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Agilent 8960シリーズ E5515C 無線通信テスト・セットによる
Agilent 8960シリーズ E5515C 無線通信テスト・セットによる W-CDMA移動機校正用の 高速デバイス・チューニング 測定ソリューション Application Note はじめに 携帯電話市場では、製造でのテスト・コストの削減がますます 重要になってきています。このため、高速校正手法によるテス ト時間の短縮が必要になっています。高速校正手法には、特殊 なチップセット・サポート機能と高度なテスト機器が必要です。 このような機能は、Agilentの8960やE6601A無線通信テスト・ セットが提供するAgilentの高速デバイス・チューニングにより 実現できます。チップセットのテスト・モード・ソフトウェア と組み合せて移動機のテスト・シーケンスと同期させながら、 高速デバイス・チューニングを使用すると、トランスミッタの 出力パワーやレシーバの入力レベルの校正にかかるテスト時間 を大幅に短縮できます。トランスミッタやレシーバの校正を、 振幅および周波数に対して周波数バンドごとに1回の掃引で行う ことにより、測定を高速化できます。 このアプリケーション・ノートでは、8960によるW-CDMA移動 機校正用の高速デバイス・チューニング測定について説明しま す。8960は、無線デバイスのデザインおよび製造テストに最適 化されたAgilentのテスト・セットです。校正の概要、測定セッ トアップの説明、高速デバイス・チューニング・アプリケーシ ョンの機能、プログラミング例も記載しています。 2 目次 移動機の校正 .................................................................................4 校正テストに時間がかかる理由.................................................4 高速校正におけるAgilentの貢献 ...............................................5 高速デバイス・チューニング測定の概要 .....................................7 移動機の要件 ..............................................................................7 テスト・セットの要件................................................................7 実装 .............................................................................................8 測定の概要 ..................................................................................9 初期条件 ....................................................................................10 トリガ........................................................................................10 動作条件 ....................................................................................10 測定パラメータ .........................................................................10 測定結果 ....................................................................................11 トラブルシューティング ..........................................................12 高速デバイス・チューニング測定のプログラミング.................13 プログラム・フロー .................................................................13 プログラミング・コード ..........................................................14 サンプル・プログラムの結果 ..................................................18 まとめ ...........................................................................................19 3 移動機の校正 低価格機のコモディティ化、中位機で高まる多機能化への要求、 積極的なグローバル競争すべてが要因となり、移動機の低価格 化は進む一方です。その結果、移動機の製造コスト全体におけ るテスト・コストの比率が高まり、メーカはテスト・コスト削 減のために真剣な努力を続けています。テスト時間の短縮も、 製造でのテスト・コスト削減の効果的な方法の1つです。多くの 測定が必要なトランスミッタとレシーバの校正テストは、テス ト時間短縮の鍵となる重要なプロセスです。これには製造テス トのスループットを大幅に向上させる、より高速な校正手法が 有益です。 校正テストに時間がかかる理由 移動機の校正には、校正済みRF信号源、校正済みRF測定レシー バ、および特定の測定機能が必要です。校正は、移動機および テスト・セットのプログラム制御が必要な繰り返しの多い反復 プロセスで、コール・プロセッシングは不要です。 校正済みRF信号源としてテスト・セットは正確な既知のレベル を移動機に提供し、移動機はそのレベルを測定します。この測 定値は受信信号強度（RSSI）と呼ばれます。また、校正済みRFレ シーバとしてテスト・セットは、移動機の出力レベルが規制／ 規格要件に適合するかどうかを検証するためのパワー測定とと もに、多くの場合、位相／周波数またはチャネル外エミッショ ンなどの、移動機のトランスミッタ性能を検証するための変調 測定やスペクトラム測定も行います。 製造でのテスト時間短縮のニーズに応えるために、移動機のチ ップセット・プロバイダは高速校正手法を実装しました。この 手法では、チップセットのトランスミッタの出力パワーとレシ ーバの入力レベルを、レベルと周波数に対して1回の周波数バン ド掃引で校正できます。Agilentの8960およびE6601A移動機通 信テスト・セットで使用されている高速デバイス・チューニン グ測定は、このソリューションをサポートするもので、今日の 最先端チップセットの多くに実装されています。 移動機の製造では、製品の品質およびプロバイダ・システム内 の相互運用性を保証するために、正確な校正が必須です。今日 のマルチバンドおよびマルチフォーマットのテストでは、多数 のチャネル（周波数）およびレベル（パワー・レベル）が含まれ ています。