Comments
Description
Transcript
ナノテクプラットフォーム - 物質創成科学研究科
分子・物質合成プラットフォーム Molecule & Material Synthesis Platform - ナノテクプラットフォーム URL http://mswebs.naist.jp/nanopla/index.html 奈良先端科学技術大学院大学 物質創成科学教育研究センター 平成 24 年度採択 文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業 URL https://nanonet.go.jp Nanotechnology Network Japan 支援目的 我が国のナノテクノロジー関連化学・材料分野は他分野に比べて高い水準を有しており、これを維持向上さ せることが、我が国の科学技術とこれを基盤とした産業の発展に不可欠です。現状の経済情勢や震災復興の必 要性に鑑みれば、各研究者が高価な設備を購入することなく最先端機器を活用し、次世代を担う素材の開発研 究が行える、全国規模の共用設備ネットワークの構築が必要です。 本プラットフォームは、全国の大学と研究開発法人の 11 機関からなり、分子・物質合成に要求される先端 機器群を供給し、産官学の研究者を問わず、また、設備利用に留まらず、合成に関するノウハウの提供、デー タの解析等も含めた総合的な支援を実施します。そして、利用者の成果が新しい利用者を呼び、全国から多く の先端研究者が自ずから集う先端ナノテク分子・物質合成拠点を形成し、支援者と利用者双方の若手を育成で きる環境を構築します。 本学では、プラットフォーム内の各実施機関との連携のもと、本学物質科学教育研究センターにて整備して きた分子・物質合成に関する先端研究技術や設備を産官学の幅広い研究者や研究チームに対して柔軟に共用し ます。 支援対象となる研究・申込資格 ナノテクノロジーを活用あるいは深化させる ことで将来のイノベーションにつながると判断 される高度な先端研究開発の中で、特に分子・ 物質合成に関する研究開発を支援します。 申込資格は国・公・私立大学および国・公立 研究所等の研究者、民間企業等に所属する研究 者です。ただし、民間企業等の研究者の場合は 所属責任者の了承が必要です。 支援の条件 協力研究支援費の支払いに同意が必要です。 成果公開にご協力いただきます。 支援形態・費用 協力研究：データの解析や学術的な議論を含めて共同で行います。 技術代行：専門知識を持つ教員または技術職員に計測を依頼します。 機器利用：本学の設備・装置を利用し、データの解析や学術的な議論は利用者が独自に行います。 技術相談：本学の教員または技術職員と実験・計測について検討します。 協力研究の実施において連携する NAIST 学内研究者が不明な場合、連携マネージャー （[email protected]）にご相談ください。 支 援 技術相談 技術代行 機器利用 協力研究 利用区分 一般利用 半日利用 1 日利用 半日利用 1 日利用 第 1 期（4 月∼ 6 月） 第 2 期（7 月∼ 9 月） 第 3 期（10 月∼ 12 月） 利用料 無料 3,000 円 5,000 円 3,000 円 5,000 円 25,000 円 25,000 円 25,000 円 主な支援機器 設備（設備群）名 仕 様 透過型電子顕微鏡 日本電子社製透過電子顕微鏡 型番：JEM-3100FEF 加速電圧：300kV 倍率：100∼2,000,000倍 分析オプション： ・走査像観察（STEM） ・EDSによる元素分析 ・電子エネルギー損失分光 ・クライオシステム ・TEMトモグラフィーシステム X線解析装置群 リガク社製粉末X線回折装置 型番：RINT-TTRIII/NM 出力：15kW ターゲット：Cu リガク社製単結晶X線回折装置 型番：ValiMaxRAPIDRA-Micro7 出力：1.2kW 実行輝度：31kW/mm2 ターゲット：Mo 検出器：イメージングプレート 試料冷却装置（液体窒素温度） リガク社製X線散乱測定装置 型番：UltraX-18NANO-Viewer 出力：5kW@FineFocusFilament ターゲット：Cu ・多層膜ミラー光学系 ・カメラ長可変 ・検出器冷却CCD/IP 質量分析装置 BrukerDaltonics社製MALDI-TOF質量分析装置 型番：AutoflexII MALDIイオン化部：窒素レーザー ・リニアー/リフレクターモード 質量分析限界：∼1,000,000 繁忙期の対応、利用制限について 繁忙期や大口利用などは日程調整の際に学内利用を優先することが あります。