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ATLAS飛跡検出器開発用 新型ビーム試験DAQシステムの構築

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ATLAS飛跡検出器開発用 新型ビーム試験DAQシステムの構築
素粒子物理学研究室
Experimental Particle Physics Laboratory
日本物理学会 第69回年次大会@東海大学 2014年3月30日
ATLAS飛跡検出器開発用
ビームテストDAQシステムの構築
京都教育大学大学院 西村 龍太郎
高嶋隆一、安芳次A 、田窪洋介A 、海野義信A 、
池上陽一A 、寺田進A 、石島直樹B 、花垣和則B 、
留目和輝C 、陣内修C 、原和彦D 、
他アトラス日本シリコングループ
京都教育大、高エ研A 、阪大理B 、東工大C 、筑波大D
1
素粒子物理学研究室
Experimental Particle Physics Laboratory
LHC アップグレード
HL-LHC
=10x LHC
ATLAS
LHC(Large Hadron Collider)




CERNにある陽子・陽子衝突型円形加速器
重心系エネルギー8TeV→14TeV
2013年にはHiggs粒子発見
~2023年のアップグレードによるLuminosityの
大幅向上
1×1034cm-2s-1→ 5×1034cm-2s-1
→被ばく線量の増大に耐えうる検出器の開発
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素粒子物理学研究室
Experimental Particle Physics Laboratory
ATLAS検出器
内部飛跡検出器
ATLAS検出器
ATLAS Experiment © 2012 CERN
SCT
 LHCの粒子衝突点の一つに設置された汎用粒子検出器
 Luminosityの大幅向上に対応するためアップグレード予定
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素粒子物理学研究室
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現行
SCT
新型
シリコンストリップ検出器(SCT)
ストリップ長
128mm → 24mm, 48mm
ストリップ間隔
80um →
74.5um
センサー型
p-in-n →
n-in-p
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素粒子物理学研究室
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ビームテスト
SCTのアップグレードに向けて新しいセンサー・チップの試験を行う必要がある
• 試験を行う場所によるシステムの違い
→セットアップ・解析に手間がかかる
→独自のDAQシステムが必要
• 試験の度に新たなDAQシステムを構築
SCTにおいては
SingleChip用DAQ(BeamTest使用実績有)
Module試験用DAQ(外部トリガー無)
の2系統が存在
→簡易な修正・変更によって各試験に用いる
ことのできる汎用DAQフレームワークが必要
• イベントビルドの機構はEUDAQを参考に
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研究目的
飛跡検出器(SCT)の評価用DAQシステムを構築する。
また、DAQシステムに用いるソフトウェアについて
モジュール化を進め、汎用性を高める。
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目的達成に向けて
DAQシステム
SCTモジュールのコントロールに
必要な機能を
SEABASボードに実装
SEABASボードを
制御するための
ソフトウェアを開発
取得したデータを
記録・解析する
ソフトウェアを開発
実際にシリコンストリップ検出器の
ビームテストに用いることができるか試験
SEABAS・・・Soi EvAluation BoArd with Sitcp:SiTCP搭載SOI評価ボード
SiTCP・・・ネットワークプロセッサ
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DAQシステム概要
SCT
モジュール
読出し
Trigger
Logic Unit
SCTJDAQ
ソフトウェア
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ABCn250 1Chip Module
センサー • 本DAQシステムで使用
コネクタ • ABCn250を1つ搭載
ABCn250
ABCn250モジュール
コネクタからチップへの配線
(チップのCH30,32・・・96に接続)
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ABCn250制御機能の実装
DAQ
ソフトウェア
データ
パラメータ・コマンド
ファームウェア
(SEABAS)
010011011・・・・
110010011・・・・
ABCn250
チップ
• 先行研究(2012,田窪・遠藤)によるABCn250 Module試験用DAQシステム
を基本とする
• DAQ用ソフトウェアでパラメータ・コマンド生成
• ファームウェアは受け取ったパラメータ・コマンドを用いてABCn250を制御
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素粒子物理学研究室
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外部信号によるデータ取得
トリガー信号
トリガーコマンド
ファームウェア
(SEABAS)
010011011・・・・
110010011・・・・
ABCn250
チップ
データ
• 基本としたModule試験用DAQシステムは外部信号による
データ取得に対応しない
• 外部信号によるデータ取得機能をファームウェアに追加
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素粒子物理学研究室
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Trigger Logic Unit (TLU)
TLUに用いたSpartan 3AN Startar kit