例えば通常、W-CDMA校正プロファイルでは、それ ぞれ 15 チャネルある 2 つのバンド（ 800 ∼ 1000 MHz と 1700 ∼ 1990 MHz）で、チャネルあたり20個のパワー・レベルに対して 移動機を測定します。このため、最大600回のパワー測定が追加 されます。さらに300回のレシーバ測定が通常、各バンドで実行 されます。このように、移動機の校正には合計1200回もの測定 が必要です。 このアプリケーション・ノートでは、高速デバイス・チューニ ングの詳細な利点と、これをAgilent 8960 無線通信テスト・セ ットと組み合せてW-CDMA移動機の高速校正を行う方法を説明 します。 （カタログ番号 5989-6500EN の E6601A 用高速デバイ ス・チューニング測定に関するアプリケーション・ノートに、 類似した内容が記載されています）。 従来の「設定→測定」というプロセスでは、移動機を各チャネ ルおよび各レベルに設定した後、テスト・セットを同じチャネ ルに設定してパワーを測定します。このプロセスは、すべての 校正チャネルおよびレベルの測定が完了するまで各チャネルで 繰り返され、校正補正データが移動機に保存されます。次に同 じ「設定→測定」というプロセスが、テスト・セットのRF信号 源を使用して行われ、移動機レシーバのRSSI校正用の校正済み レベルが提供されます。W-CDMAデバイスの校正では、この方 法が完了するのに 150 秒以上かかり、製造において長い時間を 占めます。しかも、この校正時間の大部分は通信オーバヘッド です。 4 各チャネルおよびレベルに対して、移動機は制御インタフェー スで設定され、テスト・セットはGP-IB/LAN/USBインタフェー スで設定されます。測定データが読み込まれ、校正補正を計算 し、移動機にデータを保存する必要があります。 高速校正におけるAgilentの貢献 ・1998：GMSKパワー測定 ・1999：ダイナミック・パワー測定 ・2005：PAvT測定 ・2006：高速デバイス・チューニング しかし、測定回数を削減して校正プロセスを高速化することだ けが、選択肢ではありません。トランスミッタの出力パワーの 校正は、最大パワー、最小パワー、パワー制御、変調品質、隣 接チャネル漏洩電力、スペクトラム・エミッション、バッテリ 寿命に影響を与えます。レシーバの入力レベルの校正では、レ シーバのダイナミック・レンジに対する不確かさの原因を除去 して、無線ネットワーク内での適切な動作、受信の品質、確度 を保証します。測定をなくすことは必ずしも望ましいことでは ないので、測定プロセスを高速化し、通信オーバヘッドを短縮 する新しい手法が必要です。Agilentの高速デバイス・チューニ ング測定を使用すると、大幅に（例えば、前述のW-CDMA校正プ ロファイルでは 150 秒から 15 秒に）校正テスト時間を短縮でき ます。 Agilentは高速校正手法を提供するために、長年メーカと協力し てきました。1998年、AgilentはGSMバースト・レートに近いレ ートで送信パワーを測定できる機能を備えた、最高速（これまで のテスト・セットの約10倍高速）のGMSKパワー測定を業界に発 表しました。 1999年に発表したダイナミック・パワー測定では、単一チャネ ルでGSMフレーム・レートでパワー・ランプ測定を可能にする ことにより、GMSKパワー測定をさらに50 ％短縮しました。ダ イナミック・パワー測定は拡張を続け、 EDGE 、 W-CDMA 、 cdma2000® 1xRTT のサポートが追加されました。ダイナミッ ク・パワー測定では、定義済みのテスト・モードのパワー・ラ ンプを移動機が各校正チャネルで提供する必要があります。チ ャネルごとに1回のステップ掃引で数百個のパワー・レベルを測 定することにより、通信オーバヘッドを短縮できます。 代表的なW-CDMA校正のテスト・プラン チャネルあたり20個のパワー・レベル 周波数バンドあたり15個のチャネル 2つの周波数バンド 高速デバイス・チューニングの場合 20個のパワー・レベル→20×20 ms＝400 ms 15個のチャネル→15×420 ms＝6.3 s 2つの周波数バンド→2×6.3 s＝12.6 s セルフテスト、VCOチューニング、検証→1∼2 s AgilentのPAvT（位相／振幅対時間）測定は2005年に発表されま した。 PAvT を使用すると、非線形パワー・アンプを校正し、 EGPRS 8PSK信号などの位相が変化する成分を効果的に出力で きるため、 GMSK 信号でも使用できます。この機能により、 GSM/GPRS 移動機用の第 2 パワー・アンプが不要になります。 PAvT測定は、パワー測定のランプ機能の柔軟性を高め、新しい 位相および周波数測定機能を追加します。これらの最適化され た測定アルゴリズムは通常、パルスドCW信号と組み合せて移動 機のテスト・モードで使用されます。差動信号が校正用に必要 な場合は、別の方法を使用できます。この方法では、波形を直 接サンプリングし、生の極座標データまたは受信した IQ データ を使用して校正係数を作成するために必要なデータを計算し ます。 代表的な W-CDMA Tx/RSSI 校正のテスト時間を、 150秒から15秒に短縮できます。 5 高速デバイス・チューニングは校正テストの進化において、最 新かつ最高速の手法で、トランスミッタの出力レベルとレシー バの入力レベルの同時測定を1回の周波数バンド掃引で行うテス ト・セットを実現します。高速デバイス・チューニングをサポ ートするチップセットの場合は、周波数レンジでのパワーおよ びRSSI評価の方法として、この測定をお勧めしています。 周波数 周波数 移動機 Tx/Rx 20 msのステップ・サイズ 再チューニング（20 ms） 図1. W-CDMA移動機用高速デバイス・チューニングでは、 Txパワーを 各20 msのパワー・ステップで、単一周波数バンド内で測定します。 6 高速デバイス・チューニング測定 概要 テスト・セットの要件 Agilent 8960およびE6601A無線通信テスト・セットの高速デバ イス・チューニング測定を使用すると、移動機のトランスミッ タ出力パワーおよびレシーバ入力のレベルと周波数の同時校正 を、周波数バンドごとに1回の掃引で行えます。高速デバイス・ チューニングは、ダイナミック・パワー測定と、出力レベル・ ステップ／周波数ホッピングとの組み合せです。 高速デバイス・チューニングは、 Agilent 8960 シリーズ 10 E5515C無線通信テスト・セットのオプション機能です。このテ スト・セットは今日世界中の主要な移動機メーカに採用されて います。また、高速デバイス・チューニングは、 W-CDMA/ HSDPA 、 cdma2000 、 1xEV-DO 校正テスト用に販売されてい ます。 測定は、移動機をテスト・モードにすることにより行います。 移動機とテスト・セット間にコールが確立されることはないの で、テスト・セットはコール・プロセッシング機能を備えてい ません。しかし、テスト・モードの移動機に、一連の周波数お よびレベルで出力／受信を行わせるには、チップセットのサポ ートとソフトウェアが必要です。パワー・ステップ・シーケン スが送信されるとトラッキングするように事前にテスト・セッ トをセットアップするには、さまざまなアップリンク周波数（チ ャネル）で定義された一連のパワー・ステップが使用されます。 