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MELQIC 設計事例集
お問合せは下記へどうぞ 本社機器営業部…………… 〒10 0 - 8310 北海道支社………………… 〒060-8693 東北支社…………………… 〒 980 - 0011 福島支店…………………… 〒963-8002 関越支社…………………… 〒330-6034 新潟支店…………………… 〒950-8504 神奈川支社………………… 〒 2 20 - 8118 北陸支社…………………… 〒 920-0031 中部支社…………………… 〒450-8522 豊田支店…………………… 〒471- 0 034 関西支社…………………… 〒530-8206 中国支社…………………… 〒730-8657 四国支社…………………… 〒760-8654 九州支社…………………… 〒810 -8686 三菱データ収集アナライザ 三菱データ収集アナライザ 〒100-8310 東京都千代田区丸の内2丁目7番3号 (東京ビル) 東京都千代田区丸の内2丁目7番3号(東京ビル)………………………………(03)3218- 6760 札幌市中央区北二条西4丁目1(北海道ビル)……………………………………(011)212- 379 4 仙台市青葉区上杉1-17-7(仙台上杉ビル)………………………………………(022)216-4546 郡山市駅前2-11-1(ビッグアイ)…………………………………………………(024)923-5624 さいたま市中央区新都心11番地2(明治安田生命さいたま新都心ビル ランド・アクシス・タワー34F)…(048)600-5835 新潟市中央区東大通2-4-10(日本生命ビル)…………………………………(025)241-72 27 横浜市西区みなとみらい2-2-1(横浜ランドマークタワー)……………………(045)224-2624 金沢市広岡3-1-1(金沢パークビル)……………………………………………(076)233-5502 名古屋市中村区名駅3-28-12(大名古屋ビル)…………………………………(052)565-3314 豊田市小坂本町1-5-10(矢作豊田ビル)………………………………………(0565)34 - 4112 大阪市北区堂島2-2-2(近鉄堂島ビル)…………………………………………(06)6347-2771 広島市中区中町7番32号(ニッセイ広島ビル)…………………………………(082)248-5445 高松市寿町1-1-8(日本生命高松駅前ビル)……………………………………(087)825-0055 福岡市中央区天神2-12-1(天神ビル)……………………………………………(092)721-2247 三菱電機システムサービス株式会社 北日本支社…………………………… 北海道支店………………………… 東京機電支社………………………… 神奈川機器サービスステーション… 関 越 機 器サービスステーション… 新 潟 機 器サービスステーション… 中部支社……………………………… 北陸支店…………………………… 静岡 機 器サービスステーション… 関西機電支社………………………… 京滋 機 器サービスステーション… 姫 路 機 器サービスステーション… 中四国支社…………………………… 四国支店……………………………… 倉 敷 機 器サービスステーション… 九州支社……………………………… 長崎機器サービスステーション…… 〒 984-0042 〒 004- 0041 〒108 - 0022 〒 224-0053 〒338-0822 〒 950-8504 〒4 61- 8 675 〒 920 - 0811 〒422- 8058 〒 5 31- 0 076 〒 612- 8444 〒 670-0836 〒732- 0802 〒760 - 0072 〒 712- 8 011 〒 812- 0 0 07 〒850-8652 仙台市若林区大和町2-18-23………………………………………(022)238 -1761 札幌市厚別区大谷地東2-1-18………………………………………(011)8 9 0 -7515 東京都港区海岸3-19-22(三菱倉庫芝浦ビル)……………………(03)3454-5521 横 浜 市 都 筑 区 池 辺 町 3 9 6 3 -1… … … … … … … … … … … … …(045)938-5420 さいたま市桜区中島2-21-10………………………………………(048)859-7521 新潟市中央区東大通2-4-10(日本生命ビル6F)……………………(025)241-7261 名古屋市東区矢田南5-1-14…………………………………………(052)722-7601 金沢市小坂町北255…………………………………………………(076)252-9519 静岡市駿河区中原877-2……………………………………………(054)287-8866 大阪市北区大淀中1-4-13……………………………………………(06)6458-9728 京都市伏見区竹田田中宮町8番地…………………………………(075)611- 6 211 姫路市神屋町6-76……………………………………………………(07 9)2 81-1141 広島市南区大州4-3-26………………………………………………(082)28 5 -2111 高松市花園町1-9-38…………………………………………………(087)831-3186 倉敷市連島町連島445-4……………………………………………(086)448-5532 福岡市 博多区東 比恵3 -12-16……………………………………(092)483-8208 長崎市丸尾町4番4号…………………………………………………(095)818- 0700 MELFANSwebのFAランドでは、 ソフトウェアアップデートのダウンロードサー ビスがご利用いただけます。 FAランドのID登録 (無料) が必要です。 三菱電機FA機器電話技術相談 対象機種 MELQIC IU2シリーズ ※土・日・祝祭日、春期・夏期・年末年始の休日を除く通常業務日 電話番号 受付時間※ 079-298-9440 月曜∼金曜 9:00∼17:00 安全に関するご注意 本カタログに記載された製品を正しくお使いいただくため ご使用の前に必ず「マニュアル」をお読みください。 JZ990C39301B (MEE) この印刷物は2010年8月の発行です。 なお、 お断りなしに仕様を変更することがありますのでご了承ください。 2010年8月作成 設計事例集 サービスのお問合わせは下記へどうぞ 三菱データ収集アナライザ 設計事例集 三菱データ収集アナライザ システムパートナーのご紹介 INDEX モータ検査装置 M E LQ I C をご 使 用され た 検 査 装 置 のシステムやソフトウェアの 構 築 をご 希 望 の 場 合、下 記 のシステム パートナーを 紹 介 いたします。 ﹁ パソコンの 検 査 ではメンテが 不 安 だ ⋮ ﹂ 東日本営業所……………………………………… 〒102-0073 東京都千代田区九段北1-13-5(日本地所第一ビル)………(03)3288-1108 基板検査装置 田町支所………………………………………… 〒108-0073 東京都港区三田3-13-16(三田43MTビル15階) ……………(03)5484-6755 中日本営業所……………………………………… 〒450-0002 名古屋市中村区名駅3-14-16(東洋ビル)…………………(052)565-3435 西日本営業所……………………………………… 〒530-0003 大阪市北区堂島2-2-2(近鉄堂島ビル)………………………(06)6347-2969 老朽化したパソコンベースの検査装置や データ収集アナライザ、三菱 中国営業グループ………………………………… 〒730-0037 広島市中区中町7-41(三栄第一ビル)………………………(082)248-5390 専用の検査装置に代わる、 九州営業所………………………………………… 〒810-0001 福岡市中央区天神4丁目1-7(第3明星ビル)………………(092)721-2202 の 《MELQIC》 。 システム技術相談 電話番号(079)297-9544 FAX番号(079)297-4421 圧力センサ検査装置 ﹁ 専 用 の 検 査 機 を 導 入 す る 予 算 は ない⋮ ﹂ 1.三菱電機エンジニアリング株式会社 2.三菱電機コントロールソフトウェア株式会社 ソリューション事業部 営業第1部…………… 〒108-0074 東京都港区高輪3-26-33(秀和品川ビル6F)………………(03)5798-2288 三菱データ収集 アナライザ 3.三菱電機システムサービス株式会社 ソリューション事業部 営業第2部…………… 〒553-0003 大阪市福島区福島7-15-26(大阪YMビル6F) ……………(06)6454-2001 北日本支社 (機 電 営 業 課)………………〒984-0042 仙台市若林区大和町2-18-23…………………………………(022)236-3818 北海道支店 (機 電 営 業 課)………………〒004-0041 札幌市厚別区大谷地東2-1-18…………………………………(011)890-7515 東京機電支社 (システム部)…………………〒108-0022 東京都港区海岸3-19-22………………………………………(03)3454-1561 中部支社 (機電部機電システム課)……〒461-8675 名古屋市東区矢田南5-1-14……………………………………(052)722-7603 北陸支店 (機 電 営 業 課)………………〒920-0811 金沢市小坂町北255……………………………………………(076)251-0559 関西機電支社 (システム部)…………………〒531-0076 大阪市北区大淀中1-4-13………………………………………(06)6454-0191 中四国支社 (機電システム課)……………〒732-0802 広島市南区大州4-3-26…………………………………………(082)285-2112 四国支店 (機 電 営 業 課)………………〒760-0072 高松市花園町1-9-38……………………………………………(087)831-3186 九州支社 (機電部 機電営業 課)………〒812-0007 福岡市博多区東比恵3-12-16(東比恵スクエアビル)……(092)483-8208 産業システムセンター(システム営業課)……………〒108-0022 東京都港区海岸3-19-22………………………………………(03)5484-3612 (システムエンジニアリング部)…〒461-8675 名古屋市東区矢田南5-1-14……………………………………(052)722-8711 安全にお使いいただくために これまで検査工程には専用のFA製品がなく、パソコンベースの検査装置や、専用の検査装置 に頼っているのが現状でした。 しかし、パソコンベースのものはOS環境のトレンドに左右され、 また専用機は非常に高価なことがネックとなっていたのです。 ●本製品は一般工業製品の検査・データ収集を対象とした汎用品として設計・製作されたもので、 公共への影響、 人命や財産 への影響が大きい機器あるいはシステムに用いられる部品や製品の検査・データ収集を目的に設計、 製造されたものではあり ません。 ●本製品を原子力用、 電力用の機器あ るいはシステムなど特殊用途に用いられる部品や製品の検査 ・データ収集へ適用をご検 OS環境に左右されない 検査デ−タを 統合化ソフトウェアで 討の際には、 当社の営業担当窓口までご照会ください。 ソフトウェア 品質管理に有効活用 開発効率アップ ●本製品は厳重な品質管理体制の下に製造しておりますが、 本製品の故障・不具合により重大な損失または事故の発生が予 測される部品や製品の検査・データ収集への適用に際しては、 バックアップやフェールセーフ、 自己診断の機能をシステム的に設 パソコンベースの検査装置と異なり、 OS環 置して ください。検査データを分析・加工、ネットワークに連動 Windowsベースの統合化プログラミングソ ●本導入事例の掲載内容は、 すべての状況下において動作を保証しているものではありません。 そこで開発されたのが、三菱のデータ収集アナライザ《MELQIC》。 境のトレンドに左右されないソフトウェアであ 検査内容に最適なプログラムにより、作業効率を一気に向上。製造ラインのタクトタイムを ●本導入事例を利用する ことによって生じ た如何なる損害も 当社は補償をいた しません。 短縮。グラフィ カルプログラミングにより、開 不良率の算出) が可能 ることも大きなメリット。長期にわたるサポー ト つき、平均値の推移、 大幅に短縮します。これまでの検査装置に代わる、FAラインのための新しいユニットです。 も安心、耐久性・信頼性にも優れています。 して集計・解析 (検査データの統計処理、 ばら フトウェア「IU Developer」で、開発期間を ●本導入事例は、 MELQIC本体のプログラムを行う際の基本的な考え方や具体的なプログラミングの一例を示したものです。 です。品質管理に有効に活用できます。 発効率とメンテナンス性が格段に向上します。 商標、登録商標について Microsoft, Windows, Visio, Excelは、 米国Microsoft Corporationの米国およびその他の国における登録商標または商標です。 VxWORKS, TORNADOは、 Wind River Systems,Incの登録商標です。 SH4は、 ルネサスエレクトロニクス株式会社の登録商標です。 その他の会社名や商品名は、 それぞれの会社の商標または登録商標です。 3 INDEX モータ検査装置 基板検査装置 圧力センサ検査装置 アナライザ ﹁ パソコンの 検 査 ではメンテが 不 安 だ ⋮ ﹂ 専用の検査装置に代わる、 の 《MELQIC》。 OS環境に左右されない ソフトウェア 検査デ−タを 品質管理に有効活用 統合化ソフトウェアで 開発効率アップ パソコンベースの検査装置と異なり、OS環 検査データを分析・加工、 ネットワークに連動 Windowsベースの統合化プログラミングソ 境のトレンドに左右されないソフトウェアであ して集計・解析 (検査データの統計処理、 ばら フトウェア「IU Developer」で、開発期間を ることも大きなメリット。長期にわたるサポート つき、平均値の推移、不良率の算出) が可能 短縮。グラフィカルプログラミングにより、開 も安心、耐久性・信頼性にも優れています。 です。品質管理に有効に活用できます。 発効率とメンテナンス性が格段に向上します。 3 プログラミングの流れ 三菱データ収集アナライザMELQIC IU2シリーズにおいてはIU Developerにより プログラムを作成します。 IU Developerは、MELQIC IU2シリーズ専用のアプリケーション開発環境です。 プログラム作成、デバッグ、ユーザ画面作成から装置のドキュメント作成までをグラフィカルな操作性で実現します。 IU Developerは、マイクロソフト社製「Microsoft® Visio® Professional/Standard Version2002/2003/2007」 のCOMアドイン・アドオン機能を使い、Visio上で動作するソフトウェアです IU Developerの機能 区 分 作成データ 初期設定 コンフィグレーション フローチャート プログラム 説 明 MELQIC本体に装着した増設ボードのシステム設定やデバイス割付けをします。 全体の処理の流れと実行するプログラムステップを記述します。 BLD(ブロックダイアグラム) FB(ファンクションブロック) を使って処理内容を記述します。 表形式 CSV形式で記述された測定条件や判定基準で動作させます。 ユーザインタフェース 画面プログラム ドキュメント 図面作成 MELQIC本体の液晶表示部に表示するユーザ画面を作成します。 ドキュメントページを使って、装置図などを作成します。 MELQIC IU2シリーズのプログラムはフローチャートを上位 として階層化されています。 各階層には、同じ階層のプログラムとその下位のプログラムが 記述できます。 上位階層 下位階層 フローチャート BLD 表形式 装置開発手順 装置 仕様書作成 1 初期設定(コンフィグレーション) 2 フローチャート作成 モニタリング, デバッグ NO 完成? YES 3 表形式プログラム作成 4 信号処理・データ演算 印刷(作成したデータのプリント) 5 表示画面デザイン ファイリング IU2へ転送 4 6 7 装置図など図面作成 終 了 IU Developerによるプログラミングの流れ 1 初期設定(コンフィグレーション) MELQIC本体に装着した増設ボードのシステム構成やI/O割付けなどを グラフィカルで直感的な画面操作で効率的に行うことができます。 また、 デバイスや増設ボードのI/Oにタグをつけプログラム作成時にタグを 活用することができます。 タグは自由に変更することや一括で登録するこ とも可能です。 コンフィグレーション結果はシステム構成図としてドキュメント化することが できます。 2 フローチャート 全体の処理の流れをフローチャート方式で記述します。 フローチャート方式の各ステップには、BLD(Block Diagram)、表形式 が使用できるため、 処理内容やユーザの開発環境に応じた方式でプロ グラムが記述できます。 3 表形式プログラム 一般的な表作成ソフトウェアなどで作成したCSV形式の判定値ファイル をプログラムとします。MELQIC本体はこのプログラムをインタプリタで 実行します。 (左画面は、 マイクロソフト社のExcelを使った例です) 5 プログラミングの流れ IU Developerによるプログラミングの流れ 4 信号処理・データ演算 あらかじめ用意されたFB(Function Block)を使いドラッグ&ドロップでプ ログラミングします。 完成したプログラムは機能ブロックにより組み立てられた可視性の高いド キュメントとして扱うことができます。 FBは基本用FBと、各増設ボードに対応する応用FBが用意されています。 処理内容に適したFBを組合わせることにより、複雑なプログラムも最小 限の開発工数で完成します。 1msタイマ割り込みTINTのプログラムもFBでプログラミングできます。 5 表示画面デザイン 本体に装備されている液晶表示部に表示するユーザ画面を作成します。 画面の作成は、 あらかじめ用意された表示部品をドラッグ&ドロップするこ とで容易に行うことができます。 6 モニタリング、デバッグ IU Developerのプログラムチェックとモニタ機能を用いて行います。 プログラムチェックは、 フローチャートの断線チェックや設定したパラメータ の整合性チェックなどを行います。 モニタには、 フローチャートの進行に自動追従しモニタスクロールする機 能やFBの接続端子の値をモニタ表示する機能のほか、 デバイスの値を 表示するデバイスモニタや本体動作の処理時間をモニタするタスクモニ タがあります。 また、表形式ではステップ実行でデバッグできます。 7 装置図など図面作成 ドキュメント専用のページを追加し、Visioの標準機能を用いて装置図な どの図面を作成します。 これによりプログラムと装置のドキュメントを同一プロジェクト内で一括管 理することができます。 IU DeveloperにはMELQICを使用したシステムの構成図や装置のドキ ュメント作成に便利なマスタシェイプが用意されています。 また、作成したプログラムの空き部分に、 プログラムとは関係のないコメン トや図表などを差し込むことができます。 6 安全上のご注意 (ご使用の前に必ずお読みください) データ収集アナライザの取付け,運転,保守・点検の前に、必ずこの取扱説明書および他関連する機器の 付属書類をすべて熟読し、正しくご使用ください。機器の知識,安全の情報、そして注意事項のすべてに ついて習熟してからご使用ください。 この取扱説明書では、安全に関する注意事項のランクを として区分してあります。 取り扱いを誤ったばあいに、危険な状況が起こりえて、死亡または重傷を受ける可能性が想 定されるばあい。 取り扱いを誤ったばあいに、危険な状況が起こりえて、中程度の傷害や軽傷を受ける可能 性が想定されるばあい、および物的損害だけの発生が想定されるばあい。 なお、 に記載した事項でも、状況によっては重大な結果に結びつく可能性があります。 いずれも重要な内容を記載していますので、必ず守ってください。 また、製品に付属している取扱説明書は必要なときに取り出して読めるよう大切に保管すると共に、必ず最 終需要家までお届け頂きますようにお願いいたします。 1.設計上の注意 ● 外部電源の異常、MELQIC 本体の故障などでも、必ずシステム全体が安全側に働くように、MELQIC 本体の外部で安全回路を設けてください。 誤動作,誤出力により、事故の恐れがあります。 (1) 非常停止回路,保護回路,正転逆転などの相反する動作のインタロック回路,位置決め上限 /下限などデータ収集対象品の破損防止用インタロック回路などは、必ずMELQIC本体の外部 で回路構成してください。 (2) MELQIC 本体が、ウオッチドッグタイマエラーなどの自己診断機能で異常を検出したときは、全出力 をOFFします。また、CPUで検出できない入出力制御部分などの異常時は、出力制御が不能にな ることがあります。 このとき、機械の動作が安全側に働くように外部回路や機構の設計を行ってください。 (3) 出力素子の故障によっては、出力がONしっぱなしになったり、OFFしっぱなしになったりすること があります。 重大な事故につながるような出力信号については、機械の動作が安全側に働くよう外部回路 や機構の設計を行ってください。 ● データ収集対象品、およびこれに供給される電源は、必ずAC系と絶縁してください。 MELQIC本体、およびデータ収集対象品の損傷や劣化の原因になります。 7 安全上のご注意 (ご使用の前に必ずお読みください) 2.取付け上の注意 ● MELQIC本体、および関連機器は、このマニュアルに記載の一般仕様の環境で使用してください。 ほこり,油煙,導電性ダスト,腐食性ガス,可燃性ガスのある場所、高温,結露,風雨にさらされる 場所、振動,衝撃がある場所で使用しないでください。 感電,火災,誤動作,製品の損傷あるいは劣化の原因となることがあります。 ● ネジ穴加工や配線工事を行うときに、切粉や電線屑をMELQIC本体の通風窓へ落とし込まないでくだ さい。 火災,故障,誤動作の原因となります。 ● 増設ケーブルなどの接続ケーブルやメモリカードなどは、所定のコネクタに確実に装着してください。 接触不良により誤動作の原因となることがあります。 ● 増設ボードの導電部分には直接触らないでください。 増設ボードの誤動作, 故障の原因になります。 ● 増設ボードの取扱い前には静電気防止リストバンド等を使用し、人体に帯電した静電気を除去して ください。 増設ボードの誤動作, 故障の原因になります。 ● 増設ボードの取付けは必ず本体の電源をOFFして取付けてください。 製品が損傷する恐れがあります。 3.配線上の注意 ● 取付け,配線作業などを行うときは、必ず電源を外部にて全相共遮断してから行ってください。 感電や製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。 ● DC電圧系の端子に、AC電圧を印加しないでください。 感電や製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。 ● 増設ボードの配線は、製品の定格電圧および端子配列を確認した上で正しく行ってください。 定格と異なった電源を接続したり、誤配線すると、火災, 故障, 誤動作の原因になります。 ● 付属のAC電源ケーブルは、定格7A/125Vです。AC85∼120V以外の電源範囲ではご使用になれませ ん。AC85∼120V以外の電源範囲もしくは海外でご使用のばあいは、その国の規格に適合し、MELQIC 本体を使用する電圧に応じた電源ケーブルをお求めになりお使いください。 ● アース端子付AC電源ケーブルは、このマニュアルに記載したとおり専用コネクタに接続してください。 感電や製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。 ● 電源ケーブルのアース端子、またはMELQIC本体のアース端子は2mm2 以上の電線を用いてD種接地 (100Ω以下)を施してください。ただし、強電系とは共通接地しないでください。 感電や製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。 ● 増設ボードに、切粉や配線クズなどの異物が付着しないように注意してください。 火災, 故障, 誤動作の原因になります。 ● 入出力ケーブルは、主回路や動力線などと束線したり、近接したりしないでください。 100mm以上を目安としてください。 ノイズにより、誤動作の原因になります。 ● 増設ボードや入出力ケーブルに力が加わらない状態で使用ください。 断線や故障の原因になります。 8 安全上のご注意 (ご使用の前に必ずお読みください) 4.立上げ・保守時の注意 ● 通電中には端子に触れないでください。 感電の恐れや、誤動作の原因となることがあります。 ● 清掃およびコネクタ類の接続確認などは、電源をOFFしてから行ってください。 通電中に行うと感電の恐れや、製品・データ収集対象品が損傷する恐れがあります。 ● メモリバックアップ用バッテリは本マニュアルに定められた内容に従って、正しくご使用ください。 - 定められた用途以外に使用しないでください。 - 正しく接続してください。 - 充電,分解,過熱,火中投入,ショート,逆接続,ハンダ付け,飲み込む,焼却,過度の力(振 動・衝撃・落下など)を加えるなどを行わないでください。 - バッテリの取扱いを誤ると、過度な発熱,破裂,発火,燃焼,漏液,変形などによりケガなど人 体への影響や、火災,設備・他機器などの故障や誤動作の原因となる恐れがあります。 ● 運転中のRUN,STOPなどの操作はマニュアルを熟読し、十分に安全を確認してから行ってください。 操作ミスにより装置やデータ収集対象品の破損や事故の原因となることがあります。 ● 分解,改造はしないでください。 故障、誤動作、火災の原因となることがあります。 *修理については、三菱電機システムサービス株式会社にお問い合わせください。 ● MELQIC本体や増設ボードを落下させたり、強い衝撃を与えないでください。 破損の原因になります。 ● 拡張ケーブルや増設ボードなどの接続ケーブルの着脱は電源をOFFしてから行ってください。 故障,誤動作の原因となることがあります。 5.操作時の注意 ● 表示画面上のタッチスイッチの操作は手または、PDAで使用されているスタイラスで行ってください。 また必要以上に強い力を加えたり、硬いものや、尖ったもので操作しないでください。 故障の原因となることがあります。 ● 液晶表示部のバックライトが切れた状態で使用しないでください。 タッチスイッチの誤操作により事故につながる恐れがあります。 液晶表示部のバックライトが切れると表示部が真っ暗になり、モニタ画面が見えなくなりますが、タッ チスイッチの入力は有効なままになっています。 操作者がバックライトの消灯状態と間違えて、バックライトの消灯機能を解除しようと表示部をタッチし たばあい、タッチスイッチが動作する恐れがあります。 バックライトが切れたばあいは、下記現象が発生します。 ・ バックライトの消灯機能を設定していないのにモニタ画面が消える。 ・ バックライトの消灯機能を設定時、モニタ画面が消えた状態で表示部をタッチしてもモニタ画面が 表示されない。 9 安全上のご注意 (ご使用の前に必ずお読みください) 6.廃棄時の注意 ● 製品を廃棄するときは、産業廃棄物として扱ってください。 バッテリを廃棄する際には各地域に定められている法令に従い分別を行ってください。 (EU加盟国内でのバッテリ規制についての詳細は付録Bを参照してください。) 7.輸送・保管上の注意 ● MELQIC本体や増設ボードは精密機器なので輸送の間あらゆる衝撃を避けてください。故障の原因 になります。 ● 輸送後は製品の動作確認を行ってください。 ● リチウムを含有しているバッテリの輸送時には、輸送規制に従った取扱いが必要となります。 (規制対象機種についての詳細は付録Aを参照してください。) 10 モータ検査装置 もくじ 1.検査装置の概要.................................................................................................................................... A-1 2.検査内容 1.耐電圧検査...................................................................................................................................................... A-1 2.絶縁抵抗検査................................................................................................................................................ A-1 3.無負荷回転時特性検査......................................................................................................................... A-2 4.負荷回転時特性検査............................................................................................................................... A-2 3. MELQIC導入時の特長............................................................................................................... A-3 4. システム構成 1.構成図................................................................................................................................................................. A-4 2.使用機器 ........................................................................................................................................................... A-4 5. インターフェース仕様............................................................................................................... A-5 6. 耐電圧/絶縁抵抗検査の設定 ............................................................................................. A-5 7. 検査の流れ ........................................................................................................................................... A-6 8. プログラム例 1.システム設定................................................................................................................................................ A-7 2.スクリーンページ .................................................................................................................................... A-8 3.メインルーチン ...................................................................................................................................... A-12 4.サブルーチン............................................................................................................................................ A-12 5.ブロックダイヤグラム……BLD.............................................................................................. A-16 6.プログラム一覧 ...................................................................................................................................... A-35 7.規格ファイルフォーマット ......................................................................................................... A-51 9. パソコンとのデータ通信プログラム例……IU-Links応用事例...........A-52 1.Excel VBA操作画面 .......................................................................................................................... A-52 2.プログラムリスト ................................................................................................................................ A-53 モータ検査装置 1. 検査装置の概要 この検査装置はDCモータの特性検査を行います。 3 DC 24V、0.5A(無負荷時)、3A(0.3N・m時) I 下記出力特性グラフによる。 N 0 0 トルク― 電流特性 2000r/min (無負荷時) 2 電源仕様 1 仕様 1000 項目 回転数 N (r/min) 検査・データ収集対象モータの仕様は下記の通りです。 消費電流 I(A) たサーボモータで行います。 回転数 2000 検査・データ収集対象モータへの負荷の印加は負荷軸に接続され 0 0.1 0.2 0.3 負荷トルク T (N・m) 出力特性グラフ 2. 検査内容 1. 耐電圧検査 . . . . . モータのフレーム~端子間の耐電圧検査 設定項目 仕様 印加電圧 2500V AC 漏れ電流 20mA以下 印加時間 60sec 2. 絶縁抵抗検査 . . . モータのフレーム~端子間の絶縁抵抗検査 設定項目 仕様 印加電圧 500V DC 絶縁抵抗値 10MΩ以上 印加時間 60sec IU2 設計事例集 A-1 モータ検査装置 3. 無負荷回転時特性検査 無負荷回転時の出力特性グラフ上の右記①、 ②の特性を検査し 3 2 1 ② N 回転数 N (r/min) 1000 0 0 消費電流 I(A) I 2000 ① ます。 0 0.1 0.2 0.3 負荷トルク T (N・m) 4. 負荷回転時特性検査 指定負荷を印加したときの特性検査を行います。 グラフ特性(負荷を変化させた場合の特性測定)と定点特性(指定トルクを印加した場合の特性)の2種類の検査ができます。 (1) グラフ特性 出力特性グラフ上の下記の①~④の特性を測定します。測定時は負荷トルクを連続的に変化させその結果をグラフ で表示します。 ①低トルク特性:回転速度 3 2000 N ③高トルク特性:消費電流 I ④高トルク特性:回転速度 ① 2 ④ 1 ② 回 転 数 N (r/min) ③ 1000 消 費 電 流 I(A) ②低トルク特性:消費電流 0 0 0 0.1 0.2 0.3 負荷 トルク T (N・m) 低トルク特性 高トルク特性 (2) 定点特性 グラフ特性と測定内容は同じですが、指定トルクを印加して測定します。 無負荷時特性と低トルク特性を測定します。 測定はグラフ特性か定点特性を選択して行います。 A-2 IU2 設計事例集 モータ検査装置 3. MELQIC導入時の特長 (1) 測定器との通信が容易です。 【Bld1、131~133、135、136】 ・検査装置を構築する上で必要となる測定器との通信(本事例では耐電圧/絶縁抵抗検査装置との通信をGPIB通信す る)を行うためのFBが用意されています。これらを組み合わせることにより容易に通信が実現できます。 ・様々な測定器と簡単に通信でき、種々の検査項目への対応が可能です。 ① 1EGPIB Initialize ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 本体GPIBアドレス : 1 終端文字1 : 0x8000000D 終端文字2 : 0x8000000A End メッセージ : 使用する システム コントローラー : ON ② ④ ③ 1EGPIB Uniline Message ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 メッセージ種別 : IFC 1EGPIB Uniline Message 1EGPIB Universal Command ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 メッセージ種別 : REN ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 コマンド : DCL ⑦ ⑥ ⑤ --> _COMM_OK (POINT) 1EGPIB Send "START_I" ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 送信先アドレス : 15 送信タイムアウト[mSec] : 1000 終端設定 : デフォルト設定 タグ名 : _COMM_OK 〔処理説明〕 記載箇所 ① ②③④ ⑤⑥ 処理内容 備考 GPIBカードの初期化を行います。 自局アドレス1 IFC⇒REN⇒DCL出力します。 相手アドレス15 データ (コマンド)を送信します。 受信もほぼ同様に実施可能 (2) パソコンとのデータ通信が容易です。 ・管理室などから検査装置の監視 / 保守を必要とする場合、IU-Links(通信ミドルウェア)を使用することで容易に実 現することが出来ます。 本導入事例では以下のIU-Linksのプログラム例を添付します。 (IU‐Linksの機能を利用するためMELQIC側にはプ ログラムは必要ありません。) ……9章参照ください。 - 検査装置監視項目:生産実績(OK/NG数)、検査モード(定点/グラフ特性) 検査中機種情報(MODEL‐01~05) - 保守情報 :検査規格ファイル(パソコンで編集の規格ファイルをMELQICに送信) IU2 設計事例集 A-3 モータ検査装置 4. システム構成 1. 構成図 【注1】耐電圧/絶縁抵抗検査装置からの出力と電源装置からの出力を切り替えます。 【注2】計測器からの測定信号を絶縁するためにアイソレションAMPを使用します。 【注3】負荷発生用サーボモータ 2. 使用機器 形名 種別 保有入出力 IU2-5M10 本体 IU2-1EGPIB GPIB通信ボード GPIB通信ポート:1CH IU2-32EDIO-CPTR 入出力ボード フォトカプラ入力 :32CH オープンコレクタ出力:32CH IU2-8EDA-100M アナログ出力ボード 汎用DA:8CH CMOS入出力:各2CH IU2-16EAD-20M アナログ入力ボード 汎用AD:16CH CMOS入出力:各2CH A-4 IU2 設計事例集 モータ検査装置 5. インターフェース仕様 項目 仕様 備考 耐電圧/絶縁抵抗検査 専用の測定装置にて絶縁抵抗検査及び絶縁耐圧検査を実施します。 ※耐電圧/絶縁抵抗検査装置の設定、立ち上げは事前にオフラインにて実施します。 IU2本 体からは試験の開始要求と結果の受信のみを行います。 DC電源装置 検査・データ収集対象モータに対し電源電圧を供給します。 DC電源装置に対して、 電圧制御 信号を印加する方式とします。 電圧制御信号0~10V⇒電源出力0~24V MELQICと測定器 の接続はGPIBにて 行います。 特性測定時と耐電圧/絶縁抵抗検査時で測定回路の切り替えを行います。 ・特性測定時 DC電源回路及び測定回路を接続します。 切り替え回路 ・耐電圧/絶縁抵抗検査時 上記を切離し、 耐電圧/絶縁抵抗検査器を検査・データ収集対象モータに接続します。 切り替え信号 ON ⇒通常測定回路 OFF⇒絶縁耐圧検査回路 検査開始信号 画面の起動ボタン"MANU STEP"で開始します。 次試験への画面移動は画面の">>"ボタンで行います。 トルク/速度信号 回転速度入力信号 トルク入力信号 電流検出信号 0~10A⇒0~10V 0~3000rpm⇒0~10V 0~5N・m⇒0~10V 検査・データ収集対象のモータに対する負荷の印加はサーボモータで行います。 このサーボ モータへのトルク指令制御を行います。 指令値0~8V⇒発生トルク0~3.8N・m 印加負荷の制御 ※トルク指令は検査・データ収集対象モータに印加されたトルク値をトルク検出器でモニ タしながら行います。 ※本例において、MELQICではトルク指令以外のサーボモータの制御は行っておりません。 パソコン通信 Ethernet接続、IU‐Linksを使用しExcel VBAで記述。 6. 耐電圧/絶縁抵抗検査の設定 一般的には以下の様な項目の設定を行って使用します。実際に使用される測定器の仕様を確認の上、通信仕様(プロトコル) も含めて設定を行って下さい。 絶縁抵抗検査 耐電圧検査 設定項目 仕様 設定項目 仕様 印加電圧 500V DC 印加電圧 2500V AC 絶縁抵抗値 10MΩ以上 漏れ電流 20mA以下 印加時間 60sec 印加時間 60sec IU2 設計事例集 A-5 モータ検査装置 7. 検査の流れ スタート リレー回路切替 (計測ライン切離し) (注) 耐電圧/絶縁抵抗測定装置などの各機 器の設定、立ち上げは事前にオフライ ンにて実施します。 本例ではすでに設定された耐電圧/絶 (注) 縁抵抗測定器装置などに通信で実行コ 絶縁抵抗検査実施 マンドを送信し、結果を受信する構成 とします。 耐電圧検査実施 (注) リレー回路切替 (計測ライン接続) グラフ特性 検査モード 定点特性 指定トルク発生 ~電流測定 ~判定 2点確認 グラフ描画 指定範囲でトルク を連続可変 トルク可変中に指 定トルクで判定 2点確認 3種の処理を同時に行います。 結果表示 エンド A-6 IU2 設計事例集 モータ検査装置 8. プログラム例 1. システム設定 (1) コンフィグレーション スロット 本体 ユーザ名称 形名 種別 保有入出力 _IU2_5M10_0 IU2-5M10 本体 [0] _IU2_32EDIO_CPTR_0 IU2-32EDIO-CPTR GPIB通信ボード GPIB通信ポート:1CH [1] _IU2_8EDA_100M_0 IU2-8EDA-100M 入出力ボード フォトカプラ入力 :32CH オープンコレクタ出力:32CH [2] _IU2_16EAD_20M_0 IU2_16EAD_20M アナログ出力ボード 汎用DA:8CH CMOS入出力:各2CH [3] _IU2_1EGPIB_0 IU2_1EGPIB アナログ入力ボード 汎用AD:16CH CMOS入出力:各2CH [4] vacancy (2) I/O割付け……詳細はI/O割付け表を参照ください。……A-36~A-40 (3) CHタグ……CHタグリスト参照ください。……A-41~A-45 (4) デバイスタグリスト……デバイスタグリスト参照ください。……A-46~A-50 IU2 設計事例集 A-7 モータ検査装置 2. スクリーンページ (1) Scr1:起動画面……検査装置の表示画面を選択します。 ・警報画面 :警報画面を表示します。 ・操作モード:操作モード(機種設定、検査モード)選択画面を表示します。 ・検査画面 :検査実施画面を表示します。 (2) Scr2:耐電圧/絶縁抵抗検査画面 ・MODEL-0* :操作モード画面で選択された機種が表示されます(各画面共通)。 ・中止 :検査を中止し、起動画面へ移動します。 ・MANU START :検査開始スイッチです(各画面共通)。 ・>> :総合判定画面に移動します。 A-8 IU2 設計事例集 モータ検査装置 (3) Scr3:特性検査(定点測定モード)画面 ・ワーク状態:検査・データ収集対象のモータの状態を表示します。 ・検査結果:検査結果を表示します。 (4) Scr4:特性検査(グラフ特性モード)画面 ・グラフ:試験中の特性を表示します。 IU2 設計事例集 A-9 モータ検査装置 (5) Scr5:検査結果表示画面 (6) Scr100:検査規格表示画面……各画面に設けた 『規格表示』スイッチで呼び出される画面。 A-10 IU2 設計事例集 モータ検査装置 (7) Scr200:警報確認画面……警報の発生状態を表示します。 ・サーボアンプリセット:サーボアンプに対するアラーム解除スイッチです。 (8) Scr250:条件設定画面 ・特性検査の内容(検査モード)と機種を選択できます。 IU2 設計事例集 A-11 モータ検査装置 3. メインルーチン (1) Main1:DCモータ検査フロー 試験ごとの判定情報 等のクリアと試験規 格ファイルの読出し 等を行います。 Jump_M1_2 ※1 T T START DCモータ検査装 置 SUB3 耐電圧絶縁試験 CALL SUB2 初期化-2(TEMPクリア他) CALL SUB1 初期化-1 CALL F F F T (_Start_Step_1==1)&&(_Start_Master==1) MANU START ON? _Start_Step_0==1 Jump_M1_1 _Start_Master==0 Jump_M1_1 試験画面へ移ったか? ※1 T Jump_M1_1 F Jump_M1_3 MANU START ON? Jump_M1_3 F BLD125 定点特性 OR グラフ特性? _Start_Master==0 1 _Test_Step=2設定(定点特性) 次試験開始? T Jump_M1_2 T (_Start_Step_2==1)&&(_Start_Master==1) T CALL CALL SUB4 定点特性試験実施 SUB6 総合判定表示 Jump_M1_4 F T Jump_M1_1 _Restart==1 T F CALL ※1 SUB5 グラフ特性試験実施 BLD126 _PSW_1_1==1 1 _Test_Step=3設定(グラフ特性) F _Start_Master==0 F (_Start_Step_3==1)&&(_Start_Master==1) T Jump_M1_1 F Jump_M1_4 MANU START ON? ※1 _Start_Master==0 ※1:”中止”操作を画面から行った際に、遷移状態を初期状態に戻します。 表示画面を指定します。 AFLOW1 試験対象の状態(回転、トルク、 印加、電圧、電流)およびエ ラー状態をモニタします。 CALL CALL SUB21 画面制御 SUB22 動作モニタ 4. サブルーチン (1) Sub1:初期化-1……グラフ類の初期化 SUB 初期化-1 A-12 IU2 設計事例集 BLD1 1 初期化 RET モータ検査装置 (2) Sub2:初期化-2 SUB 初期化-2 判定値などの初期化 を行います。 ファイル名格納用メモ リをクリアします。 BLD100 BLD105 1 データクリア 1 ファイル名格納メモリクリア 1 1 2 2 3 3 4 4 ファイル名を設定 します。 指定のファイル名の 規格を読込みます。 BLD110 BLD120 1 ファイル名指定MODEL-01 1 設定ファイル読出し1/4 BLD111 Def BLD121 1 ファイル名指定MODEL-02 _Model 『条件設定』画面で選択 した _Model に従い、適 合するファイル名を設定 します。 1 設定ファイル読出し2/4 BLD112 1 ファイル名指定MODEL-03 BLD122 BLD113 1 設定ファイル読出し3/4 1 ファイル名指定MODEL-04 BLD114 1 ファイル名指定MODEL-05 RET BLD123 BLD124 1 設定ファイル読出し4/4 1 _Test_Step=1設定(耐電圧絶縁検査) (3) Sub3:耐電圧/絶縁抵抗検査 耐電圧絶縁検査器に絶 縁抵抗測定要求コマン ドを送信します。 SUB 耐電圧絶縁検査 BLD130 BLD131 1 検査回路切り替え T BLD132 耐電圧絶縁検査器 からの検査結果を 受信します。 BLD133 BLD134 1 1 1 1 GPIB回線制御 絶縁抵抗測定要求コマンド送信 絶縁抵抗測定結果受信 絶縁抵抗測定結果表示 耐電圧絶縁検査器に耐 電圧検査要求コマンド を送信します。 耐電圧絶縁検査器 からの検査結果を 受信します。 BLD135 BLD136 BLD137 BLD138 1 1 1 絶縁耐圧測定要求コマンド送信 絶縁耐圧測定結果受信 絶縁耐圧測定結果表示 1 検査回路切替 F _I_OK==1 F 画面移動待ち T RET _Next_Step==1 IU2 設計事例集 A-13 モータ検査装置 (4) Sub4:定点特性測定 モータの回転 待ちタイマ 規格ファイル内の印 加トルク【低】の値 を印加します。 データの初期化 等を行います。 試験用モータの起 動を行います。 BLD150 BLD151 BLD152 BLD153 1 初期化 1 モータ起動 1 無負荷回転特性測定 1 負荷印加(低) SUB 定点特性測定 1 1000 ms 印加トルク到達? 印加トルク再監 視迄のタイマ 印加トルクを監 視します。 無負荷回転時のデータ を記録します。 F 2 F BLD154 T 1 トルク監視 T 100 ms _Time_Over1>=_Time_Over_Set 印加トルクタイム オーバ? _Load_Trq_Low_Ok==1 RET BLD155 BLD156 BLD157 1 印加トルク【低】測定 1 モータ停止 1 判定表示 印加トルク【低】印 加時のデータ測定を 行います。 判定処理を行い ます。 (5) Sub5:グラフ特性測定 被検査モータ の起動を行い ます。 データの初期化 等を行います。 0.01kg・cm毎の 負荷上昇を行 います。 モータの回転 待ちタイマ Jump_S4_2 3 SUB BLD200 BLD201 BLD202 BLD203 BLD204 グラフ特性測定 1 初期化 1 モータ起動 1 グラフスタート 1 負荷増加1 1 トルク監視1 印加トルク再監 視迄のタイマ 1000 ms 印加トルク 【低】到達? 4 F 100 ms T 上昇中での指定トル ク到達? F F タイムオーバ? Jump_S4_2 T _Load_Trq_Low_Ok==1 印加トルク 【低】データ測 定を行います。 BLD205 BLD206 BLD207 1 印加トルク【低】測定 1 負荷増加2 1 トルク監視2 0.01kg・cm毎の 負荷上昇を行 います。 Jump_S4_3 印加トルク再監 視迄のタイマ 5 Jump_S4_1 T _Load_Trq_Temp_OK==1 _Time_Over2>=_Time_Over_Set 上昇中での指定トル ク到達? 印加トルク 【高】到達? F F F タイムオーバ? 100 ms T T _Load_Trq_Hi_Ok==1 Jump_S4_1 _Load_Trq_Temp_OK==1 T _Time_Over3>=_Time_Over_Set BLD210 BLD211 BLD212 BLD213 1 印加トルク【高】測定 1 グラフストップ 1 モータ停止 1 判定表示 印加トルク【高】 データ測定を行い ます。 A-14 IU2 設計事例集 Jump_S4_3 モータを停止さ せます。 判定処理をします。 RET モータ検査装置 (6) Sub6:総合判定表示……測定モードに応じた判定処理と画面切り替えを行います。 T SUB 総合判定表示 BLD300 1 総合判定結果set(定点特性) T F F _PSW_1_1==1 BLD301 1 総合判定結果set(グラフ特性) _Next_Step==1 1 1 2 2 3 3 4 4 BLD302 BLD310 BLD303 Def RET BLD320 1 1 model01結果加算 model01結果セット 1 総合判定画面要求 BLD311 1 1 model02結果加算 model02結果セット _Model BLD304 BLD312 1 1 model03結果加算 model03結果セット BLD305 BLD313 1 1 model04結果加算 model04結果セット BLD306 BLD314 1 1 model05結果加算 model05結果セット (7) Sub21:画面制御……各処理で要求される画面を読出します。 RET BLD460 1 耐電圧/絶縁抵抗検査画面表示 RET BLD461 T SUB 画面制御 1 1 2 2 3 3 4 4 5 5 1 定点特性モード画面表示 RET BLD462 1 グラフ特性モード画面表示 Def F BLD463 _Start_Master==1 _Test_Step RET 1 総合判定画面表示 BLD464 RET 1 警報画面 RET RET IU2 設計事例集 A-15 モータ検査装置 (8) Sub22:動作モニタ ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ɁৰɥᄶȪɑȬǿ ᴥوᢆǾxǾԱӏǾ٢Ǿํᴦ ɲʳ˂ᄶᬱᄻɥᪿጙȪɑȬǿ 57$ Ӧͽʬʕʉ $.& $.& Ӧͽʬʕʉ tp 4'6 5. ブロックダイヤグラム……BLD (1) Bld1:初期化-1……データ(フラグ類)を初期化。 --> _Start_Master (POINT) 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Start_Master 1 --> _PSW_1_1 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _PSW_1_1 0 --> _PSW_1_2 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _PSW_1_2 0 --> _Err (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Err --> _Start_Step_0 (POINT) タグ名 : _Start_Step_0 --> _Start_Step_1 (POINT) タグ名 : _Start_Step_1 --> _Start_Step_2 (POINT) タグ名 : _Start_Step_2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Test_Step 0 --> _SV_RS1 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS1 1 --> _SV_RS2 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS2 0 --> _SV_ON (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_ON --> _Start_Step_3 (POINT) タグ名 : _Start_Step_3 --> _Start_Step_4 (POINT) タグ名 : _Start_Step_4 1 --> _PSW_2_1 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _PSW_2_1 0 --> _PSW_2_2 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _PSW_2_2 --> _PSW_2_3 (POINT) タグ名 : _PSW_2_3 --> _PSW_2_4 (POINT) タグ名 : _PSW_2_4 --> _PSW_2_5 (POINT) タグ名 : _PSW_2_5 A-16 IU2 設計事例集 --> _Test_Step (POINT) 0 1 --> _Model (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Model 0 サーボアンプ に対してトルク 発生を禁止 GPIBの初期化 FLOAT--> D[n],D[n+1] データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _DA_ch0 1 --> _SV_EMG (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_EMG 1EGPIB Initialize ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 本体GPIBアドレス : 1 終端文字1 : 0x8000000D 終端文字2 : 0x8000000A End メッセージ : 使用する システム コントローラー : ON モータ検査装置 (2) Bld100:初期化-2……データ(フラグ類)を初期化。……処理時間:約14ms 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_0 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_0 --> _Status_Disp_0 ... (POINT) 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_1 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) 0 タグ名 : _Status_Disp_1_0データ型 : 32 ビット浮動小数点タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_rev 直接入力 : 10進数 --> --> _Status_Disp_1 _Keisoku_Poin ... (POINT) t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_1 タグ名 : _Status_Disp_1_1 タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_Trq --> _Status_Disp_0 ... (POINT) --> _Status_Disp_1 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_2 タグ名 : _Status_Disp_1_2 タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_I --> _Status_Disp_0 ... (POINT) --> _Status_Disp_1 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_3 タグ名 : _Status_Disp_1_3 タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_V --> _Status_Disp_0 ... (POINT) --> _Status_Disp_1 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_4 タグ名 : _Status_Disp_1_4 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev --> _Status_Disp_0 ... (POINT) --> _Status_Disp_1 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_5 タグ名 : _Status_Disp_1_5 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq --> _Status_Disp_0 ... (POINT) --> _Status_Disp_1 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_6 タグ名 : _Status_Disp_1_6 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_2 ... (POINT) 0 --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_0データ型 : 32 ビット浮動小数点タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Hi 直接入力 : 10進数 --> --> _Status_Disp_2 _Keisoku_Poin ... (POINT) t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_1 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq_Hi --> _Status_Disp_2 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_2 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Hi --> _Status_Disp_2 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_3 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V_Hi --> _Status_Disp_2 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_4 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Low --> _Status_Disp_2 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_5 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq_Low --> _Status_Disp_2 ... (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_6 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Low --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V_Low 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_0 --> _Time_Over1 (POINT) タグ名 : _Time_Over1 --> _Time_Over2 (POINT) タグ名 : _Time_Over2 --> _Time_Over3 (POINT) タグ名 : _Time_Over3 0 --> _Trq_Counter (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Trq_Counter 0 --> _Restart (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Restart IU2 設計事例集 A-17 モータ検査装置 --> _COMM_OK (POINT) 0 --> _I_OK (POINT) 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _I_OK データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _COMM_OK --> _W_OK (POINT) --> _Start_Step_1 (POINT) 0 タグ名 : _W_OK タグ名 : _Start_Step_1 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 --> _Start_Step_2 (POINT) タグ名 : _Start_Step_2 --> _Start_Step_3 (POINT) タグ名 : _Start_Step_3 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Graph_Clear_ 1 (POINT) タグ名 : _Graph_Clear_1 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Graph_Start_ 1 (POINT) タグ名 : _Graph_Start_1 (3) Bld105:ファイル名格納メモリクリア……処理時間:約12ms Delete DBL タグ名 : _Value_File_name (4) Bld110:ファイル名指定MODEL-01……MODEL-01用規格ファイルを指定。……処理時間:約13ms "_Value_model01.TXT" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name (5) Bld111:ファイル名指定MODEL-02……MODEL-02用規格ファイルを指定。 "_Value_model02.TXT" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name (6) Bld112:ファイル名指定MODEL-03……MODEL-03用規格ファイルを指定。 "_Value_model03.TXT" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name (7) Bld113:ファイル名指定MODEL-04……MODEL-04用規格ファイルを指定。 "_Value_model05.TXT" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name A-18 IU2 設計事例集 モータ検査装置 (8) Bld114:ファイル名指定MODEL-05……MODEL-05用規格ファイルを指定。 --> _Value_File_n a... "_Value_model05.TXT" タグ名 : _Value_File_name (9) Bld120:設定ファイル読出し1/4(文字)……指定の規格ファイルからのデータを読出し。 String Length _Value_File_n a... --> 7 Subtract 14 0 ReadFile (TEXT) タグ名 : _Value_File_name --> _Type (ARRAY) String Subset 0 タグ名 : _Type --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err 2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (10)Bld121:設定ファイル読出し2/4(数値) ……処理時間:約196ms String Length _Value_File_n a... --> 10 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT タグ名 : _Value_Voltage 表記法 : 10進数浮動小数 タグ名 : _Value_File_name --> _Value_Voltag e (POINT) --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 12 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Noload _... (POINT) タグ名 : _Value_Noload_Current 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 14 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Noload _... (POINT) タグ名 : _Value_Noload_Current_Bnd 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 16 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Load_C u... (POINT) タグ名 : _Value_Load_Current_Hi 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 18 ReadFile (TEXT) Subtract 0 String Subset String To Number 表記法 : 10進数浮動小数 -->FLOAT --> _Value_Load_C u... (POINT) タグ名 : _Value_Load_Current_Hi_Bnd --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err 2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 IU2 設計事例集 A-19 モータ検査装置 (11)Bld122:設定ファイル読出し3/4(数値) String Length _Value_File_n a... --> 20 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT タグ名 : _Value_Load_Current_Low 表記法 : 10進数浮動小数 タグ名 : _Value_File_name --> _Value_Load_C u... (POINT) --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 22 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Load_C u... (POINT) タグ名 : _Value_Load_Current_Low_Bnd 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 24 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Noload _... (POINT) タグ名 : _Value_Noload_Rev 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 26 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Noload _... (POINT) タグ名 : _Value_Noload_Rev_Bnd 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 28 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Load_R e... (POINT) タグ名 : _Value_Load_Rev_Hi 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err 2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (12)Bld123:設定ファイル読出し4/4 (数値) String Length _Value_File_n a... --> 30 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Hi 表記法 : 10進数浮動小数 タグ名 : _Value_File_name --> _Value_Load_R e... (POINT) --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 32 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Load_R e... (POINT) タグ名 : _Value_Load_Rev_Low 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 34 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Load_R e... (POINT) タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Low 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 36 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Trq_Hi (POINT) タグ名 : _Value_Trq_Hi 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 38 ReadFile (TEXT) タグ名 : _File_Read_Err データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 A-20 IU2 設計事例集 0 String Subset String To Number 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) 2 Subtract -->FLOAT --> _Value_Trq_Lo w (POINT) タグ名 : _Value_Trq_Low モータ検査装置 (13)Bld124:テストステップ1設定……テストステップに耐電圧/絶縁抵抗検査(=1)を設定。 --> _Test_Step (POINT) 1 タグ名 : _Test_Step データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (14)Bld125:テストステップ2設定……テストステップに定点特性測定 (=2)を設定。 --> _Test_Step (POINT) 2 タグ名 : _Test_Step データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (15)Bld126:テストステップ3設定……テストステップにグラフ特性測定(=3)を設定。 --> _Test_Step (POINT) 3 タグ名 : _Test_Step データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (16)Bld130:検査回路切り替え……検査回路を耐電圧/絶縁抵抗検査に切り替えます。 (本例では具体的な切り替え回路を添付しませんが、実際の検査装置を構築する際には切り替え回路が必要です。) --> _IW_TEST_CIR CU... (POINT) 1 タグ名 : _IW_TEST_CIRCUIT データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 (17)Bld131:GPIB回線制御 1 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 1EGPIB Uniline Message ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 メッセージ種別 : IFC 1EGPIB Uniline Message 1EGPIB Universal Command ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 メッセージ種別 : REN ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 コマンド : DCL (18)Bld132:絶縁抵抗検査要求コマンド送信 画面に『絶縁抵抗検査中』を表示させた後、耐電圧/絶縁抵抗検査器に絶縁抵抗検査コマンドを送信します。 1 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 "START_I" --> _Status_Disp_0 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_0 1EGPIB Send ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 送信先アドレス : 15 送信タイムアウト[mSec] : 1000 終端設定 : デフォルト設定 --> _COMM_OK (POINT) Transition タグ名 : _COMM_OK IU2 設計事例集 A-21 モータ検査装置 (19)Bld133:絶縁抵抗検査結果受信 --> _COMM_OK (POINT) 1EGPIB Receive Transition タグ名 : _COMM_OK ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 送信元アドレス : 15 受信タイムアウト[mSec] : 1000 受信バッファ[Byte] : 256 終端設定 : デフォルト設定 0 Match Pattern Not --> _I_OK (POINT) タグ名 : _I_OK "Result_I_OK" (20)Bld134:絶縁抵抗検査結果表示 Not _COMM_OK -> (POINT) --> _Status_Disp_0 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_6 タグ名 : _COMM_OK --> _Status_Disp_0 ... (POINT) _I_OK --> (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_2 タグ名 : _I_OK Not --> _Status_Disp_0 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_3 (21)Bld135:耐電圧検査要求コマンド送信 画面に『絶縁耐圧検査中』を表示させた後、 耐電圧/絶縁抵抗検査器に耐電圧検査コマンドを送信します。 1 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 "START_W" --> _Status_Disp_0 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_1 1EGPIB Send ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 送信先アドレス : 15 送信タイムアウト[mSec] : 1000 終端設定 : デフォルト設定 --> _COMM_OK (POINT) Transition タグ名 : _COMM_OK (22)Bld136:耐電圧検査結果受信 --> _COMM_OK (POINT) 1EGPIB Receive ボード名 : _IU2_1EGPIB_0 送信元アドレス : 15 受信タイムアウト[mSec] : 1000 受信バッファ[Byte] : 256 終端設定 : デフォルト設定 Transition タグ名 : _COMM_OK 0 Match Pattern Not --> _W_OK (POINT) タグ名 : _W_OK "Result_W_OK" A-22 IU2 設計事例集 モータ検査装置 (23)Bld137:耐電圧検査結果表示 --> _Status_Disp_0 ... (POINT) Not _COMM_OK -> (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_6 タグ名 : _COMM_OK --> _Status_Disp_0 ... (POINT) _W_OK --> (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_4 タグ名 : _W_OK --> _Status_Disp_0 ... (POINT) Not タグ名 : _Status_Disp_0_5 (24)Bld138:検査回路切り替え --> _IW_TEST_CIR CU... (POINT) 0 タグ名 : _IW_TEST_CIRCUIT データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 (25)Bld150:初期化 ・ 負荷発生後に目的のトルク到達までの遅れ時間(_Time_Over_Set値)を設定します。 ・ RS1、2の出力でサーボモータに対して負荷発生方向を指示します。 (サーボモータの速度制限は、サーボアンプでのパラメータで設定します。) --> _Time_Over_S et (POINT) 100 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Time_Over_Set 0 --> _SV_RS1 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS1 1 --> _SV_RS2 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS2 正転(CCW)の回転 に対して負荷を発生。 (26)Bld151:モータ起動……平均処理時間:19ms ・ 検査・データ収集対象モータを起動します。 ・ 規格ファイルに設定の定格電圧から指定電圧を換算して出力します。 (0~10Vの信号電圧で0~24Vの電圧をモータに出力する電源装置を使用するものとします。) _Value_Voltag e --> (POINT) Multiply Divide FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Value_Voltage タグ名 : _DA_ch0 10 --> _Divide_ERR (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Divide_ERR 24 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 IU2 設計事例集 A-23 モータ検査装置 (27)Bld152:無負荷回転特性測定……処理時間:約14ms 回転発生 _Status_Disp_1 ... --> (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) _Mon_Rev --> (POINT) タグ名 : _Mon_Rev タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_rev タグ名 : _Status_Disp_1_1 --> _Keisoku_Poin t... (POINT) _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_Trq --> _Keisoku_Poin t... (POINT) _Mon_I --> (POINT) タグ名 : _Mon_I タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_I --> _Keisoku_Poin t... (POINT) _Mon_V --> (POINT) タグ名 : _Mon_V タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_V (28)Bld153:負荷印加 ・ 0~8Vの信号電圧で0~3.8.N・mの負荷トルクを印加できるものとして、規格ファイル内の印加トルク値を換算し てトルク指令信号を出力します。 _Value_Trq_Lo w --> (POINT) Multiply Divide FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Value_Trq_Low タグ名 : _DA_ch1 8 --> _Divide_ERR (POINT) タグ名 : _Divide_ERR データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 38.79 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 1 --> _SV_ON (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_ON (29)Bld154:トルク監視 ・ 規格ファイルに記載の負荷トルクがモータに印加されているかどうかを±2%の範囲で監視します。 (本例では、 サーボアンプに対して要求負荷トルクに相当するトルク指令電圧与えることで規定の負荷が発生すると想定して います。) ・ 指定トルクタイムオーバ監視タイマのカウントアップを行います。 トルク追込み精度2% 0.02 Multiply Add データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq _Value_Trq_Lo w --> (POINT) Subtract タグ名 : _Time_Over1 A-24 IU2 設計事例集 --> _Load_Trq_Lo w_... (POINT) タグ名 : _Load_Trq_Low_Ok 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 タグ名 : _Value_Trq_Low _Time_Over1 -> (POINT) Zone Compare 出力モード : セット Increment --> _Time_Over1 (POINT) タグ名 : _Time_Over1 モータ検査装置 (30)Bld155:負荷回転特性測定 回転発生 _Mon_Rev --> (POINT) _Status_Disp_1 ... --> (POINT) タグ名 : _Mon_Rev タグ名 : _Status_Disp_1_1 _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq _Mon_I --> (POINT) タグ名 : _Mon_I _Mon_V --> (POINT) タグ名 : _Mon_V --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V (31)Bld156:モータ停止……検査・データ収集対象モータ、サーボモータを停止。 FLOAT--> D[n],D[n+1] 0 0 --> _SV_RS1 (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _DA_ch0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS1 0 --> _SV_ON (POINT) 0 --> _SV_RS2 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_ON データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS2 (32)Bld157:判定表示……規格ファイルに従って判定処理を行います。……処理時間:約19ms _Value_Noload _... --> (POINT) Multiply Multiply Add タグ名 : _Value_Noload_Rev_Bnd 0.01 _Keisoku_Poin t... --> (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_rev _Value_Noload _... --> (POINT) Zone Compare Subtract タグ名 : _Value_Noload_Rev And --> _Status_Disp_1 ... (POINT) -->BOOL タグ名 : _Status_Disp_1_2 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット _Value_Noload _... --> (POINT) Multiply Multiply Add --> _Status_Disp_1 ... (POINT) Not タグ名 : _Value_Noload_Current_Bnd タグ名 : _Status_Disp_1_3 _Keisoku_Poin t... --> (POINT) 0.01 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Keisoku_Point_Nld_I _Value_Noload _... --> (POINT) Zone Compare Subtract タグ名 : _Value_Noload_Current 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット トルク制御タイムオーバー _Time_Over1 -> (POINT) _Value_Load_R e... --> (POINT) Multiply Multiply タグ名 : _Time_Over1 Add タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Low _Time_Over_S et --> (POINT) _Keisoku_Poin t... --> (POINT) 0.01 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_1 ... (POINT) Compare 条件比較 : 入力1 >= 入力2 タグ名 : _Status_Disp_1_6 タグ名 : _Time_Over_Set タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev _Value_Load_R e... --> (POINT) Zone Compare Subtract And -->BOOL タグ名 : _Value_Load_Rev_Low --> _Status_Disp_1 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_1_4 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット _Value_Load_C u... --> (POINT) Multiply Multiply Add Not タグ名 : _Value_Load_Current_Low_Bnd --> _Status_Disp_1 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_1_5 _Keisoku_Poin t... --> (POINT) 0.01 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 _Value_Load_C u... --> (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I Subtract Zone Compare タグ名 : _Value_Load_Current_Low 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット IU2 設計事例集 A-25 モータ検査装置 (33)Bld200:初期化 ・ 負荷発生後に目的のトルク到達までのタイムオーバ値を設定します。 ・ トルクを印加する際の上昇ステップ値を設定します。 ・ サーボアンプの正転選択 (RS1) ・逆転選択 (RS2) 入力信号端子への指令により、サーボモータのトルク発生方向を 指示します。 100 --> _Time_Over_S et (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Time_Over_Set 0.01 --> _Trq_step (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Trq_step 0 --> _SV_RS1 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS1 1 --> _SV_RS2 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS2 正転(CCW)の回転に 対して負荷を発生。 (34)Bld201:モータ起動 ・ 検査・データ収集対象モータを起動します。 ・ 規格ファイルに設定の定格電圧から指定電圧を換算して出力します。 (0~10Vの信号電圧で0~24Vの電圧をモータに出力する電源装置を使用するものとします。) _Value_Voltag e --> (POINT) Multiply Divide FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Value_Voltage タグ名 : _DA_ch0 10 --> _Divide_ERR (POINT) タグ名 : _Divide_ERR データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 24 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 (35)Bld202:グラフスタート……Scr4の変数グラフの描画を開始します。 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 A-26 IU2 設計事例集 --> _Graph_Start_ 1 (POINT) タグ名 : _Graph_Start_1 モータ検査装置 (36)Bld203:負荷増加1 ・ 0~8Vの信号電圧で0~3.8.N・mの負荷トルクを印加できるものとして、規格ファイル内の印加トルク値を換算し てトルク指令信号を出力します。 ・ トルク制御中のタイムオーバ用カウンタなどの初期化を行います。 _Trq_Temp -> (POINT) Multiply Divide FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Trq_Temp タグ名 : _DA_ch1 8 --> _Divide_ERR (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Divide_ERR --> _Time_Over2 (POINT) 0 タグ名 : _Time_Over2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_2 ... (POINT) 1 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Status_Disp_2_0 38.79 --> _Load_Trq_Te mp... (POINT) 0 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 _Trq_Temp -> (POINT) Add タグ名 : _Trq_Temp データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Load_Trq_Temp_OK 1 --> _SV_ON (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_ON --> _Trq_Temp (POINT) タグ名 : _Trq_Temp 0.01 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 (37)Bld204:印加トルク監視1 トルク追込み精度2% 0.02 Multiply Add データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq _Trq_Temp -> (POINT) Subtract Zone Compare --> _Load_Trq_Te mp... (POINT) タグ名 : _Load_Trq_Temp_Ok 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット タグ名 : _Trq_Temp トルク追込み精度2% 0.02 Multiply Add データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq _Value_Trq_Lo w --> (POINT) Subtract タグ名 : _Value_Trq_Low _Time_Over2 -> (POINT) タグ名 : _Time_Over2 Increment Zone Compare --> _Load_Trq_Lo w_... (POINT) タグ名 : _Load_Trq_Low_Ok 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット --> _Time_Over2 (POINT) タグ名 : _Time_Over2 IU2 設計事例集 A-27 モータ検査装置 (38)Bld205:印加トルク(低)測定 回転発生 _Status_Disp_1 ... --> (POINT) --> _Keisoku_Poin t... (POINT) _Mon_Rev --> (POINT) タグ名 : _Mon_Rev タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Low タグ名 : _Status_Disp_1_1 --> _Keisoku_Poin t... (POINT) _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq_Low --> _Keisoku_Poin t... (POINT) _Mon_I --> (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Low タグ名 : _Mon_I --> _Keisoku_Poin t... (POINT) _Mon_V --> (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V_Low タグ名 : _Mon_V (39)Bld206:負荷増加2 _Trq_Temp -> (POINT) Multiply Divide FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Trq_Temp タグ名 : _DA_ch1 8 --> _Divide_ERR (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Divide_ERR 38.79 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 _Trq_Temp -> (POINT) タグ名 : _Trq_Temp 0.01 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 A-28 IU2 設計事例集 Add --> _Trq_Temp (POINT) タグ名 : _Trq_Temp 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 --> _Time_Over3 (POINT) タグ名 : _Time_Over3 --> _Load_Trq_Te mp... (POINT) タグ名 : _Load_Trq_Temp_OK モータ検査装置 (40)Bld207:印加トルク監視2 トルク追込み精度2% 0.02 Multiply Add データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq _Trq_Temp -> (POINT) Subtract Zone Compare --> _Load_Trq_Hi_ O... (POINT) タグ名 : _Load_Trq_Hi_Ok 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット タグ名 : _Trq_Temp トルク追込み精度2% 0.02 Multiply Add データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq _Value_Trq_Hi --> (POINT) Subtract Zone Compare --> _Load_Trq_Hi_ O... (POINT) タグ名 : _Load_Trq_Hi_Ok 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット タグ名 : _Value_Trq_Hi _Time_Over3 -> (POINT) --> _Time_Over3 (POINT) Increment タグ名 : _Time_Over3 タグ名 : _Time_Over3 (41)Bld210:印加トルク(高)測定 回転発生 _Status_Disp_1 ... --> (POINT) _Mon_Rev --> (POINT) タグ名 : _Mon_Rev --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Hi タグ名 : _Status_Disp_1_1 _Mon_Trq --> (POINT) タグ名 : _Mon_Trq _Mon_I --> (POINT) タグ名 : _Mon_I _Mon_V --> (POINT) タグ名 : _Mon_V --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_Trq_Hi --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Hi --> _Keisoku_Poin t... (POINT) タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_V_Hi (42)Bld211:グラフストップ……Scr4の変数グラフの描画を停止します。 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Graph_Start_ 1 (POINT) タグ名 : _Graph_Start_1 IU2 設計事例集 A-29 モータ検査装置 (43)Bld212:モータ停止……検査・データ収集対象モータ、サーボモータを停止。 FLOAT--> D[n],D[n+1] 0 0 --> _SV_RS1 (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _DA_ch0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS1 0 --> _SV_ON (POINT) 0 --> _SV_RS2 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_ON データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _SV_RS2 (44)Bld213:判定表示……規格ファイルに従って判定処理をします。 _Value_Load_R e... --> (POINT) Multiply Multiply Add タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Hi 0.01 _Keisoku_Poin t... --> (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Hi _Value_Load_R e... --> (POINT) Subtract Zone Compare And -->BOOL --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_2 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット タグ名 : _Value_Load_Rev_Hi _Value_Load_C u... --> (POINT) Multiply Not Multiply Add --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_3 タグ名 : _Value_Load_Current_Hi_Bnd _Keisoku_Poin t... --> (POINT) 0.01 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Hi _Value_Load_C u... --> (POINT) 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 タグ名 : _Value_Load_Current_Hi _Value_Load_R e... --> (POINT) Multiply Zone Compare Subtract 出力モード : セット Multiply Add タグ名 : _Value_Load_Rev_Bnd_Low 0.01 _Keisoku_Poin t... --> (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_rev_Low _Value_Load_R e... --> (POINT) Zone Compare Subtract And -->BOOL タグ名 : _Value_Load_Rev_Low --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_4 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット _Value_Load_C u... --> (POINT) Multiply Multiply Add Not タグ名 : _Value_Load_Current_Low_Bnd --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_5 0.01 _Keisoku_Poin t... --> (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Keisoku_Point_Ld_I_Low _Value_Load_C u... --> (POINT) Subtract Zone Compare 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 タグ名 : _Value_Load_Current_Low 出力モード : セット トルク制御タイムオーバー _Time_Over2 -> (POINT) タグ名 : _Time_Over2 Compare 条件比較 : 入力1 >= 入力2 _Time_Over_S et --> (POINT) タグ名 : _Time_Over_Set _Time_Over3 -> (POINT) タグ名 : _Time_Over3 _Time_Over_S et --> (POINT) タグ名 : _Time_Over_Set A-30 IU2 設計事例集 Compare 条件比較 : 入力1 >= 入力2 Or -->BOOL --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_6 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_0 モータ検査装置 (45)Bld300:総合判定結果セット(定点特性) 絶縁抵抗OK _Status_Disp_0 ... --> (POINT) 総合判定 And And --> _Status_Disp_3 ... (POINT) -->BOOL タグ名 : _Status_Disp_0_2 タグ名 : _Status_Disp_3_0 絶縁耐圧OK _Status_Disp_0 ... --> (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_4 無負荷OK _Status_Disp_1 ... --> (POINT) And タグ名 : _Status_Disp_1_2 負荷OK _Status_Disp_1 ... --> (POINT) タグ名 : _Status_Disp_1_4 (46)Bld301:総合判定結果セット(グラフ特性) 絶縁抵抗OK 総合判定 _Status_Disp_0 ... --> (POINT) And And -->BOOL タグ名 : _Status_Disp_0_2 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_0 絶縁耐圧OK _Status_Disp_0 ... --> (POINT) タグ名 : _Status_Disp_0_4 印加トルク高 _Status_Disp_2 ... --> (POINT) And タグ名 : _Status_Disp_2_2 印加トルク低 _Status_Disp_2 ... --> (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_4 (47)Bld302:Model01結果加算……処理時間:約16ms _Status_Disp_3 ... --> (POINT) _Model01_OK_ Co... --> (POINT) --> _Model01_OK_ Co... (POINT) Increment タグ名 : _Model01_OK_Count タグ名 : _Model01_OK_Count タグ名 : _Status_Disp_3_0 _Model01_NG_ Co... --> (POINT) Not Increment --> _Model01_NG_ Co... (POINT) タグ名 : _Model01_NG_Count タグ名 : _Model01_NG_Count (48)Bld303:Model02結果加算 _Status_Disp_3 ... --> (POINT) _Model02_OK_ Co... --> (POINT) --> _Model02_OK_ Co... (POINT) Increment タグ名 : _Model02_OK_Count タグ名 : _Model02_OK_Count タグ名 : _Status_Disp_3_0 Not _Model02_NG_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model02_NG_Count Increment --> _Model02_NG_ Co... (POINT) タグ名 : _Model02_NG_Count IU2 設計事例集 A-31 モータ検査装置 (49)Bld304:Model03結果加算 _Model03_OK_ Co... --> (POINT) _Status_Disp_3 ... --> (POINT) Increment --> _Model03_OK_ Co... (POINT) タグ名 : _Model03_OK_Count タグ名 : _Model03_OK_Count タグ名 : _Status_Disp_3_0 _Model03_NG_ Co... --> (POINT) Not Increment --> _Model03_NG_ Co... (POINT) タグ名 : _Model03_NG_Count タグ名 : _Model03_NG_Count (50)Bld305:Model04結果加算 _Status_Disp_3 ... --> (POINT) _Model04_OK_ Co... --> (POINT) Increment --> _Model04_OK_ Co... (POINT) タグ名 : _Model04_OK_Count タグ名 : _Model04_OK_Count タグ名 : _Status_Disp_3_0 _Model04_NG_ Co... --> (POINT) Not Increment --> _Model04_NG_ Co... (POINT) タグ名 : _Model04_NG_Count タグ名 : _Model04_NG_Count (51)Bld306:Model05結果加算 _Status_Disp_3 ... --> (POINT) _Model05_OK_ Co... --> (POINT) Increment --> _Model05_OK_ Co... (POINT) タグ名 : _Model05_OK_Count タグ名 : _Model05_OK_Count タグ名 : _Status_Disp_3_0 _Model05_NG_ Co... --> (POINT) Not Increment タグ名 : _Model05_NG_Count --> _Model05_NG_ Co... (POINT) タグ名 : _Model05_NG_Count (52)Bld310:Model01セット……処理時間:約12ms _Model01_OK_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model01_OK_Count --> _OK_Count (POINT) タグ名 : _OK_Count _Model01_NG_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model01_NG_Count --> _NG_Count (POINT) タグ名 : _NG_Count (53)Bld311:Model02セット _Model02_OK_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model02_OK_Count --> _OK_Count (POINT) タグ名 : _OK_Count _Model02_NG_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model02_NG_Count --> _NG_Count (POINT) タグ名 : _NG_Count (54)Bld312:Model03セット _Model03_OK_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model03_OK_Count --> _OK_Count (POINT) タグ名 : _OK_Count _Model03_NG_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model03_NG_Count --> _NG_Count (POINT) タグ名 : _NG_Count (55)Bld313:Model04セット _Model04_OK_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model04_OK_Count A-32 IU2 設計事例集 --> _OK_Count (POINT) タグ名 : _OK_Count _Model04_NG_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model04_NG_Count --> _NG_Count (POINT) タグ名 : _NG_Count モータ検査装置 (56)Bld314:Model05セット _Model05_OK_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model05_OK_Count --> _OK_Count (POINT) タグ名 : _OK_Count _Model05_NG_ Co... --> (POINT) タグ名 : _Model05_NG_Count --> _NG_Count (POINT) タグ名 : _NG_Count (57)Bld320:テストステップ4(総合判定画面)設定 4 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Test_Step (POINT) タグ名 : _Test_Step (58)Bld460:耐電圧/絶縁抵抗検査画面表示……Scr2を表示します。 2 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (59)Bld461:定点測定モード画面表示……Scr3を表示します。 3 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (60)Bld462:グラフ特性特性画面表示……Scr4を表示します。 4 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (61)Bld463:総合判定画面表示……Scr5を表示します。 5 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (62)Bld464:応答性検査(AUTO)画面表示……Scr200を表示します。 200 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp IU2 設計事例集 A-33 モータ検査装置 (63)Bld472:動作モニタ……トルク、 回転数、印加電圧、消費電流の監視などを行います。 0.2 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 30 --> _Status_Disp_1 ... (POINT) Schmitt Trigger データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Status_Disp_1_0 0.1 10 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 トルク入力 Schmitt Trigger タグ名 : _Status_Disp_1_1 回転数入力 D[n],D[n+1] -->FLOAT Multiply D[n],D[n+1] -->FLOAT --> _Mon_Trq (POINT) Divide タグ名 : _Mon_Trq タグ名 : _AD_ch1 50 --> _Divide_ERR (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Divide_ERR Multiply 300 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 電流入力 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 D[n],D[n+1] -->FLOAT 電圧入力 タグ名 : _AD_ch2 --> _Mon_I (POINT) タグ名 : _Mon_I Multiply --> _Mon_V (POINT) Divide タグ名 : _AD_ch3 タグ名 : _Mon_V 24 --> _Divide_ERR (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Divide_ERR 10 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 (64)Bld473:エラーモニタ _File_Read_Err --> (POINT) Or タグ名 : _File_Read_Err _Divide_ERR -> (POINT) Or タグ名 : _Divide_ERR Or タグ名 : _SV_ALM _SV_EMG --> (POINT) Not タグ名 : _SV_EMG 0 現在表示中のスクリーン番号 _Disp --> (POINT) タグ名 : _Disp 警報画面のスクリーン番号 200 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 A-34 IU2 設計事例集 --> _Err (POINT) タグ名 : _Err _SV_ALM --> (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 Compare --> _SV_ALM_RST (POINT) タグ名 : _SV_ALM_RST 条件比較 : 入力1 != 入力2 --> _Mon_Rev (POINT) タグ名 : _Mon_Rev タグ名 : _AD_ch0 10 D[n],D[n+1] -->FLOAT --> _Status_Disp_1 ... (POINT) モータ検査装置 6. プログラム一覧 (1) プログラム一覧 区分 システム ページ プログラムページ 内容 ページ ページ システム設定 M-7 Bld135 Scr1 起動画面 M-8 Bld136 耐電圧検査結果受信 M-22 Bld137 耐電圧検査結果表示 M-23 Bld138 検査回路切り替え M-23 Bld150 初期化 M-23 Bld151 モータ起動 M-23 Bld152 無負荷回転特性測定 M-24 Scr3 特性検査(定点測定モード) 画面 M-9 スクリーン Scr4 ページ 特性検査(グラフ特性モー ド)画面 M-9 BLD プログラム 内容 Sys1 耐電圧/絶縁抵抗検査画 面 サブ ルーチン プログラムページ 耐電圧検査要求コマンド 送信 Scr2 メイン ルーチン 区分 M-8 M-22 Scr5 検査結果表示画面 M-10 Bld153 負荷印加 M-24 Scr100 検査規格表示画面 M-10 Bld154 トルク監視 M-24 Scr200 警報確認画面 M-11 Bld155 負荷回転特性測定 M-25 Scr250 条件設定画面 M-11 Bld156 モータ停止 M-25 Main1 DCモータ検査フロー M-12 Bld157 判定表示 M-25 Bld200 初期化 M-26 Sub1 初期化-1 M-12 Sub2 初期化-2 M-13 Sub3 耐電圧/絶縁抵抗検査 M-13 Sub4 定点特性測定 M-14 Sub5 グラフ特性測定 M-14 Sub6 総合判定表示 M-15 Sub21 画面制御 M-15 Sub22 動作モニタ M-16 Bld1 初期化-1 M-16 Bld100 初期化-2 M-17 Bld105 ファイル名格納メモリク リア M-18 Bld201 モータ起動 M-26 Bld202 グラフスタート M-26 Bld203 負荷増加1 M-27 Bld204 印加トルク監視1 M-27 Bld205 印加トルク(低)測定 M-28 Bld206 負荷増加2 M-28 Bld207 印加トルク監視2 M-29 Bld210 印加トルク(高)測定 M-29 Bld211 グラフストップ M-29 Bld212 モータ停止 M-30 判定表示 M-30 M-31 BLD プログラム Bld213 Bld110 ファイル名指定 model-01 M-18 Bld300 総合判定結果セット (定点特性) Bld111 ファイル名指定 model-02 M-18 Bld301 総合判定結果セット (グラフ特性) M-31 Bld112 ファイル名指定 model-03 M-18 Bld302 Model01結果加算 M-31 Bld303 Model02結果加算 M-31 Bld113 ファイル名指定 model-04 M-18 Bld114 ファイル名指定 model-05 M-19 Bld120 設定ファイル読出し1/4 (文字) M-19 Bld121 設定ファイル読出し2/4 (数値) M-19 Bld122 設定ファイル読出し3/4 (数値) M-20 Bld123 設定ファイル読出し4/4 (数値) M-20 Bld304 Model03結果加算 M-32 Bld305 Model04結果加算 M-32 Bld306 Model05結果加算 M-32 Bld310 MODEL01セット M-32 Bld311 MODEL02セット M-32 Bld312 MODEL03セット M-32 Bld313 MODEL04セット M-32 Bld314 MODEL05セット M-33 Bld320 テストステップ4(総合判 定画面)設定 M-33 Bld460 耐電圧/絶縁抵抗検査画 面表示 M-33 Bld124 テストステップ1設定 M-21 Bld125 テストステップ2設定 M-21 Bld126 テストステップ3設定 M-21 Bld461 定点測定モード画面表示 M-33 グラフ特性測定画面表示 M-33 Bld130 検査回路切り替え M-21 Bld462 Bld131 GPIB回線制御 M-21 Bld463 総合判定画面表示 M-33 M-33 Bld132 絶縁抵抗検査要求コマン ド送信 M-21 Bld464 応答性検査(AUTO)画面 表示 Bld133 絶縁抵抗検査結果受信 M-22 Bld472 動作モニタ M-34 M-22 Bld473 エラーモニタ M-34 Bld134 絶縁抵抗検査結果表示 IU2 設計事例集 A-35 A-36 IU2 設計事例集 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_1EGPIB _0 [0] [1] [1] [1] [2] [2] [2] [3] M 7999 M 9999 D 7999 D 9999 X 31 X 255 X 31719 Y 31 Y 255 Y 31719 D 10015 M0 M 8000 D0 D 8000 X0 X 32 X 1000 Y0 Y 32 Y 1000 D 10000 先頭 アト ゙レス I/O 割付け一覧 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 [0] スロット I/O 割付け設定 IOMap 1 - 最終 アト ゙レス ユーサ ゙名称 [1] [0] [0] スロット Parallel 1 出力 2 入力 2 AD 16 出力 2 入力 2 DA 8 出力 32 入力 32 入出力 D 10000 - D 10127 D 10000 - D 10127 Y 0- Y 255 X 0-X 255 割付先 テ ゙ハ ゙イス _IU 2_8 EDA _100 M _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 無 無 有 無 無 有 有 有 割付 ユーサ ゙名称 float float 割付 テ ゙ータ 型 32 16 32 32 割付点数 DA 出力 入力 10016 10000 0 0 入出力 先頭 アト ゙レス 16 32 32 10047 10015 31 31 割付点数 最終 アト ゙レス モータ検査装置 (2) I/O割付け表 D 10047 D 10127 DBL 255 DB 30719 DC 30719 DS 30719 DL 30719 DF 30719 DD 30719 D 10016 D 10048 DBL 0 DB 0 DC 0 DS 0 DL 0 DF 0 DD 0 先頭 アト ゙レス IOMap 2 - 最終 アト ゙レス [2] スロット _IU2_16 EAD _20 M _0 ユーサ ゙名称 AD 入出力 32 割付点数 モータ検査装置 IU2 設計事例集 A-37 A-38 IU2 設計事例集 [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :31 CH X 31 [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :5CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :6CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :7CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :8CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :9CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :10 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :11 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :12 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :13 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :14 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :15 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :16 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :17 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :18 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :19 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :20 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :21 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :22 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :23 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :24 CH X5 X6 X7 X8 X9 X 10 X 11 X 12 X 13 X 14 X 15 X 16 X 17 X 18 X 19 X 20 X 21 X 22 X 23 X 24 テ ゙ハ ゙イスタク ゙ Y 11 Y 10 Y9 Y8 Y7 Y6 Y5 Y4 Y3 Y2 Y1 Y0 アト ゙レス _SV _ALM _RST _SV _EMG _SV _RS 2 _SV _RS 1 _SV _ON _IW _TEST _CIRCUIT テ ゙ハ ゙イスタク ゙ テ ゙ハ ゙イス 確認 <Y 0-Y 255 > アト ゙レス [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :11 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :10 CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :9CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :8CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :7CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :6CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :5CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :4CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :3CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :2CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :1CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 :0CH I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :30 CH X 30 [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :4CH X4 テ ゙ハ ゙イス 確認 <X 1000 -X 31719 > [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :29 CH X 29 [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :28 CH X 28 [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :3CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :27 CH X 27 X3 [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :26 CH X 26 [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :2CH [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :25 CH X 25 I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) X2 [0] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 : 入力 :0CH I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) テ ゙ハ ゙イスタク ゙ [0 ] :_IU2_32 EDIO _CPTR _0 :入力 :1CH _SV _ALM テ ゙ハ ゙イスタク ゙ アト ゙レス X1 X0 アト ゙レス テ ゙ハ ゙イス 確認<X 0-X 255> IOMap 3 - モータ検査装置 [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 13 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 14 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 15 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 16 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 17 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 18 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 19 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 20 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 21 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 22 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 23 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 24 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 25 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 26 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 27 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 28 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 29 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 30 CH [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 31 CH Y 13 Y 14 Y 15 Y 16 Y 17 Y 18 Y 19 Y 20 Y 21 Y 22 Y 23 Y 24 Y 25 Y 26 Y 27 Y 28 Y 29 Y 30 Y 31 I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) [0] : _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 12 CH テ ゙ハ ゙イスタク ゙ Y 12 アト ゙レス IOMap 4 - テ ゙ハ ゙イスタク ゙ _DA _ch 1 _DA _ch 1_ D 10002 D 10003 [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 4CH D 10008 [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 6CH [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 6CH D 10012 D 10013 _AD _ch 1_ _AD _ch 2 D 10019 D 10020 _AD _ch 1 _AD _ch 0_ D 10017 D 10018 [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 0CH _AD _ch 0 D 10016 [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 2CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 1CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 1CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 0CH [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 7CH D 10015 [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 7CH [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 5CH D 10011 D 10014 [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 5CH D 10010 [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 4CH [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 3CH D 10007 D 10009 [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 3CH D 10006 [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 2CH [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 1CH [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 1CH [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 0CH [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 0CH I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) [1] : _IU 2_8EDA _100 M _0 : DA : 2CH テ ゙ハ ゙イスタク ゙ I/ O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) D 10005 D 10004 _DA _ch 0_ _DA _ch 0 D 10001 D 10000 アト ゙レス デバイス確認<D10000-D10127> アト ゙レス デバイス確認<Y1000-Y31719> モータ検査装置 IU2 設計事例集 A-39 A-40 IU2 設計事例集 [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 4CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 5CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 5CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 6CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 6CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 7CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 7CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 8CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 8CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 9CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 9CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 10 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 10 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 11 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 11 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 12 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 12 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 13 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 13 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 14 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 14 CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 15 CH D10026 D10027 D10028 D10029 D10030 D10031 D10032 D10033 D10034 D10035 D10036 D10037 D10038 D10039 D10040 D10041 D10042 D10043 D10044 D10045 D10046 [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 3CH D10025 _AD _ch 3_ D10023 [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 3CH [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 2CH I/O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) [2] : _IU 2_16 EAD _20 M _0 : AD : 4CH _AD _ch 3 D10022 デバイスタク ゙ D10024 _AD _ch 2_ D10021 アト ゙レス IOMap 5 - D10047 アト ゙レス デバイスタク ゙ [2] : _IU 2_16 EAD _20 M_0 : AD : 15 CH I/O 割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH 番号 ) モータ検査装置 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] ユーサ ゙名称 [0] [3] スロット _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 スロット CH タク ゙ [0] CH タグ確認 _IU 2_1EGPIB _00 CH タグ一覧 ChTag 1 - 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入出力 _IU 2_1EGPIB _0 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 ユーサ ゙名称 CH 番号 Parallel 入出力 CH タク ゙ 0 CH 番号 コメント コメント モータ検査装置 (3) CHタグ一覧 IU2 設計事例集 A-41 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] ユーサ ゙名称 [0] スロット ChTag 2 - A-42 IU2 設計事例集 出力 出力 出力 出力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入出力 3 2 1 0 31 30 29 28 27 26 25 24 23 22 21 20 19 18 17 16 CH 番号 CH タク ゙ コメント モータ検査装置 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] ユーサ ゙名称 [0] スロット ChTag 3 - 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 入出力 23 22 21 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 CH 番号 CH タク ゙ コメント モータ検査装置 IU2 設計事例集 A-43 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_32 EDIO _CPTR _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 _IU 2_8EDA _100 M _0 [0] [0] [0] [0] [0] [0] [0] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] ユーサ ゙名称 [0] スロット ChTag 4 - A-44 IU2 設計事例集 出力 出力 入力 入力 DA DA DA DA DA DA DA DA 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 入出力 1 0 1 0 7 6 5 4 3 2 1 0 31 30 29 28 27 26 25 24 CH 番号 CH タク ゙ コメント モータ検査装置 _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] [2] [2] [2] [2] [2] _IU 2 _1 EGPIB _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] [3 ] _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] [2] _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] [2] _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] [2] _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] _IU 2_16 EAD _20 M _0 _IU 2_16 EAD _20 M _0 [2] [2] _IU 2_16 EAD _20 M _0 ユーサ ゙名称 [2] スロット ChTag 5 - Parallel 出力 出力 入力 入力 AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD 入出力 0 1 0 1 0 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 CH 番号 _IU 2 _1 EGPIB _00 CH タク ゙ コメント モータ検査装置 IU2 設計事例集 A-45 A-46 IU2 設計事例集 割付先 デハ ゙イスアト ゙レス _Graph _Clear _1 _Graph _Start _1 _Restart _Next _Step _PSW _1_1 _PSW _1_2 _PSW _2_1 _PSW _2_2 _PSW _2_3 _PSW _2_4 _PSW _2_5 _Start _Master _Start _Step _0 _Start _Step _1 _Start _Step _2 _Start _Step _3 _Start _Step _4 M4 M5 M6 M 10 M 11 M 12 M 13 M 14 M 15 M 16 M 19 M 20 M 21 M 22 M 23 M 24 デバイスタク ゙ M3 アト ゙レス デバイスタグ確認<M0-M7999> デハ ゙イスタク ゙ デバイスタク ゙一覧 DevTag 1 - コメント コメント _I_OK _W _OK M 30 M 31 _Status _Disp _0_0 M 100 _Status _Disp _0_5 M 105 _Status _Disp _0_9 _Status _Disp _1_0 M 109 M 110 _Status _Disp _1_2 _Status _Disp _1_3 M 112 M 113 _Status _Disp _1_1 _Status _Disp _0_8 M 108 M 111 _Status _Disp _0_7 M 107 _Status _Disp _0_6 _Status _Disp _0_4 M 104 M 106 _Status _Disp _0_3 _Status _Disp _0_2 M 103 M 102 _Status _Disp _0_1 _Load _Trq _Temp _OK M 42 M 101 _Load _Trq _Hi _Ok M 41 _Load _Trq _Low _Ok _Start _Step _9 M 29 M 40 _Start _Step _8 _Start _Step _7 M 28 M 27 _Start _Step _6 M 26 テ ゙ハ ゙イスタク ゙ _Start _Step _5 アト ゙レス M 25 定点特性 定点特性 定点特性 定点特性 ( 予備 ) ( 予備 ) ( 予備 ) ( 予備 ) 絶縁耐圧 NG 絶縁耐圧 OK 絶縁抵抗 NG 絶縁抵抗 OK 無負荷 NG 無負荷 OK 回転 /停止 ON で 回転 ON で 負荷 絶縁耐圧検査中 絶縁抵抗測定中 負荷 /無負荷表示 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 耐電圧絶縁試験 絶縁耐圧検査 OK 絶縁抵抗検査 OK コメント モータ検査装置 (4) デバイスタグリスト _Status _Disp _2_6 _Status _Disp _2_7 _Status _Disp _2_8 _Status _Disp _2_9 _Status _Disp _3_0 _Status _Disp _3_1 _Status _Disp _3_2 _Status _Disp _3_3 M 126 M 127 M 128 M 129 M 130 M 131 M 132 M 133 _Status _Disp _3_9 _Status _Disp _2_5 M 125 M 139 _Status _Disp _2_4 M 124 _Status _Disp _3_8 _Status _Disp _2_3 M 123 M 138 _Status _Disp _2_2 M 122 _Status _Disp _3_7 _Status _Disp _2_1 M 121 M 137 _Status _Disp _2_0 M 120 _Status _Disp _3_6 _Status _Disp _1_9 M 119 M 136 _Status _Disp _1_8 M 118 _Status _Disp _3_5 _Status _Disp _1_7 M 117 M 135 _Status _Disp _1_6 M 116 _Status _Disp _3_4 _Status _Disp _1_5 M 115 M 134 _Status _Disp _1_4 デハ ゙イスタク ゙ M 114 アト ゙レス DevTag 2 - タイムオーバ 定格負荷 NG 定格負荷 OK 負荷増加中 ON で 増加中 印加 トルク 高 OK 低 NG 低 OK 高 NG タイムオーバ 印加 トルク 印加 トルク 印加 トルク 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) 結果表示 ( 予備 ) ク ゙ラフ 特性 ( 予備 ) ク ゙ラフ 特性 ( 予備 ) ク ゙ラフ 特性 ( 予備 ) ク ゙ラフ 特性 ク ゙ラフ 特性 ク ゙ラフ 特性 ク ゙ラフ 特性 ク ゙ラフ 特性 ク ゙ラフ 特性 ( 予備 )⇒ 定点 を 共用 ク ゙ラフ 特性 定点特性 ( 予備 ) 定点特性 ( 予備 ) 定点特性 ( 予備 ) 定点特性 定点特性 定点特性 コメント D 21 D 20 D 10 D9 D8 D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 アト ゙レス デバイスタグ確認<D0-D7999> M 8640 アト ゙レス テ ゙ハ ゙イスタク ゙ _Divide _ERR テ ゙ハ ゙イスタク ゙ _Model 02 _OK _Count _Model 01 _OK _Count _Trq _Counter _Time _Over 3 _Time _Over 2 _Time _Over 1 _Time _Over _Set _Test _L _Time _Disp _Test _L _Time _Test _Step _Err _Code _Model _Disp _Model _Main 1_Start テ ゙ハ ゙イスタク ゙ _Err _Skip _PS _Test _COMM _OK _File _Read _Err _Err デバイスタグ確認<M8000-M9999> M 206 M 205 M 204 M 203 M 200 アト ゙レス Tset target コメント コメント コメント モータ検査装置 IU2 設計事例集 A-47 A-48 IU2 設計事例集 _Model 05 _OK _Count _Model 01 _NG _Count _Model 02 _NG _Count _Model 03 _NG _Count _Model 04 _NG _Count _Model 05 _NG _Count _OK _Count _NG _Count _TEST _DATA 00 D 24 D 25 D 26 D 27 D 28 D 29 D 30 D 31 D 1000 X0 _SV _ALM _AD _ch 0 _AD _ch 0_ D 10016 D 10017 _DA _ch 1_ D 10003 コメント アト ゙レス デハ ゙イスタク ゙ _DA _ch 1 D 10002 _DA _ch 0 デバイスタグ確認<X0-X255> D 10000 アト ゙レス テ ゙ハ ゙イスタク ゙ テ ゙ハ ゙イスタク ゙ _SV _ALM _RST _SV _EMG _SV _RS 2 _SV _RS 1 _SV _ON デバイスタグ確認<D10000-D10127> アト ゙レス テ ゙ハ ゙イスタク ゙ テ ゙ハ ゙イスタク ゙ _IW _TEST _CIRCUIT デバイスタク ゙確認<Y1000-Y31719> Y5 Y4 Y3 Y2 Y1 Y0 アト ゙レス デバイスタク ゙確認 <Y0-Y255 > アト ゙レス デバイスタグ確認<X1000-X31719> _DA _ch 0_ _Dis _OV 1 D 8501 Display select コメント コメント D 10001 _Disp D 8500 アト ゙レス デハ ゙イスタク ゙ _Model 04 _OK _Count D 23 デバイスタグ確認<D8000-D9999> _Model 03 _OK _Count デハ ゙イスタク ゙ D 22 アト ゙レス DevTag 3 - B 接点 コメント コメント コメント コメント モータ検査装置 _AD _ch 1 _ _AD _ch 2 _AD _ch 2 _ _AD _ch 3 _AD _ch 3 _ D 10019 D 10020 D 10021 D 10022 D 10023 _Type アト ゙レス デバイスタグ確認<DL0-DL30719> アト ゙レス デバイスタグ確認<DS0-DS30719> DC 0 アト ゙レス デバイスタグ確認<DC0-DC30719> アト ゙レス テ ゙ハ ゙イスタク ゙ テ ゙ハ ゙イスタク ゙ テ ゙ハ ゙イスタク ゙ テ ゙ハ ゙イスタク ゙ テ ゙ハ ゙イスタク ゙ テ ゙ハ ゙イスタク ゙ _Value _File _name デバイスタグ確認<DB0-DB30719> DBL 0 アト ゙レス デバイスタグ確認<DBL0-DBL255> _AD _ch 1 D 10018 アト ゙レス DevTag 4 - コメント コメント コメント コメント コメント コメント _Value _Noload _Current _Bnd _Value _Load _Current _Hi _Value _Load _Current _Hi _Bnd _Value _Load _Current _Low DF 22 DF 23 DF 24 DF 25 _Mon _Rev DF 37 _Mon _Trq _Mon _I DF 36 DF 38 _Mon _V _Value _Trq _Low _Value _Trq _Hi DF 35 DF 34 DF 33 _Value _Load _Rev _Bnd _Low _Value _Load _Rev _Low DF 31 DF 32 _Value _Load _Rev _Bnd _Hi _Value _Load _Rev _Hi DF 29 DF 30 _Value _Noload _Rev _Bnd _Value _Noload _Rev DF 28 DF 27 _Value _Load _Current _Low _Bnd _Value _Noload _Current DF 21 DF 26 _Value _Voltage テ ゙ハ ゙イスタク ゙ DF 20 アト ゙レス デバイスタグ確認<DF0-DF30719> コメント モータ検査装置 IU2 設計事例集 A-49 A-50 IU2 設計事例集 _Keisoku _Point_Nld_I _Keisoku _Point_Nld_V _Keisoku _Point_Ld_rev _Keisoku _Point_Ld_Trq _Keisoku _Point_Ld_I _Keisoku _Point_Ld_V _Keisoku _Point_Ld_rev_Hi _Keisoku _Point_Ld_Trq_Hi _Keisoku _Point_Ld_I_Hi _Keisoku _Point_Ld_V_Hi _Keisoku _Point_Ld_rev_Low _Keisoku _Point_Ld_Trq_Low _Keisoku _Point_Ld_I_Low _Keisoku _Point_Ld_V_Low _Trq_Temp _Trq_step DF41 DF42 DF43 DF44 DF45 DF46 DF47 DF48 DF49 DF50 DF51 DF52 DF53 DF54 DF60 DF61 アドレス デバイスタグ _Keisoku _Point_Nld_Trq DF40 デバイスタク ゙確認 <DD0-DD30719 > _Keisoku _Point_Nld_rev デバイスタグ DF39 アドレス DevTag 5 - トルク上昇ステップ コメント コメント モータ検査装置 モータ検査装置 7. 規格ファイルフォーマット 注】データフォーマットを変更すると正しく読み込みできません。 ************************************************************ 保存ファイル名 _VALUE_MODEL01.txt ************************************************************ 型式 MODEL-01 ************************************************************ 定格電圧(V) 24 無負荷電流(A) 0.5 同上許容値±(%) 15 定格負荷電流【高】 (A) 3.0 同上許容値±(%) 10 定格負荷電流【低】 (A) 0.6 同上許容値±(%) 10 無負荷回転数(rpm) 2000 同上許容値±(%) 15 定格負荷回転数【高】 (rpm) 400 同上許容値±(%) 10 定格負荷回転数【低】 (rpm) 1800 同上許容値±(%) 10 印加トルク【高】 (kg・cm) 3.0 印加トルク【低】 (kg・cm) 0.78 ************************************************************ IU2 設計事例集 A-51 モータ検査装置 9. パソコンとのデータ通信プログラム例……IU-Links応用事例 1. Excel VBA操作画面 ※ 2頁のプログラムを実行する前にIU_Linksをインストールする必要があります。 ※ ファイルの保存先、送信元は絶対パスで指定して下さい。 ※ ファイル名は、検査規格のファイル名を指定します。 ※ _VALUE_MODEL01.txt は機種毎の検査規格ファイルです。パソコンへ MELQIC 内の規格ファイルを読み込み、修正した ものを通信経由でMELQICに送信できます。 A-52 IU2 設計事例集 モータ検査装置 2. プログラムリスト 〇標準モジュール ''************************************************************** ''Public関数の設定 ''************************************************************** Public IUComm As New IUCOMLib.Client ''************************************************************** ''処理名称 : 通信パラメータの設定 ''処理概要 : IU2と通信に必要なパラメータを一括でセットする ''引数 ''戻り値 : なし : なし ''*************************************************************** Public Sub SetDefaultPropaty() Dim lValue As Long '============================================================= '●処理概要 ' 各種パラメータを設定する。 