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Leaflet
“故障の
故障の芽”を早期発見、
早期発見、弱点を
弱点を克服し
克服し信頼性アップ
信頼性アップ
HALT試験
試験サービス
試験サービスのご
サービスのご案内
のご案内
製品出荷後に
製品出荷後 に 不具合が
不具合 が 発生すると
発生 すると、
すると 、お 客様に
客様 に 多大なご
多大 なご迷惑
なご迷惑をお
迷惑をお掛
をお掛けす
ることになります。
ることになります。さらに、
さらに、膨大な
膨大な改修コスト
改修コストが
コストが掛かり、
かり、製品の
製品の品質や
品質や製造
メーカに
メーカに対するイメージ
するイメージも
イメージも大きくダウン
きくダウンしてしまいます
ダウンしてしまいます。
してしまいます。
弊社の
弊社 の 経験を
経験 を 生 かし、
かし 、開発段階で
開発段階 で“故障の
故障の芽 ”（弱点）
弱点）を早期に
早期に発見して
発見して
対策することにより
対策することにより、
することにより、製品の
製品の信頼性を
信頼性を一段と
一段とアップさせる
アップ させる一歩先
させる一歩先を
一歩先を行く製
品作り
品作りをサポートします
サポートします。
します。
“故障の
故障の芽”の発見例
HALT試験によって発見された“故障の芽”の事例をご紹介します
設計過誤
タイミングマージン不足， ＩＣ入力ピンの未処理， 時定数回路用コンデンサのＥＳＲ増加，
ロジック回路の電源電圧と信号電圧の不一致
部品の脱落
電源用コンデンサー， ＬＤモジュール， ＣＦメモリー
接触不良
コネクタの接触不良， はんだ付け不良， リレー接点劣化
部品不良
ディジタルＩＣのノイズマージン不足， ＶＣＯ用インダクタの不具合
信頼性の
信頼性の向上
温度における
温度における改善例
における改善例
※稼動限界・破壊限界を製品規格から遠ざける(マージンを広げる)ことで、製品の信頼性向上を図ります。
HALTとは
HALTとは？
とは？
HALT (Highly Accelerated Life Test)は，被試験物に対して仕
様を超える温度･振動ストレスを印加して稼動限界・破壊限界
を見極め、機器に潜在する故障要因を早期に発見し、その要
因を改善することにより短期間で信頼性を向上させるための
試験です。規格に基づいて合否を判定する試験ではなく、また
一般に「高加速寿命試験」と訳されていますが、加速係数を用
いて製品寿命を推定する｢寿命試験｣とも異なるものです。
HALT被試験物
HALT被試験物の
被試験物の例
特長と
特長と仕様
-100℃
100℃ ～ +200℃
+200℃の広い温度範囲設定
液化窒素
液化窒素と
強力ヒータ
ヒータによる
による50
50℃
と強力
ヒータ
による
50
℃／分の急速温度変化
2
6DoF*ランダム
ランダム振動
490 m/s (50Grms) までの 6DoF*
ランダム
振動 （* DoF=Degree of Freedom）
最大搭載質量
145kg
振動テーブル
寸 法： 762W×762D (mm)
取付穴： M10，4 インチ間隔にて64 穴
加振加速度
49 ～ 490m/s2
( 5 ～ 50Grms)
ワーク
スペース
750W×750D×700H (mm)
設定温度範囲
-100℃ ～ +200℃
温度可変勾配
50℃/分
ご利用相談
まず弊社担当者とお客様で事前打合せを実施し、被試験機器のHALT試験装置への固定方法・機能試験方法・
ストレスに弱い既知部分への対策等を検討いたします。
試験報告書
- お客様のご希望により、試験報告書を作成いたします。
- 温度・振動の設定値・実測値のCSVファイルを、試験終了時にお渡しいたします。
ご利用時間
平日／休日
午 前
9:00 ～ 12:00
午後
13:00 ～ 17:00
時間外
17:30 ～ 22:00
- 通常１回の試験に５日間を要します。
- 時間外は1時間単位で承ります。
- 時間外および休日は割増料金をいただきます。
HALT試験
HALT試験の
試験の詳細・
詳細・見学について
見学について
お気軽に弊社EMCセンターにお問い合わせください。ご利用にあたって事前のご見学も承ります。
記載事項は、お断りなしに変更することがあります。
アンリツ計測器
アンリツ計測器カストマサービス
計測器カストマサービス株式会社
カストマサービス株式会社
EMCセンター
EMCセンター
http://www.anritsu.co.jp/service/EMC/
〒243243-0032 神奈川県厚木市恩名 5 – 1 - 1
TEL：
FAX：
TEL： 046046-296296-6744
FAX： 046046-296296-6784
HALT試験受付
HALT試験受付E
試験受付E-mail: [email protected]
Doc.# APCE-HALT-2010-12-00