移動機は、この一連のパワー・ステップの送信と同時にレシー バのチューニングを行って、テスト・セットの信号（RSSIなど） をさまざまなダウンリンク周波数およびパワー・レベルで測定 します。 単一のE1999A-201高速デバイス・チューニング・ライセンスに より、E1962B cdma2000テスト・アプリケーション、E1963A W-CDMA テスト・アプリケーション、 E1966A 1xEV-DO テス ト・アプリケーションなどの、8960テスト・アプリケーション 内の高速デバイス・チューニングをオンにできます。 高速デバイス・チューニング対応の8960のラボ・アプリケーシ ョンには、この測定機能が標準装備されているので、 E1999201ライセンスは不要です。 このアプリケーション・ノートではこれ以降、8960シリーズ・ テスト・セットによるW-CDMA/HSDPA校正テスト用の高速デ バイス・チューニング測定に焦点を当てます。cdma2000および 1xEV-DO用のソリューション／テスト手法も似ています。 移動機の要件 このような校正は、チップセット・プロバイダによりチップセ ットにデザインされ、移動機メーカによって移動機の校正段階 で実装する必要があります。移動機コマンドの特別なセットお よびテスト・モード・プロセスは、高速デバイス・チューニン グの使用時に必要です。 7 実装 高速デバイス・チューニング測定ソリューションを実装するに は、移動機のRF出力とテスト・セットのRF入／出力ポート間を 接続します。高速デバイス・チューニング測定パラメータのセ ットアップおよび制御、テスト信号波形送信中の制御には、チ ップセット校正ソフトウェアを実行する中継コントローラ（PC） が必要です。図2は代表的なハードウェア構成です。 テスト・セット GPIB シリアル RF 校正ソフトウェアを実行するPC 図2. この図は、8960シリーズ10無線通信テスト・セットと移動機と PCコントローラの相互接続を示しています。 8 移動機をテスト・モードにすると、一連のパワー・ステップを さまざまな周波数（ MS Tx 周波数／パワー）で送信できます。 RSSIを求める場合などは、テスト・セットの信号をさまざまな 周波数とパワー・レベル（MS Rx周波数／パワー）で測定するた めに、必要に応じてレシーバを同時チューニングすることもで きます。 MS Rx 周波数／パワーには、 MS Tx 周波数／パワー （最大 20 個のレベル・ステップ×周波数の数＝ 400 ）と同じ数の パワー・ステップが含まれている必要があります。これらのス テップは、テスト・セットのRF出力レンジ（−115∼−13 dBm） の任意のパワー・レベルです。 測定の概要 W-CDMA 移動機のトランスミッタ・パワー・シーケンスには、 入力レンジ（− 61 ∼＋ 28 dBm ）の一部または全体をスパンとす る最大 20 個のパワー・レベル・ステップ（ 20 ms の持続時間／ ステップ）が含まれています。シーケンス内の最初のステップが 20 dB以上の立上がりであれば、測定が行われ、レベルは振幅を 変えながら段階的にアップ／ダウンします。移動機は同じパワ ー・シーケンスを、バンドあたり1回の掃引によって最大20個の 周波数で送信できます。この測定では最大400ステップ（最大 20 個のパワー・ステップ×周波数の数≦ 400 ）が可能です。 高速デバイス・チューニング測定はコールではなくテスト・モ ードで実行され、 MS Rx パワー・シーケンスは MS Tx パワーと 同じ周波数バンド内にある必要はありません。しかし、 MS Rx 周波数シーケンス内の周波数の数は、 MS Tx 周波数シーケンス 内の周波数ステップの数と一致していることが必要です。 測定が開始されると、移動機が振幅／周波数をホップするたび に、移動機のテスト・モード・シーケンスに従って高速デバイ ス・チューニング測定が行われます。移動機から送信された信 号 シ ー ケ ン ス（ MS Tx ）に 従 い な が ら 、 テ ス ト ・ セ ッ ト は W-CDMA変調済みダウンリンクをさまざまな周波数／振幅校正 の組み合せで送信し、これが移動機のレシーバ（MS Rx）の同時 校正に使用されます。 RF ジェネレータは、テスト中にオフすることはできませんが、 必要に応じて、プロファイル内の全ステップに対して信号源を 最小パワーかつ単一周波数に設定することにより、事実上トラ ンスミッタをレシーバから分離させることができます。この方 法により、事実上RFジェネレータを「オフ」にできます。 MS Tx と MS Rx の周波数／振幅プロファイルにはそれぞれ、最 大400ステップをユーザが設定することができます。MS Txの各 ステップでレポートされるパワー測定は、3GPP規格で定義され た平均パワー測定に準拠しています。 測定 20 msステップ インターバル MS Tx周波数の 再チューニング・ステップ MS Tx ≧20 dBのRFの立上がりで 測定をトリガする 周波数A 周波数B MS Txパワー・シーケンス ≧10 ms 20 msステップ MS Rx MS Tx周波数／パワー MS Tx周波数の の ット ・セ ト ス （テ 再チューニング・ステップ ー） パワ 力 出 の ット ・セ ト ス （テ 周波数X MS Txパワー・シーケンス ー） パワ 力 出 周波数Y MS Tx周波数／パワー 図3：高速デバイス・チューニング測定のMS TxとMS Rxの周波数およびパワーの例（ステップ幅＝20 ms） 9 初期条件 動作条件 高速デバイス・チューニング測定では、8960テスト・セットの 動作モードは FDD に、チャネル・タイプは対称 RMC の 1 つに設 定します。パワー制御、測定周波数、RFジェネレータ周波数は すべて手動モードに、 AWGN パワーはオフにしてください。測 定はフェージング・チャネルではサポートされません。 高速デバイス・チューニング測定では、 MS Tx パワー・シーケ ンスのすべてのステップに対してレンジとトリガを再設定する 必要があるので注意してください。他の動作に割り込みされる ことなく、このプロセスを確実に実行するために、測定が完了 するまでは他のコマンドをテスト・セットに送信したり、どの フロント・パネル・キーも押したりしないでください。高速デ バイス・チューニングの使用時は、並行して別の測定を実行す ることはできません。 ユーザは、移動機が送信するパワー・レベルのパターンに合せ て MS Tx 周波数／パワーを、移動機が測定するパワー・レベル のパターンに合せて MS Rx 周波数／パワーを設定する必要があ ります。 また、高速デバイス・チューニングはシングル・モードのみを サポートし、アベレージングはサポートしていません。オート レンジも行わず、RF立上がりトリガのみをサポートしています。 トリガ 移動機は20 dB以上の正の変化により高速デバイス・チューニン グ測定を開始します。つまり、移動機のパワーは、 MS Tx パワ ー・シーケンスの最初のステップよりも20 dB低いレベルから最 初のステップのレベルの9 dB以内に立ち上がる必要があります。 測定パラメータ 以下のパラメータは、高速デバイス・チューニング・プロセス 中に設定されます。 テスト・セットは、ユーザが MS Tx パワー・シーケンス用に指 定したパワー・レベルに従って、ステップごとにレシーバをチ ューニングします。