'パラメータの設定 -> プロパティ設定メソッドの実行 lValue = 0 IUComm.ClientProperty("CommunicationMode") = lValue lValue = &HAC110001 IUComm.ClientProperty("IPAddress") = lValue lValue = 0 IUComm.ClientProperty("PortNumber") = lValue lValue = 20 IUComm.ClientProperty("TimeOut") = lValue End Sub 〇更新ボタン ''************************************************************** ''処理名称 : デバイス読出し ''処理概要 : IU2の指定デバイスの値を取得する ''引数 ''戻り値 : なし : なし ''*************************************************************** Private Sub Moniter_Start_Click() IU2 設計事例集 A-53 モータ検査装置 Dim lType As Long Dim lStartNum As Long Dim lDBLOffSet As Long Dim lNum As Long Dim liDataType As Long Dim loData As Long Dim varArrayData Dim lRet As Long Dim ID As Integer '============================================================= '●処理概要 ' IU2の指定デバイスの値を取得する '============================================================= '■通信ミドルウェア通信パラメータのセット '通信パラメータセット SetDefaultPropaty '各種パラメータの設定 lType = &H80000005 '読出しデバイス種別=M lStartNum = 10 '読出し開始デバイス番号=10 lNum = 7 '読出し点数 liDataType = &H22000000 '読み出したデバイスデータ型=Bool型 'IU2通信M/W COMコール(デバイス読出し) On Error Resume Next IUComm.DeviceRead lType, lStartNum, lDBLOffSet, lNum, _ liDataType, loData, varArrayData '============================================================= '■エラーコードを取得 lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode") '============================================================= If lRet <> 0 Then MsgBox "エラーコード:" & lRet End If A-54 IU2 設計事例集 モータ検査装置 '■セルへ結果を出力する If varArrayData(1) = 1 Then Range("B5").Value = "定点特性モード" ElseIf varArrayData(2) = 1 Then Range("B5").Value = "グラフ特性モード" End If Range("B10:B14").Select Selection.Interior.ColorIndex = xlNone If varArrayData(3) = 1 Then Range("B10").Select With Selection.Interior .ColorIndex = 8 .Pattern = xlSolid .PatternColorIndex = xlAutomatic End With ID = 1 ElseIf varArrayData(4) = 1 Then Range("B11").Select With Selection.Interior .ColorIndex = 8 .Pattern = xlSolid .PatternColorIndex = xlAutomatic End With ID = 2 ElseIf varArrayData(5) = 1 Then Range("B12").Select With Selection.Interior .ColorIndex = 8 .Pattern = xlSolid .PatternColorIndex = xlAutomatic End With ID = 3 ElseIf varArrayData(6) = 1 Then Range("B13").Select With Selection.Interior .ColorIndex = 8 .Pattern = xlSolid .PatternColorIndex = xlAutomatic End With ID = 4 IU2 設計事例集 A-55 モータ検査装置 ElseIf varArrayData(7) = 1 Then Range("B14").Select With Selection.Interior .ColorIndex = 8 .Pattern = xlSolid .PatternColorIndex = xlAutomatic End With ID = 5 End If '各種パラメータの設定 lType = &H80000007 lStartNum = 20 '読出しデバイス種別=D '読出し開始デバイス番号=20 lNum = 10 '読出し点数 liDataType = &H2C000000 '読み出したデバイスデータ型=Short型 'IU2通信M/W COMコール(デバイス読出し) On Error Resume Next IUComm.DeviceRead lType, lStartNum, lDBLOffSet, lNum, _ liDataType, loData, varArrayData '============================================================= '■エラーコードを取得 lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode") '============================================================= If lRet <> 0 Then MsgBox "エラーコード:" & lRet End If A-56 IU2 設計事例集 モータ検査装置 '■セルへ結果を出力する Select Case ID Case 1 Range("C10").Value = varArrayData(1) Range("D10").Value = varArrayData(6) Case 2 Range("C11").Value = varArrayData(2) Range("D11").Value = varArrayData(7) Case 3 Range("C12").Value = varArrayData(3) Range("D12").Value = varArrayData(8) Case 4 Range("C13").Value = varArrayData(4) Range("D13").Value = varArrayData(9) Case 5 Range("C14").Value = varArrayData(5) Range("D14").Value = varArrayData(10) End Select End Sub 〇受信ボタン ''************************************************************** ''処理名称 : 指定ファイルの受信 ''処理概要 : IU2から指定のファイルを取得する ''引数 ''戻り値 : なし : なし ''*************************************************************** Private Sub File_Get_Click() Dim strFileName As String Dim strFilePath As String Dim strFullPath As String Dim strName As String Dim lRet As Long '============================================================= '●処理概要 ' IU2から指定のファイルを取得する '============================================================= IU2 設計事例集 A-57 モータ検査装置 '■通信ミドルウェア通信パラメータのセット '通信パラメータセット SetDefaultPropaty '各種パラメータセット strFilePath = Range("H5").Value strFileName = Range("H6").Value strName = Application.Substitute(strFilePath, ":\", ":\\") strFullPath = strName + "\" + strFileName If vbYes = MsgBox("ファイルを受信しますか?", vbYesNo) Then If Dir(strFullPath) = "" Then 'IU2通信M/W COMコール(ファイル受信) On Error Resume Next IUComm.FileGet strFileName, strFilePath '============================================================= '■エラーコード取得 lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode") '============================================================= If lRet = 0 Then MsgBox "ファイルを受信しました" Else MsgBox "エラーコード:" & lRet End If Else If vbYes = MsgBox("同じファイル名が在ります。" & vbcrl & "削除しますか?", vbYesNo) Then '保存先ディレクトリの同じファイル名のファイルを削除 Kill strFullPath 'IU2通信M/W COMコール(ファイル受信) On Error Resume Next IUComm.FileGet strFileName, strFilePath '============================================================= '■エラーコード取得 lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode") '============================================================= A-58 IU2 設計事例集 モータ検査装置 If lRet = 0 Then MsgBox "ファイルを受信しました" Else MsgBox "エラーコード:" & lRet End If End If End If End If End Sub 〇送信ボタン ''************************************************************** ''処理名称 : 指定ファイルを送信 ''処理概要 : IU2へ指定のファイルを送信する ''引数 ''戻り値 : なし : なし ''*************************************************************** Private Sub File_Put_Click() Dim strFileName As String Dim strFilePath As String Dim strFullPath As String Dim strName As String Dim lRet As Long '============================================================= '●処理概要 ' IU2から指定のファイルを取得する '============================================================= '■通信ミドルウェア通信パラメータのセット '通信パラメータセット SetDefaultPropaty '各種パラメータセット strFilePath = Range("H10").Value strFileName = Range("H11").Value strName = Application.Substitute(strFilePath, ":\", ":\\") strFullPath = strName + "\" + strFileName IU2 設計事例集 A-59 モータ検査装置 If vbYes = MsgBox("ファイルを送信しますか?", vbYesNo) Then 'IU2通信M/W COMコール(ファイル送信) On Error Resume Next IUComm.FilePut strFullPath '============================================================= '■エラーコード取得 lRet = IUComm.ClientProperty("ErrorCode") '============================================================= If lRet = 0 Then MsgBox "ファイルを送信しました" Else MsgBox "エラーコード:" & lRet End If End If End Sub 〇クリアボタン ''************************************************************** ''処理名称 : 画面のクリア ''処理概要 : 検査モード、OK数、NG数を初期化する ''引数 ''戻り値 : なし : なし ''*************************************************************** Private Sub Moniter_Clear_Click() If vbYes = MsgBox("クリアしますか?", vbYesNo) Then Range("B5").Value = "" Range("B10:B14").Select Selection.Interior.ColorIndex = xlNone Range("C10:D14").Value = "0" Range("J18").Select End If End Sub A-60 IU2 設計事例集 基板検査装置 もくじ 1. 検査装置の概要................................................................................................................................ B-1 2. 検査項目................................................................................................................................................. B-1 3. MELQIC導入時の特長............................................................................................................... B-2 4. システム構成 1.構成図................................................................................................................................................................. B-4 2.使用機器 ........................................................................................................................................................... B-5 3.搬送コンベヤ、ピンボード冶具の制御.................................................................................... B-5 4.シーケンサとMELQIC間の通信 .................................................................................................. B-5 5. 検査の流れ ........................................................................................................................................... B-6 6. プログラム例 1.システム設定................................................................................................................................................ B-7 2.スクリーンページ .................................................................................................................................... B-8 3.メインルーチン .......................................................................................................................................B-13 4.サブルーチン.............................................................................................................................................B-14 5.ブロックダイヤグラム......................................................................................................................B-17 6.表形式..............................................................................................................................................................B-28 7.プログラム一覧 .......................................................................................................................................B-30 基板検査装置 1. 検査装置の概要 この検査装置はマイコンを搭載した基板の検査を行います。 検査・データ収集対象基板の仕様は下記の通りです。 項 目 仕 様 電源仕様 DC 24V、0.4A 電圧測定点 24V出力、 5V出力 RS232C通信 仕様:9600bps, 8bit,stop1bit, パリティなし 内容:受信データしたデータをそのまま送信する。 入力回路仕様 フォトカプラ入力(シンク入力:LでON、HでOFF)内部で24Vにプルアップ 出力回路仕様 NPNオープンコレクタトランジスタ出力 外部にプルアップ負荷を接続する。 入力パターンと同じ出力パターンとなる。 2. 検査項目 項 目 内 容 判定方法 目視検査 検査・データ収集対象に電源を供給する前に、基板部品の誤挿入・欠品などがないか目 OK/NGタッチキーによる判定 視確認する。 電流検査 24V消費電流の測定 判定値以内 電圧確認検査 24V電圧、 5V電圧の測定 判定値以内 RS232C通信検査 ASCII文字の送受信(送信したデータが受信データと一致することでOKとする。) 送受信データ一致 入出力回路検査 入力パターンを印加し、出力パターンを測定する。 入出力データ一致 リセット電圧検査 電源電圧を低下させて基板の低電圧監視回路が働き出力がクリアされることを確認 する。 出力全点OFF IU2 設計事例集 B-1 基板検査装置 3. MELQIC導入時の特長 (1) 表形式プログラムの使用により、よりプログラム時間を削減できます。 ・プログラムを表形式(csv形式)で記述できるのでプログラム時間を削減できます。 ・表のみを表計算ソフトウェア(EXCEL等)により編集する事により、検査仕様変更への迅速な対応が可能です。 ・表(csvファイル)を追加することにより機種の追加が容易です。 TEST1.csvという表形式プ ログラムを実行します。 本検査の主たる検査内容 がここに収められていま す。 BLD5 SHEET 1 動作検査前処理 TEST1.csv SUB 動作CHECK RET TEST1.CSVの内容(抜粋) STEP 1 2 3 4 COMMENT POWER ON CURRENT P24_CHK P5_CHK 5 6 7 8 9 TX_RX_CHK0 TX_RX_CHK1 TX_RX_CHK2 TX_RX_CHK3 TX_RX_CHK4 TSEL 0 3 3 3 POWER 0 24 24 24 PWR_RLY ON ON ON ON 1 1 1 1 1 24 24 24 24 24 ON ON ON ON ON SHANT_RLY OFF OFF ON TX_NUM TXD 0x00 0x00 0x41 0x41 INPUT WAIT 0x00000000 2000 0x00000000 500 0x00000000 500 0x00000000 500 UNIT TARGET 0 0 0 0 A V V I_P24 V_P24 V_P5 1 1 1 1 1 0x41 0x42 0x43 0x44 0x45 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 HEX HEX HEX HEX HEX RXD RXD RXD RXD RXD 900 900 900 900 900 MIN MAX 0.1 23.5 4.5 EQUAL[HEX] OK/TRUE NG/FALSE 0.2 24.5 5.5 0x41 0x42 0x43 0x44 0x45 (2) シーケンサとの高い親和性 MELQICは、シーケンサ(三菱電機(株)製MELSECシーケンサ FX、A、QnA、Qシリーズ)との計算機リンク通信専用 のファンクションブロック(FB)がありますので簡単にMELSECシーケンサとデータ通信が実現できます。 (適用例) ・ 通信設定 『PLC_COM INIT』FBによりボーレート/データビット長等を設定します。 B-2 IU2 設計事例集 基板検査装置 ・ シーケンサへの書き込み例 『TEST_MODE』というデバイスタグ(データレジスタ)1個をシーケンサのデータレジスタD0へ書込みます。 PLC_COM Write Point TEST_MODE --> (POINT) タグ名 : TEST_MODE ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 PLCタイプ : FX デバイス : D インデックス : 0 局番 : 0 送信WAIT[Sec] : 0 ・ シーケンサからの読み出し例 シーケンサの M0 ~ M3 の 4bit データを読み出し、MELQIC の『PLC_START』というデバイスから、その4bit データを出力します。 PLC_COM Read Point ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 PLCタイプ : FX デバイス : M インデックス : 0 読み出しビット数 : 4 局番 : 0 送信WAIT[Sec] : 0 WORD --> BIT タグ名 : PLC_START ポイント数 : 4 (3) 複数のメインフローを登録できます。 本事例においては、 main10 を管理用フローとして、main1(動作検査)の動作管理を実施しています。 これを応用さ せ、main1、2、3・・・というように、 複数のフローを登録し管理フローにて条件判断させて、 動作させる検査プログラ ムを切り換えることが可能です。 mainは最大30個まで登録可能です。 IU2 設計事例集 B-3 基板検査装置 4. システム構成 1. 構成図 /'.3+%ᴥ+7/*#ᴦ ɬʔʷɺҋӌ ʦ˂ʓ +7'#&/ ᵻ8 оӌ ժ۰ໃ ᵻ8 ҋӌ ِްໃ ፏᎅࢃټӦɬʽʡ 4. 8 Ω 4. - 4. - 4. ໃوᡅ оҋӌʦ˂ʓ +7'&164 ཟႊоӌوᡅ оҋӌʦ˂ʓ +7'&+%2 ཟႊҋӌوᡅ %* 45%ᣮαʦ˂ʓ +7'- ɬʔʷɺоӌʦ˂ʓ ᴥటͶюᖽʦ˂ʓᴦ / +6 5 7 $ +5 *+ 45% %* ႊ#& ǽᴷM*\Ă8DKV ʨɮɽʽژ ᴥ೫౼ˁʑ˂ʉ Ֆᪿߦ៎ژᴦ ґ٢وᡅ ٢ລްཟ ढջ ( ( ( /#+0 15%+..1 (.19 .%& %74514 ( ( ( ( 4'5'6 5612 5'.'%6 %#0%'. 75$ 8٢ɁລްɂȾґ٢ Ȫȹᴾᵁ۰૰ȪɑȬ ʁ˂ɻʽɿ ( 45 % ( ( ( ( ( ( ( ( 45% ɽʽʛɹʒʟʳʍʁʯ ᝁ᮷ʑ˂ʉίސ B-4 IU2 設計事例集 ˁଂᣞɽʽʣɬɁҤॅ ˁʞʽʦ˂ʓผщɁҤॅ ˁҜްፀɁी 基板検査装置 2. 使用機器 形名 種別 保有入出力 IU2-4M10HA 本体 1MHzAD:2CH 200kHzAD:16CH IU2-2E232-38K RS-232C通信ボード RS-232C通信ポート:2CH IU2-64EDO-TR 入出力ボード フォトカプラ入力 :4CH オープンコレクタ出力:64CH IU2-64EDI-CP 入出力ボード フォトカプラ入力 :64CH オープンコレクタ出力:4CH IU2-8EAD-100M アナログ出力ボード DA出力 :8CH CMOS入力:2CH CMOS出力:2CH 3. 搬送コンベヤ、ピンボード治具の制御 ・ 下図のように、基板はコンベヤ上を移動しますが、 ストッパーによって停止させられ、ピンボード 1、ピンボード 2 にて基板 を挟み込みながら特性検査を行います。 ・ シーケンサは、基板搬送の為のコンベア制御、ストッパー制御、ピンボード治具上昇下降制御を行います。 4. シーケンサとMELQIC間の通信 ・ シーケンサのデータレジスタD0 (動作モード)が2(リモートモード)のばあいにおいて、シーケンサとMELQICは下表に示 すデバイスを介してシリアル通信を行い、シーケンサから検査スタート操作及び判定結果モニタを行います。 MELQICとシーケンサ間の通信のデバイス対応表 MELQICのデバイス シーケンサのデバイス データ TEST_MODE D0 PLC_START M0 PLC_IN_TEST M1 PLC_JUDGE M2 PLC_JUDGE_RESET M3 0 1 2 1 0 1 0 1 0 1 0 動作 自動 マニュアル リモート 検査スタート - 検査中 OK NG 判定RESET - データ方向(MELQIC動作) MELQIC→シーケンサ(書込み) MELQIC←シーケンサ(読出し) MELQIC→シーケンサ(書込み) MELQIC→シーケンサ(書込み) MELQIC←シーケンサ(読出し) ・ リモートモード(D0 = 2)のばあい、シーケンサはピンボード治具によって基板の特性検査ができたことを確認した後に M0を1にします。MELQICはM0を読出し、1の場合はM1 (検査中)に1を書込みます。検査終了時MELQICはM2(判定)を 書込み、その後M1(検査中)に0を書込みます。 IU2 設計事例集 B-5 基板検査装置 ・ シーケンサがM3(判定RESET)を1にすると、MELQICはM2(判定)に0を書込みます。シーケンサは一定時間後M3を0に します。 M0 検査中 M1 OK M2 判定 NG 判定 RESET M3 本事例においてシーケンサは FX2N-48MR を使用し、 RS232C通信設定は以下のように設定します。 プロトコル :専用プロトコル通信 データ長 :8bit、パリティ無し ストップビット:1bit、 ボーレート :19200 H/Wタイプ :RS232C サムチェック :付加する 伝送制御手順 :形式4 5. 検査の流れ スタート 目視検査 N OK? Y 電流検査 N OK? Y 電圧検査 N OK? Y RS-232C 通信検査 N OK? Y 入出力検査 及び リセット検査 N OK? Y 結果表示 エンド B-6 IU2 設計事例集 基板検査装置 6. プログラム例 1. システム設定 (1) コンフィグレーション スロット ユーザ名称 形名 _IU2_4M10HA_0 IU2-4M10HA 本体 1MHzAD:2CH 200kHzAD:16CH [0] _IU2_2E232_38K_0 IU2-2E232-38K RS-232C通信ボード RS-232C通信ポート:2CH [1] _IU2_64EDO_TR_0 IU2-64EDO-TR 入出力ボード フォトカプラ入力 :4CH オープンコレクタ出力:64CH [2] _IU2_64EDI_CP_0 IU2-64EDI-CP 入出力ボード フォトカプラ入力 :64CH オープンコレクタ出力:4CH [3] _IU2_8EAD_100M_0 IU2-18EAD-100M アナログ出力ボード DA出力 :8CH CMOS入力:2CH CMOS出力:2CH [4] vacancy 本体 種別 保有入出力 (2) I/O割付け……詳細はI/O割付け表を参照ください。・・・・・B-31~B-34 (3) CHタグ……CHタグ一覧表を参照ください。・・・・・B-35~B-40 (4) デバイスタグ……デバイスタグリストを参照ください。・・・・・B-41, B-42 IU2 設計事例集 B-7 基板検査装置 2. スクリーンページ (1) Scr1: 起動画面 (2) Scr3:検査メイン画面 ・START :基板の検査を開始します。 ・RESET :基板の検査を停止します。 ・SAVE SELECT :データ保存選択画面(Scr20)を表示します。 ・STEP SELECT :STEP選択画面(Scr21)を表示します。 ・STOP SELECT :STOP選択画面(Scr22)を表示します。 ・COUNT CLEAR :総検査数、OK数、NG数をリセットします。 ・MANUAL STEP :STEP実行時のステップ送りを行います。 ・END :検査を終了し、メイン画面(Scr1)に戻ります。 B-8 IU2 設計事例集 基板検査装置 (3) Scr10:目視検査結果選択画面 (4) Scr20:データ保存選択画面 ・破棄 :試験結果を保存しません。 ・保存 :試験結果を試験結果ファイルに保存します。 ・キャンセル:メニューを消します。 (5) Scr21:STEP選択画面 ・REMOTE :シーケンサからのスタート信号で『AUTO』が開始します。 ・AUTO :表形式プログラムのステップを続けて実行します。 ・MANUAL:表形式プログラムの1ステップが終了する毎にF7キーの入力を待ちます。 IU2 設計事例集 B-9 基板検査装置 (6) Scr22:STOP選択画面 ・FAIL STOP :判定結果がNGとなったステップで検査を終了します。 ・FAIL NON-STOP:判定結果がNGとなっても最後まで検査を実行します。 (7) Scr23:目視検査選択画面 ・実施する :目視検査結果選択画面(Scr10)を表示します。 ・実施しない:Scr10を表示しません。 (8) Scr30:通信検査表示画面 部品名 :数値表示 デバイス名:D8831 データ長 :16ビット 表示形式 :符号付き10進数 通信検査 検査ステップNo. 012 検査項目 AB 検査結果 判定 AB 部品名 :アスキー表示 デバイス名:D8836 B-10 IU2 設計事例集 送信データ 動作検査 判定値 AB 部品名 :アスキー表示 デバイス名:D8848 部品名 :アスキー表示 デバイス名:TXD OK 部品名 :コメント表示(ワード) デバイス名:D8831 開始番号 :49 部品名 :コメント表示(ワード) デバイス名:D8832 開始番号 :10 基板検査装置 (9) Scr31:入出力検査表示画面 入出力検査 部品名 :数値表示 デバイス名:D8831 データ長 :16ビット 表示形式 :符号付き10進数 検査ステップNo. 012 検査項目 ロジック入力 動作検査 01234567 検査結果 判定 01234567 OK 部品名 :数値表示 デバイス名:D8836 データ長 :32ビット 表示形式 :16進数 判定値 01234567 部品名 :数値表示 デバイス名:D8848 データ長 :32ビット 表示形式 :16進数 部品名 :数値表示 デバイス名:D40 データ長 :32ビット 表示形式 :16進数 部品名 :コメント表示(ワード) デバイス名:D8831 開始番号 :49 部品名 :コメント表示(ワード) デバイス名:D8832 開始番号 :10 (10) Scr32:電圧検査表示画面 電圧検査 検査ステップNo. 部品名 :数値表示 デバイス名:D8831 データ長 :16ビット 表示形式 :符号付き10進数 012 検査項目 部品名 :コメント表示(ワード) デバイス名:D8831 開始番号 :49 動作検査 規格最大値 規格最小値 01.345 01.345 部品名 :数値表示 デバイス名:D8844 データ長 :32ビット 表示形式 :実数 検査結果 01.345 部品名 :数値表示 デバイス名:D8840 データ長 :32ビット 表示形式 :実数 判定 OK 部品名 :コメント表示(ワード) デバイス名:D8832 開始番号 :10 部品名 :数値表示 デバイス名:D8836 データ長 :32ビット 表示形式 :実数 (11)Scr90:OK画面 IU2 設計事例集 B-11 基板検査装置 (12) Scr91:NG画面 (13)Scr100:プログラム終了画面 Mainフローを停止しました。 再開する場合はリセット、又は電源の再投入を行ってください。 B-12 IU2 設計事例集 基板検査装置 3. メインルーチン (1) Main1:基板検査フロー リモートモードの場合は、 シーケンサへ検査中である ことを知らせます。 デバイスの初期化 を行います。 T T START 基板検査 目視検査は、オーバ ーラップウィンドウ で、ダイアログを表 示してOK/NGタッチ キーで良否を判定し ます。 CALL SUB1 目視検査 BLD42 1 リモートテスト中 BLD7 1 初期化処理 M13が0なら目視検査を 実施し、1なら目視検 査を飛ばします。 M13は検査スタート前 にF10キーによる目視 検査選択ダイアログで 実施有無の選択を行い ます。 F F M13==0 TEST_MODE==2 CALL CALL SUB2 動作チェック SUB4 終了処理 表形式プログラムに よる動作チェックで す。検査の内容によ り、電圧確認検査・ RS232C通信検査・入 出力回路検査ありま す。 目視検査と動作チェ ックの結果から総合 判定を行います。 END (2) Main10:動作管理……メインフローの動作管理を行います。 START 動作管理 CALL CALL SUB100 初期化処理 SUB101 アイドル処理 AFLOW1 BLD110 D8500==3 バックグランド処理 T ベース画面が画面3(検査画面)の間、常にファンク ションキー(F1~F16)の状態を監視します。監視結 果は、タッチキーの状態と共にD100(検査動作指示) として更新されます BLD116 D8600==0x0200 試験時間積算 AFLOW2 D100(検査動作指示)の状態に従って、メインルーチ ン1(Main1)の動作を制御します。 F 検査時間測定: D8600(メインルーチン1~16のRUN/STOP状態)を観 察し、メインルーチン1と10(Main1,Main10)がRUN 状態の間の時間を積算することで、検査に要した時 間を計測します。 D8600==0x0201 試験時間クリア 1 AFLOW3 BLD121 1 PLC_MONITOR 500 ms IU2 設計事例集 B-13 基板検査装置 4. サブルーチン (1) Sub1:目視検査 目視検査用のダイ アログボックスの OKとNGのいずれか のキーが押される のを待ちます。 デバイスの初期化 を行います。 目視検査用のダイアロ グボックス(Scr 10) を表示します。 T SUB 目視検査 目視検査用のダイ アログボックスを 消します。 BLD12 1 目視検査チェック BLD7 BLD10 1 初期化処理 1 目視検査前処理 F M32==1 判定入力待ち T T F BLD13 M30==1 1 NG処理 F M12==1 目視検査がOKなら M30が1、NGならM30 が0になります。 STOP条件(M12) を確認します。 BLD14 D8500==0x0200 FAIL STOP処理 STOP条件がFAIL STOP の場合、ここでメイ ンルーチン1(Main1) を停止します。 (2) Sub2:動作CHECK 表形式プログラムTEST1.CSVを 実行します。本検査の主たる 検査内容がここに収められて います。 SUB 動作CHECK AFLOW1 BLD5 SHEET 1 動作検査前処理 TEST1.csv RET 常にRS232Cでの送受信を実施します。 BLD2 0 動作検査処理 AFLOW2 BLD3 検査項目の種類により、オーバーラップ画面で 表示するフォーマットを選んで表示させます。 1 測定内容別表示 AFLOW3 BLD4 1 動作試験処理2 B-14 IU2 設計事例集 被検査物へのDIGITAL信号入出力とP24電圧とP5 電圧等の測定を行います。 電源電圧の設定も行います。 RET 基板検査装置 (3) Sub4:終了処理……検査終了処理と判定表示を行います。 表計式プログラムの全 判定結果(D8833)が1の ときOK。 目視検査結果、動作検 査結果がともにOKのと き総合判定OK。 1 M30=1のときOK。 動作検査結果 BLD40 目視検査結果 T 1 総合判定OK処理 200 ms T SUB F 終了処理 F BLD41 1 総合判定NG処理 D8833==1 M30==1 1 RET BLD43 1 MAIN_FLOW1終了処理 200 ms (4) Sub100:初期処理……プログラムの初期化処理を行います。 SUB 初期処理 RET BLD1 1 内部レジスタ初期化 (5) Sub101:アイドル処理 SUB アイドル処理 1 1 2 2 3 3 4 4 Def CALL RET SUB102 検査プログラム中アイドル処理 BLD113 1 終了処理 D20 IU2 設計事例集 B-15 基板検査装置 (6) Sub102:検査プログラム中アイドル処理 F9キーがおされていると M8008は1になります。 T 1 F9によるSTART処理 SUB 検査プログラム 中アイドル処理 F M8008==1 タッチキーとファンクシ ョンキーの状態のORデー タが入っているD100の内 容で分岐します。 1 1 2 2 3 4 4 8 5 16 BLD101 6 32 7 64 1 リセット処理 8 128 9 256 10 512 1 START処理 BLD101 F2キーまたはRESETタッチキーで検査を中断しま す。 BLD102 F3キーまたはSAVE SELECTタッチキーで、検査デ ータをCFに保存する/しないを選択します。 BLD103 F4またはSTEP SELECTタッチキーで検査動作モー ド(オート/マニュアル)を選択します。 BLD102 M20==1 保存選択 Def BLD103 BLD119 BLD108 M21==1 STEP選択 1 TEST_MODE書込み 1 画面表示後処理 BLD104 M22==1 STOP選択 BLD105 1 統計データクリア BLD106 1 NEXT BLD107 T F BLD108 オーバーラップ画面で表示したダイアログを消去 します。 BLD104 F5キーまたはSTOP SELECTタッチキーで検査終了 の方法を選択します。FAIL STOPはNG発生時に検 査を完了し、FAIL NON STOPはOK/NGにかかわらず 検査最終ステップまで継続します。 BLD105 F6キーあるいはCOUNT CLEARタッチキーで、総検 査数/OK数/NG数の積算をクリアします。 BLD106 STEP条件がMANUALの時に、F7キーで次のSTEPに 移ります。(NEXTタッチキーは無効です) BLD107 F8キーあるいはENDタッチキーでメインフルーチ ン1を終了し、起動画面(Scr1)に戻ります。 BLD118 BLD118 F10キーで、目視検査の実施有無を選択します。 BLD120 1 START処理 (TEST_MODE==2)&&(PLC_START==1) RET 1 END M23==1 目視検査選択 IU2 設計事例集 BLD100 F1キーあるいはSTARTタッチキーで検査を開始(メ インルーチン1を開始)します。 BLD100 D100 B-16 BLD117 F9キーでも検査スタートします。(隠れスタート キー) BLD117 基板検査装置 5. ブロックダイヤグラム (1) Bld1:内部レジスタ初期化 通信用レジスタ初期化 画面表示レジスタ初期化 特殊デバイス初期化 100 RS232C Clear RS232C Init Baud Rate: 9600 Number of Data Bits: 8 Stop Bit: 1 Parity: 偶数 Flow Control: なし 0 DataType: BOOL 8602 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) Device Name: D DataType: 16 ビット整数 8500 1 DataType: 16 ビット整数 STEPキー割り付け 0 7 DataType: 16 ビット整数 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) Device Name: D DataType: 16 ビット整数 8501 8820 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 0 DataType: BOOL JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) Device Name: D DataType: 16 ビット整数 PLC_COM Init ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 ボーレート : 19200 データビット : 8 ストップビット : 1 パリティ : なし タイムアウト[Sec] : 5 伝聞WAIT : 0 制御手順 : 4 サムチェック : ON フロー制御 : None 0 DataType: BOOL JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) Device Name: M DataType: 16 ビット整数 DataType: BOOL 0 JDEVICE (POINT) Device Name: M DataType: 16 ビット整数 0 DataType: BOOL JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) Device Name: M DataType: 16 ビット整数 条件設定用I/O初期化 DataType: BOOL JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) Device Name: M DataType: 16 ビット整数 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A0 DataType: BOOL JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) Device Name: M DataType: 16 ビット整数 DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A1 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Tag Name: PWR_RLY Device Name: D 8812 JDEVICE (POINT) JDEVICE (POINT) 0 Device Name: M DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 8813 20 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) 0 DataType: BOOL Device Name: D DataType: 16 ビット整数 JDEVICE (POINT) 0 Device Name: D 8811 22 0 Device Name: D 8810 21 0 Device Name: D 8802 20 RS-232Cによるシーケンサ との通信をIU2-2E232-38K 基板のCH1で行う為の準備 を行います。 Device Name: D 8801 JDEVICE (POINT) 12 0 Device Name: M 8800 11 シーケンサ通信初期化 Device Name: M 8641 10 MANUAL時F7を押す Device Name: D 8640 Device Name: D 8814 JDEVICE (POINT) 0 Device Name: D DataType: 16 ビット整数 8815 JDEVICE (POINT) 0 Device Name: D DataType: 16 ビット整数 13 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M 8820 7 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 汎用レジスタ初期化 0 1 DataType: BOOL 5 JDEVICE (POINT) 0 Device Name: M DataType: 16 ビット整数 1 0 DataType: 16 ビット整数 DataType: 16 ビット整数 0 Device Name: M DataType: 16 ビット整数 DataType: 16 ビット整数 JDEVICE (POINT) 0 Device Name: M DataType: 16 ビット整数 JDEVICE (POINT) Device Name: M Device Name: M JDEVICE (POINT) 0 Device Name: D DataType: 16 ビット整数 Device Name: M JDEVICE (POINT) 0 Device Name: D DataType: 16 ビット整数 8 DataType: 16 ビット整数 Device Name: M 102 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) 101 7 通信コマンド番号 DataType: 16 ビット整数 Device Name: M JDEVICE (POINT) 3 0 0 6 JDEVICE (POINT) 2 0 15 JDEVICE (POINT) 103 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) Device Name: M DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 9 4 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: M 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: M IU2 設計事例集 B-17 基板検査装置 (2) Bld2:動作検査処理……RS-232Cによる検査・データ収集対象基板との通信処理を行います。 TXDタグで示されるDCレジスタデバイスアレイを IU2-2E232-38KボードのCH0に送信します。 1 2E232-38K Send DEVICEJ (ARRAY) Tag Name: TXD Board Name: _IU2_2E232_38K_0 CH Number: 0 Send time out [sec]: 0 Synch 2E232-38K Receive 17 1 JDEVICE (ARRAY) --> RXD (POINT) DC17 --> (POINT) デバイス名 : DC 0 Board Name: _IU2_2E232_38K_0 CH Number: 0 Receive time out [sec]: 1 Receive maximum bytes: 16 1 17 Transition タグ名 : RXD デバイス名 : DC IU2-2E232-38KボードのCH0が受信したデータを”RXD”デバイスタグ で示されるDCレジスタデバイスアレイに格納します。 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (3) Bld3:測定内容別表示……STEP毎に表示する画面のフォーマットを選択してOK/NG表示をします。 DEVICEJ (POINT) 30 Tag Name: TSEL 0 DataType: 16 ビット整数 1 DataType: 16 ビット整数 2 DataType: 16 ビット整数 3 DataType: 16 ビット整数 B-18 IU2 設計事例集 Compare 8501 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 条件比較:入力1 =入力2 Compare 30 8501 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 条件比較:入力1 =入力2 Compare 31 8501 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 条件比較:入力1 =入力2 Compare 32 DataType: 16 ビット整数 8501 JDEVICE (POINT) Device Name: D 条件比較:入力1 =入力2 基板検査装置 (4) Bld4:動作検査処理2 検査・データ収集対象基板へのデジタル入出力信号、5V電源、24V電源等の測定、および電源電圧の設定を行います。 ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ژɋɁໃ٢ᜫް ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ژɋɁ&+)+6#.αհоҋӌ 8EDA- 100M Analog Output [V] ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ژɋɁ&+)+6#.αհоҋӌ᚜ᇉɁȲɔ&Ⱦɕɽʞ˂ȪɑȬǿ ↓ POWER ( POINT) Divide p ջA+7A'&#A/A %* Ⴍհ ↓ ↓ WORD INPUT (POINT) BIT xջ219'4 LONG D[n],D[n+1] 3.0 xջ +0276 ↓ 40 p ټo๙Ӧߴୣཟ ᄽоӌୣ BIT ↓ WORD ↓ DEVICE ( POINT) 6CI0COG 176276 42 ↓ LONG D[n],D [n+1] 3 ↓ 2٢Ǿ2ᴲ٢ລްȻ2៵ํɁລް DEVICE (POINT) Multiply &CVC6[RGo๙Ӧߴୣཟ CH3 2ɂǾʰʕʚ˂ɿʵژюȺȾґ٢Ȫȹȗ ɞɁȺລްϏȾɥ̋አȪȹʑ˂ʉɥಐጞȪɑȬǿ 44 GetNewData [V] ↓ FLOAT D[n],D[ n+1] DEVICE (POINT) ↓ CH2 6CI0COG 8 A2 GetNewData [V] 6CI0COG 8 A 2 46 ↓ FLOAT D[n],D[n+1] DEVICE (POINT ) ↓ 30 Multiply p ټo๙Ӧߴୣཟ xջ+A2 48 GetNewData [V] FLOAT D[n],D[n+1] ↓ CH4 2Ɂ៵ํɂǾʰʕʚ˂ɿʵژюȺĞʁ ʭʽʒɁ˵ብ٢ɥȾґ٢ȪȹȗɞɁ ȺລްϏȾɥ̋አȪȹʑ˂ʉɥಐጞȪɑȬǿ (5) Bld5:動作検査前処理 105 1 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL デバイス名 : D IU2 設計事例集 B-19 基板検査装置 (6) Bld7:内部レジスタ初期化(試験毎) RS232C Init RS232C Clear 条件設定用I/Oの初期化 10 Baud Rate: 9600 Number of Data Bits: 8 Stop Bit: 1 Parity: 偶数 Flow Control: なし 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 画面表示レジスタの初期化 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 108 8500 3 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 8501 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 8502 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A0 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A1 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 0 JDEVICE (POINT) JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Tag Name: PWR_RLY 0 DataType: 16 ビット整数 Device Name: M 8 (7) Bld10:目視検査前処理……Scr10を表示します。 30 JDEVICE (POINT) 0 Device Name: M DataType: BOOL 31 8501 10 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D JDEVICE (POINT) 0 Device Name: M DataType: BOOL 32 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M (8) Bld12:目視検査後処理……Scr10を消します。 