作します。
※設定ファイルはあらかじめPCカード内に保存されている必要があります。
(3) Sub3:電源電圧測定……被測定センサの電源電圧を測定します。
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᫖ໃ᫖٢ລް
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6'56AEUX
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ǽǽǽǽǽǽᴥֆᴷާް஽ᩖʉɮʨᴦ
56'2ᴷȊ᫖٢ລްȋɁ႕ᬂ᚜ᇉᚐȗɑȬǿ
56'2ᴷȊҜްȋɁ႕ᬂ᚜ᇉɥᚐȗɑȬǿ
56'2ᵻ
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56'2ƂԱӏ᫖٢ȟɁ‫ک‬նȊ0)ȋɥ
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56'2Ƃລް᫖٢ȟ઩ްኰٍюȞȼ
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56'2ᵻ
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೫౼ʃʐʍʡɁষ‫ڨ‬ɥ
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6
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4'6
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(
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Ɔյ೫౼ީ̘ऻȾҜްɥ᛾ᝓȬɞ॒ᛵȟȽȗ
‫ک‬նǾȦɁ᥂ґɂ˪ᛵȺȬǿᴥ͏˩պറᴦ
Ȍาᴮȍ
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٢ɥ᫖ໃ᫖٢ȻȪȹȝɝɑȬǿ޴᪨Ⱦ೫౼ᚽᏚɥഫ਽Ȭɞ‫ک‬նǾ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ
៎ᛏֿȾఊᤛȽ᫖٢ɥᄉႆȬɞ᫖ໃᚽᏚɥΈႊȪǾȦɁ᫖٢ɥ‫ژ‬ໄཟ٢ȻȪɑȬǿ
IU2 設計事例集 C-15
圧力センサ検査装置
(4) Sub4:圧力もれ検査
᫖ໃ೫౼ȟ0)ȺȕȶȲ
ȞȼșȞɥҜްǿ0)Ɂ
‫ک‬նɂట೫౼ɥʃɷʍ
ʡǿ͏˩պറ
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Ҥॅ
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Ɂ႕ᬂ᚜ᇉȻʚʵ
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6
(
57$
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6
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ᜫްϏȾिȗ
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5*''6
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٢ӌɕɟ೫౼
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(
6
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A2A5MKR
,WOR A5 A
A4GUWNVA
A'TTA5MKRA25A6GUV
(
A5VCTVA/CUVGT
ᆬᝓ஽ᩖɑȺɁʉɮʪɬʍʡɥʋɱʍɹ
6
$.& ೫౼ʃʐʍʡɁষ‫ڨ‬ɥ
ɮʽɹʴʫʽʒ
A6GUVA.A6KOGAKPE
OU
,WOR A5 A
6
(
5*''6
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Ḩ
೫౼56'2 ᴨ
OU
(
ḩ
ACWVQAOCPW
,WOR A5 A
4'6
ḧʉɮʪɬʍʡऻɁᚱ೫౼ʅʽɿɋɁ٢ӌລް
ḨລްऻɁȊҜްȋ႕ᬂ᚜ᇉȻʚʵʠɁҤॅ
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ȌาᴮȍȦɁख़ႊ΍ɁʡʷɺʳʪȾȝȗȹɂǾ&#ҋӌብ‫ފ‬Ȟɜ‫ژ‬ໄ᫖٢ɥҋӌȬɞȦȻȺӏ٢ѿျȻȪȹȝɝɑȬǿ
޴᪨Ⱦ೫౼ᚽᏚɥഫ਽Ȭɞ‫ک‬նǾ‫ژ‬ໄ᫖٢ȺᄾछɁ٢ӌɥ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ȾߦȪȹᄉႆȺȠɞ٢ӌᄉ
ႆᚽᏚȟ॒ᛵȻȽɝɑȬǿ߸ǾM2Cᴺ8Ⱦ৊ްȪȹȕɝɑȬǿᴥоӌɕպറᴦ
(5) Sub5:加圧応答性検査
加圧および『加
圧⇒計測』画面
の表示
指定圧になる
のを監視。
F
SUB
加圧応答性検査
初期化
『大気開放→準備』
の画面表示
BLD250
SHEET
BLD251
1
初期化
TEST_31.csv
加圧応答性検査
1
圧力発生
設定値に
従い加圧
BLD252
T
T
1
加圧
F
BLD253
(_Value_R_Pa_Temp_DF==_8EDA_Data_CH00)||(_P_Skip==0)
(_Result_0==2)&&(_Err_Skip_PS_Test==1)
データ集録
Jump_S5_1
1
データ集録
Jump_S5_1
グラフ表示動機
タイマ
T
2
F
_Daq_Err_Flag_1==1
グラフを停止
サンプル数×サンプリング周期で
求めた時間を元に判定処理を実施
BLD254
BLD255
BLD257
BLD258
1
グラフスタート
_Daq_Data_Index_1>1000
加圧結果確認
1
グラフストップ
1
時間計算~判定処理
100 ms
グラフ表示を
スタート
データ収集状況を
監視し、エラー時
は処理を中断
Jump_S5_1
5
T
BLD480
1000 ms
F
_auto_manu==1
C-16 IU2 設計事例集
収集データから指定
圧力内のサンプル数
をカウント
1
検査STEP情報+1
RET
圧力センサ検査装置
(6) Sub6:減圧応答性検査
BLD302
T
F
BLD300
SHEET
BLD301
1
初期化
TEST_32.csv
減圧応答性検査
1
圧力発生
SUB
減圧応答性検査
T
1
減圧
F
BLD303
(_Value_R_Pa_Temp_DF==_8EDA_Data_CH00)||(_P_Skip==0)
(_Result_0==2)&&(_Err_Skip_PS_Test==1)
1
データ集録
Jump_S6_1
T
Jump_S6_1
4
F
_Daq_Err_Flag_2==1
BLD304
BLD305
BLD307
BLD308
1
グラフスタート
_Daq_Data_Index_2>1000
減圧結果判定
1
グラフストップ
1
時間計算~判定処理
100 ms
Jump_S6_1
5
T
BLD480
1000 ms
RET
1
検査STEP情報+1
F
_auto_manu==1
【注】基本的な動作は加圧応答検査と同じです。
※加圧応答性検査は圧力センサに対して大気圧から指定圧まで瞬時に加圧した際の特性を検査します。
これに対して、減圧応答性検査は指定圧力を加圧した状態から大気圧まで瞬時に変化させた場合の特を検査します。
(7) Sub7:出力初期化……次の検査のために出力の初期化を行います。
出力の初期化
SUB
出力初期化
BLD481
RET
1
アナログ出力初期化
(8) Sub8:結果出力……各検査の判定結果を出力します。
各検査の判定結果
をまとめて出力
SUB
結果出力
BLD350
RET
1
判定結果出力
IU2 設計事例集 C-17
圧力センサ検査装置
(9) Sub9:結果保存……結果をPCカードに保存します。
PCカードに検査結果を
保存するための準備
(CR/LFコード準備)
PCカードに検査結果を
保存するための準備
(データ準備)
PCカードへの書込処理
の実施
BLD400
BLD401
BLD402
1
結果保存準備1
1
結果保存準備2
1
保存実行
SUB
結果保存
RET
(10)Sub20:条件設定/機種表示
機種表示処理
MANUモード時、各ステ
ップで停止させるため
にフラグをOFFする
F
F
条件設定/機種
表示
1
表示機種設定
BLD453
1
Step_ALl_OFF
SUB
RET
BLD450
T
T
_Model<0||_Model>9
_auto_manu==1
BLD452
BLD454
BLD451
1
Step_ALl_ON
1
機種No読込
1
機種設定無し表示
AUTOモード時、各ステ
ップで停止させないた
めにフラグをONする
AUTOモード時、機種
NoをDIからみ込む
(11)Sub21:画面切換え制御……AUTOモードでかつ検査実行中の画面切替え制御を行います。
F
RET
SUB
画面切換え制御
T
_auto_manu==1
T
F
1
0
2
1
2
4
3
5
4
BLD461
6
5
1
電源電圧測定画面指定(AUTO)
Def
BLD462
_Test_Step
※テストSTEP情報は各検査プログ
ラム内で、その終了直前にイン
クリメントされています。
※検査モードがMANUの場合は画面
の『>>』スイッチで画面切替
えを行います。
RET
1
操作メニュー画面指定(AUTO)
3
_Start_Master==1
検査モードがAUTOでかつ検査実行
中の画面切替え制御を行います。
切替のための情報はテストSTEP情
報によります。
BLD460
RET
RET
1
圧力もれ検査画面指定(AUTO)
BLD463
RET
1
加圧応答性検査画面指定(AUTO)
BLD464
RET
1
減圧応答性検査画面指定(AUTO)
BLD465
RET
1
検査結果表示画面指定(AUTO)
BLD466
RET
1
エラー画面指定(AUTO)
RET
C-18 IU2 設計事例集
圧力センサ検査装置
(12)Sub22:動作モニタ
装置の起動状態
(RUN/STOP)を出力
SUB
動作モニタ
もれ/応答検査でセンサ
の入力値を表示させるた
めの電圧→圧力変換
エラー監視項目の集約
BLD470
BLD472
BLD473
1
プログラム実行状態出力
1
Sensorモニタ
1
エラーモニタ
T
BLD471
RET
1
自動起動処理(外部信号)
T
F
F
_Auto_Mode==1
_Auto_Manu==1
RET
AUTOモード時の外部起動信号(DI)による起動処理フラグの処理
※AUTOモード場合でも、条件設定画面でAUTO時起動信号を『画面操作』
にして おくことで 画面から起動できます。この場合は検査を自動で
1回だけ最後まで行います。
IU2 設計事例集 C-19
圧力センサ検査装置
5. ブロックダイヤグラム……BLD
(1) Bld1:初期化-1……データ(フラグ類)を初期化
-->
_Start_Master
(POINT)
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
0
タグ名 : _Start_Master
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
-->
_Value_Vcc_D
F (POINT)
タグ名 : _Value_Vcc_DF
-->
_Start_Step_0
(POINT)
-->
_Value_Vcc_H_
D... (POINT)
タグ名 : _Start_Step_0
タグ名 : _Value_Vcc_H_DF
-->
_Start_Step_1
(POINT)
-->
_Value_Vcc_L_
D... (POINT)
タグ名 : _Start_Step_1
タグ名 : _Value_Vcc_L_DF
-->
_Start_Step_2
(POINT)
-->
_Value_Vcc_D
F_... (POINT)
タグ名 : _Start_Step_2
タグ名 : _Value_Vcc_DF_ZERO
-->
_Start_Step_3
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_3
-->
_Start_Step_4
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_4
-->
_Value_L_Pa_D
F (POINT)
0
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Value_L_Pa_DF
0
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
-->
_Value_L_Pa_m
i... (POINT)
タグ名 : _Value_L_Pa_min_DF
-->
_Value_L_Pa_m
a... (POINT)
-->
_Value_R_Pa_D
F (POINT)
タグ名 : _Value_R_Pa_DF
-->
_Value_R_Vth_
L... (POINT)
タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF
-->
_Value_R_Vth_
H... (POINT)
タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF
タグ名 : _Value_L_Pa_max_DF
-->
_Value_L_Time
(POINT)
タグ名 : _Value_L_Time
-->
_Value_R_Time
_... (POINT)
タグ名 : _Value_R_Time_min_DF
-->
_Value_R_Time
_... (POINT)
タグ名 : _Value_R_Time_max_DF
(2) Bld2:初期化-2……データ(フラグ類)を初期化
0
-->
_Vcc_Data_DF
(POINT)
0
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Vcc_Data_DF
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
0
--> _Err
(POINT)
0
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Err
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
9
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
TEST用STEP KEY
指定にF9
C-20 IU2 設計事例集
-->
_Step_Key_For
_... (POINT)
タグ名 : _Step_Key_For_T
abel
本ソフトウェアでは表形式プ
ログラムのSTEP実行を条件設
定画面で指定できます。この
設定はその際の実行要求キー
を指定するものです。
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Test_Step
(POINT)
タグ名 : _Test_Step
-->
_Test_Flag1
(POINT)
タグ名 : _Test_Flag1
-->
_Auto_Manu_F
or... (POINT)
タグ名 : _Auto_Manu_For_T
abel
0
--> _P_Skip
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _P_Skip
圧力センサ検査装置
(3) Bld10:ファイル名指定model0……機種番号0(model000)用ファイルを指定…処理時間:約15ms
・設定ファイルはPCカード内の"Value"という名称のフォルダ内に保存されているものとします。
(以下同様)
"Value/_VALUE_MOD
EL0.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"_Result_MODEL0.csv
"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
(4) Bld11:ファイル名指定model1……機種番号1(model001)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL1.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"_Result_MODEL1.csv
"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
(5) Bld12:ファイル名指定model2……機種番号2(model002)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL2.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"_Result_MODEL2.csv
"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
(6) Bld13:ファイル名指定model3……機種番号3(model003)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL3.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"Result/_Result_MOD
EL3.csv"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
(7) Bld14:ファイル名指定model4……機種番号4(model004)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL4.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"Result/_Result_MOD
EL4.csv"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
IU2 設計事例集 C-21
圧力センサ検査装置
(8) Bld15:ファイル名指定model5……機種番号5(model005)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL5.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"Result/_Result_MOD
EL5.csv"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
(9) Bld16:ファイル名指定model6……機種番号6(model006)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL6.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"Result/_Result_MOD
EL6.csv"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
(10)Bld17:ファイル名指定model7……機種番号7(model007)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL7.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"Result/_Result_MOD
EL7.csv"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
(11)Bld18:ファイル名指定model8……機種番号8(model008)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL8.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"Result/_Result_MOD
EL8.csv"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
(12)Bld19:ファイル名指定model9……機種番号9(model009)用ファイルを指定
"Value/_VALUE_MOD
EL9.txt"
-->
_Value_File_n
a...