移動機は、 MS Tx パワー・シーケンスに従 ってパワーをステップ変化させ、各ステップに期待されるパワ ー・レベルの±9 dB 以内のパワーでなければなりません。この パワーは測定インターバルの間、一定に維持されることが必要 です。MS Tx周波数／パワーの各ステップで測定が完了すると、 測定したステップのすべてのパワーの結果が返されます。 ● ● ● ● ● ● ● 測定タイムアウト MS Txパワー・ステップ・スタート・インデックス MS Tx周波数ステップ・スタート・インデックス MS Rxパワー・ステップ・スタート・インデックス MS Rx周波数スタート・インデックス パワー・ステップの数 周波数ステップの数 高速デバイス・チューニングのMS TxおよびRxパラメータには 以下のものがあります。 ● ● ● ● 10 MS Txパワー・ステップ・レベル MS Tx周波数ステップの値 MS Rxパワー・ステップ・レベル MS Rx周波数ステップの値 インテグリティ・インジケータ：テスト・セットはテスト・セ ット自体の性能を評価して各測定結果の有効性を判断します。 結果が“Normal”の場合は、測定スイートがエラーなしに適切 に完了し、結果が正確であることを示しています。 測定結果 測定結果は GPIB から取得され、 外部コントローラ上に表示で きます。またフロント・パネル・ディスプレイにグラフィック と数値による結果が表示されます。 パワー：テスト・セットは、各ステップの中央付近（ステップ開 始後7 ms）で、666.7 μsの測定インターバル（1タイム・スロッ ト）の間、ルート・ナイキスト（ RRC ）フィルタ・オフでチャネ ル・パワーを測定します。dBm/5 MHz単位のパワーが、周波数 再チューニング・ステップ部分を除いて、 MS Tx 周波数／パワ ーの各ステップに対して返されます。 なお、テスト・セットは、移動機のレシーバ測定結果をレポー トしません。テスト・セットの実際の送信レベルと比較するに は、ユーザがこれらの結果を捕捉する必要があります。 注記：周波数再チューニング・ステップは結果的に、グラフィ ックと数値のいずれによっても表示されません。 測定が返す結果の総数は常に400です。測定ポイントが400未満 の場合はNANに従って、最初にMS Tx周波数シーケンスの1番目 の周波数のパワー結果、次に2番目の周波数のパワー結果という ように返されます。 図4：8960フロント・パネルにはグラフィックと数値で結果が表示されます。 11 高速デバイス・チューニング測定をW-CDMA/HSDPAアプリケ ーションで使用する場合は、以下の制限があるので注意してく ださい。 トラブルシューティング 高速デバイス・チューニング測定での問題の多くは、セットア ップのミスが原因です。トリガの問題、オーバレンジ／アンダ ーレンジ条件、特定のインテグリティ・インジケータが一般的 です。 ● ● 以下の手順により、適切なセットアップが確実に行われている ことを確認してください。 ● 移動機はテスト・モードであること。 ● “ start single ”キーを押すことにより測定が起動される こと。 ● 入力信号要件 （周波数が 800 ∼ 1000 MHz または 1700 ∼ 1990 MHzの範囲、パワーが−70∼＋30 dBmの範囲）を満 たしていること。 ● テスト・セットが測定用に適切に校正されていること。 ● MS TxとMS Rxのパワー・シーケンスのステップ数が一致 し、MS TxとMS Rxの周波数シーケンスの周波数の数が一 致していること。 ● 測定をトリガするためのパワー変化が20 dB以上あること。 ● 必要な初期条件を満たしていること。 ● 移動機がMS Tx周波数／パワーを送信してテスト・セット で測定できるように、測定タイムアウト値が十分に大きく 設定されていること。 ● MS Tx パワー・ステップのスタート・インデックス＋その パワー・ステップ数および、MS Rxパワー・ステップのス タート・インデックス＋そのパワー・ステップ数が、40以 下であること。 ● MS Tx の周波数ステップ・スタート・インデックスと周波 数ステップの数で表される周波数が 1 つの周波数バンドの レンジ内にあり、MS Rxの周波数ステップ・スタート・イ ンデックスと周波数ステップの数で表される周波数が 1 つ の周波数バンドのレンジ内にあること。 ● パワー・レベルは–70∼＋30 dBmの範囲のみ測定されます。 測定は–61∼＋28 dBmの範囲のみ仕様化されています。 周波数は、MS Tx/Rx 周波数ステップの値として登録され ている周波数とは関係なく、単一のW-CDMA/HSDPA周波 数バンドのレンジ内でのみテストされます。 テスト・セットは– 115 ∼– 13 dBm（ RF 入力／出力）または –115∼–5 dBm（RF出力のみ）の範囲でテスト・パワー・レ ベルを送信します。振幅オフセットは0と仮定しています。 その他の確認事項： ● ● ● ● 12 レンジおよびトリガの再設定プロセスが割り込みされるこ となく確実に実行されるために、測定が完了するまでは GPIB コマンドを送信したり、フロント・パネル・キーを 押したりしないでください。 高速デバイス・チューニング実行時に並行して、別の測定 を実行しないでください。 測定結果に影響を与えるので、入力したRF入力／出力振幅 オフセットを確認してください。 GPIBコマンドで測定結果を取得してください。 高速デバイス・チューニング測定の プログラミング 高速デバイス・チューニング測定の開始とフェッチ 以下のプログラミング例は、高速デバイス・チューニング測定 ソリューションのコマンド・インタフェースを使用した代表的 な自動化の手順を示しています。 INITiate: <meaurement mnemonic> [:ON] コマンドを使 用して測定を開始します。 ● INITiate: CFDTune: ARMed?クエリを使用して、測定がア ーミングされトリガ・レディ状態であるかを判断します。 ● 移動機に MS Tx 周波数／パワーの送信開始を命令します （MS は出力パワーを20 dB 以上にして、最初のステップに 。 到達させ、RFの立上がりで測定をトリガします） ● FETCh:CFDTune? コマンドを使用して測定結果を取得し ます。 ● プログラム・フロー 高速デバイス・チューニング測定に使用可能な手順をこれから 説明します。図5は手順の流れを示しています。測定前に、移動 機をテスト・セットに接続し、移動機を適切なテスト・モード に設定します。また、移動機のデジタル制御ポートをPCコント ローラに接続して、テスト・モードを開始できるようにします。 高速デバイス・チューニング測定のセットアップ テスト・セットの動作モードを FDDテストに設定します。 テスト・セットの初期条件を設定します。動作モードは FDD テストに、測定周波数、パワー制御、 RF ジェネレー タの周波数制御はすべて手動モードに設定します。 ● 移動機の設定に適合するように、 MS Rx 周波数／パワー （ 4 つの周波数ポイントで 3 つのパワー・ステップ・レベル と7つのダミー・パワー・レベル）をテスト・セットで設定 します。 ● 移動機の設定に適合するように、MS Tx周波数パワー （4つ の周波数ポイントで10 のパワー・ステップ・レベル）をテ スト・セットで設定します。 ● 移動機が適切なテスト・モードで、テスト・セットで指定 されているMS Tx/Rx 周波数パワーに適合していることを 確認します。 ● MS Tx パワーの最初のステップのパワー・レベルよりも 20 dB以上小さいパワーを連続的に送信するように移動機 に命令します。 ● 測定周波数、パワー制御、RFジェネレータ 周波数制御を手動に設定します。 MS TxおよびMx Rxの周波数シーケンスと パワー・シーケンスを設定します。 テスト用に移動機を設定します。 FDT測定タイムアウトを 設定します。 測定を開始します。 移動機にTx周波数およびパワーを 送信するように命令します。 測定結果を取得します。 図5. W-CDMA高速デバイス・チューニング測定手順の例 13 プログラミング・コード り提供される通信機能を利用しています。 VISA COMライブラ リは、さまざまなハードウェアおよびオペレーティング・シス テムをサポートしています。 詳細は、www.agilent.co.jp/find/iolibのIOライブラリのWebペ ージを参照してください。 以下のサンプル・プログラムは、無線テスト・システムの自動 化でよく使用されるVisual Basic®で記述されています。この他 の言語、たとえば、Visual C++、Agilent VEEも、同じプログラ ミング方針で使用できます。サンプル・プログラムでは、 Agilent IOライブラリ・スイートのVISA COMドライブによ 10 ! ==================================================================== 20 ! 30 ! Fast Device Tune Programming Example for W-CDMA/HSDPA 40 ! 50 ! ==================================================================== 60 ! 70 ! *** Initialize Program Variables *** 80 ! 90 OPTION BASE 0 100 Testset=714 110 CLEAR SCREEN 120 CLEAR 7 130 CLEAR Testset 140 PRINT “*** Fast Device Tune Programming Example for W-CDMA/HSDPA***” 150 PRINT 160 ! 170 ! 180 !***Set up GPIB timeout*** 190 ON TIMEOUT 7,32 CALL Timeout 200 ! Call “Timeout” routine after 32 seconds of GP-IB hang-up 210 ! 220 ! 230 ! *** Variable declarations *** 240 DIM Mstx_pow$[8000] 250 ALLOCATE REAL Mstx_pow_res(0:399) 260 Sz=16*(20+19) !ASCII Arrays = 16*(20+19) elements 270 ALLOCATE Freq_rx$[Sz],Pow_rx$[Sz],Freq_tx$[Sz],Pow_tx$[Sz] 280 ! 290 Op_mode$=”FDDTest” !Operating mode. 300 Meas_timeout=15 !Measurement timeout. 310 ! 320 Num_freq_steps=4 !Number of Rx and Tx Frequency Steps 330 Num_pow_steps=10 !Number of Rx and Tx Power Steps 340 ! 350 Str_ind_freq_rx=0 !Start Index of Rx Frequency 360 Str_ind_pow_rx=0 !Start Index of Rx Power 370 ! 380 Freq_rx$=”1932.4E6, 1950.4E6, 1966.4E6, 1982.4E6” 390 ! MS RX Frequencies 400 Pow_rx$=”-80, -60, -40, -60, -60, -60, -60, -60, -60, -60” 410 ! MS RX Powers (last 7 values are “dummy” values) 420 ! 430 Str_ind_freq_tx=0 !Start Index of Tx Frequency 440 Str_ind_pow_tx=0 !Start Index of Tx Power 450 ! 460 Freq_tx$=”1852.4E6, 1870.4E6, 1886.4E6, 1902.4E6” 470 ! MS TX Frequencies 480 Pow_tx$=”16, 12, 8, 4, 0, -4, -8, -12, -16, -20” 490 ! MS TX Powers 500 ! 510 Loss_frequency$=”800E6”!Set frequencies for path loss 520 Expected_loss$=”-1.5”!Set path loss at frequencies specifi ed 530 ! 540 !************************************ 550 !***Simple Test Executive 560 !************************************ 570 ! 580 GOSUB Preset_test_set 590 !End any current connection and preset test set 600 GOSUB Set_path_loss 610 !Set the pass loss required for your test. 620 GOSUB Set_init_cond 630 !Set initial conditions required for the FDT test 640 GOSUB Set_msrx_series 650 !Set up the MS Rx Freq/Power Series 14 660 GOSUB Set_mstx_series 670 !Set up the MS Tx Freq/Power Series 680 GOSUB Check_ms_confi g 690 !Check UE settings match what youÅfve set on the test set 700 GOSUB Fdt_meas 710 !Make the Fast Device Tune measurement. 720 GOTO End_program 730 ! 740 ! 750 !************************************************************************** 760 ! BEGINNING OF SUBROUTINES 770 !************************************************************************** 780 ! 790 ! 800 Preset_test_set: ! 