ダイアログ消去 8501 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D (9) Bld13:目視検査NG 総合判定NG 10 B-20 ダイアログ表示 1 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D IU2 設計事例集 105 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: D 基板検査装置 (10)Bld14:目視Fail Stop 総合判定NG 101 101 8502 91 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D JDEVICE (POINT) Increment DEVICEJ (POINT) Device Name: D Device Name: D 103 103 JDEVICE (POINT) Increment DEVICEJ (POINT) Device Name: D Device Name: D メインフローのRESET 8602 JDEVICE (POINT) リセットモード 0 Device Name: D DataType: BOOL 8640 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M 0 1 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M (11)Bld40:総合判定OK OK画面表示 --> PLC_JUDGE (POINT) 1 8502 90 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 PLC_COM Write Point ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 PLCタイプ : FX デバイス : M インデックス : 2 書き込みビット数 : 1 局番 : 0 送信WAIT[Sec] : 0 SUMインクリメント 101 101 DEVICEJ (POINT) タグ名 : PLC_JUDGE JDEVICE (POINT) Increment Device Name: D Device Name: D OKインクリメント 102 102 DEVICEJ (POINT) Increment JDEVICE (POINT) Device Name: D Device Name: D (12)Bld41:総合判定NG NG画面表示 0 8502 91 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 101 DEVICEJ (POINT) タグ名 : PLC_JUDGE PLC_COM Write Point SUMインクリメント 101 --> PLC_JUDGE (POINT) JDEVICE (POINT) Increment Device Name: D Device Name: D ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 PLCタイプ : FX デバイス : M インデックス : 2 書き込みビット数 : 1 局番 : 0 送信WAIT[Sec] : 0 NGインクリメント 103 103 DEVICEJ (POINT) Device Name: D Increment JDEVICE (POINT) Device Name: D IU2 設計事例集 B-21 基板検査装置 (13)Bld42:リモートテスト中……リモートモードの場合、シーケンサへ検査中であることを知らせます。 --> PLC_IN_TEST (POINT) 1 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : PLC_IN_TEST PLCへ書込み BIT --> WORD --> PLC_JUDGE (POINT) 0 タグ名 : PLC_JUDGE データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 PLC_COM Write Point タグ名 : PLC_IN_TEST ポイント数 : 2 PLC_IN_TEST=1、PLC_JUDGE=0に設定 ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 PLCタイプ : FX デバイス : M インデックス : 1 書き込みビット数 : 2 局番 : 0 送信WAIT[Sec] : 0 (14)Bld43:MAIN_FLOW1終了処理 ᵊCKPʟʷ˂Ɂ4'5'6 8602 D8602 (POINT) ↓ ʴʅʍʒʬ˂ʓ 0 r} ջ& &CVC6[RG$11. 8640 ↓ M8640 (POINT) 0 r} ջ/ &CVC6[RG$11. 0 M0 (POINT) &CVC6[RG$11. r} ջ/ ↓ 1 ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ژɋɁໃɥҒɞ ↓ PWR_RLY (POINT) 0 xջ294A4.; ↓ &CVC6[RG$11. PLC_IN_TEST (POINT) xջ2.%A+0A6'56 PLC_COM Write Point ೫౼˹ɥ֞Ȭɞʁ˂ɻʽ ɿɁ/Ⱦᴥɬɮʓʵ˹ᴦ ɥంȠᣅɒɑȬǿ pջA+7A'A-A %*Ⴍհ 2.%r(: r}/ rox} ంȠᣅɒoୣ ࠈႭ ᣞα9#+6=5GE? 3 (ARRAY) xջ%*'%-A07/ %*'%-A07/Ǿ1-A07/Ǿ0)A07/ Ɂʑ˂ʉɥ2.%Ɂ&ᵻ&Ⱦం ȠᣅɒɑȬǿ B-22 IU2 設計事例集 PLC_COM Write ARRAY ↓ CHECK_NUM pջA+7A'A-A %*Ⴍհ 2.%r(: r}& rox} ంȠᣅɒཟୣ ࠈႭ prDKV ᣞα9#+6=5GE? 基板検査装置 (15)Bld100:START処理……F1キーまたはSTARTキーで検査(Main1)を開始します。 START/STOPボタン 押下処理 Mainフロー START/STOP処理 0 0 8602 JDEVICE (POINT) Not DEVICEJ (POINT) 1 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D Device Name: M Device Name: M 100 8640 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 0 JDEVICE (POINT) DEVICEJ (POINT) Device Name: M Device Name: M (16)Bld101:リセット処理……F2キーまたはRESETキーで検査を中断します。 1 1 検査プログラムのRESET JDEVICE (POINT) Not DEVICEJ (POINT) 8602 Device Name: M Device Name: M 100 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: D 8640 8502 JDEVICE (POINT) 0 0 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M 0 1 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M Device Name: D DataType: 16 ビット整数 (17) Bld102:データ保存選択画面表示 F3キーまたはSAVE SELECTキーで検査データをCFに保存/保存しないを選択します。 8501 20 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 0 8801 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 2 2 DEVICEJ (POINT) JDEVICE (POINT) Not 10 Device Name: M Device Name: M 8502 JDEVICE (POINT) 0 Device Name: D DataType: 16 ビット整数 DEVICEJ (POINT) Not Device Name: M 1 8801 DataType: 16 ビット整数 JDEVICE (POINT) Device Name: D (18)Bld103:STEP選択画面表示……F4キーまたはSTEP SELECTキーで検査モード(AUTO/MANU)を選択します。 8501 21 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 3 3 DEVICEJ (POINT) JDEVICE (POINT) Not Device Name: M Device Name: M 8502 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D IU2 設計事例集 B-23 基板検査装置 (19)Bld104:STOP選択画面表示……F5キーまたはSTOP SELECTキーで検査終了の方法を選択します。 8501 22 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 4 4 DEVICEJ (POINT) JDEVICE (POINT) Not Device Name: M Device Name: M 8502 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D (20)Bld105:データクリア……F6キーまたはCOUNT CLEARキーで総試験数/OK数/NG数の積算をクリアします。 101 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 102 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 103 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 100 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 5 5 DEVICEJ (POINT) JDEVICE (POINT) Not Device Name: M Device Name: M (21)Bld106:NEXT処理……STEP条件がMANUALのときにF7キーで次のステップに移ります。 6 6 DEVICEJ (POINT) Not Device Name: M Device Name: M ストップ選択画面表示 B-24 IU2 設計事例集 JDEVICE (POINT) 基板検査装置 (22)Bld107:END処理……F8キーまたはENDキーでMain1を終了し、起動画面(Scr1)へ戻ります。 7 7 条件設定用I/Oの初期化 JDEVICE (POINT) Not DEVICEJ (POINT) JDEVICE (POINT) 0 Device Name: M Device Name: M DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A0 8602 リセットモード 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: D 検査プログラムの終了 JDEVICE (POINT) 0 DataType: 16 ビット整数 Tag Name: WAVE_GENERATOR_A1 8640 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M 0 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Tag Name: PWR_RLY DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 100 8501 JDEVICE (POINT) メイン画面の表示 0 メインフローのRESET Device Name: D DataType: 16 ビット整数 15 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M 8500 1 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 20 8502 0 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D DataType: BOOL Device Name: D (23)Bld108:画面表示後処理 ボタンステータス クリア 検査ステータスの更新 20 8801 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M 10 JDEVICE (POINT) DEVICEJ (POINT) Device Name: M Device Name: M 21 8800 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M 11 JDEVICE (POINT) DEVICEJ (POINT) Device Name: M Device Name: M 22 8802 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M 12 JDEVICE (POINT) DEVICEJ (POINT) Device Name: M Device Name: M 23 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M オーバラップウィンドウクローズ メイン画面ボタンステータスクリア 100 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 8501 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D IU2 設計事例集 B-25 基板検査装置 (24)Bld110:バックグランド処理 Functionキー BIT L WORD 110 JDEVICE (POINT) Device Name: D キーステータス反映 100 100 DEVICEJ (POINT) JDEVICE (POINT) Or Device Name: D 110 Device Name: D DEVICEJ (POINT) Device Name: D (25)Bld113:フロー全終了 リセットモード 8602 終了画面の表示 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: D DataType: 16 ビット整数 Device Name: D JDEVICE (POINT) 100 JDEVICE (POINT) Device Name: M DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 0 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL デバイス名 : M DataType: BOOL デバイス名 : M メインフロー1の終了 8640 0 DataType: BOOL 8500 8649 メインフロー10の終了 15 100 20 0 JDEVICE (POINT) 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D DataType: BOOL Device Name: D (26)Bld116:検査時間積算 108 1 JDEVICE (POINT) Add DataType: 16 ビット整数 108 Device Name: D DEVICEJ (POINT) Device Name: D 8054 Pulse DEVICEJ (POINT) Device Name: M Pulse Action Setup: 立ち上がり、立下り両方でパルス信号出力 (27)Bld117:F9によるSTART処理 100 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D Mainフロー START/STOP処理 8602 JDEVICE (POINT) 1 Main1続行 Device Name: D DataType: 16 ビット整数 8640 B-26 8501 0 1 JDEVICE (POINT) DataType: BOOL Device Name: M IU2 設計事例集 Main1スタート指令ON 基板検査装置 (28)Bld118:目視検査選択……F10キーで、目視検査の実施有無を選択します。 目視検査選択画面表示 8501 23 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D 8502 0 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D (29)Bld119:TEST_MODE書込み TEST_MODEをシーケンサのD0に書込み PLC_COM Write Point TEST_MODE --> (POINT) ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 PLCタイプ : FX デバイス : D インデックス : 0 局番 : 0 送信WAIT[Sec] : 0 タグ名 : TEST_MODE (30)Bld120:シーケンサによるSTART処理 8602 1 JDEVICE (POINT) DataType: 16 ビット整数 Device Name: D D8602(メインルーチン1~6の継続/リセット) を『継続』にします。 8640 JDEVICE (POINT) 1 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 メインルーチン1の起動 Device Name: M (31)Bld121:シーケンサ モニタ TEST_MODE書込み後、シーケンサの M0~M3レジスタを読出します。読 出しのデータ型はSHORT型です。 読出したSHORT型のデータをPLC_START、 PLC_IN_TEST、PLC_JUDGE、 PLC_JUDGE_RESET というデバイスタグにビット展開します。 WORD --> BIT PLC_COM Read Point タグ名 : PLC_START ポイント数 : 4 ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 PLCタイプ : FX デバイス : M インデックス : 0 読み出しビット数 : 4 局番 : 0 送信WAIT[Sec] : 0 PLC_JUDGE_ RESE... --> (POINT) タグ名 : PLC_JUDGE_RESET 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 PLC_COM Write Point シーケンサがPLC_JUDGE_RESETを1にした場合、シー ケンサのM2に0を書込みします。 →次にこのBLD21を処理する時に、シーケンサ のM2が読込まれPLC_JUDGEが0になります。 ボード名 : _IU2_2E232_38K_0 CH 番号 : 1 PLCタイプ : FX デバイス : M インデックス : 2 書き込みビット数 : 1 局番 : 0 送信WAIT[Sec] : 0 IU2 設計事例集 B-27 B-28 IU2 設計事例集 TEST_A_bit13_ON TEST_A_bit14_ON TEST_A_bit15_ON TEST_A_bit16_ON TEST_A_bit17_ON 29 30 31 32 TEST_A_bit12_ON 27 28 TEST_A_bit11_ON 26 TEST_A_bit2_ON 17 TEST_A_bit10_ON TEST_A_bit1_ON 16 25 TEST_A_bit0_ON 15 TEST_A_bit9_ON TEST_A_all_OFF TEST_A_bit8_ON TX_RX_CHK8 13 14 23 TX_RX_CHK7 12 24 TX_RX_CHK6 11 TEST_A_bit7_ON TX_RX_CHK5 10 TEST_A_bit6_ON TX_RX_CHK4 9 22 TX_RX_CHK3 8 21 TX_RX_CHK2 7 TEST_A_bit5_ON TX_RX_CHK1 6 20 TX_RX_CHK0 5 TEST_A_bit3_ON P5_CHK 4 TEST_A_bit4_ON P24_CHK 3 19 CURRENT 2 18 POWER ON COMMENT 1 STEP TEST_1…基板検査 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 1 1 1 1 1 1 1 1 1 3 3 3 0 TSEL 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 0 POWER ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON PWR_RLY ON OFF OFF SHANT_RLY TXD 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x48 1 0x47 1 0x46 1 0x45 1 0x44 1 0x43 1 0x42 1 0x41 0 0x41 0 0x41 0 0x00 0 0x00 TX_NUM 0x00020000 0x00010000 0x00008000 0x00004000 0x00002000 0x00001000 0x00000800 0x00000400 0x00000200 0x00000100 0x00000080 0x00000040 0x00000020 0x00000010 0x00000008 0x00000004 0x00000002 0x00000001 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 0x00000000 INPUT V V A UNIT 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 900 HEX 900 HEX 900 HEX 900 HEX 900 HEX 900 HEX 900 HEX 900 HEX 900 HEX 500 500 500 2000 WAIT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT RXD RXD RXD RXD RXD RXD RXD RXD RXD V_P5 V_P24 I_P24 TARGET 4.5 23.5 0.1 MIN 5.5 24.5 0.2 MAX 0x00020000 0x00010000 0x00008000 0x00004000 0x00002000 0x00001000 0x00000800 0x00000400 0x00000200 0x00000100 0x00000080 0x00000040 0x00000020 0x00000010 0x00000008 0x00000004 0x00000002 0x00000001 0x00000000 0x41 0x48 0x47 0x46 0x45 0x44 0x43 0x42 0x41 EQUAL[HEX] OK/TRUE NG/FALSE 基板検査装置 6. 表形式 TEST_A_bit26_ON TEST_A_bit27_ON TEST_A_bit28_ON TEST_A_bit29_ON TEST_A_bit30_ON TEST_A_bit31_ON TEST_A_even_ON TEST_A_odd_ON TEST_A_all_ON RESET_IN TEST_A_all_OFF 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 38 TEST_A_bit24_ON TEST_A_bit23_ON 37 TEST_A_bit25_ON TEST_A_bit22_ON 36 40 TEST_A_bit21_ON 35 39 TEST_A_bit19_ON TEST_A_bit20_ON 34 TEST_A_bit18_ON COMMENT 33 STEP 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 TSEL 0 8 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 POWER OFF ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON ON PWR_RLY OFF SHANT_RLY TXD 1 0 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 1 0x41 TX_NUM 0 0x00000000 0xffffffff 0xaaaaaaaa 0x55555555 0x80000000 0x40000000 0x20000000 0x10000000 0x08000000 0x04000000 0x02000000 0x01000000 0x00800000 0x00400000 0x00200000 0x00100000 0x00080000 0x00040000 INPUT UNIT 100 HEX 1000 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX 100 HEX WAIT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT OUTPUT TARGET MIN MAX 0 0xffffffff 0xffffffff 0xaaaaaaaa 0x55555555 0x80000000 0x40000000 0x20000000 0x10000000 0x08000000 0x04000000 0x02000000 0x01000000 0x00800000 0x00400000 0x00200000 0x00100000 0x00080000 0x00040000 EQUAL[HEX] OK/TRUE NG/FALSE 基板検査装置 IU2 設計事例集 B-29 基板検査装置 7. プログラム一覧 (1) プログラム一覧 区分 システム ページ プログラムページ 内容 ページ Sys1 システム設定 B-7 Scr1 起動画面 B-8 Scr3 検査メイン画面 B-8 Scr10 目視検査結果選択画面 B-9 Scr20 データ保存選択画面 B-9 Scr21 STEP選択画面 B-9 Scr22 STOP選択画面 B-10 スクリーン Scr23 ページ 目視検査選択画面 B-10 Scr30 通信検査表示画面 B-10 Scr31 入出力検査表示画面 B-11 Scr32 電圧検査表示画面 B-11 Scr90 OK画面 B-11 Scr91 NG画面 B-12 Scr100 プログラム終了画面 B-12 Main1 基板検査フロー B-13 Main10 動作管理 B-13 Sub1 目視検査 B-14 Sub2 動作CHECK B-14 Sub4 終了処理 B-15 Sub100 初期処理 B-15 Sub101 アイドル処理 B-15 Sub102 検査プログラム中アイド ル処理 B-16 Bld1 内部レジスタ初期化 B-17 Bld2 動作検査処理 B-18 Bld3 測定内容別表示 B-18 Bld4 動作検査処理2 B-19 Bld5 動作検査前処理 B-19 Bld7 内部レジスタ初期化(試験 毎) B-20 目視検査前処理 B-20 目視検査後処理 B-20 Bld13 目視検査NG B-20 Bld14 目視Fail Stop B-21 Bld40 総合判定OK B-21 Bld41 総合判定NG B-21 Bld42 リモートテスト中 B-22 Bld43 MAIN_FLOW1終了処理 B-22 メイン ルーチン サブ ルーチン BLD Bld10 プログラム Bld12 B-30 IU2 設計事例集 区分 プログラムページ ページ Bld100 START処理 B-23 Bld101 リセット処理 B-23 Bld102 データ保存選択画面表示 B-23 Bld103 STEP選択画面表示 B-23 Bld104 STOP選択画面表示 B-24 Bld105 データクリア B-24 Bld106 NEXT処理 B-24 Bld107 END処理 B-25 画面表示後処理 B-25 バックグランド処理 B-26 Bld113 フロー全終了 B-26 Bld116 検査時間積算 B-26 Bld117 F9によるSTART処理 B-26 Bld118 目視検査選択 B-27 Bld119 TEST_MODE書込み B-27 Bld120 シーケンサによるSTART B-27 処理 Bld121 シーケンサ モニタ B-27 TEST_1 基板検査 B-28 BLD Bld108 プログラム Bld110 SHEET ファイル 内容 _IU2_2E232 _38K_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 [0] [1] [1] [2] [2] [3] [3] [3] M7999 M9999 D7999 D9999 X63 X255 X31719 Y63 Y255 Y31719 D10127 DBL 255 DB30719 DC30719 DS30719 DL30719 DF30719 DD30719 M0 M8000 D0 D8000 X0 X64 X1000 Y0 Y64 Y1000 D10000 DBL 0 DB0 DC0 DS0 DL0 DF0 DD0 先頭 アドレス I/O割付け一覧 _IU2_4M10HA_0 本体内蔵 スロット I/O割付け設定 IOMap 1 - 最終 アドレス ユーサ ゙名称 [1] [2] スロット 出力 2 入力 2 DA8 出力 4 入力 64 出力 64 入力 4 Serial 2 AD18 入出力 割付 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDI _CP_0 無 無 無 無 有 有 無 無 X0-X255 Y0-Y255 割付先 デバイス ユーサ ゙名称 割付 データ型 64 64 割付点数 出力 入力 0 0 入出力 先頭 アドレス 64 64 63 63 割付点数 最終 アドレス 基板検査装置 (2) I/O割付け表 IU2 設計事例集 B-31 B-32 [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 1CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 2CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 3CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 4CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 5CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 6CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 7CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 8CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 9CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 10CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 11CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 12CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 13CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 14CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 15CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 16CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 17CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 18CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 19CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 20CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 21CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 22CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 23CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 24CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 25CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 26CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 27CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 28CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 29CH X1 X2 X3 X4 X5 X6 X7 X8 X9 X10 X11 X12 X13 X14 X15 X16 X17 X18 X19 X20 X21 X22 X23 X24 X25 X26 X27 X28 X29 I/O割付 (スロット :ユーザ名称 :入出力 :CH番号 ) [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 0CH デバイスタク ゙ X0 アドレス デバイス確認<X0-X255> IOMap 2 - IU2 設計事例集 X60 X59 X58 X57 X56 X55 X54 X53 X52 X51 X50 X49 X48 X47 X46 X45 X44 X43 X42 X41 X40 X39 X38 X37 X36 X35 X34 X33 X32 X31 X30 アドレス デバイスタク ゙ I/O割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH番号 ) [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 60CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 59CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 58CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 57CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 56CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 55CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 54CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 53CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 52CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 51CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 50CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 49CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 48CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 47CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 46CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 45CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 44CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 43CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 42CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 41CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 40CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 39CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 38CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 37CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 36CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 35CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 34CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 33CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 32CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 31CH [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 30CH 基板検査装置 デバイスタク ゙ [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 13CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 14CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 15CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 16CH Y13 Y14 Y15 Y16 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 22CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 12CH Y12 Y22 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 11CH Y11 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 21CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 10CH Y10 Y21 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 9CH Y9 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 20CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 8CH Y8 Y20 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 7CH Y7 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 19CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 6CH Y6 Y19 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 5CH Y5 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 18CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 4CH Y4 Y18 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 3CH Y3 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 17CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 2CH Y2 Y17 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 1CH Y1 I/O割付 (スロット :ユーザ名称 :入出力 :CH番号 ) [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 0CH デバイスタク ゙ Y0 アドレス デバイス確認<Y0-Y255> アドレス I/O割付 (スロット :ユーザ名称 :入出力 :CH番号 ) [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 63CH X63 デバイス確認<X1000-X31719> [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 62CH X62 I/O割付 (スロット :ユーザ名称 :入出力 :CH番号 ) [2] : _IU2_64EDI _CP_0 : 入力 : 61CH デバイスタク ゙ X61 アドレス IOMap 3 I/O割付 (スロット :ユーサ ゙名称 :入出力 :CH番号 ) [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 30CH Y30 WAVE _GENERATOR _A1 PWR _RLY SHANT _RLY Y33 Y34 Y35 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 39CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 44CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 48CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 49CH Y48 Y49 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 53CH Y53 IU2 設計事例集 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 58CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 59CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 57CH Y58 Y59 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 56CH Y57 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 55CH Y56 Y55 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 54CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 52CH Y52 Y54 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 51CH Y51 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 50CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 47CH Y47 Y50 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 46CH Y46 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 45CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 43CH Y44 Y45 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 42CH Y43 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 41CH Y42 Y41 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 40CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 38CH Y39 Y40 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 37CH Y38 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 36CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 35CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 34CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 33CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 32CH Y37 Y36 WAVE _GENERATOR _A0 Y32 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 31CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 29CH Y31 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 28CH Y29 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 27CH Y28 Y27 [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 26CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 24CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 23CH [1] : _IU2_64EDO _TR_0 : 出力 : 25CH デバイスタク ゙ Y26 アドレス Y25 Y24 Y23 基板検査装置 B-33 B-34 IU2 設計事例集 [1] : _IU2_64EDO_TR_0 : 出力 : 63CH Y63 デバイスタグ アドレス デバイスタグ デバイス確認<D10000-D10127> アドレス I/O割付(スロット:ユーザ名称:入出力:CH番号) I/O割付(スロット:ユーザ名称:入出力:CH番号) [1] : _IU2_64EDO_TR_0 : 出力 : 62CH Y62 デバイス確認<Y1000-Y31719> [1] : _IU2_64EDO_TR_0 : 出力 : 61CH Y61 I/O割付(スロット:ユーザ名称:入出力:CH番号) [1] : _IU2_64EDO_TR_0 : 出力 : 60CH デバイスタグ Y60 アドレス IOMap4 - 基板検査装置 _IU2_4M10HA_0 _IU2_4M10HA_0 _IU2_4M10HA_0 _IU2_4M10HA_0 _IU2_4M10HA_0 _IU2_4M10HA_0 _IU2_2E232 _38K_0 _IU2_2E232 _38K_0 _IU2_64EDO _TR_0 本体 本体 本体 本体 本体 本体 [0] [0] [1] IU2 設計事例集 [1] _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_4M10HA_0 本体 [1] _IU2_4M10HA_0 本体 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_4M10HA_0 本体 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_4M10HA_0 本体 [1] _IU2_4M10HA_0 本体 [1] _IU2_4M10HA_0 本体 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_4M10HA_0 本体 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_4M10HA_0 本体 [1] _IU2_4M10HA_0 本体 [1] _IU2_4M10HA_0 本体 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_4M10HA_0 本体 [1] _IU2_4M10HA_0 スロット CHタグ 本体 CHタグ確認 CHタグ一覧 ChTag 1 - ユーサ ゙名称 スロット 出力 出力 出力 出力 入力 入力 入力 入力 Serial Serial AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD 入出力 3 2 1 0 3 2 1 0 1 0 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 ユーサ ゙名称 CH番号 入出力 CHタグ CH番号 コメント コメント 基板検査装置 (3) CHタグ一覧 B-35 B-36 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] スロット ChTag 2 ユーサ ゙名称 IU2 設計事例集 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 入出力 34 33 32 31 30 29 28 27 26 25 24 23 22 21 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 CH番号 CHタグ コメント 基板検査装置 IU2 設計事例集 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDO _TR_0 _IU2_64EDI _CP_0 [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [2] _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDO _TR_0 [1] [2] _IU2_64EDO _TR_0 [1] スロット ChTag 3 ユーサ ゙名称 入力 入力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 入出力 1 0 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49 48 47 46 45 44 43 42 41 40 39 38 37 36 35 CH番号 CHタグ コメント 基板検査装置 B-37 B-38 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] スロット ChTag 4 ユーサ ゙名称 IU2 設計事例集 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入出力 32 31 30 29 28 27 26 25 24 23 22 21 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 CH番号 CHタグ コメント 基板検査装置 IU2 設計事例集 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] [2] _ IU 2_ 64 EDI _ CP _0 _IU2_64EDI _CP_0 [2] [ 2] _IU2_64EDI _CP_0 [2] スロット ChTag 5 ユーサ ゙名称 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入出力 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49 48 47 46 45 44 43 42 41 40 39 38 37 36 35 34 33 CH番号 CHタグ コメント 基板検査装置 B-39 B-40 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_64EDI _CP_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 _IU2_8EDA _100 M_0 [2] [2] [2] [2] [3] [3] [3] [3] [3] [3] [3] [3] [3] [3] [3] [3] スロット ChTag 6 ユーサ ゙名称 IU2 設計事例集 出力 出力 入力 入力 DA DA DA DA DA DA DA DA 出力 出力 出力 出力 入出力 1 0 1 0 7 6 5 4 3 2 1 0 3 2 1 0 CH番号 CHタグ コメント 基板検査装置 RESET SAVE _SEL STEP _SEL STOP _SEL COUNT _CLR NEXT END _BUTTON NEXT _DISP OK_NG SAVE _FLG STEP _FLG STOP _FLG MAIN _MENU DATA _STORE _SELECT STEP _SELECT STOP _SELECT MOKUSHI _SELECT MOKUSHI _OK MOKUSHI _NG MOKUSHI _END PLC _START PLC _IN_TEST PLC _JUDGE PLC _JUDGE _RESET M1 M2 M3 M4 M5 M6 M7 M8 M9 M10 M11 M12 M15 M20 M21 M22 M23 M30 M31 M32 M50 M51 M52 M53 IU2 設計事例集 TSEL D50 MAIN _SEL TX_NUM D2 D100 TEST _MODE D0 アドレス デバイスタグ確認<D0-D7999> アドレス デバイスタク ゙確認<M8000-M9999> START M0 アドレス デバイスタグ確認<M0-M7999> デバイスタク ゙ デバイスタク ゙一覧 DevTag 1 - デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ 割付先 デバイスアト ゙レス コメント コメント 1:FAIL NON -STOP コメント TEST _MODE 0:AUTO /1:MANU /2:REMOTE PLC _JUDGE _END (M3) PLC _JUDGE (M2) PLC _IN_TEST (M1) PLC _START (M0) 目視入力確認 目視検査 NG 目視検査 OK 目視検査選択 ボタン STOP 選択 ボタン STEP 選択 ボタン データ 選択 ボタン MAIN _MENU ボタン 押下確認 STOP 選択 0:FAILSTOP STEP 選択 0:AUTO 1:MANUAL データ 保存 0:破棄 1:保存 OK/NG 確認 ボタン NEXT ボタン 表示 /非表示選択 END ボタン NEXT ボタン COUNT _CLR ボタン STOP _SEL ボタン STEP _SEL ボタン SAVE _SEL ボタン RESET ボタン START ボタン コメント SampleData UpperLimit LowerLimit D151 D152 アドレス SHANT _RLY PWR _RLY WAVE _GENERATOR _A1 WAVE _GENERATOR _A0 アドレス デバイスタグ確認<DB0-DB30719> アドレス デバイスタグ確認<DBL0-DBL255> アドレス デバイスタク ゙確認<D10000-D10127> アドレス デバイスタグ確認<Y1000-Y31719> Y35 Y34 Y33 Y32 デバイスタク ゙確認 <Y0-Y255> アドレス デバイスタグ確認<X1000-X31719> アドレス デバイスタグ確認<X0-X255> アドレス デバイスタグ確認<D8000-D9999> NG_NUM D150 OK_NUM D102 D103 CHECK _NUM アドレス D101 デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ デバイスタク ゙ コメント コメント コメント コメント コメント コメント コメント コメント コメント 基板検査装置 (4) デバイスタグリスト B-41 B-42 IU2 設計事例集 RXD DC16 OUTPUT DL1 V_P5 I_P24 POWER DF1 DF2 DF16 アドレス デバイスタグ確認<DD0-DD30719> V_P24 DF0 アドレス デバイスタグ確認<DF0-DF30719> INPUT DL0 アドレス デバイスタグ確認<DL0-DL30719> アドレス デバイスタグ確認<DS0-DS30719> TXD DC0 アドレス デバイスタグ確認<DC0-DC30719> DevTag2 - デバイスタグ デバイスタグ デバイスタグ デバイスタグ デバイスタグ コメント コメント コメント コメント コメント 基板検査装置 圧力センサ検査装置 もくじ 1. 