FX2拡張コネクタにNIM IOを増設
• 各測定機器の状態を確認し、トリガー信号の送信を制御する
• イベントの識別に用いるTimeStampを生成するためのクロック
信号を配信する
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素粒子物理学研究室
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タイムスタンプ
測定機器
TLU
タイムスタンプ用
クロック(100kHz)
Busyでなければ
トリガー発行
Timestamp用カウンタ(24bit)
TLUからのクロックで加算、コマンドで0に
トリガー信号
(width:100ns,~2.5Mhz)
トリガー
処理開始
トリガー信号
Busy信号
タイムスタンプ付
データ
カウンタリセット
コマンド
PC
カウンタ記録(24bit)
トリガー受信時の値を保持
イベントビルド
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DAQ用ソフトウェア
(SCTJDAQソフトウェア)
• ABCn250の制御・データ解析・記録などを行う
• 各種機能を独立したモジュールとした
 ソフトウェアの構造を簡易に
 モジュールの組み替えによる機能の変更・追加
 独立プロセスでの並列処理による高速化
• コントロールのためのGUIにCherryPy+Jqueryを使用
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SCTJDAQソフトウェア概要
Event FragmentをEvent Numberと
TimeStampで照合して統合
SBCn250 1Chip Moduleと
SVX4 Telescopeから
読出しを行なう場合の構成例
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SCTJDAQソフトウェア動作イメージ
(GUIとABCn250モジュール)
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試験方法
• Module試験用DAQシステムとの比較
 ABCn250モジュールに対してL1 Delay Test、Strobe Delay Test、
Threshold Scan Testの3種の試験を行い、従来システムと結果
を比較
• 複数台のモジュールからの読出し
 ABCn250モジュール2台からの読出しを行い、1台のときと結果
を比較
• 疑似パルスによるL1 Delayテスト
 ABCn250モジュール2台のセンサーコネクタに疑似パルスを入
力し、L1Delayを変更しながら検出の様子を確認する
本発表ではこの結果について提示
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疑似パルス入力用コネクタ
• 微分回路
• NIM信号に応じたパルス
をセンサーコネクタに入力
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疑似パルスの波形
厳密な波形は不明だが、ヒットの検出の様子から、
以下のような波形になっていると予想される
疑似パルス
0V
Vthn
NIM信号
0V
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疑似パルスによるL1 Delayテスト
PipeLineの
L1Delay値(0-255)
疑似パルス用
コネクタ
疑似パルス
NIM信号
1kHz
100ns
ABCn250
L1Trigger発行
コマンド
遅延(-1~4μs)
TLU
SEABAS
1kHz、100nsのNIM信号を二系統に分配し、
• 一方を疑似パルス入力用コネクタを介してABCn250モジュールに入力
• 他方をトリガー信号としてTLU経由でSEABASのNIM入力に入力
• トリガー信号を疑似パルスから-1~4μs遅延させ、トリガー100回あたりの
検出効率の分布がどのように変わるか確認
ストリップ
チャネル
⇒検出効率の分布が40カウント/ μs(遅延時間)程度変化していれば期待通り
にテスト出来ていると考えられる
※1つのL1Delay値につきトリガー100回分のヒットデータをプロット
※コネクタからチップへの配線は1つ置き(チップのCH30,32・・・96に接続)
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素粒子物理学研究室
Experimental Particle Physics Laboratory
試験結果
縦軸:L1Delay値
横軸:センサーストリップチャネル
左から順に遅延時間0,+1,+2,+3,+4μs (-1μsは除外)
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Experimental Particle Physics Laboratory
まとめ
新たなSCTシリコンストリップ検出器ビームテスト用DAQシステム(SCTJDAQ)を
構築するにあたって、
• コマンドの実装は「ソフトウェアから受け取ったパラメータ・コマンドを用い
てファームウェアがABCn250を制御する」方式とした
• ビームテストに使用できるようにするため、外部トリガーを実装した
• イベント情報識別のため、TimeStamp情報を付加する機能を実装した
• DAQ用ソフトウェア(SCTJDAQソフトウェア)についても新規開発を行なった
• ソフトウェアは各機能をモジュールに分割し、構造の簡易化、機能追加・
変更の容易化、並列実行による高速化を図った
試験結果より
• SCTJDAQは正常にABCn250 1Chipモジュールを制御し、データを処理でき
ていることが確認できた
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素粒子物理学研究室
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今後の課題
• 現在大阪大学で開発がすすめられているテレスコープ
(SVX4)をSCTJDAQに組み込む
→現在トリガーレート100Hzで正常動作を確認
• 各種機器を同期して1kHzで動作させる
• ビーム試験による動作の確認
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ATLAS飛跡検出器開発用
ビーム試験DAQシステムの構築
BACKUPS