810 !******************************************************************* 820 ! Subroutine: Preset the test set (Step 1: Set Up the Test Set) 830 !******************************************************************* 840 ! 850 OUTPUT Testset;”*RST” 860 ! Full preset test set 870 RETURN 880 ! 890 Set_path_loss: ! 900 !******************************************************************* 910 ! Subroutine: Set path loss values 920 !******************************************************************* 930 ! 940 OUTPUT Testset;”SYST:CORR:FREQ “;Loss_frequency$ 950 ! Set the frequencies for amplitude offset 960 OUTPUT Testset;”SYST:CORR “;Expected_loss$ 970 ! Set the amplitude offsets for above frequencies 980 RETURN 990 ! 1000 Set_init_cond: ! 1010 !******************************************************************* 1020 ! Subroutine: Set initial conditions required for the FDT Test 1030 !******************************************************************* 1040 ! 1050 OUTPUT Testset;”CALL:OPER:MODE “;Op_mode$ 1060 !Set Operating Mode 1070 OUTPUT Testset;”SET:CFDT:TIM “&VAL$(Meas_timeout) 1080 !Set measurement timeout. 1090 OUTPUT Testset;”CALL:CONT:DOWN:FREQ:AUTO OFF” 1100 !Set RF generator frequency control to manual mode. 1110 OUTPUT Testset;”RFAN:CONT:MEAS:FREQ:AUTO OFF” 1120 !Set receiver measurement frequency control to manual mode. 1130 OUTPUT Testset;”RFAN:CONT:POW:AUTO OFF” 1140 !Set receiver power control to manual mode. 1150 RETURN 1160 ! 1170 Set_msrx_series: ! 1180 !******************************************************************* 1190 ! Subroutine: Set up the MS Rx Freq/Power Series 1200 !******************************************************************* 1210 ! 1220 PRINT “*** Set the number of Tx/Rx Frequency and Power Steps ***” 1230 OUTPUT Testset;”SET:CFDT:FREQ:STEP:COUN “;Num_freq_steps 1240 OUTPUT Testset;”SET:CFDT:POW:STEP:COUN “;Num_pow_steps 1250 PRINT “Number of Tx/Rx Frequency Steps = “;Num_freq_steps 1260 PRINT “Number of Tx/Rx Power Steps = “;Num_pow_steps 1270 PRINT 1280 PRINT “*** Set MS Rx Freq/Power Series ***” 1290 Stp_ind_freq_rx=Str_ind_freq_rx+Num_freq_steps 1300 ! Compute Stop Index of Frequency steps 1310 Stp_ind_pow_rx=Str_ind_pow_rx+Num_pow_steps 1320 ! Compute Stop Index of Power steps 1330 ! 1340 ! Check for Mx Rx Test Freq/Power Indicies Out of Range 1350 IF (Stp_ind_freq_rx<40 AND Stp_ind_pow_rx<40) THEN 1360 ! Set MS Rx Frequency and Power Start Indicies 1370 OUTPUT Testset;”SET:CFDT:MS:RX:FREQ:STEP:STAR:IND “;Str_ind_freq_rx 1380 OUTPUT Testset;”SET:CFDT:MS:RX:POW:STEP:STAR:IND “;Str_ind_pow_rx 1390 PRINT “MS Rx Test Start Freq Index = “;Str_ind_freq_rx 1400 PRINT “MS Rx Test Start Power Index = “;Str_ind_pow_rx 1410 ELSE 1420 PRINT 15 1430 1440 1450 1460 1470 1480 1490 1500 1510 1520 1530 1540 1550 1560 1570 1580 1590 1600 1610 1620 1630 1640 1650 1660 1670 1680 1690 1700 1710 1720 1730 1740 1750 1760 1770 1780 1790 1800 1810 1820 1830 1840 1850 1860 1870 1880 1890 1900 1910 1920 1930 1940 1950 1960 1970 1980 1990 2000 2010 2020 2030 2040 2050 2060 2070 2080 2090 2100 2110 2120 2130 2140 2150 2160 2170 2180 PRINT “Error-The number of freq steps or power steps Out of Range (>40)” PRINT PRINT “Program Stopped” STOP END IF ! !