圧力センサの概要 1.機能....................................................................................................................................................................... C-1 2.特性....................................................................................................................................................................... C-1 2. 検査内容 1.圧力センサの圧力もれ検査(リーク検査)........................................................................... C-1 2.圧力センサの応答性検査 ................................................................................................................... C-2 3. MELQIC採用の検査装置 1.MELQIC導入時の特長......................................................................................................................... C-3 2.検査装置の構成 .......................................................................................................................................... C-5 3.検査の流れ...................................................................................................................................................... C-6 4. プログラム例 1.システム設定................................................................................................................................................ C-8 2.スクリーンページ .................................................................................................................................... C-9 3.メインルーチン ...................................................................................................................................... C-14 4.サブルーチン............................................................................................................................................ C-14 5.ブロックダイヤグラム……BLD.............................................................................................. C-20 6.表形式............................................................................................................................................................. C-39 7.プログラム一覧 ...................................................................................................................................... C-41 圧力センサ検査装置 1. 圧力センサの概要 1. 機能 圧力導入口に通じる密閉空間に圧力検出用素子が配置さ れ、密閉空間に導入された圧力と大気圧の差に対応したア ナログ電圧を出力するものです。 2. 特性 大気圧を基準として、 圧力導入口に導入される圧力と大気 圧の差に対応した直流電圧を出力します。 出力電圧 Vout(V) 4 2.5 1 0 (大気圧) -50 50 気圧(差圧、mmHg) 2. 検査内容 1. 圧力センサの圧力もれ検査(リーク検査) (1) 圧力センサと圧力測定器に同一圧力を印加し、圧力 測定器の出力電圧を測定します。 圧力発生器 (2) 圧力導入弁を閉じで所定時間待ちます。 (3) 所定時間経過後の圧力測定器の出力電圧を測定し ます。 バルブ1: 開→閉 (4) 出力電圧の変化より圧力の変化を求め、所定の圧力 変化以内にあるかどうかを判定します。 圧力測定器 出力電圧(Vout)を 測定 圧力センサ IU2 設計事例集 C-1 圧力センサ検査装置 2. 圧力センサの応答性検査 (1) 加圧応答性検査 圧力を急激に印加したときの検査・データ収集対象センサの出力電圧を測定し、所定の出力電圧 (VthL - VthH) を横 切る時間を測定します。 開 バルブ 1 圧力発生器 閉 バルブ 2 バルブ 1 (500ms) 開 バルブ 2 閉 → 大気開放 圧力発生器 の発生圧力 圧力測定器 Vout 時間を計測 出力電圧(Vout)を測定 圧力センサ (2) 減圧応答性検査 圧力を印加後、 急激に大気開放したときの出力電圧を測定し、 所定の出力電圧値(VthH - VthL) を横切る時間を測定 します。 バルブ 1 開 閉 (500ms) バルブ 2 閉 開(大気開放) 圧力発生器 の発生圧力 Vout 時間 を計測 加圧応答性 減圧応答性 VthH (3.5V) V out V out VthH (3.5V) VthL (1.5V) VthL (1.5V) T1 T2 (0) (100) (200) (300) 時間(ms) C-2 IU2 設計事例集 T3 (10) (20) T4 (30) 時間(ms) 圧力センサ検査装置 3. MELQIC採用の検査装置 1. MELQIC導入時の特長 (1) アナログデータ集録処理が容易です。 【Bld253, 303】 高速、汎用のデータ集録専用のFBがあります。これらを組合わせることにより少ないプログラム量でアナログデータ のサンプリング機能が容易に実現できます。 ① 1 CH0 High-Speed DAQ データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 集録CH : CH0 サンプリング周波数[Hz] CH0 , CH1 : 1000 サンプリング周波数[Hz] CH2~CH17 : 200000 集録時間[Sec] : 1 プリトリガー時間[Sec] : 0.1 トリガー種別 : トリガーなし ロックモード[Sec] : 0 DAQ --> ANALOG --> _Daq_Err_Flag_. .. (POINT) ② ③ Transition --> _Daq_Data_1 タグ名 : _Daq_Data_1 ④ タグ名 : _Daq_Err_Flag_1 ⑤ Wait Transition Wait 時間[ms] : 0 〔処理説明〕 記載箇所 ① 処理内容 備考 サンプリング周期1000Hzで1sec間データを集録する様に設定します。 (1000点のデータが収集されます。) 入力の1は実 行指示 ②③ ①で集録したデータを型変換し_Daq_Data_1という名前のデータブロックに保存します。 ④⑤ データ集録時のエラーフラグの処理を行います。 (⑤はタイミング調整用) (2) グラフ表示が簡単にできます。 【Scr4~5】 変数グラフ表示専用FBがあります。必要な情報を設定することで簡単にグラフ表示ができます。 (上記はIU Developer画面上の表示イメージです。) IU2 設計事例集 C-3 圧力センサ検査装置 (3) マルチタスクプログラムが簡単にできます。 【Sub5~6】 並進分岐というフローツールを準備しております。この機能を使用することで並列処理プログラムを簡単に設定す ることができます。 並進分岐 BLD 252 1 加圧 後処理 後処理 BLD 253 1 テ ゙ータ 集録 最大 32個の分岐 が可能 です 。 (“加圧制御 ”と“データ 集録 ”を実行 する 例です 。) (4) フラッシュメモリのファイルが簡単に検査装置へ読出しできます。 【Bld30~33】 パソコンで作成した設定値ファイルがフラッシュメモリ (PCMCIA カード)を介して簡単に検査装置へ読出しできま す。 ① ② _Value_File_ na...--> タグ名:_Value_File_name ReadFile (TEXT) 読出データ ③ 10 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名:_File_Read_Err 〔処理説明〕 記載箇所 C-4 処理内容 ① 読出ファイル名を指定します。 ② ①で指定したファイルの10行目を読出します。 ③ ファイル読出し時のエラー発生時のフラグ処理を行います。 IU2 設計事例集 (次の処理へ) 圧力センサ検査装置 2. 検査装置の構成 (1) 構成図 /'.3+%ᴥ+7/*#ᴦ ʃʉ˂ʒαհ ൡሗҒఉαհ Ҝްፀαհ оҋӌʦ˂ʓ +7'&+1%264 ٢ӌ͎αհ ɬʔʷɺҋӌʦ˂ʓ +7'&#/ Ă8DKV ٢ӌᄉႆب ᵻ8 ٢ӌລްب ᄉႆ٢ӌʬʕʉႊᴦ ʚʵʠ ᮠӦوᡅ ʚʵʠ ۾ᩒ ᵻ8 ႊ#&ᴷM*\Ă8DKV ʚʵʠ ٢ӌລްب ɬʔʷɺоӌʦ˂ʓ ᴥటͶюᖽᴦ ʚʵʠᴷ٢ӌԱӏᴬ߈ᩐႊ ʚʵʠᴷ٢ӌԱӏᴬ۾ᩒႊ ٢ӌʅʽɿລްႊᴦ 10ᴷʚʵʠᩒ 1((ᴷʚʵʠᩐ ᯚᣱ#&ᴷ/*\Ă8DKV ᵻ8 ٢ӌʅʽɿҋӌ٢ ᚱ೫౼ ٢ӌʅʽɿ 8 ໃ٢ / +65 7$ +5* + ढջ ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ႊ ໃ ( ( ( /#+0 15%+..1 (.19 .%& %74514 ( ( ( ( 4'5'6 5612 5'.'%6 %#0%'. 75$ ( 45 % ( ( ( ( ( ( ( ( (2) 使用機器 形名 種別 保有入出力 IU2-4M10HA 本体 1MHzAD:2CH 200kHzAD:16CH IU2-16EDIO-CPTR 入出力ボード フォトカプラ入力:16CH オープンコレクタ出力:16CH IU2-8EDA-100M アナログ出力ボード 汎用DA:8CH CMOS入出力:各2CH IU2 設計事例集 C-5 圧力センサ検査装置 3. 検査の流れ (1) 検査の全体フロー……検査時間:約31s 検査 の全体 フロー 検査装置 の 電源 をON 機種 を選択 検査開始 ? Y 電源電圧 が規定値 以外 の場合電源 を OFF する 。 圧力 センサ の 電源 をON 電源電圧 が 規定値以内 か? N 圧力 センサ の 電源 をOFF 処理時間 :約3s Y 圧力 もれ 検査 加圧応答性 検査 処理時間 :約9s(待機時間含む) 減圧応答性 検査 処理時間 :約9s(待機時間含む) 検査結果 を PCカード へ出力 Y 検査 を継続 するか ? N 終了 C-6 IU2 設計事例集 処理時間 :約10s(待機時間 8s含む) 圧力センサ検査装置 (2) 圧力もれ検査 圧力もれ検査 バルブ1開放 バルブ2遮断 圧力発生器で 圧力発生 圧力発生器の 発生圧力測定 圧力測定器1で圧力発生器の圧力を測定 規定の圧力値 になったか? N 規定の圧力になるまで待機 Y バルブ1遮断 圧力センサ測定用 圧力測定器の 出力電圧(V1)測定 所定時間計測 圧力センサ測定用 圧力測定器の 出力電圧(V2)測定 |V1-V2| バルブ1を遮断し、直後の圧力測 定器2の出力電圧(V1)を測定 所定時間(8s)待機する 圧力測定器2の出力電圧(V2)を測定 |V1-V2|を演算し、圧力換算し て所定の範囲かどうか判定する 終了 (3) 応答性検査 加圧応答性検査 減圧応答性検査 バルブ1、2遮断 バルブ1開放 バルブ2遮断 圧力発生器 で 圧力発生 圧力発生器 の 発生圧力測定 規定の圧力値 になったか ? 圧力発生器 で 圧力発生 圧力測定器 1で圧力発生器 の圧力を測定 N 規定の圧力になるまで 待機 圧力発生器 の 発生圧力測定 規定の圧力値 になったか ? 圧力測定器 1で圧力発生器 の圧力を測定 N 規定の圧力になるまで 待機 Y 圧力センサ測定用 圧力測定器器 の 出力電圧測定開始 Y 圧力測定器 2の出力電圧 の測定を開始する バルブ1を開く 応答時間算出 終了 圧力センサ測定用 圧力測定器器 の 出力電圧測定開始 圧力測定器 2の出力電圧 の測定を開始する バルブ2を開く 圧力測定器 2の出力電圧 がVthL→VthH (1.5V→3.5V)となる時間を測定し、所 定の範囲かどうか 判定する 応答時間算出 圧力測定器 2の出力電圧 がVthH→VthL (3.5V→1.5V)となる時間を測定し、所 定の範囲かどうか 判定する 終了 IU2 設計事例集 C-7 圧力センサ検査装置 4. プログラム例 1. システム設定 (1) コンフィグレーション スロット ユーザ名称 形名 種別 _IU2_4M10HA_0 IU2-4M10HA 本体 1MHzAD:2CH 200kHzAD:16CH [0] _IU2_16EDIO_CPTR_0 IU2-16EDIO-CPTR 入出力ボード フォトカプラ入力:16CH オープンコレクタ出力:16CH [1] _IU2_8EDA_100M_0 IU2-8EDA-100M アナログ出力ボード 汎用DA:8CH CMOS入出力:各2CH [2] vacancy [3] vacancy 本体 (2) I/O割付け……詳細はI/O割付け表を参照ください。……C-42~C-44 (3) CHタグ……CHタグ一覧を参照ください。……C-45~C-47 (4) デバイスタグ……デバイスタグリストを参照ください。……C-48~C-54 C-8 保有入出力 IU2 設計事例集 圧力センサ検査装置 2. スクリーンページ (1) Scr1:操作メニュー画面……検査装置の操作内容を設定する画面です。 ・試験開始:試験開始スイッチ ・MANU :試験モードのAUTO/MANUを切り替えます。 ・設定 :条件設定画面に切り替わります。 ・確認 :エラー表示画面に切り替わります。 (2) Scr2:電源電圧検査画面……検査の進行状況を表示します。 ・終了 :試験を終了し操作メニュー画面へ戻ります。 ・MANU START:MANUモード時の開始スイッチ。 ・>> :MANUモード時の画面送りスイッチ。 IU2 設計事例集 C-9 圧力センサ検査装置 (3) Scr3:圧力もれ検査画面……検査の進行状況を表示します。 (4) Scr4:加圧応答性検査画面……検査の進行状況を表示します。 ・グラフ:検査中の圧力変化を表示します。 C-10 IU2 設計事例集 圧力センサ検査装置 (5) Scr5:減圧応答性検査画面……検査の進行状況を表示します。 (6) Scr10:検査結果表示画面 IU2 設計事例集 C-11 圧力センサ検査装置 ① ② ③ ④ ⑤ ⑥ ⑦ ⑧ 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _Vcc _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _Vcc _L_DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _Vcc _H _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _L_Pa _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _L_Pa _min _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _L _Pa _max _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _L_Time _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _R _Pa _DF 表示形式 :実数 ⑨ ⑩ ⑪ ⑫ ⑬ ⑭ ⑮ ⑯ (7) Scr100:条件設定画面……検査装置の動作条件を設定します。 C-12 IU2 設計事例集 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _R _Vth_L_DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _R _Vth_H _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _R _Time _min _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Value _R _Time _max _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_Vcc _Data _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_L_Result_Data _DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_R _Result_Data 1_DF 表示形式 :実数 部品名 :数値表示 デバイス 名:_R _Result_Data 2_DF 表示形式 :実数 圧力センサ検査装置 (8) Scr200:エラー表示画面……エラー発生時の確認画面です。 IU2 設計事例集 C-13 圧力センサ検査装置 3. メインルーチン (1) Main1:圧力センサ試験フロー 電源検電圧 検査開始? 検査開始? ② T CALL T START 圧力セ サ 試験 ン フロー F もれ検査 を実施 T SUB3 電源電圧測定 F 加圧応答性 検査開始? T CALL CALL SUB2 初期化-2(TEMPクリア他) CALL SUB1 初期化-1 もれ検査開始? 電源電圧 検査を実施 (_Start_Step_1==1)&&(_Start_Master==1) SUB4 圧力もれ検査 F F (_Start_Step_3==1)&&(_Start_Master==1) (_Start_Step_2==1)&&(_Start_Master==1) (_Start_Step_0==1)&&(_Start_Master==1) T ① ③ T Jump_M1_1 ③ F _Start_Master==0 T Jump_M1_1 ③ F _Start_Master==0 Jump_M1_1 F _Start_Master==0 Jump_M1_1 減圧応答性 検査開始? 加圧応答性 検査を実施 T CALL SUB5 加圧応答性検査 F 減圧応答性 検査を実施 出力信号 を初期化 CALL CALL CALL CALL SUB6 減圧応答性検査 SUB7 出力初期化 SUB8 結果出力 SUB9 結果保存 (_Start_Step_4==1)&&(_Start_Master==1) T ③ 検査結果をPC カードへ出力 全検査の結果 をまとめて総 合検査結果を 出力(DO) Jump_M1_1 AFLOW1 ③ CALL CALL CALL SUB21 画面切換え制御 SUB22 動作モニタ (1) Sub1:初期化-1……判定値、試験ステップ制御フラグ、エラーフラグ等の初期化 SUB C-14 IU2 設計事例集 F ①検査開始を監視し、開始条件が整えば次の処理に遷移します。 ・検査開始後は終了するまでこの条件は成立したままとしています。 ・各検査ステップも同様に遷移を制御しています。 ②検査が1回完了する毎に結果のクリア等を行います。 ・PCカードから検査条件読出しも行います。 ③ 『終了』操作を画面からされた場合に、遷移状態を検査開始画面に戻 します。 4. サブルーチン 判定値などの初期化 Jump_M1_1 _Start_Master==0 SUB20 条件設定/機種表示 初期化-1 F T F 検査モードAUTO時の外 部信号による起動やエ ラー情報の集約 検査モードAUTO時の 画面移行制御 T (_Start_Step_5==1)&&(_Start_Master==1) _Start_Master==0 検査モードAUTO時に 検査が自動遷移する ためのフラグ制御と 機種表示を実施。 検査続行? 試験ステップ制御フラグやエラー フラグ等の初期化 BLD1 BLD2 1 初期化1/2 1 初期化2/2 RET 圧力センサ検査装置 (2) Sub2:初期化-2……判定データ、検査遷移情報、検査ステップ等の初期化 判定データの初期クリア (継続検査用) SUB 初期化-2 (TEMPクリア他) 検査ステップを 1(電源電圧検査) にセット 画面毎の検査遷移 情報表示の初期化 設定/結果保存ファイ ル名のメモリの初期化 BLD100 BLD101 BLD102 BLD104 1 判定データクリア 1 検査ステータスクリア(全画面) 1 検査STEP情報=1 Set 1 ファイル名格納メモリクリア 1 0 2 1 BLD10 BLD30 1 ファイル名指定model0 3 2 4 3 5 4 6 5 BLD12 7 6 8 7 1 ファイル名指定model2 9 8 10 9 1 設定ファイル読出し1/4 BLD11 1 ファイル名指定model1 BLD31 指定されたファイル 名に従い、設定ファ イル(検査条件)の 読出しを実施 1 設定ファイル読出し2/4 BLD13 1 ファイル名指定model2 BLD14 Def 1 ファイル名指定model4 _Model BLD32 1 設定ファイル読出し3/4 BLD15 1 ファイル名指定model5 BLD16 1 ファイル名指定model6 RET BLD33 1 設定ファイル読出し4/4 BLD17 1 ファイル名指定model7 BLD18 1 ファイル名指定model8 BLD19 1 ファイル名指定model9 機種番号【_Model】の情報に従い、対応する設定読出ファイルと検査結果保存用ファイル の名称を指定します。 ※機種は0~9までに対応し、各々に対応したファイル名を指定して動作します。 ※設定ファイルはあらかじめPCカード内に保存されている必要があります。 (3) Sub3:電源電圧測定……被測定センサの電源電圧を測定します。 ໃ٢ɥລް 57$ ໃ٢ລް 5*''6 $.& 6'56 AEUX ೫౼ໄ϶ ೫౼ፀᜤ᧸ 6'56AEUX 56'2ᴷҋӌৰɁқఙԇɥᚐȗɑȬǿ 56'2ᴷໃްϏɥҋӌȪɑȬǿ ǽǽǽǽȊໃԱӏȋɁ႕ᬂ᚜ᇉɥᚐȗɑȬǿ ǽǽǽǽǽǽᴥֆᴷާްᩖʉɮʨᴦ 56'2ᴷȊ٢ລްȋɁ႕ᬂ᚜ᇉᚐȗɑȬǿ 56'2ᴷȊҜްȋɁ႕ᬂ᚜ᇉɥᚐȗɑȬǿ 56'2ᵻ ᴷፀҜްɁѿျɥᚐȗɑȬǿ 56'2ƂԱӏ٢ȟɁکնȊ0)ȋɥ ᚜ᇉȪԱӏໃɥɹʴɬȪ ɑȬǿ 56'2Ƃລް٢ȟްኰٍюȞȼ șȞɥᆬᝓȪɑȬǿ 56'2ᵻ ƂҜްϏɥʅʍʒȪɑȬǿ ೫౼ʃʐʍʡɁষڨɥ ɮʽɹʴʫʽʒ 6 $.& OU 4'6 ೫౼56'2 ষڨᴨ ( ACWVQAOCPW ೫౼pȟ#761ɁکնǾ೫౼ީ̘ऻǾԴ႕ᬂȟ ᒲӦᤢሉȬɞɁɥᄻȺȠɞɛș᚜ᇉᩖɥᜫ ȤȹȕɝɑȬǿ Ɔյ೫౼ީ̘ऻȾҜްɥᝓȬɞ॒ᛵȟȽȗ کնǾȦɁґɂ˪ᛵȺȬǿᴥ͏˩պറᴦ Ȍาᴮȍ ȦɁख़ႊɁʡʷɺʳʪȾȝȗȹɂǾ&#ҋӌብފȞɜژໄ٢ɥҋӌȪǾȦɁҋӌ ٢ɥໃ٢ȻȪȹȝɝɑȬǿ᪨Ⱦ೫౼ᚽᏚɥഫȬɞکնǾ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ ៎ᛏֿȾఊᤛȽ٢ɥᄉႆȬɞໃᚽᏚɥΈႊȪǾȦɁ٢ɥژໄཟ٢ȻȪɑȬǿ IU2 設計事例集 C-15 圧力センサ検査装置 (4) Sub4:圧力もれ検査 ໃ೫౼ȟ0)ȺȕȶȲ ȞȼșȞɥҜްǿ0)Ɂ کնɂట೫౼ɥʃɷʍ ʡǿ͏˩պറ ް٢ȾȽɞ Ɂɥᄶ Ȋ۾٢ᩒơӏ٢ȋ Ɂ႕ᬂ᚜ᇉȻʚʵʠɁ Ҥॅ қఙԇ Ȋ߈ᩐơᆬᝓ˹ȋ Ɂ႕ᬂ᚜ᇉȻʚʵ ʠɁҤॅ 6 ( 57$ ٢ӌɕɟ೫౼ $.& 5*''6 $.& қఙԇ 6'56AEUX ٢ӌɕɟ೫౼ ٢ӌᄉႆ 6 ߈ᩐᄽऻɁᚱ೫౼ʅʽ ɿɋɁ٢ӌລް ᜫްϏȾिȗ ӏ٢Ȍาᴮȍ 5*''6 $.& 6'56AEUX ٢ӌɕɟ೫౼ ລްᴥᩒܿᴦ ( 6 ,WOR A5 A A8CNWGA.A2CAVGORA&(A'&#A&CVCA%*^^ A2A5MKR ,WOR A5 A A4GUWNVA A'TTA5MKRA25A6GUV ( A5VCTVA/CUVGT ᆬᝓᩖɑȺɁʉɮʪɬʍʡɥʋɱʍɹ 6 $.& ೫౼ʃʐʍʡɁষڨɥ ɮʽɹʴʫʽʒ A6GUVA.A6KOGAKPE OU ,WOR A5 A 6 ( 5*''6 $.& A8CNWGA.A6KOGA&( A6GUVA.A6KOG 6'56 AEUX ລްᴥӏ٢ऻᴦ ٢ӌɕɟ ೫౼ ḧ $.& $.& ࢃ٢አᵻҜް Ḩ ೫౼56'2 ᴨ OU ( ḩ ACWVQAOCPW ,WOR A5 A 4'6 ḧʉɮʪɬʍʡऻɁᚱ೫౼ʅʽɿɋɁ٢ӌລް ḨລްऻɁȊҜްȋ႕ᬂ᚜ᇉȻʚʵʠɁҤॅ ḩ߈ᩐᄽऻɁ٢ӌȻްᩖጽᤈऻɁ٢ӌɁࢃɥʴ˂ɹᦀȻȪǾᜫްϏюȾȕɞȞȼșȞɥҜް ȌาᴮȍȦɁख़ႊɁʡʷɺʳʪȾȝȗȹɂǾ&#ҋӌብފȞɜژໄ٢ɥҋӌȬɞȦȻȺӏ٢ѿျȻȪȹȝɝɑȬǿ ᪨Ⱦ೫౼ᚽᏚɥഫȬɞکնǾژໄ٢ȺᄾछɁ٢ӌɥ೫౼ˁʑ˂ʉՖᪿߦ៎ȾߦȪȹᄉႆȺȠɞ٢ӌᄉ ႆᚽᏚȟ॒ᛵȻȽɝɑȬǿ߸ǾM2Cᴺ8ȾްȪȹȕɝɑȬǿᴥоӌɕպറᴦ (5) Sub5:加圧応答性検査 加圧および『加 圧⇒計測』画面 の表示 指定圧になる のを監視。 F SUB 加圧応答性検査 初期化 『大気開放→準備』 の画面表示 BLD250 SHEET BLD251 1 初期化 TEST_31.csv 加圧応答性検査 1 圧力発生 設定値に 従い加圧 BLD252 T T 1 加圧 F BLD253 (_Value_R_Pa_Temp_DF==_8EDA_Data_CH00)||(_P_Skip==0) (_Result_0==2)&&(_Err_Skip_PS_Test==1) データ集録 Jump_S5_1 1 データ集録 Jump_S5_1 グラフ表示動機 タイマ T 2 F _Daq_Err_Flag_1==1 グラフを停止 サンプル数×サンプリング周期で 求めた時間を元に判定処理を実施 BLD254 BLD255 BLD257 BLD258 1 グラフスタート _Daq_Data_Index_1>1000 加圧結果確認 1 グラフストップ 1 時間計算~判定処理 100 ms グラフ表示を スタート データ収集状況を 監視し、エラー時 は処理を中断 Jump_S5_1 5 T BLD480 1000 ms F _auto_manu==1 C-16 IU2 設計事例集 収集データから指定 圧力内のサンプル数 をカウント 1 検査STEP情報+1 RET 圧力センサ検査装置 (6) Sub6:減圧応答性検査 BLD302 T F BLD300 SHEET BLD301 1 初期化 TEST_32.csv 減圧応答性検査 1 圧力発生 SUB 減圧応答性検査 T 1 減圧 F BLD303 (_Value_R_Pa_Temp_DF==_8EDA_Data_CH00)||(_P_Skip==0) (_Result_0==2)&&(_Err_Skip_PS_Test==1) 1 データ集録 Jump_S6_1 T Jump_S6_1 4 F _Daq_Err_Flag_2==1 BLD304 BLD305 BLD307 BLD308 1 グラフスタート _Daq_Data_Index_2>1000 減圧結果判定 1 グラフストップ 1 時間計算~判定処理 100 ms Jump_S6_1 5 T BLD480 1000 ms RET 1 検査STEP情報+1 F _auto_manu==1 【注】基本的な動作は加圧応答検査と同じです。 ※加圧応答性検査は圧力センサに対して大気圧から指定圧まで瞬時に加圧した際の特性を検査します。 これに対して、減圧応答性検査は指定圧力を加圧した状態から大気圧まで瞬時に変化させた場合の特を検査します。 (7) Sub7:出力初期化……次の検査のために出力の初期化を行います。 出力の初期化 SUB 出力初期化 BLD481 RET 1 アナログ出力初期化 (8) Sub8:結果出力……各検査の判定結果を出力します。 各検査の判定結果 をまとめて出力 SUB 結果出力 BLD350 RET 1 判定結果出力 IU2 設計事例集 C-17 圧力センサ検査装置 (9) Sub9:結果保存……結果をPCカードに保存します。 PCカードに検査結果を 保存するための準備 (CR/LFコード準備) PCカードに検査結果を 保存するための準備 (データ準備) PCカードへの書込処理 の実施 BLD400 BLD401 BLD402 1 結果保存準備1 1 結果保存準備2 1 保存実行 SUB 結果保存 RET (10)Sub20:条件設定/機種表示 機種表示処理 MANUモード時、各ステ ップで停止させるため にフラグをOFFする F F 条件設定/機種 表示 1 表示機種設定 BLD453 1 Step_ALl_OFF SUB RET BLD450 T T _Model<0||_Model>9 _auto_manu==1 BLD452 BLD454 BLD451 1 Step_ALl_ON 1 機種No読込 1 機種設定無し表示 AUTOモード時、各ステ ップで停止させないた めにフラグをONする AUTOモード時、機種 NoをDIからみ込む (11)Sub21:画面切換え制御……AUTOモードでかつ検査実行中の画面切替え制御を行います。 F RET SUB 画面切換え制御 T _auto_manu==1 T F 1 0 2 1 2 4 3 5 4 BLD461 6 5 1 電源電圧測定画面指定(AUTO) Def BLD462 _Test_Step ※テストSTEP情報は各検査プログ ラム内で、その終了直前にイン クリメントされています。 ※検査モードがMANUの場合は画面 の『>>』スイッチで画面切替 えを行います。 RET 1 操作メニュー画面指定(AUTO) 3 _Start_Master==1 検査モードがAUTOでかつ検査実行 中の画面切替え制御を行います。 切替のための情報はテストSTEP情 報によります。 BLD460 RET RET 1 圧力もれ検査画面指定(AUTO) BLD463 RET 1 加圧応答性検査画面指定(AUTO) BLD464 RET 1 減圧応答性検査画面指定(AUTO) BLD465 RET 1 検査結果表示画面指定(AUTO) BLD466 RET 1 エラー画面指定(AUTO) RET C-18 IU2 設計事例集 圧力センサ検査装置 (12)Sub22:動作モニタ 装置の起動状態 (RUN/STOP)を出力 SUB 動作モニタ もれ/応答検査でセンサ の入力値を表示させるた めの電圧→圧力変換 エラー監視項目の集約 BLD470 BLD472 BLD473 1 プログラム実行状態出力 1 Sensorモニタ 1 エラーモニタ T BLD471 RET 1 自動起動処理(外部信号) T F F _Auto_Mode==1 _Auto_Manu==1 RET AUTOモード時の外部起動信号(DI)による起動処理フラグの処理 ※AUTOモード場合でも、条件設定画面でAUTO時起動信号を『画面操作』 にして おくことで 画面から起動できます。この場合は検査を自動で 1回だけ最後まで行います。 IU2 設計事例集 C-19 圧力センサ検査装置 5. ブロックダイヤグラム……BLD (1) Bld1:初期化-1……データ(フラグ類)を初期化 --> _Start_Master (POINT) 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 0 タグ名 : _Start_Master データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 --> _Value_Vcc_D F (POINT) タグ名 : _Value_Vcc_DF --> _Start_Step_0 (POINT) --> _Value_Vcc_H_ D... (POINT) タグ名 : _Start_Step_0 タグ名 : _Value_Vcc_H_DF --> _Start_Step_1 (POINT) --> _Value_Vcc_L_ D... (POINT) タグ名 : _Start_Step_1 タグ名 : _Value_Vcc_L_DF --> _Start_Step_2 (POINT) --> _Value_Vcc_D F_... (POINT) タグ名 : _Start_Step_2 タグ名 : _Value_Vcc_DF_ZERO --> _Start_Step_3 (POINT) タグ名 : _Start_Step_3 --> _Start_Step_4 (POINT) タグ名 : _Start_Step_4 --> _Value_L_Pa_D F (POINT) 0 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Value_L_Pa_DF 0 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 --> _Value_L_Pa_m i... (POINT) タグ名 : _Value_L_Pa_min_DF --> _Value_L_Pa_m a... (POINT) --> _Value_R_Pa_D F (POINT) タグ名 : _Value_R_Pa_DF --> _Value_R_Vth_ L... (POINT) タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF --> _Value_R_Vth_ H... (POINT) タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF タグ名 : _Value_L_Pa_max_DF --> _Value_L_Time (POINT) タグ名 : _Value_L_Time --> _Value_R_Time _... (POINT) タグ名 : _Value_R_Time_min_DF --> _Value_R_Time _... (POINT) タグ名 : _Value_R_Time_max_DF (2) Bld2:初期化-2……データ(フラグ類)を初期化 0 --> _Vcc_Data_DF (POINT) 0 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Vcc_Data_DF データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 0 --> _Err (POINT) 0 データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Err データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 9 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 TEST用STEP KEY 指定にF9 C-20 IU2 設計事例集 --> _Step_Key_For _... (POINT) タグ名 : _Step_Key_For_T abel 本ソフトウェアでは表形式プ ログラムのSTEP実行を条件設 定画面で指定できます。この 設定はその際の実行要求キー を指定するものです。 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Test_Step (POINT) タグ名 : _Test_Step --> _Test_Flag1 (POINT) タグ名 : _Test_Flag1 --> _Auto_Manu_F or... (POINT) タグ名 : _Auto_Manu_For_T abel 0 --> _P_Skip (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _P_Skip 圧力センサ検査装置 (3) Bld10:ファイル名指定model0……機種番号0(model000)用ファイルを指定…処理時間:約15ms ・設定ファイルはPCカード内の"Value"という名称のフォルダ内に保存されているものとします。 (以下同様) "Value/_VALUE_MOD EL0.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "_Result_MODEL0.csv " --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name (4) Bld11:ファイル名指定model1……機種番号1(model001)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL1.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "_Result_MODEL1.csv " --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name (5) Bld12:ファイル名指定model2……機種番号2(model002)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL2.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "_Result_MODEL2.csv " --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name (6) Bld13:ファイル名指定model3……機種番号3(model003)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL3.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "Result/_Result_MOD EL3.csv" --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name (7) Bld14:ファイル名指定model4……機種番号4(model004)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL4.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "Result/_Result_MOD EL4.csv" --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name IU2 設計事例集 C-21 圧力センサ検査装置 (8) Bld15:ファイル名指定model5……機種番号5(model005)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL5.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "Result/_Result_MOD EL5.csv" --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name (9) Bld16:ファイル名指定model6……機種番号6(model006)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL6.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "Result/_Result_MOD EL6.csv" --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name (10)Bld17:ファイル名指定model7……機種番号7(model007)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL7.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "Result/_Result_MOD EL7.csv" --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name (11)Bld18:ファイル名指定model8……機種番号8(model008)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL8.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "Result/_Result_MOD EL8.csv" --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name (12)Bld19:ファイル名指定model9……機種番号9(model009)用ファイルを指定 "Value/_VALUE_MOD EL9.txt" --> _Value_File_n a... タグ名 : _Value_File_name "Result/_Result_MOD EL9.csv" --> _Save_File_n am... タグ名 : _Save_File_name C-22 IU2 設計事例集 圧力センサ検査装置 (13)Bld30:設定ファイル読出し1/4……検査条件の読出し…処理時間:約130ms 設定ファイルの読出しを行います。 (1/4から4/4で構成されています。) ※設定ファイル内の指定行を読出し、CR/LFを除いた文字列を数値化して記録します。 ※設定ファイル形式はcsvファイルです。 (以下同様) String Length _Value_File_n a... --> 10 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT タグ名 : _Value_Vcc_DF 表記法 : 10進数浮動小数 タグ名 : _Value_File_name --> _Value_Vcc_D F (POINT) --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 12 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Vcc_H_ D... (POINT) タグ名 : _Value_Vcc_H_DF 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 14 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_Vcc_L_ D... (POINT) タグ名 : _Value_Vcc_L_DF 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err 2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (14)Bld31:設定ファイル読出し2/4……検査条件の読出し String Length _Value_File_n a... --> 18 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT タグ名 : _Value_L_Pa_DF 表記法 : 10進数浮動小数 タグ名 : _Value_File_name --> _Value_L_Pa_D F (POINT) --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 20 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_L_Pa_m i... (POINT) タグ名 : _Value_L_Pa_min_DF 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 22 ReadFile (TEXT) Subtract 0 String Subset String To Number 表記法 : 10進数浮動小数 -->FLOAT --> _Value_L_Pa_m a... (POINT) タグ名 : _Value_L_Pa_max_DF --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err 2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 IU2 設計事例集 C-23 圧力センサ検査装置 (15)Bld32:設定ファイル読出し3/4……検査条件の読出し String Length _Value_File_n a... --> 24 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT タグ名 : _Value_L_Time_DF 表記法 : 10進数浮動小数 タグ名 : _Value_File_name --> _Value_L_Time _... (POINT) --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 28 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_R_Pa_D F (POINT) タグ名 : _Value_R_Pa_DF 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length Subtract 0 ReadFile (TEXT) 30 String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_R_Vth_ L... (POINT) タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err 2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (16)Bld33:設定ファイル読出し4/4……検査条件の読出し String Length _Value_File_n a... --> 32 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF 表記法 : 10進数浮動小数 タグ名 : _Value_File_name --> _Value_R_Vth_ H... (POINT) --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 34 Subtract 0 ReadFile (TEXT) String Subset String To Number -->FLOAT --> _Value_R_Time _... (POINT) タグ名 : _Value_R_Time_min_DF 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) タグ名 : _File_Read_Err String Length 36 ReadFile (TEXT) タグ名 : _File_Read_Err データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 C-24 IU2 設計事例集 0 String Subset String To Number 表記法 : 10進数浮動小数 --> _File_Read_Err (POINT) 2 Subtract -->FLOAT --> _Value_R_Time _... (POINT) タグ名 : _Value_R_Time_max_DF 圧力センサ検査装置 (17)Bld100:データ(フラグ類)の初期化-1 判定結果をクリア 判定出力をクリア 0 --> _Result_0 (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Result_0 --> _Check_OK (POINT) 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Check_OK --> _Result_1 (POINT) --> _Check_NG (POINT) タグ名 : _Result_1 タグ名 : _Check_NG --> _Result_2 (POINT) タグ名 : _Result_2 --> _Result_3 (POINT) タグ名 : _Result_3 --> _Result_4 (POINT) タグ名 : _Result_4 (18)Bld101:データ(フラグ類)の初期化-2……検査ステータスクリア(全画面) 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_1 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_1_0 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_1_1 タグ名 : _Status_Disp_3_1 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_2 タグ名 : _Status_Disp_1_2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Status_Disp_3_0 --> _Status_Disp_1 ... (POINT) --> _Status_Disp_1 ... (POINT) 0 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) --> _Status_Disp_3 ... (POINT) --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_3 タグ名 : _Status_Disp_2_0 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_4 タグ名 : _Status_Disp_2_1 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_5 タグ名 : _Status_Disp_2_2 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_6 タグ名 : _Status_Disp_2_3 --> _Status_Disp_2 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_2_4 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Start_Step_5 (POINT) タグ名 : _Start_Step_5 (19)Bld102:検査ステップ情報に1(電源電圧測定)を設定 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Test_Step (POINT) タグ名 : _Test_Step (20)Bld104:ファイル名格納メモリの初期化 Delete DBL Delete DBL タグ名 : _Value_File_name タグ名 : _Save_File_name IU2 設計事例集 C-25 圧力センサ検査装置 (21)Bld150:測定結果を記録 D[n],D[n+1] -->FLOAT --> _Vcc_Data_DF (POINT) タグ名 : _Vcc_Data_DF タグ名 : _18EAD_Data_CH04 (22)Bld200:データ(フラグ類)の初期化 --> _Test_L_Time (POINT) 0 タグ名 : _Test_L_Time データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 D[n],D[n+1] -->FLOAT -->SHORT --> _Test_L_Time_ D... (POINT) タグ名 : _Test_L_Time_Disp タグ名 : _Value_L_Time (23)Bld201:圧力指令信号発生 設定ファイルから読込んだ値をもとに加圧指令を出力します。 ※入力値は0~100kPaでこれを0~10Vに換算するため0.1を乗じます。 (換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。 ) _Value_L_Pa_D F --> (POINT) Multiply FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Value_L_Pa_DF タグ名 : _8EDA_Data_CH00 0.1 --> _Value_L_Pa_te ... (POINT) タグ名 : _Value_L_Pa_temp_DF データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 (24)Bld202:圧力発生直後の圧力を測定 加圧直後の圧力を記録します。 ※読込値0~10Vを0~100kPaに対応させるため、読込値に10を乗じます。 (換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。 ) D[n],D[n+1] -->FLOAT Multiply タグ名 : _18EAD_Data_CH03 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _L_Data1 10 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 (25)Bld203:指定時間経過後の圧力を測定 加圧直後に指定時間経過した後の圧力を記録します。 ※読込値0~10Vを0~100kPaに対応させるため、読込値に10を乗じます。 (換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。 ) D[n],D[n+1] -->FLOAT タグ名 : _18EAD_Data_CH03 10 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 C-26 IU2 設計事例集 Multiply FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _L_Data2 圧力センサ検査装置 (26)Bld204:差圧の演算と判定…処理時間:約15ms ・加圧直後の圧力と指定時間経過後の差をもれ量として計算し、 この値が指定範囲にあるかどうかを判定します。 ・差圧を記録します。 _Value_L_Pa_m a... --> (POINT) D[n],D[n+1] -->FLOAT タグ名 : _Value_L_Pa_max_DF タグ名 : _L_Data1 D[n],D[n+1] -->FLOAT Subtract Zone Compare ABS 1 --> _Result_1 (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Result_1 比較条件 : 下限値 < 入力値 < 上限値 タグ名 : _L_Data2 出力モード : セット _Value_L_Pa_m i... --> (POINT) 2 --> _Result_1 (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Result_1 タグ名 : _Value_L_Pa_min_DF Not --> _L_Result_Dat a... (POINT) タグ名 : _L_Result_Data_DF (27)Bld206:指定時間のカウント ・指定時間(秒単位)タイマをカウントアップします(画面上はカウントダウンさせます)。 _Test_L_Time --> (POINT) Increment タグ名 : _Test_L_Time タグ名 : _Test_L_Time _Test_L_Time_ D... --> (POINT) --> _Test_L_Time (POINT) Decrement --> _Test_L_Time_ D... (POINT) タグ名 : _Test_L_Time_Disp タグ名 : _Test_L_Time_Disp (28)Bld250:データ(フラグ類)、グラフの初期化 Delete DBL タグ名 : _Daq_Data_1 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Graph_Start_ 1 (POINT) タグ名 : _Graph_Start_1 --> _Graph_Clear_ 1 (POINT) タグ名 : _Graph_Clear_1 --> _Daq_Data_Ind e... (POINT) タグ名 : _Daq_Data_Index_1 (29)Bld251:加圧指令発生 設定ファイルから読込んだ値をもとに加圧指令を出力します。 ※入力値は0~100kPaでこれを0~10Vに換算するため0.1を乗じます。 (換算値は仮の値です。 実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。) _Value_R_Pa_D F --> (POINT) Multiply FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Value_R_Pa_DF タグ名 : _8EDA_Data_CH00 0.1 --> _Value_R_Pa_T e... (POINT) データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Value_R_Pa_Temp_DF IU2 設計事例集 C-27 圧力センサ検査装置 (30)Bld252:加圧および『加圧』の表示 1 --> _VAL1 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _VAL1 0 --> _VAL2 (POINT) データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 タグ名 : _VAL2 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_2 (31)Bld253:データの集録…処理時間:約18ms CH0 1 High-Speed DAQ データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 集録CH : CH0 サンプリング周波数[Hz] CH0 , CH1 : 1000 サンプリング周波数[Hz] CH2~CH17 : 200000 集録時間[Sec] : 1 プリトリガー時間[Sec] : 0.1 トリガー種別 : トリガーなし ロックモード[Sec] : 0 DAQ --> ANALOG タグ名 : _Daq_Data_1 --> _Daq_Err_Flag_. .. (POINT) タグ名 : _Daq_Err_Flag_1 Transition --> _Daq_Data_1 Wait Transition Wait 時間[ms] : 0 (データ集録条件は仮の設定です。実際の検査装置においては条件の見直しが必要です。) (32)Bld254:グラフ表示を開始 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Graph_Start_ 1 (POINT) タグ名 : _Graph_Start_1 (33)Bld255:加圧結果確認 集録したデータを1点ずつ圧力値に換算し、 指定範囲内にあるデータの個数をカウントします。 _Value_R_Vth_ H... --> (POINT) タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF _Data_InLevel_ ... --> (POINT) Zone Compare _Value_R_Vth_ L... --> (POINT) 比較条件 : 下限値 < 入力値 < 上限値 タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF 出力モード : セット タグ名 : _Data_InLevel_Num_1 Increment --> _Data_InLevel_ ... (POINT) Increment タグ名 : _Data_InLevel_Num_1 --> _Daq_Data_Ind e... (POINT) タグ名 : _Daq_Data_Index_1 _Daq_Data_Ind e... --> (POINT) タグ名 : _Daq_Data_Index_1 Block Element -->FLOAT Calculation FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Daq_Data_Element_1 _Daq_Data_1 --> タグ名 : _Daq_Data_1 C-28 IU2 設計事例集 公式 : (P1/32767.0)*100.0 圧力センサ検査装置 (34)Bld257:グラフ表示を停止 --> _Graph_Start_ 1 (POINT) 0 タグ名 : _Graph_Start_1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 (35)Bld258:時間計算~判定処理 ・ 指定範囲にあるデータ個数×サンプリング時間を計算することでセンサの動作時間を計算し、この値が指定範囲 内にあるかどうかを判定します。 ・ 判定画面の表示、時間の記録を行います。 ※カウント値=1の場合は動作時間0を意味するため強制的にエラーにします。 1 1 Compare データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 _Value_R_Time _... --> (POINT) 条件比較 : 入力1 = 入力2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Value_R_Time_max_DF --> _Result_2 (POINT) タグ名 : _Result_2 Not And FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Data_InLevel_Time_1 _Data_Inlevel_.. . --> (POINT) -->FLOAT Calculation Zone Compare 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット タグ名 : _Data_Inlevel_Num_1 公式 : (P1-1)*1.0 --> _R_Result_Dat a... (POINT) _Value_R_Time _... --> (POINT) タグ名 : _R_Result_Data1_DF タグ名 : _Value_R_Time_min_DF 2 --> _Result_2 (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Result_2 Not Or 判定ランプ点灯 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_3 (36)Bld300:データ(フラグ類)の初期化 Delete DBL タグ名 : _Daq_Data_2 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Daq_Data_Ind e... (POINT) タグ名 : _Daq_Data_Index_2 --> _Graph_Start_ 2 (POINT) タグ名 : _Graph_Start_2 --> _Graph_Clear_ 2 (POINT) タグ名 : _Graph_Clear_2 IU2 設計事例集 C-29 圧力センサ検査装置 (37)Bld301:減圧指令 ・ 設定ファイルから読込んだ値をもとに圧力開放指令を出力します。 ※入力値は0~100kPaでこれを0~10Vに換算するため0.1を乗じます。 (換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。) _Value_R_Pa_D F --> (POINT) FLOAT--> D[n],D[n+1] Multiply タグ名 : _Value_R_Pa_DF タグ名 : _8EDA_Data_CH00 0.1 --> _Value_R_Pa_T e... (POINT) タグ名 : _Value_R_Pa_Temp_DF デー タ 型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 (38)Bld302:減圧および『減圧』表示 0 --> _VAL1 (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _VAL1 1 --> _VAL2 (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _VAL2 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) タグ名 : _Status_Disp_3_5 (39)Bld303:データ集録 CH0 1 High-Speed DAQ データ型 : BOOL 直接入力 : 10進数 集録CH : CH0 サンプリング周波数[Hz] CH0 , CH1 : 1000 サンプリング周波数[Hz] CH2~CH17 : 200000 集録時間[Sec] : 1 プリトリガー時間[Sec] : 0.1 トリガー種別 : トリガーなし ロックモード[Sec] : 0 DAQ --> ANALOG --> _Daq_Err_Flag_. .. (POINT) タグ名 : _Daq_Err_Flag_2 (40)Bld304:グラフ表示開始 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 C-30 IU2 設計事例集 --> _Graph_Start_ 2 (POINT) タグ名 : _Graph_Start_2 --> _Daq_Data_2 Transition タグ名 : _Daq_Data_2 Wait Wait 時間[ms] : 0 Transition 圧力センサ検査装置 (41)Bld305:減圧結果確認 ・ 集録したデータを1点ずつ圧力値に換算し、指定範囲内にあるデータの個数をカウントします。 ) _Value_R_Vth_ H... --> (POINT) タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF _Data_InLevel_ ... --> (POINT) Zone Compare _Value_R_Vth_ L... --> (POINT) 比較条件 : 下限値 < 入力値 < 上限値 タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF 出力モード : セット タグ名 : _Data_InLevel_Num_2 _Daq_Data_Ind e... --> (POINT) --> _Data_InLevel_ ... (POINT) タグ名 : _Data_InLevel_Num_2 --> _Daq_Data_Ind e... (POINT) Increment タグ名 : _Daq_Data_Index_2 Increment タグ名 : _Daq_Data_Index_2 Block Element -->FLOAT Calculation FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Daq_Data_Element_2 _Daq_Data_2 --> 公式 : (P1/32767.0)*100.0 タグ名 : _Daq_Data_2 (42)Bld306:カウンタのインクリメント ・ 集録したデータの読出中に使用するカウンタをインクリメントしています。 _Daq_Data_Ind e... --> (POINT) Increment --> _Daq_Data_Ind e... (POINT) タグ名 : _Daq_Data_Index_2 タグ名 : _Daq_Data_Index_2 (43)Bld307:グラフ表示停止 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Graph_Start_ 2 (POINT) タグ名 : _Graph_Start_2 IU2 設計事例集 C-31 圧力センサ検査装置 (44)Bld308:時間計算~判定処理 ・ 指定範囲にあったデータ個数×サンプリング時間を計算することでセンサの動作時間を計算し、この値が指定範 囲内にあるかどうかを判定します。 ・ 判定画面の表示、時間の記録を行います。 ※カウント値=1の場合は動作時間0を意味するため強制的にエラーにします。 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 Compare 1 _Value_R_Time _... --> (POINT) 条件比較:入力1 =入力2 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Value_R_Time_max_DF タグ名 : _Result_3 Not FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _Data_InLevel_Time_1 _Data_Inlevel_.. . --> (POINT) -->FLOAT Calculation --> _Result_3 (POINT) And Zone Compare 比較条件 : 下限値 <= 入力値 <= 上限値 出力モード : セット タグ名 : _Data_Inlevel_Num_2 公式 : (P1-1)*1.0 _Value_R_Time _... --> (POINT) --> _Result_3 (POINT) 2 --> _R_Result_Dat a... (POINT) タグ名 : _Result_3 タグ名 : _R_Result_Data2_DF データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Value_R_Time_min_DF Not Or 判定ランプ点灯 --> _Status_Disp_3 ... (POINT) 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Status_Disp_3_6 (45)Bld350:判定結果出力 ・ 各検査結果を集約し、結果を外部出力します。 _Result_0 --> (POINT) Add Add Compare タグ名 : _Result_0 条件比較 : 入力1 = 入力2 --> _Check_OK (POINT) タグ名 : _Check_OK _Result_1 --> (POINT) タグ名 : _Result_1 4 _Result_2 --> (POINT) Add データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Result_2 _Result_3 --> (POINT) タグ名 : _Result_3 (46)Bld400:判定結果保存準備……データの改行情報コード(CR/LF) 0 13 --> DC0 (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 デバイス名 : DC 1 10 --> DC1 (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 デバイス名 : DC C-32 IU2 設計事例集 Not --> _Check_NG (POINT) タグ名 : _Check_NG 圧力センサ検査装置 (47)Bld401:判定結果保存準備……判定、検査データ 0 _Value_Vcc_D F --> (POINT) タグ名 : _Value_Vcc_DF _Value_Vcc_H_ D... --> (POINT) 4 --> DF0 (POINT) _Value_L_Pa_D F --> (POINT) デバイス名 : DF タグ名 : _Value_L_Pa_DF _Value_R_Pa_D F --> (POINT) デバイス名 : DF タグ名 : _Value_R_Pa_DF 5 1 タグ名 : _Value_Vcc_H_DF 9 --> DF4 (POINT) --> DF1 (POINT) _Value_L_Pa_m i... --> (POINT) デバイス名 : DF タグ名 : _Value_L_Pa_min_DF 2 --> DF2 (POINT) _Value_L_Pa_m a... --> (POINT) タグ名 : _Value_Vcc_L_DF デバイス名 : DF タグ名 : _Value_L_Pa_max_DF --> DF5 (POINT) _Value_R_Vth_ L... --> (POINT) デバイス名 : DF タグ名 : _Value_R_Vth_L_DF --> DF6 (POINT) _Value_R_Vth_ H... --> (POINT) デバイス名 : DF タグ名 : _Value_R_Vth_H_DF D[n],D[n+1] -->FLOAT --> DF7 (POINT) _Value_R_Time _... --> (POINT) タグ名 : _Value_L_Time デバイス名 : DF タグ名 : _Value_R_Time_min_DF _Value_R_Time _... --> (POINT) _Result_2 --> (POINT) --> DF3 (POINT) -->FLOAT デバイス名 : DF --> DF11 (POINT) デバイス名 : DF 12 タグ名 : _Result_0 3 --> DF10 (POINT) 11 7 _Result_0 --> (POINT) デバイス名 : DF 10 6 _Value_Vcc_L_ D... --> (POINT) --> DF9 (POINT) --> DF12 (POINT) デバイス名 : DF 13 --> DF13 (POINT) タグ名 : _Value_R_Time_max_DF デバイス名 : DF タグ名 : _Result_2 デバイス名 : DF 14 --> DF14 (POINT) -->FLOAT _Result_1 --> (POINT) _Result_3 --> (POINT) タグ名 : _Result_3 デバイス名 : DF タグ名 : _Result_1 15 -->FLOAT 8 -->FLOAT --> DF15 (POINT) デバイス名 : DF --> DF8 (POINT) デバイス名 : DF (48)Bld402:PCカードへの判定結果保存実行…処理時間:約130ms _Save_File_n am... --> タグ名 : _Save_File_name SaveFile (BIN) 0 2 DC0 --> (ARRAY) 書き込みモード : 追加 デバイス名 : DC SaveFile (BIN) SaveFile (BIN) 書き込みモード : 追加 書き込みモード : 追加 --> _File_Save_Err (POINT) --> _File_Save_Err (POINT) タグ名 : _File_Save_Err TimeString --> _File_Save_Err (POINT) タグ名 : _File_Save_Err タグ名 : _File_Save_Err Connect String 出力フォーマット : 2004年 5月12日(水) 0 2 DC0 --> (ARRAY) TimeString デバイス名 : DC 出力フォーマット : 12:02:28 SaveFile BLOCK (CSV) 0 16 DF0 --> (ARRAY) 書き込みモード : 追加 --> _File_Save_Err (POINT) タグ名 : _File_Save_Err デバイス名 : DF (49)Bld450:機種表示処理 コメント情報で先頭を0に指定していますが、実際の機種名称の登録は10からのため、 機種情報に10を加えて補正し ます。 ※コメントの先頭を10からに設定しないのは9以前のコメントを当該表示器に表示することがあるため。 _Model --> (POINT) タグ名 : _Model Add --> _Model_Disp (POINT) タグ名 : _Model_Disp 10 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 IU2 設計事例集 C-33 圧力センサ検査装置 (50)Bld451:表示機種なしの処理 機種情報が範囲外の場合に"――――"を表示します。 4 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Model_Disp (POINT) タグ名 : _Model_Disp (51)Bld452:検査ステップ情報を全てON "AUTO"検査モード時に各検査で停止させないために検査ステップ情報を全てONします。 1 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Start_Step_1 (POINT) タグ名 : _Start_Step_1 --> _Start_Step_2 (POINT) タグ名 : _Start_Step_2 --> _Start_Step_3 (POINT) タグ名 : _Start_Step_3 --> _Start_Step_4 (POINT) タグ名 : _Start_Step_4 (52)Bld453:検査ステップ情報を全てOFF "AUTO"検査モード時に各検査で停止させないために検査ステップ情報を全てOFFします。 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 --> _Start_Step_0 (POINT) タグ名 : _Start_Step_0 --> _Start_Step_1 (POINT) タグ名 : _Start_Step_1 --> _Start_Step_2 (POINT) タグ名 : _Start_Step_2 --> _Start_Step_3 (POINT) タグ名 : _Start_Step_3 --> _Start_Step_4 (POINT) タグ名 : _Start_Step_4 --> _Start_Step_5 (POINT) タグ名 : _Start_Step_5 C-34 IU2 設計事例集 圧力センサ検査装置 (53)Bld454:機種番号(情報)読込み "AUTO"検査モード時の機種情報を読込みます。 BIT --> WORD タグ名 : _Sel_M del o ポイント数 : 4 --> _Model (POINT) 1 _Model --> (POINT) タグ名 : _M del o タグ名 : _M del o --> _Model (POINT) ←機種設定表示をさせるために手動設定の機種情報を 仮にセットします。 タグ名 : _M del o (54)Bld460:操作メニュー画面指定 "AUTO"検査モード時の画面を指定します。 1 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (55)Bld461:電源電圧検査画面指定 "AUTO"検査モード時の画面を指定します。 2 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (56)Bld462:圧力もれ検査画面指定 "AUTO"検査モード時の画面を指定します。 3 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (57)Bld463:加圧応答性検査画面指定 "AUTO"検査モード時の画面を指定します。 4 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (58)Bld464:減圧応答性検査画面指定 "AUTO"検査モード時の画面を指定します。 5 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp IU2 設計事例集 C-35 圧力センサ検査装置 (59)Bld465:検査結果表示画面指定 "AUTO"検査モード時の画面を指定します。 10 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (60)Bld466:検査結果表示画面指定 "AUTO"検査モード時の画面を指定します。 200 --> _Disp (POINT) データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 タグ名 : _Disp (61)Bld470:プログラム実行状態出力 プログラムの実行状態を外部へ出力します。 (D0) _Main1_Start -> (POINT) タグ名 : _Main1_Start --> _Ready (POINT) タグ名 : _Ready (62)Bld471:自動起動処理 (外部信号) "AUTO"検査モード時の自動起動処理(フラグセット)をします。 _Start_In --> (POINT) And --> _Start_Master (POINT) タグ名 : _Start_In タグ名 : _Start_Master _Test_Step -> (POINT) --> _Start_Step_0 (POINT) Compare タグ名 : _Start_Step_0 タグ名 : _Test_Step 0 データ型 : 16 ビット整数 直接入力 : 10進数 C-36 IU2 設計事例集 条件比較 : 入力1 = 入力2 圧力センサ検査装置 (63)Bld472:センサー出力モニタ センサ出力信号の読込値0~10Vを0~100kPaに対応させるため、読込値に10を乗じます。 (換算値は仮の値です。実際の検査装置にあわせて換算値を設定します。) Sensor1 Input D[n],D[n+1] -->FLOAT Multiply --> _Sensor_1_DF (POINT) -->FLOAT タグ名 : _Sensor_1_DF タグ名 : _18EAD_Data_CH02 10 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 Sensor2 Input D[n],D[n+1] -->FLOAT Multiply --> _Sensor_2_DF (POINT) -->FLOAT タグ名 : _Sensor_2_DF タグ名 : _18EAD_Data_CH03 10 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 (64)Bld473:エラーモニタ エラーフラグを集約します。 _Daq_Err_Flag_. .. --> (POINT) タグ名 : _Daq_Err_Flag_1 _Daq_Err_Flag_. .. --> (POINT) Or タグ名 : _Daq_Err_Flag_2 Or _File_Read_Err --> (POINT) --> _Err (POINT) タグ名 : _Err タグ名 : _File_Read_Err _File_Save_Err --> (POINT) Or タグ名 : _File_Save_Err (65)Bld480:検査ステップインクリメント _Test_Step -> (POINT) タグ名 : _Test_Step Increment --> _Test_Step (POINT) タグ名 : _Test_Step IU2 設計事例集 C-37 圧力センサ検査装置 (66)Bld481:アナログ出力初期化 0 データ型 : 32 ビット浮動小数点 直接入力 : 10進数 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _8EDA_Data_CH00 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _8EDA_Data_CH01 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _8EDA_Data_CH02 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _8EDA_Data_CH03 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _8EDA_Data_CH04 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _8EDA_Data_CH05 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _8EDA_Data_CH06 FLOAT--> D[n],D[n+1] タグ名 : _8EDA_Data_CH07 C-38 IU2 設計事例集 2 判定結果 セット (OK) 判定結果 セット(NG) END 7 8 9 _Value_ Vcc_DF _ZERO 0 0 0 0 0 0 0 ON ON ON 500 500 500 500 V V V V MAX *_18EAD_ _Value_ _Value_ Data_CH Vcc_L_ Vcc_H_ 04_DF DF DF *_18EAD_ Data_CH 04_DF MIN XJUM P9 JUMP 7 _Value_ JUMP Vcc_DF 8 _ZERO JUMP 8 OK/ NG/ EQUAL TRUE FALSE 初期化 加圧 1 2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 ON OFF OFF ON ON ON ON 500 500 _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _Status _Status _Status _Status _Status STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL _VAL _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL OK/ NG/ 1 2 TRUE FALSE CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07 2_0 2_1 2_2 2_3 2_4 2. TEST_21……圧力もれ検査-1 ・ 『大気圧開放→加圧』の画面表示とバルブの制御(加圧→密閉)を行います。 STEP1 :出力状態の初期化を行います。 STEP2 :電源指定値を出力し、 『電源印加』の画面表示を行います。 (含:安定時間タイマ) STEP3 : 『電圧測定』の画面表示を行います。 STEP4 : 『判定』の画面表示を行います。 STEP5~9:結果判定の処理を行います。 STEP5 ………印加電圧が0の場合『NG』を表示し、 電源をOFFします。 STEP6 ………測定電圧が指定範囲内かどうか確認します。 STEP7、8……判定値をセットします。 1 結果判定 (判定処理) 結果判定(印 加電圧確認) 5 6 ON ON 結果判定 (表示のみ) 0 4 0 ON 0 電圧測定 (表示のみ) 0 3 _Value_ Vcc_DF 0 電圧印加 (表示のみ) 0 2 0 初期化 1 *_8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _Status _Status _Status STEP COMMENT _Result _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Disp_1 _Disp_1 _Disp_1 WAIT UNIT TARGET _0 CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07 _0 _1 _2 1. TEST_11……検査準備 圧力センサ検査装置 6. 表形式 IU2 設計事例集 C-39 C-40 IU2 設計事例集 確認中 2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 OFF OFF OFF OFF ON ON ON ON ON ON ON 500 "初期化/ 0 0 0 0 0 0 0 ON ON ON ON ON ON ON 準備 2 0 0 0 0 0 0 0 0 ON OFF OFF ON ON ON ON 500 500 初期化 準備 1 2 0 0 0 0 0 0 0 0 ON OFF ON OFF ON 500 500 _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _Status _Status _Status _Status _Status _Status _Status _Status NG/ STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL _VAL _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL OK/ 1 2 TRUE FALSE CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07 3_0 3_1 3_2 3_3 3_4 3_5 3_6 3_7 6. TEST_32……減圧応答性検査 ・ 『準備』の画面表示とバルブの制御を行います。 大気圧開放 1 _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _Status _Status _Status _Status _Status _Status _Status _Status NG/ STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL _VAL _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL OK/ 1 2 TRUE FALSE CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07 3_0 3_1 3_2 3_3 3_4 3_5 3_6 3_7 5. TEST_31……加圧応答性検査 ・ 『大気開放→準備』の画面表示とバルブの制御を行います。 (含:判 定表示 )" 1 _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _VAL _Status _Status _Status _Status _Status WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL OK/ NG/ STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ 1 2 TRUE FALSE CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07 2_0 2_1 2_2 2_3 2_4 4. TEST_23……圧力もれ検査-3 ・測定後の『判定』画面表示とバルブの制御を行います。 密閉 1 _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _8EDA _Status _Status _Status _Status _VAL _Status OK/ NG/ STEP COMMENT _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _Data_ _VAL _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ _Disp_ WAIT UNIT TARGET MIN MAX EQUAL TRUE 1 2 FALSE CH00 CH01 CH02 CH03 CH04 CH05 CH06 CH07 2_0 2_1 2_2 2_3 2_4 3. TEST_22……圧力もれ検査-2 ・ 『密閉→確認中』の画面表示とバルブの制御を行います。 圧力センサ検査装置 圧力センサ検査装置 7. プログラム一覧 (1) プログラム一覧 区分 システム ページ プログラムページ Sys1 サブ ルーチン システム設定 ページ 区分 S-8 プログラムページ 内容 ページ Bld204 差圧の演算と判定 S-27 Bld206 指定時間のカウント S-27 Scr1 操作メニュー画面 S-9 Bld250 データ(フラグ類)の初期化 S-27 Scr2 電源電圧検査画面 S-9 Bld251 加圧指令発生 S-27 Scr3 圧力もれ検査画面 S-10 Bld252 加圧および『加圧』 の表示 S-28 加圧応答性検査画面 S-10 Bld253 データの集録 S-28 減圧応答性検査画面 S-11 Bld254 グラフ表示を開始 S-28 Scr10 検査結果表示画面 S-11 Bld255 加圧結果確認 S-28 Scr100 条件設定画面 S-12 Bld257 グラフ表示を停止 S-29 Scr200 Err表示画面 S-13 Bld258 時間計算~判定処理 S-29 Main1 圧力センサ検査装置 S-14 Bld300 データ(フラグ類)の初期化 S-29 Bld301 減圧指令 S-30 Bld302 減圧および『減圧』 表示 S-30 Bld303 データ集録 S-30 Bld304 グラフ表示開始 S-30 Bld305 減圧果確認 S-31 Bld306 カウンタのインクリメント S-31 Bld307 グラフ表示停止 Bld308 時間計算~判定処理 S-32 Bld350 判定結果出力 S-32 判定結果保存準備(データの 改行情報コード) S-32 スクリーン Scr4 ページ Scr5 メイン ルーチン 内容 Sub1 初期化-1 S-14 Sub2 初期化-2 S-15 Sub3 電源電圧測定 S-15 Sub4 圧力もれ検査 S-16 Sub5 加圧応答性検査 S-16 Sub6 減圧応答性検査 S-17 Sub7 出力初期化 S-17 Sub8 結果出力 S-17 Sub9 結果保存 S-18 Sub20 条件設定/機種表示 S-18 Bld400 Sub21 画面切換え制御 S-18 Sub22 動作モニタ S-19 BLD プログラム Bld401 Bld1 初期化-1 S-20 Bld2 初期化-2 S-20 Bld10 ファイル名指定model0 S-21 Bld11 ファイル名指定model1 S-21 Bld12 ファイル名指定model2 S-21 Bld13 ファイル名指定model3 S-21 Bld14 ファイル名指定model4 S-21 Bld15 ファイル名指定model5 S-22 Bld16 ファイル名指定model6 S-22 Bld17 ファイル名指定model7 S-22 Bld18 ファイル名指定model8 S-22 Bld19 ファイル名指定model9 S-22 Bld30 BLD プログラム Bld31 設定ファイル読出し1/4 S-23 設定ファイル読出し2/4 S-23 Bld32 設定ファイル読出し3/4 S-24 Bld33 設定ファイル読出し4/4 S-24 Bld100 データ(フラグ類)の初期化-1 S-25 Bld101 データ(フラグ類)の初期化-2 S-25 Bld102 検査ステップ情報に1(電源 S-25 電圧測定)を設定 Bld104 ファイル名格納メモリの初 S-25 期化 Bld150 測定結果を記録 S-26 Bld200 データ(フラグ類)の初期化 S-26 Bld201 圧力指令信号発生 S-26 Bld202 圧力発生直後の圧力を測定 S-26 Bld203 指定時間経過後の圧力を測定 S-26 SHEET ファイル S-31 判定結果保存準備(判定、検 S-33 査データ) Bld402 PCカードへの判定結果保 存実行 S-33 Bld450 機種表示処理 S-33 Bld451 表示機種なしの処理 S-34 Bld452 検査ステップ情報を全て ON S-34 Bld453 検査ステップ情報を全て OFF S-34 Bld454 機種番号(情報)読込み S-35 Bld460 操作メニュー画面指定 S-35 Bld461 電源電圧検査画面指定 S-35 Bld462 圧力もれ検査画面指定 S-35 Bld463 加圧応答性検査画面指定 S-35 Bld464 減圧応答性検査画面指定 S-35 Bld465 検査結果表示画面指定 S-36 Bld466 検査結果表示画面指定 S-36 Bld470 プログラム実行状態出力 S-36 Bld471 自動起動処理(外部信号) S-36 Bld472 センサー出力モニタ S-37 Bld473 エラーモニタ S-37 Bld480 検査ステップインクリメント S-37 Bld481 アナログ出力初期化 S-38 TEST_11 検査準備 S-39 TEST_21 圧力もれ検査-1 S-39 TEST_22 圧力もれ検査-2 S-40 TEST_23 圧力もれ検査-3 S-40 TEST_31 加圧応答性検査 S-40 TEST_32 減圧応答性検査 S-40 IU2 設計事例集 C-41 C-42 IU2 設計事例集 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 [0 ] [0 ] [1 ] [1 ] [1 ] M7999 M9999 D7999 D9999 X15 X23 X255 X31719 Y15 Y23 Y255 Y31719 D10035 D10071 D10087 D10127 DBL255 DB30719 DC 30719 DS30719 DL30719 DF30719 DD 30719 M0 M8000 D0 D8000 X0 X16 X24 X1000 Y0 Y16 Y24 Y1000 D10000 D10036 D10072 D10088 DBL0 DB 0 DC 0 DS0 DL0 DF 0 DD 0 先頭アドレス I/O割付け一覧 _IU2 _4M10 HA _0 本体内蔵 スロット I/O割付け設定 IOMap 1 - 最終アドレス ユーザ名称 [1 ] 本体内蔵 [1 ] [0 ] [1 ] [0 ] スロット 出力 2 入力 2 DA 8 出力 16 入力 16 AD 18 入出力 割付 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _4M10 HA_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _16EDIO _CPTR _ 0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _16EDIO _CPTR _ 0 有 有 有 有 有 有 割付先 テ ゙バイス Y0-Y 255 X0-X 255 D10000 -D10127 Y0-Y 255 X0-X 255 D10000 -D10127 ユーザ名称 float float 割付データ型 2 2 16 16 16 36 割付点数 DA 16 36 2 AD 16 出力 2 出力 16 23 23 10087 15 15 10035 入力 入出力 先頭アドレス 入力 16 16 10072 0 0 10000 割付点数 最終アドレス 圧力センサ検査装置 (2) I/O割付け表 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 9 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 10 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 11 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 12 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 13 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 14 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 15 CH [1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : 0CH [1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : 1CH [1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve [1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve [1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve [1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve [1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve [1 ] : _IU 2_8 EDA_100 M_0 : 入力 : Reserve X9 X10 X11 X12 X13 X14 X15 X16 X17 X18 X19 X20 X21 X22 X23 デハ ゙イスタク ゙ [0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 13CH [0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 14CH [0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 15CH [1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : 0CH [1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : 1CH [1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve [1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve [1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve [1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve [1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve [1] : _IU2_8EDA _100 M_0 : 出力 : Reserve Y14 Y15 Y16 Y17 Y18 Y19 Y20 Y21 Y22 Y23 デバイスタグ デバイスタグ _18 EAD _Data _CH 08 D10016 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 7 CH Y7 _18 EAD _Data _CH 07_ D10015 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 6 CH _VAL 2 Y6 _18 EAD _Data _CH 07 D10014 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 5 CH _VAL 1 Y5 _18 EAD _Data _CH 06_ D10013 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 4 CH _18 EAD _Data _CH 06 D10012 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 3 CH Y3 _Ready _18 EAD _Data _CH 05_ D10011 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 2 CH Y2 Y4 _18 EAD _Data _CH 05 D10010 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 1 CH _Check _NG _18 EAD _Data _CH 04_ D10009 Y1 _18 EAD _Data _CH 04 D10008 _18 EAD _Data _CH 03_ _18 EAD _Data _CH 03 D10006 D10007 _18 EAD _Data _CH 02_ D10005 _18 EAD _Data _CH 02 _18 EAD _Data _CH 01_ D10003 D10004 _18 EAD _Data _CH 01 _18 EAD _Data _CH 00_ _18 EAD _Data _CH 00 D10002 D10001 D10000 アドレス デバイス確認<D10000-D10127> アドレス [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 出力 : 0 CH I/ O割付 (スロット:ユーザ名称:入出力 :CH番号) [0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 12CH Y13 _Check _OK デハ ゙イスタク ゙ [0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 