タグ名 : _Value_File_name
"Result/_Result_MOD
EL9.csv"
-->
_Save_File_n
am...
タグ名 : _Save_File_name
C-22 IU2 設計事例集
圧力センサ検査装置
(13)Bld30:設定ファイル読出し1/4……検査条件の読出し…処理時間:約130ms
設定ファイルの読出しを行います。
(1/4から4/4で構成されています。)
※設定ファイル内の指定行を読出し、CR/LFを除いた文字列を数値化して記録します。
※設定ファイル形式はcsvファイルです。
(以下同様)
String
Length
_Value_File_n
a... -->
10
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
タグ名 : _Value_Vcc_DF
表記法 : 10進数浮動小数
タグ名 : _Value_File_name
-->
_Value_Vcc_D
F (POINT)
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
12
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Vcc_H_
D... (POINT)
タグ名 : _Value_Vcc_H_DF
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
14
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_Vcc_L_
D... (POINT)
タグ名 : _Value_Vcc_L_DF
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(14)Bld31:設定ファイル読出し2/4……検査条件の読出し
String
Length
_Value_File_n
a... -->
18
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
タグ名 : _Value_L_Pa_DF
表記法 : 10進数浮動小数
タグ名 : _Value_File_name
-->
_Value_L_Pa_D
F (POINT)
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
20
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_L_Pa_m
i... (POINT)
タグ名 : _Value_L_Pa_min_DF
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
22
ReadFile
(TEXT)
Subtract
0
String
Subset
String
To
Number
表記法 : 10進数浮動小数
-->FLOAT
-->
_Value_L_Pa_m
a... (POINT)
タグ名 : _Value_L_Pa_max_DF
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
IU2 設計事例集 C-23
圧力センサ検査装置
(15)Bld32:設定ファイル読出し3/4……検査条件の読出し
String
Length
_Value_File_n
a... -->
24
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
タグ名 : _Value_L_Time_DF
表記法 : 10進数浮動小数
タグ名 : _Value_File_name
-->
_Value_L_Time
_... (POINT)
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
28
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_R_Pa_D
F (POINT)
タグ名 : _Value_R_Pa_DF
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
30
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_R_Vth_
L... (POINT)
タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(16)Bld33:設定ファイル読出し4/4……検査条件の読出し
String
Length
_Value_File_n
a... -->
32
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF
表記法 : 10進数浮動小数
タグ名 : _Value_File_name
-->
_Value_R_Vth_
H... (POINT)
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
34
Subtract
0
ReadFile
(TEXT)
String
Subset
String
To
Number
-->FLOAT
-->
_Value_R_Time
_... (POINT)
タグ名 : _Value_R_Time_min_DF
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Read_Err
String
Length
36
ReadFile
(TEXT)
タグ名 : _File_Read_Err
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
C-24 IU2 設計事例集
0
String
Subset
String
To
Number
表記法 : 10進数浮動小数
-->
_File_Read_Err
(POINT)
2
Subtract
-->FLOAT
-->
_Value_R_Time
_... (POINT)
タグ名 : _Value_R_Time_max_DF
圧力センサ検査装置
(17)Bld100:データ(フラグ類)の初期化-1
判定結果をクリア
判定出力をクリア
0
--> _Result_0
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Result_0
-->
_Check_OK
(POINT)
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Check_OK
--> _Result_1
(POINT)
-->
_Check_NG
(POINT)
タグ名 : _Result_1
タグ名 : _Check_NG
--> _Result_2
(POINT)
タグ名 : _Result_2
--> _Result_3
(POINT)
タグ名 : _Result_3
--> _Result_4
(POINT)
タグ名 : _Result_4
(18)Bld101:データ(フラグ類)の初期化-2……検査ステータスクリア(全画面)
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_1_0
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_1_1
タグ名 : _Status_Disp_3_1
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_2
タグ名 : _Status_Disp_1_2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Status_Disp_3_0
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
-->
_Status_Disp_1
... (POINT)
0
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_3
タグ名 : _Status_Disp_2_0
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_4
タグ名 : _Status_Disp_2_1
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_5
タグ名 : _Status_Disp_2_2
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_6
タグ名 : _Status_Disp_2_3
-->
_Status_Disp_2
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_2_4
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Start_Step_5
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_5
(19)Bld102:検査ステップ情報に1(電源電圧測定)を設定
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Test_Step
(POINT)
タグ名 : _Test_Step
(20)Bld104:ファイル名格納メモリの初期化
Delete
DBL
Delete
DBL
タグ名 : _Value_File_name
タグ名 : _Save_File_name
IU2 設計事例集 C-25
圧力センサ検査装置
(21)Bld150:測定結果を記録
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
-->
_Vcc_Data_DF
(POINT)
タグ名 : _Vcc_Data_DF
タグ名 : _18EAD_Data_CH04
(22)Bld200:データ(フラグ類)の初期化
-->
_Test_L_Time
(POINT)
0
タグ名 : _Test_L_Time
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
-->SHORT
-->
_Test_L_Time_
D... (POINT)
タグ名 : _Test_L_Time_Disp
タグ名 : _Value_L_Time
(23)Bld201:圧力指令信号発生
設定ファイルから読込んだ値をもとに加圧指令を出力します。
※入力値は0~100kPaでこれを0~10Vに換算するため0.1を乗じます。
(換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。
)
_Value_L_Pa_D
F -->
(POINT)
Multiply
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Value_L_Pa_DF
タグ名 : _8EDA_Data_CH00
0.1
-->
_Value_L_Pa_te
... (POINT)
タグ名 : _Value_L_Pa_temp_DF
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
(24)Bld202:圧力発生直後の圧力を測定
加圧直後の圧力を記録します。
※読込値0~10Vを0~100kPaに対応させるため、読込値に10を乗じます。
(換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。
)
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
Multiply
タグ名 : _18EAD_Data_CH03
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _L_Data1
10
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
(25)Bld203:指定時間経過後の圧力を測定
加圧直後に指定時間経過した後の圧力を記録します。
※読込値0~10Vを0~100kPaに対応させるため、読込値に10を乗じます。
(換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。
)
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
タグ名 : _18EAD_Data_CH03
10
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
C-26 IU2 設計事例集
Multiply
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _L_Data2
圧力センサ検査装置
(26)Bld204:差圧の演算と判定…処理時間:約15ms
・加圧直後の圧力と指定時間経過後の差をもれ量として計算し、
この値が指定範囲にあるかどうかを判定します。
・差圧を記録します。
_Value_L_Pa_m
a... -->
(POINT)
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
タグ名 : _Value_L_Pa_max_DF
タグ名 : _L_Data1
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
Subtract
Zone
Compare
ABS
1
--> _Result_1
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Result_1
比較条件 : 下限値 < 入力値 < 上限値
タグ名 : _L_Data2
出力モード : セット
_Value_L_Pa_m
i... -->
(POINT)
2
--> _Result_1
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Result_1
タグ名 : _Value_L_Pa_min_DF
Not
-->
_L_Result_Dat
a... (POINT)
タグ名 : _L_Result_Data_DF
(27)Bld206:指定時間のカウント
・指定時間(秒単位)タイマをカウントアップします(画面上はカウントダウンさせます)。
_Test_L_Time
--> (POINT)
Increment
タグ名 : _Test_L_Time
タグ名 : _Test_L_Time
_Test_L_Time_
D... -->
(POINT)
-->
_Test_L_Time
(POINT)
Decrement
-->
_Test_L_Time_
D... (POINT)
タグ名 : _Test_L_Time_Disp
タグ名 : _Test_L_Time_Disp
(28)Bld250:データ(フラグ類)、グラフの初期化
Delete
DBL
タグ名 : _Daq_Data_1
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Graph_Start_
1 (POINT)
タグ名 : _Graph_Start_1
-->
_Graph_Clear_
1 (POINT)
タグ名 : _Graph_Clear_1
-->
_Daq_Data_Ind
e... (POINT)
タグ名 : _Daq_Data_Index_1
(29)Bld251:加圧指令発生
設定ファイルから読込んだ値をもとに加圧指令を出力します。
※入力値は0~100kPaでこれを0~10Vに換算するため0.1を乗じます。
(換算値は仮の値です。
実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。)
_Value_R_Pa_D
F -->
(POINT)
Multiply
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Value_R_Pa_DF
タグ名 : _8EDA_Data_CH00
0.1
-->
_Value_R_Pa_T
e... (POINT)
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Value_R_Pa_Temp_DF
IU2 設計事例集 C-27
圧力センサ検査装置
(30)Bld252:加圧および『加圧』の表示
1
--> _VAL1
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _VAL1
0
--> _VAL2
(POINT)
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
タグ名 : _VAL2
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_2
(31)Bld253:データの集録…処理時間:約18ms
CH0
1
High-Speed
DAQ
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
集録CH : CH0
サンプリング周波数[Hz] CH0 , CH1 : 1000
サンプリング周波数[Hz] CH2~CH17 : 200000
集録時間[Sec] : 1
プリトリガー時間[Sec] : 0.1
トリガー種別 : トリガーなし
ロックモード[Sec] : 0
DAQ
-->
ANALOG
タグ名 : _Daq_Data_1
-->
_Daq_Err_Flag_.