*** Set MS Rx Freq/Power Values *** OUTPUT Testset;”SET:CFDT:MS:RX:FREQ:STEP “;Freq_rx$ PRINT “MS Rx Test Freq Series = “;Freq_rx$ OUTPUT Testset;”SET:CFDT:MS:RX:POW:STEP “;Pow_rx$ PRINT “MS Rx Test Power Series = “;Pow_rx$ PRINT ! RETURN ! Set_mstx_series: ! !******************************************************************* ! Subroutine: Set up the MS Tx Freq/Power Series !******************************************************************* PRINT “*** Set MS Tx Freq/Power Series ***” Stp_ind_freq_tx=Str_ind_freq_tx+Num_freq_steps ! Compute Stop Index of Frequency steps Stp_ind_pow_tx=Str_ind_pow_tx+Num_pow_steps ! Compute Stop Index of Power steps ! ! Check for MS Tx Test Freq/Power Indicies Out of Range IF (Stp_ind_freq_tx<40 AND Stp_ind_pow_tx<40) THEN ! Set MS Tx Frequency and Power Start Indicies OUTPUT Testset;”SET:CFDT:MS:TX:FREQ:STEP:STAR:IND “;Str_ind_freq_tx OUTPUT Testset;”SET:CFDT:MS:TX:POW:STEP:STAR:IND “;Str_ind_pow_tx PRINT “MS Tx Test Start Freq Index =”;Str_ind_freq_tx PRINT “MS Tx Test Start Power Index =”;Str_ind_pow_tx ELSE PRINT PRINT “Error-The number of freq steps or power steps Out of Range (>40)” PRINT PRINT “Program Stopped” STOP END IF ! !*** Set MS Tx Freq/Power Values *** ! OUTPUT Testset;”SET:CFDT:MS:TX:FREQ:STEP “;Freq_tx$ PRINT “MS Tx Test Freq Series = “;Freq_tx$ OUTPUT Testset;”SET:CFDT:MS:TX:POW:STEP “;Pow_tx$ PRINT “MS Tx Test Power Series = “;Pow_tx$ PRINT ! RETURN ! Check_ms_confi g: ! !******************************************************************* ! Subroutine: Check UEÅfs Confi guration Matches Test SetÅfs !******************************************************************* PRINT “************** NOTE *****************************************” PRINT “Make sure that your UE is placed into a test mode, and is properly” PRINT “confi gured to measure the MS RX Freq/Power series and transmit” PRINT “the MS TX Freq/Power series youÅfve set in the test set.” PRINT PRINT “Order your UE to transmit continuously at >20 dB below the power level” PRINT “of the fi rst step in MS Tx Power Series” PRINT “*************************************************************” PRINT LINPUT “Press ENTER when fi nished”,Keyboard$ RETURN ! Fdt_meas: ! !******************************************************************* ! Subroutine: Perform FDT Measurement !******************************************************************* ! OUTPUT Testset;”INIT:CFDT” !Arm the FDT measurement and start to build the MS Tx and Rx Freq/Power Series. OUTPUT Testset;”INIT:CFDT:ARMed?” !Queries that the MS Tx and Rx Freq/Power Series is successfully built !and the test set is ready for test. 16 2190 2200 2210 2220 2230 2240 2250 2260 2270 2280 2290 2300 2310 2320 2330 2340 2350 2360 2370 2380 2390 2400 2410 2420 2430 2440 2450 2460 2470 2480 2490 2500 2510 2520 2530 2540 2550 2560 2570 2580 2590 2600 2610 2620 2630 2640 2650 2660 2670 2680 2690 2700 2710 2720 2730 2740 2750 2760 2770 2780 2790 2800 2810 2820 2830 2840 2850 2860 ENTER Testset;Meas_arm IF Meas_arm THEN PRINT “Command the UE to trigger the measurement (20 dB RF rise)...” PRINT ! !