11CH Y12 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 8CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 7CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 7CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 6CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 6CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 5CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 5CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 4CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 4CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 3CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 3CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 2CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 2CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 1CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 1CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 0CH 本体 : _IU 2_4 M10HA _0 : AD : 0CH I/O割付 (スロット: ユーザ名称 :入出力 :CH番号 ) I/O割付 (スロット: ユーザ名称 :入出力 :CH番号 ) [0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 10CH Y11 デバイス確認<Y1000-Y31719> [0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 9CH Y10 I/O割付 (スロット: ユーザ名称 :入出力 :CH番号 ) Y9 デバイスタグ [0] : _IU2_16EDIO _ CPTR _ 0 : 出力 : 8CH アドレス Y8 Y0 アド レス デバイス確認<Y0-Y255> アド レス I/ O割付 (スロット:ユーザ名称:入出力 :CH番号) [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 8 CH X8 デバイス確認<X1000-X31719> [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 7 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 4 CH X7 _Start _In X4 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 3 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 6 CH _Sel _Model 4 X3 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 2 CH X6 _Sel _Model 3 X2 [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 1 CH [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 0 CH I/ O割付 (スロット:ユーザ名称:入出力 :CH番号) [0 ] : _IU 2_16 EDIO _CPTR _0 : 入力 : 5 CH _Sel _Model 2 X1 デバイスタグ X5 _Sel _Model 1 X0 アドレス デバイス確認<X0-X255> IOMap 2 - 圧力センサ検査装置 IU2 設計事例集 C-43 _18EAD_Data _CH09 _18EAD_Data _CH09_ _18EAD_Data _CH10 _18EAD_Data _CH10_ _18EAD_Data _CH11 _18EAD_Data _CH11_ _18EAD_Data _CH12 _18EAD_Data _CH12_ _18EAD_Data _CH13 _18EAD_Data _CH13_ _18EAD_Data _CH14 _18EAD_Data _CH14_ _18EAD_Data _CH15 _18EAD_Data _CH15_ _18EAD_Data _CH16 _18EAD_Data _CH16_ _18EAD_Data _CH17 _18EAD_Data _CH17_ _8EDA _Data _CH00 _8EDA _Data _CH00_ _8EDA _Data _CH01 _8EDA _Data _CH01_ _8EDA _Data _CH02 _8EDA _Data _CH02_ _8EDA _Data _CH03 _8EDA _Data _CH03_ _8EDA _Data _CH04 _8EDA _Data _CH04_ _8EDA _Data _CH05 _8EDA _Data _CH05_ _8EDA _Data _CH06 _8EDA _Data _CH06_ _8EDA _Data _CH07 _8EDA _Data _CH07_ D10018 D10019 D10020 D10021 D10022 D10023 D10024 D10025 D10026 D10027 D10028 D10029 D10030 D10031 D10032 D10033 D10034 D10035 D10072 D10073 D10074 D10075 D10076 D10077 D10078 D10079 D10080 D10081 D10082 D10083 D10084 D10085 D10086 D10087 デバイスタグ _18EAD_Data _CH08_ D10017 アドレス IOMap 3 I/O割付 (スロット:ユーザ名称:入出力 :CH番号) C-44 IU2 設計事例集 [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 7CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 7CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 6CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 6CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 5CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 5CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 4CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 4CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 3CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 3CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 2CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 2CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 1CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 1CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 0CH [1] : _IU2_8EDA_100M_0 : DA : 0CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 17CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 17CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 16CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 16CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 15CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 15CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 14CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 14CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 13CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 13CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 12CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 12CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 11CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 11CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 10CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 10CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 9CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 9CH 本体 : _IU2_4M10HA_0 : AD : 8CH 圧力センサ検査装置 _IU2 _4M10HA_0 _IU2 _4M10HA_0 _IU2 _4M10HA_0 _IU2 _4M10HA_0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 本体 本体 本体 本体 [0 ] [0 ] [0 ] _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _4M10HA_0 本体 [0 ] _IU2 _4M10HA_0 本体 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _4M10HA_0 本体 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _4M10HA_0 本体 [0 ] _IU2 _4M10HA_0 本体 [0 ] _IU2 _4M10HA_0 本体 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _4M10HA_0 本体 [0 ] _IU2 _4M10HA_0 本体 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _4M10HA_0 本体 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _4M10HA_0 本体 [0 ] _IU2 _4M10HA_0 本体 [0 ] _IU2 _4M10HA_0 本体 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _4M10HA_0 本体 [0 ] _IU2 _4M10HA_0 スロット CHタグ 本体 CHタグ確認 CHタグ一覧 ChTag 1 - ユーザ名称 スロット 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD AD 入出力 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 17 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 ユーザ名称 CH 番号 入出力 CH タグ CH 番号 コメント コメント 圧力センサ検査装置 (3) CHタグ一覧 IU2 設計事例集 C-45 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _16 EDIO _CPTR _0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [0 ] [1 ] [1 ] [1 ] [1 ] [1 ] [1 ] [1 ] [1 ] [1 ] スロット ChTag 2 ユーザ名称 C-46 IU2 設計事例集 入力 DA DA DA DA DA DA DA DA 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 出力 入力 入力 入力 入力 入力 入力 入出力 0 7 6 5 4 3 2 1 0 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 15 14 13 12 11 10 CH番号 CHタグ コメント 圧力センサ検査装置 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 _IU2 _8EDA _100 M_0 [1 ] [1 ] [1 ] スロット ChTag 3 ユーザ名称 出力 出力 入力 入出力 1 0 1 CH番号 CHタグ コメント 圧力センサ検査装置 IU2 設計事例集 C-47 D10000 D10001 D10002 D10003 D10004 D10005 D10006 D10007 D10008 D10009 DF20 D10010 D10011 D10012 D10013 D10014 D10015 D10016 D10017 D10018 D10019 D10020 D10021 D10022 D10023 D10024 D10025 D10026 D10027 D10028 _18 EAD_Data _CH 00 _18 EAD_Data _CH 00_ _18 EAD_Data _CH 01 _18 EAD_Data _CH 01_ _18 EAD_Data _CH 02 _18 EAD_Data _CH 02_ _18 EAD_Data _CH 03 _18 EAD_Data _CH 03_ _18 EAD_Data _CH 04 _18 EAD_Data _CH 04_ _18 EAD_Data _CH 04_DF _18 EAD_Data _CH 05 _18 EAD_Data _CH 05_ _18 EAD_Data _CH 06 _18 EAD_Data _CH 06_ _18 EAD_Data _CH 07 _18 EAD_Data _CH 07_ _18 EAD_Data _CH 08 _18 EAD_Data _CH 08_ _18 EAD_Data _CH 09 _18 EAD_Data _CH 09_ _18 EAD_Data _CH 10 _18 EAD_Data _CH 10_ _18 EAD_Data _CH 11 _18 EAD_Data _CH 11_ _18 EAD_Data _CH 12 _18 EAD_Data _CH 12_ _18 EAD_Data _CH 13 _18 EAD_Data _CH 13_ _18 EAD_Data _CH 14 テ ゙ハ ゙イスタグ デバイスタグ一覧 DevTag 1 - 割付先 デバイスアドレス コメント C-48 IU2 設計事例集 M1 Y1 _Auto _Mode _Check _NG D70 D71 _Daq _Data _Element _1 _Daq _Data _Element _1_ D72 DBL 3 _Daq _Data _2 _Daq _Data _Element _2 DBL 2 _Daq _Data _1 Y0 D8800 _Check _OK M0 D10087 D10086 D10085 D10084 D10083 D10082 D10081 D10080 D10079 D10078 D10077 D10076 D10075 D10074 D10073 D10072 D10035 D10034 D10033 D10032 D10031 D10030 D10029 _Auto _Manu _For _Table デバイスタグ _Auto _Manu _8 EDA_Data_ CH07_ _8 EDA_Data_ CH07 _8 EDA_Data_ CH06_ _8 EDA_Data_ CH06 _8 EDA_Data_ CH05_ _8 EDA_Data_ CH05 _8 EDA_Data_ CH04_ _8 EDA_Data_ CH04 _8 EDA_Data_ CH03_ _8 EDA_Data_ CH03 _8 EDA_Data_ CH02_ _8 EDA_Data_ CH02 _8 EDA_Data_ CH01_ _8 EDA_Data_ CH01 _8 EDA_Data_ CH00_ _8 EDA_Data_ CH00 _18 EAD _Data _CH17 _ _18 EAD _Data _CH17 _18 EAD _Data _CH16 _ _18 EAD _Data _CH16 _18 EAD _Data _CH15 _ _18 EAD _Data _CH15 _18 EAD _Data _CH14 _ 割付先 デバイスアドレス Test mode select on :Auto コメント 圧力センサ検査装置 (4) デバイスタグ一覧 M3 M4 M5 D46 D47 D48 D49 DF 35 M8640 D0 _Graph _Clear _ 2 _Graph _Start _1 _Graph _Start _2 _L_Data 1 _L_Data 1_ _L_Data 2 _L_Data 2_ _L_Result _Data_DF _Main 1_Start _Model D13 M2 _Graph _Clear _ 1 _Result _3 M204 _File _Save _Err D12 M203 _File _Read _ Err _Result _2 M205 _Err _Skip _PS_Test D11 D2 _Err _Code _Result _1 M200 _Err D10 D8500 _Disp _Result _0 D67 _Data _InLevel _Time _2_ Y4 D66 _Data _InLevel _Time _2 _Ready D65 _Data _InLevel _Time _1_ DF 37 D64 _Data _InLevel _Time _1 _R_Result _Data 2 _DF D63 _Data _InLevel _Num _2 DF 36 D62 _Data _InLevel _Num _1 _R_Result _Data 1 _DF M202 _Daq_ Err_Flag _2 M198 M201 _Daq_ Err_Flag _1 _P_Skip D61 _Daq_ Data_ Index _2 D1 D60 _Daq_ Data_ Index _1 _Model _Disp D73 _Daq_ Data_ Element _2_ デバイスタグ DevTag 2 - 割付先 テ ゙バイスアドレス 判定結果 判定結果 判定結果 判定結果 Tset target 応答性試験 2(負圧 ) 応答性試験 1(正圧 ) リーク 試験 電源試験 Display select コメント D16 _Result _6 DF 0 DF 1 _Save _ Data_ Buffer _0 _Save _ Data_ Buffer _1 DF 13 _Save _ Data_ Buffer _13 _Start _Step _4 _Start _Step _3 _Start _Step _2 _Start _Step _1 _Start _Step _0 _Start _Master _Start _In _Sensor _2_DF _Sensor _1_DF _Sel_Model 4 _Sel_Model 3 _Sel_Model 2 _Sel_Model 1 _Save _ File_name _Save _ Data_ Buffer _9 _Save _ Data_ Buffer _8 _Save _ Data_ Buffer _7 _Save _ Data_ Buffer _6 _Save _ Data_ Buffer _5 _Save _ Data_ Buffer _4 _Save _ Data_ Buffer _3 _Save _ Data_ Buffer _2 _Save _ Data_ Buffer _19 _Save _ Data_ Buffer _18 _Save _ Data_ Buffer _17 _Save _ Data_ Buffer _16 _Save _ Data_ Buffer _15 M14 M13 M12 M11 M10 M9 X4 DF 41 DF 40 X3 X2 X1 X0 DBL 1 DF 9 DF 8 DF 7 DF 6 DF 5 DF 4 DF 3 DF 2 DF 19 DF 18 DF 17 DF 16 DF 15 DF 14 DF 12 _Save _ Data_ Buffer _12 _Save _ Data_ Buffer _14 DF 11 _Save _ Data_ Buffer _11 DF 10 D19 _Result _9 _Save _ Data_ Buffer _10 D18 _Result _8 D17 D15 _Result _5 _Result _7 D14 デバイスタグ _Result _4 割付先 テ ゙バイスアドレス 判定結果 ( 予備 ) 判定結果 ( 予備 ) 判定結果 ( 予備 ) 判定結果 ( 予備 ) 判定結果 ( 予備 ) 判定結果 ( 予備 ) コメント 圧力センサ検査装置 IU2 設計事例集 C-49 M15 M16 M17 M18 M19 M110 M111 M112 M113 M114 M115 M116 M117 M118 M119 M120 M121 M122 M123 M124 M125 M126 M127 M128 M129 M130 M131 M132 M133 M134 M135 M136 M137 M138 M139 D8820 D1000 M199 _Start _Step _5 _Start _Step _6 _Start _Step _7 _Start _Step _8 _Start _Step _9 _Status _ Disp_1 _0 _Status _ Disp_1 _1 _Status _ Disp_1 _2 _Status _ Disp_1 _3 _Status _ Disp_1 _4 _Status _ Disp_1 _5 _Status _ Disp_1 _6 _Status _ Disp_1 _7 _Status _ Disp_1 _8 _Status _ Disp_1 _9 _Status _ Disp_2 _0 _Status _ Disp_2 _1 _Status _ Disp_2 _2 _Status _ Disp_2 _3 _Status _ Disp_2 _4 _Status _ Disp_2 _5 _Status _ Disp_2 _6 _Status _ Disp_2 _7 _Status _ Disp_2 _8 _Status _ Disp_2 _9 _Status _ Disp_3 _0 _Status _ Disp_3 _1 _Status _ Disp_3 _2 _Status _ Disp_3 _3 _Status _ Disp_3 _4 _Status _ Disp_3 _5 _Status _ Disp_3 _6 _Status _ Disp_3 _7 _Status _ Disp_3 _8 _Status _ Disp_3 _9 _Step _Key _For _Table _TEST _DATA 00 _Test _Flag 1 テ ゙バイスタグ DevTag 3 - 割付先 テ ゙バイスアドレス C-50 IU2 設計事例集 応答試験画面状態遷移 (予備 ) 応答試験画面状態遷移 (予備 ) 応答試験画面状態遷移 (予備 ) 応答試験画面状態遷移 (判定 ) 応答試験画面状態遷移 (大気圧開放 ⇒計測 ) 応答試験画面状態遷移 (準備 ) 応答試験画面状態遷移 (判定 ) 応答試験画面状態遷移 (加圧 ⇒計測 ) 応答試験画面状態遷移 (準備 ) 応答試験画面状態遷移 (大気圧開放 ) リーク 試験画面状態遷移 (予備 ) リーク 試験画面状態遷移 (予備 ) リーク 試験画面状態遷移 (予備 ) リーク 試験画面状態遷移 (予備 ) リーク 試験画面状態遷移 (予備 ) リーク 試験画面状態遷移 (判定 ) リーク 試験画面状態遷移 (確認中 ) リーク 試験画面状態遷移 (密閉 ) リーク 試験画面状態遷移 (加圧 ) リーク 試験画面状態遷移 (大気圧開放 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (判定 ) 電源試験画面状態遷移 (電圧測定 ) 電源試験画面状態遷移 (電源印加 ) コメント D3 _Test _Step D80 D81 Y5 Y6 DBL 0 DF25 DF27 DF26 DF45 D128 D129 DF28 DF29 DF34 DF33 DF32 DF31 DF30 DF22 DF21 DF23 DF24 DF39 _Tmin _2 _Tmin _2 _ _VAL 1 _VAL 2 _Value _File _name _Value _L_Pa _DF _Value _L_Pa _max _DF _Value _L_Pa _min _DF _Value _L_Pa _temp _ DF _Value _L_Time _Value _L_Time _ _Value _L_Time _DF _Value _R_Pa _DF _Value _R_Pa _Temp _DF _Value _R_Time _max _DF _Value _R_Time _min _DF _Value _R_Vth _H_DF _Value _R_Vth _L_DF _Value _Vcc _DF _Value _Vcc _DF_ZERO _Value _Vcc _H_DF _Value _Vcc _L_DF _Vcc _Data _DF _Auto _Manu _Auto _Mode _Graph _Clear _1 _Graph _Clear _2 _Graph _Start _1 _Graph _Start _2 _Start _Master _Start _Step _0 _Start _Step _1 M0 M1 M2 M3 M4 M5 M9 M10 M11 アドレス デバイスタグ確認<M0-M7999> D75 _Tmin _1 _ D74 D5 _Test _L_Time _Disp _Tmin _1 D4 デバイスタグ _Test _L_Time テ ゙バイスタグ 割付先 テ ゙バイスアドレス Test mode select on :Auto コメント コメント 圧力センサ検査装置 _Status _Disp _1_8 _Status _Disp _1_9 _Status _Disp _2_0 _Status _Disp _2_1 _Status _Disp _2_2 _Status _Disp _2_3 _Status _Disp _2_4 _Status _Disp _2_5 _Status _Disp _2_6 _Status _Disp _2_7 _Status _Disp _2_8 _Status _Disp _2_9 _Status _Disp _3_0 M118 M119 M120 M121 M122 M123 M124 M125 M126 M127 M128 M129 M130 _Status _Disp _3_8 _Status _Disp _1_7 M117 M138 _Status _Disp _1_6 M116 _Status _Disp _3_7 _Status _Disp _1_5 M115 M137 _Status _Disp _1_4 M114 _Status _Disp _3_6 _Status _Disp _1_3 M113 M136 _Status _Disp _1_2 M112 _Status _Disp _3_5 _Status _Disp _1_1 M111 M135 _Status _Disp _1_0 M110 _Status _Disp _3_4 _Start _Step _9 M19 _Status _Disp _3_3 _Start _Step _8 M18 M134 _Start _Step _7 M17 M133 _Start _Step _6 M16 _Status _Disp _3_2 _Start _Step _5 M15 M132 _Start _Step _4 M14 _Status _Disp _3_1 _Start _Step _3 M13 M131 _Start _Step _2 M12 アドレス DevTag 4 - デバイスタグ 応答試験画面状態遷移 (予備 ) 応答試験画面状態遷移 (予備 ) 応答試験画面状態遷移 (判定 ) 応答試験画面状態遷移 (大気圧開放 ⇒ 計測 ) 応答試験画面状態遷移 (準備 ) 応答試験画面状態遷移 (判定 ) 応答試験画面状態遷移 (加圧 ⇒ 計測 ) 応答試験画面状態遷移 (準備 ) 応答試験画面状態遷移 (大気圧開放 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 予備 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 判定 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 確認中 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 密閉 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 加圧 ) リーク 試験画面状態遷移 ( 大気圧開放 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (予備 ) 電源試験画面状態遷移 (判定 ) 電源試験画面状態遷移 (電圧測定 ) 電源試験画面状態遷移 (電源印加 ) コメント _Test _Flag 1 M199 _File _Read _Err _File _Save _Err M203 M204 アドレス D62 D61 D60 D49 D48 D47 D46 D19 D18 D17 D16 D15 D14 D13 D12 D11 D10 D5 D4 D3 D2 D1 D0 アドレス デバイスタグ確認<D0-D7999> M8640 _Data _InLevel _Num _1 _Daq_Data _Index _ 2 _Daq_Data _Index _ 1 _L_Data 2_ _L_Data 2 _L_Data 1_ _L_Data 1 _Result _9 _Result _8 _Result _7 _Result _6 _Result _5 _Result _4 _Result _3 _Result _2 _Result _1 _Result _0 _Test _L_Time _ Disp _Test _L_Time _Test _Step _Err _Code _Model _Disp _Model _Main 1_Start デバイスタグ確認 <M8000-M9999> _Err _Skip _PS _Test _Daq_Err_Flag _2 M202 M205 _Daq_Err_Flag _1 M201 _Err _P_Skip M198 M200 _Status _Disp_3 _9 アドレス M139 テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ コメント コメント 応答性試験 2 (負圧 ) 応答性試験 1 (正圧 ) リーク 試験 電源試験 判定結果 (予備 ) 判定結果 (予備 ) 判定結果 (予備 ) 判定結果 (予備 ) 判定結果 (予備 ) 判定結果 (予備 ) 判定結果 判定結果 判定結果 判定結果 Tset target コメント 応答試験画面状態遷移 (予備 ) 圧力センサ検査装置 IU2 設計事例集 C-51 C-52 IU2 設計事例集 _Data _InLevel _Time _2 _Data _InLevel _Time _2_ _Daq_Data _Element _1 _Daq_Data _Element _1_ _Daq_Data _Element _2 _Daq_Data _Element _2_ _Tmin _1 _Tmin _1_ _Tmin _2 _Tmin _2_ _Value _L_Time _Value _L_Time _ _TEST _DATA 00 D66 D67 D70 D71 D72 D73 D74 D75 D80 D81 D128 D129 D1000 _Step _Key _For _Table D8820 _Sel _Model 2 _Sel _Model 3 _Sel _Model 4 _Start _In X1 X2 X3 X4 アドレス デバイスタグ確認<X1000-X31719> _Sel _Model 1 X0 アドレス デバイスタグ デバイスタグ _Auto _Manu _For _Table D8800 デバイスタグ確認 <X0-X255> _Disp D8500 アドレス デバイスタグ _Data _InLevel _Time _1_ D65 デバイスタグ確認<D8000-D9999> _Data _InLevel _Time _1 D64 デバイスタグ _Data _InLevel _Num _2 D63 アドレス DevTag 5 - Display select コメント コメント コメント コメント _Check _NG _Ready _VAL 1 _VAL 2 Y1 Y4 Y5 Y6 _18 EAD _Data _CH 01 _18 EAD _Data _CH 01_ _18 EAD _Data _CH 02 _18 EAD _Data _CH 02_ D10002 D10003 D10004 D10005 _18 EAD _Data _CH 08_ _18 EAD _Data _CH 09 _18 EAD _Data _CH 09_ D10018 D10019 _18 EAD _Data _CH 08 _18 EAD _Data _CH 07_ _18 EAD _Data _CH 07 _18 EAD _Data _CH 06_ _18 EAD _Data _CH 06 D10017 D10016 D10015 D10014 D10013 D10012 _18 EAD _Data _CH 05_ _18 EAD _Data _CH 05 D10011 _18 EAD _Data _CH 04_ D10010 _18 EAD _Data _CH 04 _18 EAD _Data _CH 03_ D10009 D10008 D10007 _18 EAD _Data _CH 03 _18 EAD _Data _CH 00_ D10001 D10006 _18 EAD _Data _CH 00 D10000 アドレス デバイスタグ確認<D10000-D10127> アドレス デバイスタグ確認<Y1000-Y31719> _Check _OK Y0 アドレス デバイスタグ確認<Y0-Y255> テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ コメント コメント コメント 圧力センサ検査装置 _18 EAD_Data _CH10 _18 EAD_Data _CH10 _ _18 EAD_Data _CH11 _18 EAD_Data _CH11 _ _18 EAD_Data _CH12 _18 EAD_Data _CH12 _ _18 EAD_Data _CH13 _18 EAD_Data _CH13 _ _18 EAD_Data _CH14 _18 EAD_Data _CH14 _ _18 EAD_Data _CH15 _18 EAD_Data _CH15 _ _18 EAD_Data _CH16 _18 EAD_Data _CH16 _ _18 EAD_Data _CH17 _18 EAD_Data _CH17 _ _8EDA _Data _CH 00 _8EDA _Data _CH 00 _ _8EDA _Data _CH 01 _8EDA _Data _CH 01 _ _8EDA _Data _CH 02 _8EDA _Data _CH 02 _ _8EDA _Data _CH 03 _8EDA _Data _CH 03 _ _8EDA _Data _CH 04 _8EDA _Data _CH 04 _ _8EDA _Data _CH 05 _8EDA _Data _CH 05 _ _8EDA _Data _CH 06 _8EDA _Data _CH 06 _ _8EDA _Data _CH 07 D10020 D10021 D10022 D10023 D10024 D10025 D10026 D10027 D10028 D10029 D10030 D10031 D10032 D10033 D10034 D10035 D10072 D10073 D10074 D10075 D10076 D10077 D10078 D10079 D10080 D10081 D10082 D10083 D10084 D10085 D10086 アドレス DevTag 6 - デバイスタグ コメント アドレス _8 EDA_Data _CH07 _ アドレス _Daq_Data _2 _Daq_Data _1 _Save _File _name _Value _File _name DF 10 DF 9 DF 8 DF 7 DF 6 DF 5 DF 4 DF 3 DF 2 DF 1 DF 0 アドレス _Save _Data _Buffer _10 _Save _Data _Buffer _9 _Save _Data _Buffer _8 _Save _Data _Buffer _7 _Save _Data _Buffer _6 _Save _Data _Buffer _5 _Save _Data _Buffer _4 _Save _Data _Buffer _3 _Save _Data _Buffer _2 _Save _Data _Buffer _1 _Save _Data _Buffer _0 デバイスタグ確認<DF0-DF30719> アドレス デバイスタグ確認<DL0-DL30719> アドレス デバイスタグ確認<DS0-DS30719> アドレス デバイスタグ確認<DC0-DC30719> アドレス デバイスタグ確認<DB0-DB30719> DBL 3 DBL 2 DBL 1 DBL 0 デバイスタグ確認<DBL0-DBL255> D10087 テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ テ ゙バイスタグ コメント コメント コメント コメント コメント コメント コメント 圧力センサ検査装置 IU2 設計事例集 C-53 _Save _Data _Buffer _12 _Save _Data _Buffer _13 _Save _Data _Buffer _14 _Save _Data _Buffer _15 _Save _Data _Buffer _16 _Save _Data _Buffer _17 _Save _Data _Buffer _18 _Save _Data _Buffer _19 _18 EAD_Data _CH04 _DF _Value _Vcc_DF_ ZERO _Value _Vcc_DF _Value _Vcc_H_ DF _Value _Vcc_L_DF _Value _L_Pa _DF _Value _L_Pa _min_DF _Value _L_Pa _max _DF _Value _L_Time _DF _Value _R_Pa_ DF _Value _R_Vth _L_DF _Value _R_Vth _H_DF _Value _R_Time _min_DF _Value _R_Time _max _DF _Value _R_Pa_ Temp _ DF _L_Result _Data _DF _R_Result _Data 1_ DF _R_Result _Data 2_ DF _Vcc_Data_DF _Sensor _1 _DF _Sensor _2 _DF _Value _L_Pa _temp _DF DF 12 DF 13 DF 14 DF 15 DF 16 DF 17 DF 18 DF 19 DF 20 DF 21 DF 22 DF 23 DF 24 DF 25 DF 26 DF 27 DF 28 DF 29 DF 30 DF 31 DF 32 DF 33 DF 34 DF 35 DF 36 DF 37 DF 39 DF 40 DF 41 DF 45 デバイスタグ _Save _Data _Buffer _11 DF 11 アト ゙レス DevTag 7 コメント アドレス デバイスタク ゙確認 <DD 0-DD30719 > テ ゙バイスタグ コメント 圧力センサ検査装置 C-54 IU2 設計事例集 三菱データ収集アナライザ システムパートナーのご紹介 INDEX モータ検査装置 M E LQ I C をご 使 用され た 検 査 装 置 のシステムやソフトウェアの 構 築 をご 希 望 の 場 合、下 記 のシステム パートナーを 紹 介 いたします。 ﹁ パソコンの 検 査 ではメンテが 不 安 だ ⋮ ﹂ 東日本営業所……………………………………… 〒102-0073 東京都千代田区九段北1-13-5(日本地所第一ビル)………(03)3288-1108 基板検査装置 田町支所………………………………………… 〒108-0073 東京都港区三田3-13-16(三田43MTビル15階) ……………(03)5484-6755 中日本営業所……………………………………… 〒450-0002 名古屋市中村区名駅3-14-16(東洋ビル)…………………(052)565-3435 西日本営業所……………………………………… 〒530-0003 大阪市北区堂島2-2-2(近鉄堂島ビル)………………………(06)6347-2969 老朽化したパソコンベースの検査装置や データ収集アナライザ、三菱 中国営業グループ………………………………… 〒730-0037 広島市中区中町7-41(三栄第一ビル)………………………(082)248-5390 専用の検査装置に代わる、 九州営業所………………………………………… 〒810-0001 福岡市中央区天神4丁目1-7(第3明星ビル)………………(092)721-2202 の 《MELQIC》 。 システム技術相談 電話番号(079)297-9544 FAX番号(079)297-4421 圧力センサ検査装置 ﹁ 専 用 の 検 査 機 を 導 入 す る 予 算 は ない⋮ ﹂ 1.三菱電機エンジニアリング株式会社 2.三菱電機コントロールソフトウェア株式会社 ソリューション事業部 営業第1部…………… 〒108-0074 東京都港区高輪3-26-33(秀和品川ビル6F)………………(03)5798-2288 三菱データ収集 アナライザ 3.三菱電機システムサービス株式会社 ソリューション事業部 営業第2部…………… 〒553-0003 大阪市福島区福島7-15-26(大阪YMビル6F) ……………(06)6454-2001 北日本支社 (機 電 営 業 課)………………〒984-0042 仙台市若林区大和町2-18-23…………………………………(022)236-3818 北海道支店 (機 電 営 業 課)………………〒004-0041 札幌市厚別区大谷地東2-1-18…………………………………(011)890-7515 東京機電支社 (システム部)…………………〒108-0022 東京都港区海岸3-19-22………………………………………(03)3454-1561 中部支社 (機電部機電システム課)……〒461-8675 名古屋市東区矢田南5-1-14……………………………………(052)722-7603 北陸支店 (機 電 営 業 課)………………〒920-0811 金沢市小坂町北255……………………………………………(076)251-0559 関西機電支社 (システム部)…………………〒531-0076 大阪市北区大淀中1-4-13………………………………………(06)6454-0191 中四国支社 (機電システム課)……………〒732-0802 広島市南区大州4-3-26…………………………………………(082)285-2112 四国支店 (機 電 営 業 課)………………〒760-0072 高松市花園町1-9-38……………………………………………(087)831-3186 九州支社 (機電部 機電営業 課)………〒812-0007 福岡市博多区東比恵3-12-16(東比恵スクエアビル)……(092)483-8208 産業システムセンター(システム営業課)……………〒108-0022 東京都港区海岸3-19-22………………………………………(03)5484-3612 (システムエンジニアリング部)…〒461-8675 名古屋市東区矢田南5-1-14……………………………………(052)722-8711 安全にお使いいただくために これまで検査工程には専用のFA製品がなく、パソコンベースの検査装置や、専用の検査装置 に頼っているのが現状でした。 しかし、パソコンベースのものはOS環境のトレンドに左右され、 また専用機は非常に高価なことがネックとなっていたのです。 ●本製品は一般工業製品の検査・データ収集を対象とした汎用品として設計・製作されたもので、 公共への影響、 人命や財産 への影響が大きい機器あるいはシステムに用いられる部品や製品の検査・データ収集を目的に設計、 製造されたものではあり ません。 ●本製品を原子力用、 電力用の機器あ るいはシステムなど特殊用途に用いられる部品や製品の検査 ・データ収集へ適用をご検 OS環境に左右されない 検査デ−タを 統合化ソフトウェアで 討の際には、 当社の営業担当窓口までご照会ください。 ソフトウェア 品質管理に有効活用 開発効率アップ ●本製品は厳重な品質管理体制の下に製造しておりますが、 本製品の故障・不具合により重大な損失または事故の発生が予 測される部品や製品の検査・データ収集への適用に際しては、 バックアップやフェールセーフ、 自己診断の機能をシステム的に設 パソコンベースの検査装置と異なり、 OS環 置して ください。検査データを分析・加工、ネットワークに連動 Windowsベースの統合化プログラミングソ ●本導入事例の掲載内容は、 すべての状況下において動作を保証しているものではありません。 そこで開発されたのが、三菱のデータ収集アナライザ《MELQIC》。 境のトレンドに左右されないソフトウェアであ 検査内容に最適なプログラムにより、作業効率を一気に向上。製造ラインのタクトタイムを ●本導入事例を利用する ことによって生じ た如何なる損害も 当社は補償をいた しません。 短縮。グラフィ カルプログラミングにより、開 不良率の算出) が可能 ることも大きなメリット。長期にわたるサポー ト つき、平均値の推移、 大幅に短縮します。これまでの検査装置に代わる、FAラインのための新しいユニットです。 も安心、耐久性・信頼性にも優れています。 して集計・解析 (検査データの統計処理、 ばら フトウェア「IU Developer」で、開発期間を ●本導入事例は、 MELQIC本体のプログラムを行う際の基本的な考え方や具体的なプログラミングの一例を示したものです。 です。品質管理に有効に活用できます。 発効率とメンテナンス性が格段に向上します。 商標、登録商標について Microsoft, Windows, Visio, Excelは、 米国Microsoft Corporationの米国およびその他の国における登録商標または商標です。 VxWORKS, TORNADOは、 Wind River Systems,Incの登録商標です。 SH4は、 ルネサスエレクトロニクス株式会社の登録商標です。 その他の会社名や商品名は、 それぞれの会社の商標または登録商標です。 3 お問合せは下記へどうぞ 本社機器営業部…………… 〒10 0 - 8310 北海道支社………………… 〒060-8693 東北支社…………………… 〒 980 - 0011 福島支店…………………… 〒963-8002 関越支社…………………… 〒330-6034 新潟支店…………………… 〒950-8504 神奈川支社………………… 〒 2 20 - 8118 北陸支社…………………… 〒 920-0031 中部支社…………………… 〒450-8522 豊田支店…………………… 〒471- 0 034 関西支社…………………… 〒530-8206 中国支社…………………… 〒730-8657 四国支社…………………… 〒760-8654 九州支社…………………… 〒810 -8686 三菱データ収集アナライザ 三菱データ収集アナライザ 〒100-8310 東京都千代田区丸の内2丁目7番3号 (東京ビル) 東京都千代田区丸の内2丁目7番3号(東京ビル)………………………………(03)3218- 6760 札幌市中央区北二条西4丁目1(北海道ビル)……………………………………(011)212- 379 4 仙台市青葉区上杉1-17-7(仙台上杉ビル)………………………………………(022)216-4546 郡山市駅前2-11-1(ビッグアイ)…………………………………………………(024)923-5624 さいたま市中央区新都心11番地2(明治安田生命さいたま新都心ビル ランド・アクシス・タワー34F)…(048)600-5835 新潟市中央区東大通2-4-10(日本生命ビル)…………………………………(025)241-72 27 横浜市西区みなとみらい2-2-1(横浜ランドマークタワー)……………………(045)224-2624 金沢市広岡3-1-1(金沢パークビル)……………………………………………(076)233-5502 名古屋市中村区名駅3-28-12(大名古屋ビル)…………………………………(052)565-3314 豊田市小坂本町1-5-10(矢作豊田ビル)………………………………………(0565)34 - 4112 大阪市北区堂島2-2-2(近鉄堂島ビル)…………………………………………(06)6347-2771 広島市中区中町7番32号(ニッセイ広島ビル)…………………………………(082)248-5445 高松市寿町1-1-8(日本生命高松駅前ビル)……………………………………(087)825-0055 福岡市中央区天神2-12-1(天神ビル)……………………………………………(092)721-2247 三菱電機システムサービス株式会社 北日本支社…………………………… 北海道支店………………………… 東京機電支社………………………… 神奈川機器サービスステーション… 関 越 機 器サービスステーション… 新 潟 機 器サービスステーション… 中部支社……………………………… 北陸支店…………………………… 静岡 機 器サービスステーション… 関西機電支社………………………… 京滋 機 器サービスステーション… 姫 路 機 器サービスステーション… 中四国支社…………………………… 四国支店……………………………… 倉 敷 機 器サービスステーション… 九州支社……………………………… 長崎機器サービスステーション…… 〒 984-0042 〒 004- 0041 〒108 - 0022 〒 224-0053 〒338-0822 〒 950-8504 〒4 61- 8 675 〒 920 - 0811 〒422- 8058 〒 5 31- 0 076 〒 612- 8444 〒 670-0836 〒732- 0802 〒760 - 0072 〒 712- 8 011 〒 812- 0 0 07 〒850-8652 仙台市若林区大和町2-18-23………………………………………(022)238 -1761 札幌市厚別区大谷地東2-1-18………………………………………(011)8 9 0 -7515 東京都港区海岸3-19-22(三菱倉庫芝浦ビル)……………………(03)3454-5521 横 浜 市 都 筑 区 池 辺 町 3 9 6 3 -1… … … … … … … … … … … … …(045)938-5420 さいたま市桜区中島2-21-10………………………………………(048)859-7521 新潟市中央区東大通2-4-10(日本生命ビル6F)……………………(025)241-7261 名古屋市東区矢田南5-1-14…………………………………………(052)722-7601 金沢市小坂町北255…………………………………………………(076)252-9519 静岡市駿河区中原877-2……………………………………………(054)287-8866 大阪市北区大淀中1-4-13……………………………………………(06)6458-9728 京都市伏見区竹田田中宮町8番地…………………………………(075)611- 6 211 姫路市神屋町6-76……………………………………………………(07 9)2 81-1141 広島市南区大州4-3-26………………………………………………(082)28 5 -2111 高松市花園町1-9-38…………………………………………………(087)831-3186 倉敷市連島町連島445-4……………………………………………(086)448-5532 福岡市 博多区東 比恵3 -12-16……………………………………(092)483-8208 長崎市丸尾町4番4号…………………………………………………(095)818- 0700 MELFANSwebのFAランドでは、 ソフトウェアアップデートのダウンロードサー ビスがご利用いただけます。 FAランドのID登録 (無料) が必要です。 三菱電機FA機器電話技術相談 対象機種 MELQIC IU2シリーズ ※土・日・祝祭日、春期・夏期・年末年始の休日を除く通常業務日 電話番号 受付時間※ 079-298-9440 月曜∼金曜 9:00∼17:00 安全に関するご注意 本カタログに記載された製品を正しくお使いいただくため ご使用の前に必ず「マニュアル」をお読みください。 2010年8月作成 JZ990C39301B (MEE) この印刷物は2010年8月の発行です。 なお、 お断りなしに仕様を変更することがありますのでご了承ください。 設計事例集 サービスのお問合わせは下記へどうぞ 三菱データ収集アナライザ 設計事例集