.. (POINT)
タグ名 : _Daq_Err_Flag_1
Transition
-->
_Daq_Data_1
Wait
Transition
Wait 時間[ms] : 0
(データ集録条件は仮の設定です。実際の検査装置においては条件の見直しが必要です。)
(32)Bld254:グラフ表示を開始
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Graph_Start_
1 (POINT)
タグ名 : _Graph_Start_1
(33)Bld255:加圧結果確認
集録したデータを1点ずつ圧力値に換算し、
指定範囲内にあるデータの個数をカウントします。
_Value_R_Vth_
H... -->
(POINT)
タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF
_Data_InLevel_
... -->
(POINT)
Zone
Compare
_Value_R_Vth_
L... -->
(POINT)
比較条件 : 下限値 < 入力値 < 上限値
タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF
出力モード : セット
タグ名 : _Data_InLevel_Num_1
Increment
-->
_Data_InLevel_
... (POINT)
Increment
タグ名 : _Data_InLevel_Num_1
-->
_Daq_Data_Ind
e... (POINT)
タグ名 : _Daq_Data_Index_1
_Daq_Data_Ind
e... -->
(POINT)
タグ名 : _Daq_Data_Index_1
Block
Element
-->FLOAT
Calculation
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Daq_Data_Element_1
_Daq_Data_1
-->
タグ名 : _Daq_Data_1
C-28 IU2 設計事例集
公式 : (P1/32767.0)*100.0
圧力センサ検査装置
(34)Bld257:グラフ表示を停止
-->
_Graph_Start_
1 (POINT)
0
タグ名 : _Graph_Start_1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
(35)Bld258:時間計算~判定処理
・ 指定範囲にあるデータ個数×サンプリング時間を計算することでセンサの動作時間を計算し、この値が指定範囲
内にあるかどうかを判定します。
・ 判定画面の表示、時間の記録を行います。
※カウント値=1の場合は動作時間0を意味するため強制的にエラーにします。
1
1
Compare
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
_Value_R_Time
_... -->
(POINT)
条件比較 : 入力1 = 入力2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Value_R_Time_max_DF
--> _Result_2
(POINT)
タグ名 : _Result_2
Not
And
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Data_InLevel_Time_1
_Data_Inlevel_..
. -->
(POINT)
-->FLOAT
Calculation
Zone
Compare
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
タグ名 : _Data_Inlevel_Num_1
公式 : (P1-1)*1.0
-->
_R_Result_Dat
a... (POINT)
_Value_R_Time
_... -->
(POINT)
タグ名 : _R_Result_Data1_DF
タグ名 : _Value_R_Time_min_DF
2
--> _Result_2
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Result_2
Not
Or
判定ランプ点灯
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_3
(36)Bld300:データ(フラグ類)の初期化
Delete
DBL
タグ名 : _Daq_Data_2
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Daq_Data_Ind
e... (POINT)
タグ名 : _Daq_Data_Index_2
-->
_Graph_Start_
2 (POINT)
タグ名 : _Graph_Start_2
-->
_Graph_Clear_
2 (POINT)
タグ名 : _Graph_Clear_2
IU2 設計事例集 C-29
圧力センサ検査装置
(37)Bld301:減圧指令
・ 設定ファイルから読込んだ値をもとに圧力開放指令を出力します。
※入力値は0~100kPaでこれを0~10Vに換算するため0.1を乗じます。
(換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。)
_Value_R_Pa_D
F -->
(POINT)
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
Multiply
タグ名 : _Value_R_Pa_DF
タグ名 : _8EDA_Data_CH00
0.1
-->
_Value_R_Pa_T
e... (POINT)
タグ名 : _Value_R_Pa_Temp_DF
デー
タ 型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
(38)Bld302:減圧および『減圧』表示
0
--> _VAL1
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _VAL1
1
--> _VAL2
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _VAL2
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
タグ名 : _Status_Disp_3_5
(39)Bld303:データ集録
CH0
1
High-Speed
DAQ
データ型 : BOOL
直接入力 : 10進数
集録CH : CH0
サンプリング周波数[Hz] CH0 , CH1 : 1000
サンプリング周波数[Hz] CH2~CH17 : 200000
集録時間[Sec] : 1
プリトリガー時間[Sec] : 0.1
トリガー種別 : トリガーなし
ロックモード[Sec] : 0
DAQ
-->
ANALOG
-->
_Daq_Err_Flag_.
.. (POINT)
タグ名 : _Daq_Err_Flag_2
(40)Bld304:グラフ表示開始
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
C-30 IU2 設計事例集
-->
_Graph_Start_
2 (POINT)
タグ名 : _Graph_Start_2
-->
_Daq_Data_2
Transition
タグ名 : _Daq_Data_2
Wait
Wait 時間[ms] : 0
Transition
圧力センサ検査装置
(41)Bld305:減圧結果確認
・ 集録したデータを1点ずつ圧力値に換算し、指定範囲内にあるデータの個数をカウントします。
)
_Value_R_Vth_
H... -->
(POINT)
タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF
_Data_InLevel_
... -->
(POINT)
Zone
Compare
_Value_R_Vth_
L... -->
(POINT)
比較条件 : 下限値 < 入力値 < 上限値
タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF
出力モード : セット
タグ名 : _Data_InLevel_Num_2
_Daq_Data_Ind
e... -->
(POINT)
-->
_Data_InLevel_
... (POINT)
タグ名 : _Data_InLevel_Num_2
-->
_Daq_Data_Ind
e... (POINT)
Increment
タグ名 : _Daq_Data_Index_2
Increment
タグ名 : _Daq_Data_Index_2
Block
Element
-->FLOAT
Calculation
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Daq_Data_Element_2
_Daq_Data_2
-->
公式 : (P1/32767.0)*100.0
タグ名 : _Daq_Data_2
(42)Bld306:カウンタのインクリメント
・ 集録したデータの読出中に使用するカウンタをインクリメントしています。
_Daq_Data_Ind
e... -->
(POINT)
Increment
-->
_Daq_Data_Ind
e... (POINT)
タグ名 : _Daq_Data_Index_2
タグ名 : _Daq_Data_Index_2
(43)Bld307:グラフ表示停止
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Graph_Start_
2 (POINT)
タグ名 : _Graph_Start_2
IU2 設計事例集 C-31
圧力センサ検査装置
(44)Bld308:時間計算~判定処理
・ 指定範囲にあったデータ個数×サンプリング時間を計算することでセンサの動作時間を計算し、この値が指定範
囲内にあるかどうかを判定します。
・ 判定画面の表示、時間の記録を行います。
※カウント値=1の場合は動作時間0を意味するため強制的にエラーにします。
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
Compare
1
_Value_R_Time
_... -->
(POINT)
条件比較:入力1 =入力2
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Value_R_Time_max_DF
タグ名 : _Result_3
Not
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _Data_InLevel_Time_1
_Data_Inlevel_..