***Obtain measurement results*** OUTPUT Testset;”FETC:CFDT?” ENTER Testset;Integrity,Freq_step_cnt,Pow_step_cnt,Num_meas,Mstx_pow$ ! ELSE PRINT “The test set is not properly armed. Please check the MS Tx and” PRINT “Rx Freq/Power Series Setups.” GOTO End_program END IF ! PRINT “*** Print MS Tx Measurement Results ***” PRINT PRINT “Integrity = “;Integrity PRINT “Number of Freq Steps = “;Freq_step_cnt PRINT “Number of Power Steps = “;Pow_step_cnt PRINT “Total Number of Meas Results = “;Num_meas PRINT ! !Convert ASCII Array to Real Array FOR N=1 TO Num_meas Dynamic_mkr=((N-1)*17) !Set up a marker that will jump to each comma in the ascii string Mstx_pow_res(N)=VAL(Mstx_pow$[Dynamic_mkr+1,Dynamic_mkr+16]) !Convert ascii to a numeric value NEXT N ! ! PRINT “MS Tx Power Results:” PRINT “Freq Step # Power Step # Meas Power[dBm/5 MHz]” PRINT FOR N_freq=0 TO Freq_step_cnt-1 FOR N_pow=0 TO Pow_step_cnt-1 PRINT N_freq+1,” “,N_pow+1,” “,Mstx_pow_res(N_freq*Pow_step_cnt+N_pow+1) NEXT N_pow PRINT NEXT N_freq ! RETURN ! End_program: ! !******************************************************************* ! Subroutine: End of all testing clean up !******************************************************************* ! OUTPUT Testset;”*RST” !Full preset test set DEALLOCATE Mstx_pow_res(*),Freq_rx$,Pow_rx$,Freq_tx$,Pow_tx$ PRINT PRINT “End of Program” END ! !************************************************************************** ! SUB-PROGRAM SECTION !************************************************************************** ! Timeout: SUB Timeout ! Global timeout handler PRINT PRINT “Program timed out, check setup” CLEAR 7 CLEAR Testset STOP SUBEND ! ! 17 サンプル・プログラムの結果 このプログラムは以下の結果を返します： ● ● ● ● ● 高速デバイス・チューニングのインテグリティ・インジケータ 周波数ステップの数 各周波数でのパワー・ステップの数 測定したMS Txパワー・ステップの数 MS Txパワーの結果 図6はサンプル・プログラムで生成される出力例です。 図6. W-CDMA高速デバイス・チューニング測定の出力例 18 まとめ “従来の”校正測定手法と比較すると、Agilent 8960での高速デ バイス・チューニング測定は、移動機の校正時のTxパワーおよ び Rx RSSI のテスト時間を大幅に短縮します。 Agilent はチッ プ・メーカと協力し、大幅に向上した無線テストをより多くの ユーザに活用していただけるように、すべての最先端チップセ ットに対して高速デバイス・チューニングのテスト・モードの サポートを行っていきます。 Windows、Visual Basic、XP はMicrosoft Corporationの米国での登録商標です。 cdma2000はTelecommunications Industry Associationの登録商標で、ライセンスを受 けて使用しています。 19 Remove all doubt アジレント・テクノロジーでは、柔軟性の高い高品質な校正 サービスと、お客様のニーズに応じた修理サービスを提供す ることで、お使いの測定機器を最高標準に保つお手伝いをし ています。お預かりした機器をお約束どおりのパフォーマン スにすることはもちろん、そのサービスをお約束した期日ま でに確実にお届けします。熟練した技術者、最新の校正試験 プログラム、自動化された故障診断、純正部品によるサポー トなど、アジレント・テクノロジーの校正・修理サービスは、 いつも安心で信頼できる測定結果をお客様に提供します。 また、お客様それぞれの技術的なご要望やビジネスのご要望 に応じて、 ・アプリケーション・サポート ・システム・インテグレーション ・導入時のスタート・アップ・サービス など、専門的なテストおよび測定サービスも提供しております。 世界各地の経験豊富なアジレント・テクノロジーのエンジニ アが、お客様の生産性の向上、設備投資の回収率の最大化、 測定器のメインテナンスをサポートいたします。詳しくは： アジレント・テクノロジー株式会社 本社〒192-8510 東京都八王子市高倉町9-1 計測お客様窓口 受付時間 9:00-19:00（土・日・祭日を除く） FAX、E-mail、Webは24時間受け付けています。 TEL ■■ 0120-421-345 (042-656-7832) FAX ■■ 0120-421-678 (042-656-7840) Email [email protected] 電子計測ホームページ www.agilent.co.jp ● 記載事項は変更になる場合があります。 ご発注の際はご確認ください。 Copyright 2007 アジレント・テクノロジー株式会社 www.agilent.co.jp/find/removealldoubt 電子計測UPDATE www.agilent.co.jp/find/emailupdates-Japan Agilentからの最新情報を記載した電子メールを無料でお送りします。 Agilent Open www.agilent.co.jp/find/open Agilentは、テスト・システムの接続とプログラミングのプロセスを簡 素化することにより、電子製品の設計、検証、製造に携わるエンジニ アを支援します。Agilentの広範囲のシステム対応測定器、オープン・ インダストリ・ソフトウェア、PC標準I/O、ワールドワイドのサポー トは、テスト・システムの開発を加速します。 Agilent Direct www.agilent.co.jp/find/agilentdirect テスト機器ソリューションを迅速に選択し使用できます。 August 6, 2007 5989-6904JAJP 0000-00DEP