幅広いユーザーにご利用いただくために、TEM計測、X線 解析装置群、質量分析装置などの利用については、それぞれ10サン プルを超える場合は可否をご相談させて頂きます。 支援試行機器 下記の機器も適宜ご利用いただけます。詳細は連携マネージャーにご相談下さい。 機器・装置名 電子線マクロアナライザ（EPMA） 二次イオン質量分析（SIMS）装置 500MHz超伝導NMR 400MHz固体超伝導NMR 全自動元素分析装置 二重収束型質量分析計（EI，CI，FAB） ESI専用飛行時間型質量分析計（TOF-MS） 示差走査熱主計・示差熱熱主量同時測定装置 複合型表面組成分析装置（XPS/AES） 電界放射型走査電子顕微鏡（FE-SEM） 走査型プローブ顕微鏡（SPM） 触針式表面段差計 分光エリプソメーター 顕微レーザーラマン分光光度計 円二色性分散計（CD） フェムト秒，サブナノ秒パルスレーザー・蛍光寿命測定装置 ダイナミック光散乱光度計 電子スピン共鳴（ESR）装置 メーカー・型式 島津，EPMA1610 ULVAC-PHI，ADEPT-1010 JEOL，JNM-ECP500 JEOL，JNM-ECX400P Perkin Elmer，2400ⅡCHNS/O JEOL，JMS-700 JEOL，JMS-T100LC エスアイアイ・ナノテクノロジー，DSC/TG-DTA 6200 島津，KRATOS AXIS-165 JEOL，JMS-6301F，JED-2001FN エスアイアイ・ナノテクノロジー，SPA400，SPI-3800N KLA-Tencor，AS-500 HORIBA JOBIN YVON，UVISEL ER AGMS-NSD 日本分光，NRS-2100 日本分光，J-725 Coherent Mira，宇翔KEC-160，浜松ホトニクスC4780 大塚電子，DLS-6000 日本電子，JES-FA100 申込要領 受 付 期 間 ：4 月∼ 12 月末日まで、協力研究については 11 月末日まで 支 援 期 間 ：4 月∼翌 3 月末日まで、協力研究については 12 月末日まで 申 込 先 ： 〒630-0192 奈良県生駒市高山町 8916-5 奈良先端科学技術大学院大学 物質科学教育センター NAIST- ナノテクノロジープラットフォーム事務局 利用申込書 ：1.¬利用登録申請書（doc ファイル）、2. 協力研究利用申込書（doc ファイル） ※利用申込書は、http://mswebs.naist.jp/nanopla/index.html よりダウンロード して記入いただき、1 と 2 の両方をご提出ください。 申込の手順 1. 事前確認 実験・測定が可能かどうか、NAIST の学内研究者（協力研究者）もしくは連携マネージャー （[email protected]）にお問い合わせください。 2. 申込 実験・測定が可能と判断されましたら、1. 利用登録申請書 2. 協力研究利用申込書に記入・捺印のうえ 郵送にて上記までお申込ください。 3. 審査 学内運営委員会において、申込内容をもとに本支援受託の可否を審査します。審査結果は受託決定通知 書にて 1 ∼ 2 週間以内にご連絡します。 4. 支援開始 教員および技術職員と打ち合わせのうえ、計測等を実施してください。 5. 成果報告 支援利用後、利用者には所定書式の「PF 利用成果報告書」 （WORD 形式、A4 版 1 ページ）と「外部公表 リスト」を作成していただきます。これらは公開を予定しています。 6. 成果公開 利用者は成果が上がったものは、学会や論文、特許出願として公表していただきます。 国 立 大学法人 奈良先端科学技術大学院大学 〒630-0192 奈 良 県 生 駒 市 高 山 町 8916 - 5 （けいはんな学研都市）http://www.naist.jp/ ■問い合わせ先 物質科学教育研究センター NAIST − ナノテクプラットフォーム事務局 E-mail :[email protected]