. -->
(POINT)
-->FLOAT
Calculation
--> _Result_3
(POINT)
And
Zone
Compare
比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値
出力モード : セット
タグ名 : _Data_Inlevel_Num_2
公式 : (P1-1)*1.0
_Value_R_Time
_... -->
(POINT)
--> _Result_3
(POINT)
2
-->
_R_Result_Dat
a... (POINT)
タグ名 : _Result_3
タグ名 : _R_Result_Data2_DF
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Value_R_Time_min_DF
Not
Or
判定ランプ点灯
-->
_Status_Disp_3
... (POINT)
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Status_Disp_3_6
(45)Bld350:判定結果出力
・ 各検査結果を集約し、結果を外部出力します。
_Result_0 -->
(POINT)
Add
Add
Compare
タグ名 : _Result_0
条件比較 : 入力1 = 入力2
-->
_Check_OK
(POINT)
タグ名 : _Check_OK
_Result_1 -->
(POINT)
タグ名 : _Result_1
4
_Result_2 -->
(POINT)
Add
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Result_2
_Result_3 -->
(POINT)
タグ名 : _Result_3
(46)Bld400:判定結果保存準備……データの改行情報コード(CR/LF)
0
13
--> DC0
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
デバイス名 : DC
1
10
--> DC1
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
デバイス名 : DC
C-32 IU2 設計事例集
Not
-->
_Check_NG
(POINT)
タグ名 : _Check_NG
圧力センサ検査装置
(47)Bld401:判定結果保存準備……判定、検査データ
0
_Value_Vcc_D
F -->
(POINT)
タグ名 : _Value_Vcc_DF
_Value_Vcc_H_
D... -->
(POINT)
4
--> DF0
(POINT)
_Value_L_Pa_D
F -->
(POINT)
デバイス名 : DF
タグ名 : _Value_L_Pa_DF
_Value_R_Pa_D
F -->
(POINT)
デバイス名 : DF
タグ名 : _Value_R_Pa_DF
5
1
タグ名 : _Value_Vcc_H_DF
9
--> DF4
(POINT)
--> DF1
(POINT)
_Value_L_Pa_m
i... -->
(POINT)
デバイス名 : DF
タグ名 : _Value_L_Pa_min_DF
2
--> DF2
(POINT)
_Value_L_Pa_m
a... -->
(POINT)
タグ名 : _Value_Vcc_L_DF
デバイス名 : DF
タグ名 : _Value_L_Pa_max_DF
--> DF5
(POINT)
_Value_R_Vth_
L... -->
(POINT)
デバイス名 : DF
タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF
--> DF6
(POINT)
_Value_R_Vth_
H... -->
(POINT)
デバイス名 : DF
タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
--> DF7
(POINT)
_Value_R_Time
_... -->
(POINT)
タグ名 : _Value_L_Time
デバイス名 : DF
タグ名 : _Value_R_Time_min_DF
_Value_R_Time
_... -->
(POINT)
_Result_2 -->
(POINT)
--> DF3
(POINT)
-->FLOAT
デバイス名 : DF
--> DF11
(POINT)
デバイス名 : DF
12
タグ名 : _Result_0
3
--> DF10
(POINT)
11
7
_Result_0 -->
(POINT)
デバイス名 : DF
10
6
_Value_Vcc_L_
D... -->
(POINT)
--> DF9
(POINT)
--> DF12
(POINT)
デバイス名 : DF
13
--> DF13
(POINT)
タグ名 : _Value_R_Time_max_DF
デバイス名 : DF
タグ名 : _Result_2
デバイス名 : DF
14
--> DF14
(POINT)
-->FLOAT
_Result_1 -->
(POINT)
_Result_3 -->
(POINT)
タグ名 : _Result_3
デバイス名 : DF
タグ名 : _Result_1
15
-->FLOAT
8
-->FLOAT
--> DF15
(POINT)
デバイス名 : DF
--> DF8
(POINT)
デバイス名 : DF
(48)Bld402:PCカードへの判定結果保存実行…処理時間:約130ms
_Save_File_n
am... -->
タグ名 : _Save_File_name
SaveFile
(BIN)
0
2
DC0 -->
(ARRAY)
書き込みモード : 追加
デバイス名 : DC
SaveFile
(BIN)
SaveFile
(BIN)
書き込みモード : 追加
書き込みモード : 追加
-->
_File_Save_Err
(POINT)
-->
_File_Save_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Save_Err
TimeString
-->
_File_Save_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Save_Err
タグ名 : _File_Save_Err
Connect
String
出力フォーマット : 2004年 5月12日(水)
0
2
DC0 -->
(ARRAY)
TimeString
デバイス名 : DC
出力フォーマット : 12:02:28
SaveFile
BLOCK
(CSV)
0
16
DF0 -->
(ARRAY)
書き込みモード : 追加
-->
_File_Save_Err
(POINT)
タグ名 : _File_Save_Err
デバイス名 : DF
(49)Bld450:機種表示処理
コメント情報で先頭を0に指定していますが、実際の機種名称の登録は10からのため、
機種情報に10を加えて補正し
ます。
※コメントの先頭を10からに設定しないのは9以前のコメントを当該表示器に表示することがあるため。
_Model -->
(POINT)
タグ名 : _Model
Add
-->
_Model_Disp
(POINT)
タグ名 : _Model_Disp
10
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
IU2 設計事例集 C-33
圧力センサ検査装置
(50)Bld451:表示機種なしの処理
機種情報が範囲外の場合に"――――"を表示します。
4
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Model_Disp
(POINT)
タグ名 : _Model_Disp
(51)Bld452:検査ステップ情報を全てON
"AUTO"検査モード時に各検査で停止させないために検査ステップ情報を全てONします。
1
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Start_Step_1
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_1
-->
_Start_Step_2
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_2
-->
_Start_Step_3
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_3
-->
_Start_Step_4
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_4
(52)Bld453:検査ステップ情報を全てOFF
"AUTO"検査モード時に各検査で停止させないために検査ステップ情報を全てOFFします。
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
-->
_Start_Step_0
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_0
-->
_Start_Step_1
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_1
-->
_Start_Step_2
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_2
-->
_Start_Step_3
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_3
-->
_Start_Step_4
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_4
-->
_Start_Step_5
(POINT)
タグ名 : _Start_Step_5
C-34 IU2 設計事例集
圧力センサ検査装置
(53)Bld454:機種番号(情報)読込み
"AUTO"検査モード時の機種情報を読込みます。
BIT
-->
WORD
タグ名 : _Sel_M
del
o
ポイント数 : 4
--> _Model
(POINT)
1
_Model -->
(POINT)
タグ名 : _M
del
o
タグ名 : _M
del
o
--> _Model
(POINT)
←機種設定表示をさせるために手動設定の機種情報を
仮にセットします。
タグ名 : _M
del
o
(54)Bld460:操作メニュー画面指定
"AUTO"検査モード時の画面を指定します。
1
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(55)Bld461:電源電圧検査画面指定
"AUTO"検査モード時の画面を指定します。
2
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(56)Bld462:圧力もれ検査画面指定
"AUTO"検査モード時の画面を指定します。
3
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(57)Bld463:加圧応答性検査画面指定
"AUTO"検査モード時の画面を指定します。
4
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(58)Bld464:減圧応答性検査画面指定
"AUTO"検査モード時の画面を指定します。
5
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
IU2 設計事例集 C-35
圧力センサ検査装置
(59)Bld465:検査結果表示画面指定
"AUTO"検査モード時の画面を指定します。
10
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(60)Bld466:検査結果表示画面指定
"AUTO"検査モード時の画面を指定します。
200
--> _Disp
(POINT)
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
タグ名 : _Disp
(61)Bld470:プログラム実行状態出力
プログラムの実行状態を外部へ出力します。
(D0)
_Main1_Start -> (POINT)
タグ名 : _Main1_Start
--> _Ready
(POINT)
タグ名 : _Ready
(62)Bld471:自動起動処理
(外部信号)
"AUTO"検査モード時の自動起動処理(フラグセット)をします。
_Start_In -->
(POINT)
And
-->
_Start_Master
(POINT)
タグ名 : _Start_In
タグ名 : _Start_Master
_Test_Step -> (POINT)
-->
_Start_Step_0
(POINT)
Compare
タグ名 : _Start_Step_0
タグ名 : _Test_Step
0
データ型 : 16 ビット整数
直接入力 : 10進数
C-36 IU2 設計事例集
条件比較 : 入力1 = 入力2
圧力センサ検査装置
(63)Bld472:センサー出力モニタ
センサ出力信号の読込値0~10Vを0~100kPaに対応させるため、読込値に10を乗じます。
(換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。)
Sensor1 Input
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
Multiply
-->
_Sensor_1_DF
(POINT)
-->FLOAT
タグ名 : _Sensor_1_DF
タグ名 : _18EAD_Data_CH02
10
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
Sensor2 Input
D[n],D[n+1]
-->FLOAT
Multiply
-->
_Sensor_2_DF
(POINT)
-->FLOAT
タグ名 : _Sensor_2_DF
タグ名 : _18EAD_Data_CH03
10
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
(64)Bld473:エラーモニタ
エラーフラグを集約します。
_Daq_Err_Flag_.
.. -->
(POINT)
タグ名 : _Daq_Err_Flag_1
_Daq_Err_Flag_.
.. -->
(POINT)
Or
タグ名 : _Daq_Err_Flag_2
Or
_File_Read_Err
--> (POINT)
--> _Err
(POINT)
タグ名 : _Err
タグ名 : _File_Read_Err
_File_Save_Err
--> (POINT)
Or
タグ名 : _File_Save_Err
(65)Bld480:検査ステップインクリメント
_Test_Step -> (POINT)
タグ名 : _Test_Step
Increment
-->
_Test_Step
(POINT)
タグ名 : _Test_Step
IU2 設計事例集 C-37
圧力センサ検査装置
(66)Bld481:アナログ出力初期化
0
データ型 : 32 ビット浮動小数点
直接入力 : 10進数
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _8EDA_Data_CH00
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _8EDA_Data_CH01
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _8EDA_Data_CH02
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _8EDA_Data_CH03
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _8EDA_Data_CH04
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _8EDA_Data_CH05
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _8EDA_Data_CH06
FLOAT-->
D[n],D[n+1]
タグ名 : _8EDA_Data_CH07
C-38 IU2 設計事例集
2
判定結果
セット
(OK)
判定結果
セット(NG)
END
7
8
9
_Value_
Vcc_DF
_ZERO
0
0
0
0
0
0
0
ON
ON
ON
500
500
500
500
V
V
V
V
MAX
*_18EAD_ _Value_ _Value_
Data_CH Vcc_L_ Vcc_H_
04_DF
DF
DF
*_18EAD_
Data_CH
04_DF
MIN
XJUM
P9
JUMP
7
_Value_ JUMP
Vcc_DF
8
_ZERO
JUMP
8
OK/
NG/
EQUAL TRUE
FALSE
初期化
加圧
1
2
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
ON
OFF
OFF
ON
ON
ON
ON
500
500
_8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA
_Status _Status _Status _Status _Status
STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL _VAL _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL OK/ NG/
1
2
TRUE FALSE
CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07
2_0
2_1
2_2
2_3
2_4
2. TEST_21……圧力もれ検査-1
・
『大気圧開放→加圧』の画面表示とバルブの制御(加圧→密閉)を行います。
STEP1 :出力状態の初期化を行います。
STEP2 :電源指定値を出力し、
『電源印加』の画面表示を行います。
(含:安定時間タイマ)
STEP3 :
『電圧測定』の画面表示を行います。
STEP4 :
『判定』の画面表示を行います。
STEP5~9:結果判定の処理を行います。
STEP5 ………印加電圧が0の場合『NG』を表示し、
電源をOFFします。
STEP6 ………測定電圧が指定範囲内かどうか確認します。
STEP7、8……判定値をセットします。
1
結果判定
(判定処理)
結果判定(印
加電圧確認)
5
6
ON
ON
結果判定
(表示のみ)
0
4
0
ON
0
電圧測定
(表示のみ)
0
3
_Value_
Vcc_DF
0
電圧印加
(表示のみ)
0
2
0
初期化
1
*_8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _Status _Status _Status
STEP COMMENT _Result
_Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Disp_1 _Disp_1 _Disp_1 WAIT UNIT TARGET
_0
CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07
_0
_1
_2
1. TEST_11……検査準備
圧力センサ検査装置
6. 表形式
IU2 設計事例集 C-39
C-40 IU2 設計事例集
確認中
2
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
OFF OFF
OFF OFF
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
500
"初期化/
0
0
0
0
0
0
0
ON
ON
ON
ON
ON
ON
ON
準備
2
0
0
0
0
0
0
0
0
ON OFF
OFF ON
ON
ON
ON
500
500
初期化
準備
1
2
0
0
0
0
0
0
0
0
ON OFF
ON OFF
ON
500
500
_8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA
_Status _Status _Status _Status _Status _Status _Status _Status
NG/
STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL _VAL _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL OK/
1
2
TRUE FALSE
CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07
3_0
3_1
3_2
3_3
3_4
3_5
3_6
3_7
6. TEST_32……減圧応答性検査
・
『準備』の画面表示とバルブの制御を行います。
大気圧開放
1
_8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA
_Status _Status _Status _Status _Status _Status _Status _Status
NG/
STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL _VAL _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL OK/
1
2
TRUE FALSE
CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07
3_0
3_1
3_2
3_3
3_4
3_5
3_6
3_7
5. TEST_31……加圧応答性検査
・
『大気開放→準備』の画面表示とバルブの制御を行います。
(含:判
定表示
)"
1
_8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA
_VAL _Status _Status _Status _Status _Status WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL OK/ NG/
STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL
_Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_
1
2
TRUE FALSE
CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07
2_0
2_1
2_2
2_3
2_4
4. TEST_23……圧力もれ検査-3
・測定後の『判定』画面表示とバルブの制御を行います。
密閉
1
_8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA
_Status _Status _Status _Status
_VAL _Status
OK/ NG/
STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL
_Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL TRUE
1
2
FALSE
CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07
2_0
2_1
2_2
2_3
2_4
3. TEST_22……圧力もれ検査-2
・
『密閉→確認中』の画面表示とバルブの制御を行います。
圧力センサ検査装置
圧力センサ検査装置
7. プログラム一覧
(1) プログラム一覧
区分
システム
ページ
プログラムページ
Sys1
サブ
ルーチン
システム設定
ページ
区分
S-8
プログラムページ
内容
ページ
Bld204
差圧の演算と判定
S-27
Bld206
指定時間のカウント
S-27
Scr1
操作メニュー画面
S-9
Bld250
データ(フラグ類)の初期化
S-27
Scr2
電源電圧検査画面
S-9
Bld251
加圧指令発生
S-27
Scr3
圧力もれ検査画面
S-10
Bld252
加圧および『加圧』
の表示
S-28
加圧応答性検査画面
S-10
Bld253
データの集録
S-28
減圧応答性検査画面
S-11
Bld254
グラフ表示を開始
S-28
Scr10
検査結果表示画面
S-11
Bld255
加圧結果確認
S-28
Scr100
条件設定画面
S-12
Bld257
グラフ表示を停止
S-29
Scr200
Err表示画面
S-13
Bld258
時間計算~判定処理
S-29
Main1
圧力センサ検査装置
S-14
Bld300
データ(フラグ類)の初期化
S-29
Bld301
減圧指令
S-30
Bld302
減圧および『減圧』
表示
S-30
Bld303
データ集録
S-30
Bld304
グラフ表示開始
S-30
Bld305
減圧果確認
S-31
Bld306
カウンタのインクリメント S-31
Bld307
グラフ表示停止
Bld308
時間計算~判定処理
S-32
Bld350
判定結果出力
S-32
判定結果保存準備(データの
改行情報コード)
S-32
スクリーン Scr4
ページ
Scr5
メイン
ルーチン
内容
Sub1
初期化-1
S-14
Sub2
初期化-2
S-15
Sub3
電源電圧測定
S-15
Sub4
圧力もれ検査
S-16
Sub5
加圧応答性検査
S-16
Sub6
減圧応答性検査
S-17
Sub7
出力初期化
S-17
Sub8
結果出力
S-17
Sub9
結果保存
S-18
Sub20
条件設定/機種表示
S-18
Bld400
Sub21
画面切換え制御
S-18
Sub22
動作モニタ
S-19
BLD
プログラム Bld401
Bld1
初期化-1
S-20
Bld2
初期化-2
S-20
Bld10
ファイル名指定model0
S-21
Bld11
ファイル名指定model1
S-21
Bld12
ファイル名指定model2
S-21
Bld13
ファイル名指定model3
S-21
Bld14
ファイル名指定model4
S-21
Bld15
ファイル名指定model5
S-22
Bld16
ファイル名指定model6
S-22
Bld17
ファイル名指定model7
S-22
Bld18
ファイル名指定model8
S-22
Bld19
ファイル名指定model9
S-22
Bld30
BLD
プログラム Bld31
設定ファイル読出し1/4
S-23
設定ファイル読出し2/4
S-23
Bld32
設定ファイル読出し3/4
S-24
Bld33
設定ファイル読出し4/4
S-24
Bld100
データ(フラグ類)の初期化-1 S-25
Bld101
データ(フラグ類)の初期化-2 S-25
Bld102
検査ステップ情報に1(電源
S-25
電圧測定)を設定
Bld104
ファイル名格納メモリの初
S-25
期化
Bld150
測定結果を記録
S-26
Bld200
データ(フラグ類)の初期化
S-26
Bld201
圧力指令信号発生
S-26
Bld202
圧力発生直後の圧力を測定 S-26
Bld203
指定時間経過後の圧力を測定 S-26
SHEET
ファイル
S-31
判定結果保存準備(判定、検 S-33
査データ)
Bld402
PCカードへの判定結果保
存実行
S-33
Bld450
機種表示処理
S-33
Bld451
表示機種なしの処理
S-34
Bld452
検査ステップ情報を全て
ON
S-34
Bld453
検査ステップ情報を全て
OFF
S-34
Bld454
機種番号(情報)読込み
S-35
Bld460
操作メニュー画面指定
S-35
Bld461
電源電圧検査画面指定
S-35
Bld462
圧力もれ検査画面指定
S-35
Bld463
加圧応答性検査画面指定
S-35
Bld464
減圧応答性検査画面指定
S-35
Bld465
検査結果表示画面指定
S-36
Bld466
検査結果表示画面指定
S-36
Bld470
プログラム実行状態出力
S-36
Bld471
自動起動処理(外部信号)
S-36
Bld472
センサー出力モニタ
S-37
Bld473
エラーモニタ
S-37
Bld480
検査ステップインクリメント S-37
Bld481
アナログ出力初期化
S-38
TEST_11
検査準備
S-39
TEST_21
圧力もれ検査-1
S-39
TEST_22
圧力もれ検査-2
S-40
TEST_23
圧力もれ検査-3
S-40
TEST_31
加圧応答性検査
S-40
TEST_32
減圧応答性検査
S-40
IU2 設計事例集 C-41
C-42 IU2 設計事例集
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
[0 ]
[0 ]
[1 ]
[1 ]
[1 ]
M7999
M9999
D7999
D9999
X15
X23
X255
X31719
Y15
Y23
Y255
Y31719
D10035
D10071
D10087
D10127
DBL255
DB30719
DC 30719
DS30719
DL30719
DF30719
DD 30719
M0
M8000
D0
D8000
X0
X16
X24
X1000
Y0
Y16
Y24
Y1000
D10000
D10036
D10072
D10088
DBL0
DB 0
DC 0
DS0
DL0
DF 0
DD 0
先頭アドレス
I/O割付け一覧
_IU2 _4M10 HA _0
本体内蔵
スロット
I/O割付け設定
IOMap 1 -
最終アドレス
ユーザ名称
[1 ]
本体内蔵
[1 ]
[0 ]
[1 ]
[0 ]
スロット
出力 2
入力 2
DA 8
出力 16
入力 16
AD 18
入出力
割付
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _4M10 HA_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _16EDIO _CPTR _ 0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _16EDIO _CPTR _ 0
有
有
有
有
有
有
割付先 テ ゙バイス
Y0-Y 255
X0-X 255
D10000 -D10127
Y0-Y 255
X0-X 255
D10000 -D10127
ユーザ名称
float
float
割付データ型
2
2
16
16
16
36
割付点数
DA
16
36
2
AD
16
出力
2
出力
16
23
23
10087
15
15
10035
入力
入出力
先頭アドレス
入力
16
16
10072
0
0
10000
割付点数
最終アドレス
圧力センサ検査装置
(2) I/O割付け表
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 9 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 10 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 11 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 12 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 13 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 14 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 15 CH
[1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : 0CH
[1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : 1CH
[1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve
[1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve
[1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve
[1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve
[1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve
[1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve
X9
X10
X11
X12
X13
X14
X15
X16
X17
X18
X19
X20
X21
X22
X23
デハ ゙イスタク ゙
[0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 13CH
[0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 14CH
[0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 15CH
[1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : 0CH
[1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : 1CH
[1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve
[1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve
[1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve
[1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve
[1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve
[1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve
Y14
Y15
Y16
Y17
Y18
Y19
Y20
Y21
Y22
Y23
デバイスタグ
デバイスタグ
_18 EAD _Data _CH 08
D10016
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 7 CH
Y7
_18 EAD _Data _CH 07_
D10015
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 6 CH
_VAL 2
Y6
_18 EAD _Data _CH 07
D10014
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 5 CH
_VAL 1
Y5
_18 EAD _Data _CH 06_
D10013
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 4 CH
_18 EAD _Data _CH 06
D10012
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 3 CH
Y3
_Ready
_18 EAD _Data _CH 05_
D10011
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 2 CH
Y2
Y4
_18 EAD _Data _CH 05
D10010
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 1 CH
_Check _NG
_18 EAD _Data _CH 04_
D10009
Y1
_18 EAD _Data _CH 04
D10008
_18 EAD _Data _CH 03_
_18 EAD _Data _CH 03
D10006
D10007
_18 EAD _Data _CH 02_
D10005
_18 EAD _Data _CH 02
_18 EAD _Data _CH 01_
D10003
D10004
_18 EAD _Data _CH 01
_18 EAD _Data _CH 00_
_18 EAD _Data _CH 00
D10002
D10001
D10000
アドレス
デバイス確認<D10000-D10127>
アドレス
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 0 CH
I/ O割付 (スロット:ユーザ名称:入出力 :CH番号)
[0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 12CH
Y13
_Check _OK
デハ ゙イスタク ゙
[0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 11CH
Y12
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 8CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 7CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 7CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 6CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 6CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 5CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 5CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 4CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 4CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 3CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 3CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 2CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 2CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 1CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 1CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 0CH
本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 0CH
I/O割付 (スロット: ユーザ名称 :入出力 :CH番号 )
I/O割付 (スロット: ユーザ名称 :入出力 :CH番号 )
[0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 10CH
Y11
デバイス確認<Y1000-Y31719>
[0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 9CH
Y10
I/O割付 (スロット: ユーザ名称 :入出力 :CH番号 )
Y9
デバイスタグ
[0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 8CH
アドレス
Y8
Y0
アド レス
デバイス確認<Y0-Y255>
アド レス
I/ O割付 (スロット:ユーザ名称:入出力 :CH番号)
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 8 CH
X8
デバイス確認<X1000-X31719>
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 7 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 4 CH
X7
_Start _In
X4
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 3 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 6 CH
_Sel _Model 4
X3
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 2 CH
X6
_Sel _Model 3
X2
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 1 CH
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 0 CH
I/ O割付 (スロット:ユーザ名称:入出力 :CH番号)
[0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 5 CH
_Sel _Model 2
X1
デバイスタグ
X5
_Sel _Model 1
X0
アドレス
デバイス確認<X0-X255>
IOMap 2 -
圧力センサ検査装置
IU2 設計事例集 C-43
_18EAD_Data _CH09
_18EAD_Data _CH09_
_18EAD_Data _CH10
_18EAD_Data _CH10_
_18EAD_Data _CH11
_18EAD_Data _CH11_
_18EAD_Data _CH12
_18EAD_Data _CH12_
_18EAD_Data _CH13
_18EAD_Data _CH13_
_18EAD_Data _CH14
_18EAD_Data _CH14_
_18EAD_Data _CH15
_18EAD_Data _CH15_
_18EAD_Data _CH16
_18EAD_Data _CH16_
_18EAD_Data _CH17
_18EAD_Data _CH17_
_8EDA _Data _CH00
_8EDA _Data _CH00_
_8EDA _Data _CH01
_8EDA _Data _CH01_
_8EDA _Data _CH02
_8EDA _Data _CH02_
_8EDA _Data _CH03
_8EDA _Data _CH03_
_8EDA _Data _CH04
_8EDA _Data _CH04_
_8EDA _Data _CH05
_8EDA _Data _CH05_
_8EDA _Data _CH06
_8EDA _Data _CH06_
_8EDA _Data _CH07
_8EDA _Data _CH07_
D10018
D10019
D10020
D10021
D10022
D10023
D10024
D10025
D10026
D10027
D10028
D10029
D10030
D10031
D10032
D10033
D10034
D10035
D10072
D10073
D10074
D10075
D10076
D10077
D10078
D10079
D10080
D10081
D10082
D10083
D10084
D10085
D10086
D10087
デバイスタグ
_18EAD_Data _CH08_
D10017
アドレス
IOMap 3 I/O割付 (スロット:ユーザ名称:入出力 :CH番号)
C-44 IU2 設計事例集
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 7CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 7CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 6CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 6CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 5CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 5CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 4CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 4CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 3CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 3CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 2CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 2CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 1CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 1CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 0CH
[1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 0CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 17CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 17CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 16CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 16CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 15CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 15CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 14CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 14CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 13CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 13CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 12CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 12CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 11CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 11CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 10CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 10CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 9CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 9CH
本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 8CH
圧力センサ検査装置
_IU2 _4M10HA_0
_IU2 _4M10HA_0
_IU2 _4M10HA_0
_IU2 _4M10HA_0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
本体
本体
本体
本体
[0 ]
[0 ]
[0 ]
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _4M10HA_0
本体
[0 ]
_IU2 _4M10HA_0
本体
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _4M10HA_0
本体
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _4M10HA_0
本体
[0 ]
_IU2 _4M10HA_0
本体
[0 ]
_IU2 _4M10HA_0
本体
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _4M10HA_0
本体
[0 ]
_IU2 _4M10HA_0
本体
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _4M10HA_0
本体
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _4M10HA_0
本体
[0 ]
_IU2 _4M10HA_0
本体
[0 ]
_IU2 _4M10HA_0
本体
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _4M10HA_0
本体
[0 ]
_IU2 _4M10HA_0
スロット
CHタグ
本体
CHタグ確認
CHタグ一覧
ChTag 1 -
ユーザ名称
スロット
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
AD
入出力
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
17
16
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
ユーザ名称
CH 番号
入出力
CH タグ
CH 番号
コメント
コメント
圧力センサ検査装置
(3) CHタグ一覧
IU2 設計事例集 C-45
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _16 EDIO _CPTR _0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[0 ]
[1 ]
[1 ]
[1 ]
[1 ]
[1 ]
[1 ]
[1 ]
[1 ]
[1 ]
スロット
ChTag 2 ユーザ名称
C-46 IU2 設計事例集
入力
DA
DA
DA
DA
DA
DA
DA
DA
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
出力
入力
入力
入力
入力
入力
入力
入出力
0
7
6
5
4
3
2
1
0
15
14
13
12
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
15
14
13
12
11
10
CH番号
CHタグ
コメント
圧力センサ検査装置
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
_IU2 _8EDA _100 M_0
[1 ]
[1 ]
[1 ]
スロット
ChTag 3 ユーザ名称
出力
出力
入力
入出力
1
0
1
CH番号
CHタグ
コメント
圧力センサ検査装置
IU2 設計事例集 C-47
D10000
D10001
D10002
D10003
D10004
D10005
D10006
D10007
D10008
D10009
DF20
D10010
D10011
D10012
D10013
D10014
D10015
D10016
D10017
D10018
D10019
D10020
D10021
D10022
D10023
D10024
D10025
D10026
D10027
D10028
_18 EAD_Data _CH 00
_18 EAD_Data _CH 00_
_18 EAD_Data _CH 01
_18 EAD_Data _CH 01_
_18 EAD_Data _CH 02
_18 EAD_Data _CH 02_
_18 EAD_Data _CH 03
_18 EAD_Data _CH 03_
_18 EAD_Data _CH 04
_18 EAD_Data _CH 04_
_18 EAD_Data _CH 04_DF
_18 EAD_Data _CH 05
_18 EAD_Data _CH 05_
_18 EAD_Data _CH 06
_18 EAD_Data _CH 06_
_18 EAD_Data _CH 07
_18 EAD_Data _CH 07_
_18 EAD_Data _CH 08
_18 EAD_Data _CH 08_
_18 EAD_Data _CH 09
_18 EAD_Data _CH 09_
_18 EAD_Data _CH 10
_18 EAD_Data _CH 10_
_18 EAD_Data _CH 11
_18 EAD_Data _CH 11_
_18 EAD_Data _CH 12
_18 EAD_Data _CH 12_
_18 EAD_Data _CH 13
_18 EAD_Data _CH 13_
_18 EAD_Data _CH 14
テ ゙ハ ゙イスタグ
デバイスタグ一覧
DevTag 1 -
割付先 デバイスアドレス
コメント
C-48 IU2 設計事例集
M1
Y1
_Auto _Mode
_Check _NG
D70
D71
_Daq _Data _Element _1
_Daq _Data _Element _1_
D72
DBL 3
_Daq _Data _2
_Daq _Data _Element _2
DBL 2
_Daq _Data _1
Y0
D8800
_Check _OK
M0
D10087
D10086
D10085
D10084
D10083
D10082
D10081
D10080
D10079
D10078
D10077
D10076
D10075
D10074
D10073
D10072
D10035
D10034
D10033
D10032
D10031
D10030
D10029
_Auto _Manu _For _Table
デバイスタグ
_Auto _Manu
_8 EDA_Data_ CH07_
_8 EDA_Data_ CH07
_8 EDA_Data_ CH06_
_8 EDA_Data_ CH06
_8 EDA_Data_ CH05_
_8 EDA_Data_ CH05
_8 EDA_Data_ CH04_
_8 EDA_Data_ CH04
_8 EDA_Data_ CH03_
_8 EDA_Data_ CH03
_8 EDA_Data_ CH02_
_8 EDA_Data_ CH02
_8 EDA_Data_ CH01_
_8 EDA_Data_ CH01
_8 EDA_Data_ CH00_
_8 EDA_Data_ CH00
_18 EAD _Data _CH17 _
_18 EAD _Data _CH17
_18 EAD _Data _CH16 _
_18 EAD _Data _CH16
_18 EAD _Data _CH15 _
_18 EAD _Data _CH15
_18 EAD _Data _CH14 _
割付先 デバイスアドレス
Test mode select
on :Auto
コメント
圧力センサ検査装置
(4) デバイスタグ一覧
M3
M4
M5
D46
D47
D48
D49
DF 35
M8640
D0
_Graph _Clear _ 2
_Graph _Start _1
_Graph _Start _2
_L_Data 1
_L_Data 1_
_L_Data 2
_L_Data 2_
_L_Result _Data_DF
_Main 1_Start
_Model
D13
M2
_Graph _Clear _ 1
_Result _3
M204
_File _Save _Err
D12
M203
_File _Read _ Err
_Result _2
M205
_Err _Skip _PS_Test
D11
D2
_Err _Code
_Result _1
M200
_Err
D10
D8500
_Disp
_Result _0
D67
_Data _InLevel _Time _2_
Y4
D66
_Data _InLevel _Time _2
_Ready
D65
_Data _InLevel _Time _1_
DF 37
D64
_Data _InLevel _Time _1
_R_Result _Data 2 _DF
D63
_Data _InLevel _Num _2
DF 36
D62
_Data _InLevel _Num _1
_R_Result _Data 1 _DF
M202
_Daq_ Err_Flag _2
M198
M201
_Daq_ Err_Flag _1
_P_Skip
D61
_Daq_ Data_ Index _2
D1
D60
_Daq_ Data_ Index _1
_Model _Disp
D73
_Daq_ Data_ Element _2_
デバイスタグ
DevTag 2 -
割付先 テ ゙バイスアドレス
判定結果
判定結果
判定結果
判定結果
Tset target
応答性試験 2(負圧 )
応答性試験 1(正圧 )
リーク 試験
電源試験
Display select
コメント
D16
_Result _6
DF 0
DF 1
_Save _ Data_ Buffer _0
_Save _ Data_ Buffer _1
DF 13
_Save _ Data_ Buffer _13
_Start _Step _4
_Start _Step _3
_Start _Step _2
_Start _Step _1
_Start _Step _0
_Start _Master
_Start _In
_Sensor _2_DF
_Sensor _1_DF
_Sel_Model 4
_Sel_Model 3
_Sel_Model 2
_Sel_Model 1
_Save _ File_name
_Save _ Data_ Buffer _9
_Save _ Data_ Buffer _8
_Save _ Data_ Buffer _7
_Save _ Data_ Buffer _6
_Save _ Data_ Buffer _5
_Save _ Data_ Buffer _4
_Save _ Data_ Buffer _3
_Save _ Data_ Buffer _2
_Save _ Data_ Buffer _19
_Save _ Data_ Buffer _18
_Save _ Data_ Buffer _17
_Save _ Data_ Buffer _16
_Save _ Data_ Buffer _15
M14
M13
M12
M11
M10
M9
X4
DF 41
DF 40
X3
X2
X1
X0
DBL 1
DF 9
DF 8
DF 7
DF 6
DF 5
DF 4
DF 3
DF 2
DF 19
DF 18
DF 17
DF 16
DF 15
DF 14
DF 12
_Save _ Data_ Buffer _12
_Save _ Data_ Buffer _14
DF 11
_Save _ Data_ Buffer _11
DF 10
D19
_Result _9
_Save _ Data_ Buffer _10
D18
_Result _8
D17
D15
_Result _5
_Result _7
D14
デバイスタグ
_Result _4
割付先 テ ゙バイスアドレス
判定結果 ( 予備 )
判定結果 ( 予備 )
判定結果 ( 予備 )
判定結果 ( 予備 )
判定結果 ( 予備 )
判定結果 ( 予備 )
コメント
圧力センサ検査装置
IU2 設計事例集 C-49
M15
M16
M17
M18
M19
M110
M111
M112
M113
M114
M115
M116
M117
M118
M119
M120
M121
M122
M123
M124
M125
M126
M127
M128
M129
M130
M131
M132
M133
M134
M135
M136
M137
M138
M139
D8820
D1000
M199
_Start _Step _5
_Start _Step _6
_Start _Step _7
_Start _Step _8
_Start _Step _9
_Status _ Disp_1 _0
_Status _ Disp_1 _1
_Status _ Disp_1 _2
_Status _ Disp_1 _3
_Status _ Disp_1 _4
_Status _ Disp_1 _5
_Status _ Disp_1 _6
_Status _ Disp_1 _7
_Status _ Disp_1 _8
_Status _ Disp_1 _9
_Status _ Disp_2 _0
_Status _ Disp_2 _1
_Status _ Disp_2 _2
_Status _ Disp_2 _3
_Status _ Disp_2 _4
_Status _ Disp_2 _5
_Status _ Disp_2 _6
_Status _ Disp_2 _7
_Status _ Disp_2 _8
_Status _ Disp_2 _9
_Status _ Disp_3 _0
_Status _ Disp_3 _1
_Status _ Disp_3 _2
_Status _ Disp_3 _3
_Status _ Disp_3 _4
_Status _ Disp_3 _5
_Status _ Disp_3 _6
_Status _ Disp_3 _7
_Status _ Disp_3 _8
_Status _ Disp_3 _9
_Step _Key _For _Table
_TEST _DATA 00
_Test _Flag 1
テ ゙バイスタグ
DevTag 3 -
割付先 テ ゙バイスアドレス
C-50 IU2 設計事例集
応答試験画面状態遷移 (予備 )
応答試験画面状態遷移 (予備 )
応答試験画面状態遷移 (予備 )
応答試験画面状態遷移 (判定 )
応答試験画面状態遷移 (大気圧開放 ⇒計測 )
応答試験画面状態遷移 (準備 )
応答試験画面状態遷移 (判定 )
応答試験画面状態遷移 (加圧 ⇒計測 )
応答試験画面状態遷移 (準備 )
応答試験画面状態遷移 (大気圧開放 )
リーク 試験画面状態遷移 (予備 )
リーク 試験画面状態遷移 (予備 )
リーク 試験画面状態遷移 (予備 )
リーク 試験画面状態遷移 (予備 )
リーク 試験画面状態遷移 (予備 )
リーク 試験画面状態遷移 (判定 )
リーク 試験画面状態遷移 (確認中 )
リーク 試験画面状態遷移 (密閉 )
リーク 試験画面状態遷移 (加圧 )
リーク 試験画面状態遷移 (大気圧開放 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (判定 )
電源試験画面状態遷移 (電圧測定 )
電源試験画面状態遷移 (電源印加 )
コメント
D3
_Test _Step
D80
D81
Y5
Y6
DBL 0
DF25
DF27
DF26
DF45
D128
D129
DF28
DF29
DF34
DF33
DF32
DF31
DF30
DF22
DF21
DF23
DF24
DF39
_Tmin _2
_Tmin _2 _
_VAL 1
_VAL 2
_Value _File _name
_Value _L_Pa _DF
_Value _L_Pa _max _DF
_Value _L_Pa _min _DF
_Value _L_Pa _temp _ DF
_Value _L_Time
_Value _L_Time _
_Value _L_Time _DF
_Value _R_Pa _DF
_Value _R_Pa _Temp _DF
_Value _R_Time _max _DF
_Value _R_Time _min _DF
_Value _R_Vth _H_DF
_Value _R_Vth _L_DF
_Value _Vcc _DF
_Value _Vcc _DF_ZERO
_Value _Vcc _H_DF
_Value _Vcc _L_DF
_Vcc _Data _DF
_Auto _Manu
_Auto _Mode
_Graph _Clear _1
_Graph _Clear _2
_Graph _Start _1
_Graph _Start _2
_Start _Master
_Start _Step _0
_Start _Step _1
M0
M1
M2
M3
M4
M5
M9
M10
M11
アドレス
デバイスタグ確認<M0-M7999>
D75
_Tmin _1 _
D74
D5
_Test _L_Time _Disp
_Tmin _1
D4
デバイスタグ
_Test _L_Time
テ ゙バイスタグ
割付先 テ ゙バイスアドレス
Test mode select
on :Auto
コメント
コメント
圧力センサ検査装置
_Status _Disp _1_8
_Status _Disp _1_9
_Status _Disp _2_0
_Status _Disp _2_1
_Status _Disp _2_2
_Status _Disp _2_3
_Status _Disp _2_4
_Status _Disp _2_5
_Status _Disp _2_6
_Status _Disp _2_7
_Status _Disp _2_8
_Status _Disp _2_9
_Status _Disp _3_0
M118
M119
M120
M121
M122
M123
M124
M125
M126
M127
M128
M129
M130
_Status _Disp _3_8
_Status _Disp _1_7
M117
M138
_Status _Disp _1_6
M116
_Status _Disp _3_7
_Status _Disp _1_5
M115
M137
_Status _Disp _1_4
M114
_Status _Disp _3_6
_Status _Disp _1_3
M113
M136
_Status _Disp _1_2
M112
_Status _Disp _3_5
_Status _Disp _1_1
M111
M135
_Status _Disp _1_0
M110
_Status _Disp _3_4
_Start _Step _9
M19
_Status _Disp _3_3
_Start _Step _8
M18
M134
_Start _Step _7
M17
M133
_Start _Step _6
M16
_Status _Disp _3_2
_Start _Step _5
M15
M132
_Start _Step _4
M14
_Status _Disp _3_1
_Start _Step _3
M13
M131
_Start _Step _2
M12
アドレス
DevTag 4 -
デバイスタグ
応答試験画面状態遷移 (予備 )
応答試験画面状態遷移 (予備 )
応答試験画面状態遷移 (判定 )
応答試験画面状態遷移 (大気圧開放 ⇒ 計測 )
応答試験画面状態遷移 (準備 )
応答試験画面状態遷移 (判定 )
応答試験画面状態遷移 (加圧 ⇒ 計測 )
応答試験画面状態遷移 (準備 )
応答試験画面状態遷移 (大気圧開放 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 判定 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 確認中 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 密閉 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 加圧 )
リーク 試験画面状態遷移 ( 大気圧開放 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (予備 )
電源試験画面状態遷移 (判定 )
電源試験画面状態遷移 (電圧測定 )
電源試験画面状態遷移 (電源印加 )
コメント
_Test _Flag 1
M199
_File _Read _Err
_File _Save _Err
M203
M204
アドレス
D62
D61
D60
D49
D48
D47
D46
D19
D18
D17
D16
D15
D14
D13
D12
D11
D10
D5
D4
D3
D2
D1
D0
アドレス
デバイスタグ確認<D0-D7999>
M8640
_Data _InLevel _Num _1
_Daq_Data _Index _ 2
_Daq_Data _Index _ 1
_L_Data 2_
_L_Data 2
_L_Data 1_
_L_Data 1
_Result _9
_Result _8
_Result _7
_Result _6
_Result _5
_Result _4
_Result _3
_Result _2
_Result _1
_Result _0
_Test _L_Time _ Disp
_Test _L_Time
_Test _Step
_Err _Code
_Model _Disp
_Model
_Main 1_Start
デバイスタグ確認 <M8000-M9999>
_Err _Skip _PS _Test
_Daq_Err_Flag _2
M202
M205
_Daq_Err_Flag _1
M201
_Err
_P_Skip
M198
M200
_Status _Disp_3 _9
アドレス
M139
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
コメント
コメント
応答性試験 2 (負圧 )
応答性試験 1 (正圧 )
リーク 試験
電源試験
判定結果 (予備 )
判定結果 (予備 )
判定結果 (予備 )
判定結果 (予備 )
判定結果 (予備 )
判定結果 (予備 )
判定結果
判定結果
判定結果
判定結果
Tset target
コメント
応答試験画面状態遷移 (予備 )
圧力センサ検査装置
IU2 設計事例集 C-51
C-52 IU2 設計事例集
_Data _InLevel _Time _2
_Data _InLevel _Time _2_
_Daq_Data _Element _1
_Daq_Data _Element _1_
_Daq_Data _Element _2
_Daq_Data _Element _2_
_Tmin _1
_Tmin _1_
_Tmin _2
_Tmin _2_
_Value _L_Time
_Value _L_Time _
_TEST _DATA 00
D66
D67
D70
D71
D72
D73
D74
D75
D80
D81
D128
D129
D1000
_Step _Key _For _Table
D8820
_Sel _Model 2
_Sel _Model 3
_Sel _Model 4
_Start _In
X1
X2
X3
X4
アドレス
デバイスタグ確認<X1000-X31719>
_Sel _Model 1
X0
アドレス
デバイスタグ
デバイスタグ
_Auto _Manu _For _Table
D8800
デバイスタグ確認 <X0-X255>
_Disp
D8500
アドレス
デバイスタグ
_Data _InLevel _Time _1_
D65
デバイスタグ確認<D8000-D9999>
_Data _InLevel _Time _1
D64
デバイスタグ
_Data _InLevel _Num _2
D63
アドレス
DevTag 5 -
Display select
コメント
コメント
コメント
コメント
_Check _NG
_Ready
_VAL 1
_VAL 2
Y1
Y4
Y5
Y6
_18 EAD _Data _CH 01
_18 EAD _Data _CH 01_
_18 EAD _Data _CH 02
_18 EAD _Data _CH 02_
D10002
D10003
D10004
D10005
_18 EAD _Data _CH 08_
_18 EAD _Data _CH 09
_18 EAD _Data _CH 09_
D10018
D10019
_18 EAD _Data _CH 08
_18 EAD _Data _CH 07_
_18 EAD _Data _CH 07
_18 EAD _Data _CH 06_
_18 EAD _Data _CH 06
D10017
D10016
D10015
D10014
D10013
D10012
_18 EAD _Data _CH 05_
_18 EAD _Data _CH 05
D10011
_18 EAD _Data _CH 04_
D10010
_18 EAD _Data _CH 04
_18 EAD _Data _CH 03_
D10009
D10008
D10007
_18 EAD _Data _CH 03
_18 EAD _Data _CH 00_
D10001
D10006
_18 EAD _Data _CH 00
D10000
アドレス
デバイスタグ確認<D10000-D10127>
アドレス
デバイスタグ確認<Y1000-Y31719>
_Check _OK
Y0
アドレス
デバイスタグ確認<Y0-Y255>
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
コメント
コメント
コメント
圧力センサ検査装置
_18 EAD_Data _CH10
_18 EAD_Data _CH10 _
_18 EAD_Data _CH11
_18 EAD_Data _CH11 _
_18 EAD_Data _CH12
_18 EAD_Data _CH12 _
_18 EAD_Data _CH13
_18 EAD_Data _CH13 _
_18 EAD_Data _CH14
_18 EAD_Data _CH14 _
_18 EAD_Data _CH15
_18 EAD_Data _CH15 _
_18 EAD_Data _CH16
_18 EAD_Data _CH16 _
_18 EAD_Data _CH17
_18 EAD_Data _CH17 _
_8EDA _Data _CH 00
_8EDA _Data _CH 00 _
_8EDA _Data _CH 01
_8EDA _Data _CH 01 _
_8EDA _Data _CH 02
_8EDA _Data _CH 02 _
_8EDA _Data _CH 03
_8EDA _Data _CH 03 _
_8EDA _Data _CH 04
_8EDA _Data _CH 04 _
_8EDA _Data _CH 05
_8EDA _Data _CH 05 _
_8EDA _Data _CH 06
_8EDA _Data _CH 06 _
_8EDA _Data _CH 07
D10020
D10021
D10022
D10023
D10024
D10025
D10026
D10027
D10028
D10029
D10030
D10031
D10032
D10033
D10034
D10035
D10072
D10073
D10074
D10075
D10076
D10077
D10078
D10079
D10080
D10081
D10082
D10083
D10084
D10085
D10086
アドレス
DevTag 6 -
デバイスタグ
コメント
アドレス
_8 EDA_Data _CH07 _
アドレス
_Daq_Data _2
_Daq_Data _1
_Save _File _name
_Value _File _name
DF 10
DF 9
DF 8
DF 7
DF 6
DF 5
DF 4
DF 3
DF 2
DF 1
DF 0
アドレス
_Save _Data _Buffer _10
_Save _Data _Buffer _9
_Save _Data _Buffer _8
_Save _Data _Buffer _7
_Save _Data _Buffer _6
_Save _Data _Buffer _5
_Save _Data _Buffer _4
_Save _Data _Buffer _3
_Save _Data _Buffer _2
_Save _Data _Buffer _1
_Save _Data _Buffer _0
デバイスタグ確認<DF0-DF30719>
アドレス
デバイスタグ確認<DL0-DL30719>
アドレス
デバイスタグ確認<DS0-DS30719>
アドレス
デバイスタグ確認<DC0-DC30719>
アドレス
デバイスタグ確認<DB0-DB30719>
DBL 3
DBL 2
DBL 1
DBL 0
デバイスタグ確認<DBL0-DBL255>
D10087
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
テ ゙バイスタグ
コメント
コメント
コメント
コメント
コメント
コメント
コメント
圧力センサ検査装置
IU2 設計事例集 C-53
_Save _Data _Buffer _12
_Save _Data _Buffer _13
_Save _Data _Buffer _14
_Save _Data _Buffer _15
_Save _Data _Buffer _16
_Save _Data _Buffer _17
_Save _Data _Buffer _18
_Save _Data _Buffer _19
_18 EAD_Data _CH04 _DF
_Value _Vcc_DF_ ZERO
_Value _Vcc_DF
_Value _Vcc_H_ DF
_Value _Vcc_L_DF
_Value _L_Pa _DF
_Value _L_Pa _min_DF
_Value _L_Pa _max _DF
_Value _L_Time _DF
_Value _R_Pa_ DF
_Value _R_Vth _L_DF
_Value _R_Vth _H_DF
_Value _R_Time _min_DF
_Value _R_Time _max _DF
_Value _R_Pa_ Temp _ DF
_L_Result _Data _DF
_R_Result _Data 1_ DF
_R_Result _Data 2_ DF
_Vcc_Data_DF
_Sensor _1 _DF
_Sensor _2 _DF
_Value _L_Pa _temp _DF
DF 12
DF 13
DF 14
DF 15
DF 16
DF 17
DF 18
DF 19
DF 20
DF 21
DF 22
DF 23
DF 24
DF 25
DF 26
DF 27
DF 28
DF 29
DF 30
DF 31
DF 32
DF 33
DF 34
DF 35
DF 36
DF 37
DF 39
DF 40
DF 41
DF 45
デバイスタグ
_Save _Data _Buffer _11
DF 11
アト ゙レス
DevTag 7 コメント
アドレス
デバイスタク ゙確認 <DD 0-DD30719 >
テ ゙バイスタグ
コメント
圧力センサ検査装置
C-54 IU2 設計事例集
三菱データ収集アナライザ システムパートナーのご紹介
INDEX
モータ検査装置
M E LQ I C をご 使 用され た 検 査 装 置 のシステムやソフトウェアの 構 築 をご 希 望 の 場 合、下 記 のシステム
パートナーを 紹 介 いたします。
﹁ パソコンの 検 査 ではメンテが 不 安 だ ⋮ ﹂
東日本営業所……………………………………… 〒102-0073 東京都千代田区九段北1-13-5(日本地所第一ビル)………(03)3288-1108
基板検査装置
田町支所………………………………………… 〒108-0073 東京都港区三田3-13-16(三田43MTビル15階) ……………(03)5484-6755
中日本営業所……………………………………… 〒450-0002 名古屋市中村区名駅3-14-16(東洋ビル)…………………(052)565-3435
西日本営業所……………………………………… 〒530-0003 大阪市北区堂島2-2-2(近鉄堂島ビル)………………………(06)6347-2969
老朽化したパソコンベースの検査装置や
データ収集アナライザ、三菱
中国営業グループ………………………………… 〒730-0037 広島市中区中町7-41(三栄第一ビル)………………………(082)248-5390
専用の検査装置に代わる、
九州営業所………………………………………… 〒810-0001 福岡市中央区天神4丁目1-7(第3明星ビル)………………(092)721-2202
の
《MELQIC》
。 システム技術相談 電話番号(079)297-9544 FAX番号(079)297-4421
圧力センサ検査装置
﹁ 専 用 の 検 査 機 を 導 入 す る 予 算 は ない⋮ ﹂
1.三菱電機エンジニアリング株式会社
2.三菱電機コントロールソフトウェア株式会社
ソリューション事業部 営業第1部…………… 〒108-0074 東京都港区高輪3-26-33(秀和品川ビル6F)………………(03)5798-2288
三菱データ収集
アナライザ
3.三菱電機システムサービス株式会社
ソリューション事業部 営業第2部…………… 〒553-0003 大阪市福島区福島7-15-26(大阪YMビル6F) ……………(06)6454-2001
北日本支社
(機 電 営 業 課)………………〒984-0042 仙台市若林区大和町2-18-23…………………………………(022)236-3818
北海道支店 (機 電 営 業 課)………………〒004-0041 札幌市厚別区大谷地東2-1-18…………………………………(011)890-7515
東京機電支社 (システム部)…………………〒108-0022 東京都港区海岸3-19-22………………………………………(03)3454-1561
中部支社
(機電部機電システム課)……〒461-8675 名古屋市東区矢田南5-1-14……………………………………(052)722-7603
北陸支店
(機 電 営 業 課)………………〒920-0811 金沢市小坂町北255……………………………………………(076)251-0559
関西機電支社 (システム部)…………………〒531-0076 大阪市北区大淀中1-4-13………………………………………(06)6454-0191
中四国支社
(機電システム課)……………〒732-0802 広島市南区大州4-3-26…………………………………………(082)285-2112
四国支店
(機 電 営 業 課)………………〒760-0072 高松市花園町1-9-38……………………………………………(087)831-3186
九州支社
(機電部 機電営業 課)………〒812-0007 福岡市博多区東比恵3-12-16(東比恵スクエアビル)……(092)483-8208
産業システムセンター(システム営業課)……………〒108-0022 東京都港区海岸3-19-22………………………………………(03)5484-3612
(システムエンジニアリング部)…〒461-8675 名古屋市東区矢田南5-1-14……………………………………(052)722-8711
安全にお使いいただくために
これまで検査工程には専用のFA製品がなく、パソコンベースの検査装置や、専用の検査装置
に頼っているのが現状でした。
しかし、パソコンベースのものはOS環境のトレンドに左右され、
また専用機は非常に高価なことがネックとなっていたのです。
●本製品は一般工業製品の検査・データ収集を対象とした汎用品として設計・製作されたもので、
公共への影響、
人命や財産
への影響が大きい機器あるいはシステムに用いられる部品や製品の検査・データ収集を目的に設計、
製造されたものではあり
ません。
●本製品を原子力用、
電力用の機器あ
るいはシステムなど特殊用途に用いられる部品や製品の検査
・データ収集へ適用をご検
OS環境に左右されない
検査デ−タを
統合化ソフトウェアで
討の際には、
当社の営業担当窓口までご照会ください。
ソフトウェア
品質管理に有効活用
開発効率アップ
●本製品は厳重な品質管理体制の下に製造しておりますが、
本製品の故障・不具合により重大な損失または事故の発生が予
測される部品や製品の検査・データ収集への適用に際しては、
バックアップやフェールセーフ、
自己診断の機能をシステム的に設
パソコンベースの検査装置と異なり、
OS環
置して
ください。検査データを分析・加工、ネットワークに連動 Windowsベースの統合化プログラミングソ
●本導入事例の掲載内容は、
すべての状況下において動作を保証しているものではありません。
そこで開発されたのが、三菱のデータ収集アナライザ《MELQIC》。
境のトレンドに左右されないソフトウェアであ
検査内容に最適なプログラムにより、作業効率を一気に向上。製造ラインのタクトタイムを
●本導入事例を利用する
ことによって生じ
た如何なる損害も
当社は補償をいた
しません。
短縮。グラフィ
カルプログラミングにより、開
不良率の算出)
が可能
ることも大きなメリット。長期にわたるサポー
ト つき、平均値の推移、
大幅に短縮します。これまでの検査装置に代わる、FAラインのための新しいユニットです。
も安心、耐久性・信頼性にも優れています。
して集計・解析
(検査データの統計処理、
ばら
フトウェア「IU Developer」で、開発期間を
●本導入事例は、
MELQIC本体のプログラムを行う際の基本的な考え方や具体的なプログラミングの一例を示したものです。
です。品質管理に有効に活用できます。
発効率とメンテナンス性が格段に向上します。
商標、登録商標について
Microsoft, Windows, Visio, Excelは、
米国Microsoft Corporationの米国およびその他の国における登録商標または商標です。
VxWORKS, TORNADOは、
Wind River Systems,Incの登録商標です。
SH4は、
ルネサスエレクトロニクス株式会社の登録商標です。
その他の会社名や商品名は、
それぞれの会社の商標または登録商標です。
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三菱電機FA機器電話技術相談
対象機種
MELQIC
IU2シリーズ
※土・日・祝祭日、春期・夏期・年末年始の休日を除く通常業務日
電話番号
受付時間※
079-298-9440
月曜∼金曜 9:00∼17:00
安全に関するご注意
本カタログに記載された製品を正しくお使いいただくため
ご使用の前に必ず「マニュアル」をお読みください。
2010年8月作成
JZ990C39301B
(MEE)
この印刷物は2010年8月の発行です。
なお、
お断りなしに仕様を変更することがありますのでご了承ください。
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