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イベントビルド用モジュールの制作
ABCN
Reader
EFをイベントナンバーと
TimeStampで照合して統合
Event
Builder
SVX4
Reader
Event
Logger
Event
Dispatcher
Event
Analyzer
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イベントデータ構造
Event
Header
EF Length
1~N
EF
Data 1
EF
Data 2
固定長
可変長
可変長
可変長
イベントナンバー、タイムスタンプ、
データの長さ、含んでいるEFの数
・・・
・・・
EF
Data N
可変長
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ABCn250ファームウェアロジック
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SCTシリコンストリップ検出器
• ベースボードをはさんでシリコンセンサーを 表裏
に40mradの角度を持たせて貼り付けてある
• 通過した粒子の飛跡を二次元データとして取得
可能
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SEABAS
(Soi EvAluation BoArd with Sitcp)
•
•
ネットワークプロセッサ(SiTCP)、ADC、DAC、NIM、FPGAを搭載
使用したいチップに合わせたドーターボードを取り付けることによって
さまざまな検出器をテストすることができる汎用読出しボード
NIM IN/OUT
User FPGA
SiTCP
ドーターボード用
コネクタ
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試験結果(従来DAQとの比較)
従来DAQシステム
SCTJDAQシステム
縦軸:L1Delay値、横軸:センサーストリップチャネル
同一モジュールに対してL1 Delay Scan試験を実施。
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試験結果
(モジュール2台での読出し)
1台での読出し(上からA、B)
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2台同時の読出し(上からA、B)
縦軸:L1Delay値、横軸:センサーストリップチャネル
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試験結果(疑似パルス,モジュールA)
縦軸:L1Delay値
横軸:センサーストリップチャネル
左から順に遅延時間0,+1,+2,+3,+4μs (-1μsは除外)
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素粒子物理学研究室
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試験結果(疑似パルス,モジュールB)
縦軸:L1Delay値
横軸:センサーストリップチャネル
左から順に遅延時間0,+1,+2,+3,+4μs (-1μsは除外)
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素粒子物理学研究室
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※
ABCn250(ABCN )
 ATLAS検出器アップグレードのた
めに開発された新型SCTからデー
タを読み出すためのチップ
 1つのチップにつき128ch読み出
すことができる
 それぞれのチャンネルについて、
接続されているストリップのヒット
の有無を検出することができる
ABCn250
 ビーム衝突256回前までのデータ
新型SCTストリップモジュール
を記録でき、指定された回数だけ
遡ってデータを取り出せる
※ATLAS Binary Chip - Next
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素粒子物理学研究室
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LHCにおけるビームの衝突間隔
• 各検出器内でビームは平均40Mhzで衝突する
• これより各衝突イベント間の時間間隔は25nsになる
• L1Delayが25ns刻みになっているのはこのため
1
T = より
f
1
= 25 ×10 −9 s = 25ns
40 Mhz
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実験全景
ドーターボード
SEABAS
ABCNチップボード
疑似パルス入力コネクタ
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L1 Delay
• L1 Delayとは、Level1 Triggerが実際のヒットからどの程度遅
れているかを表す数値
• ABCNチップがトリガーに対して適切にヒットを返すには適切
なL1 Delayの値を設定する必要がある
• 1カウント辺り25nsずつ遡る
• 疑似パルスを入力して適切なL1 Delayの値を調べるテストが
L1 Delay Testである
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Strobe Delay
• L1 Delay値1カウント辺り25nsの長さがある
• この25nsの間のどのタイミングのデータを返させるかを設定
する値がStrobe Delay
• Strobe Delay TestはL1 Delay Testと同様に、疑似パルスを入
力して適切なDelayの値を調べるテストである
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素粒子物理学研究室
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Threshold Scan
• SCTを粒子が通過すると、生じた電荷がSCTからABCNに入力
される
• この時入力された電荷によって生じた電位差をABCNはヒット
として返す
• 実際には周囲からのノイズによっても多少の電位差が生じる
ため、電位に一定の閾値を設けて誤検出を少なくする必要
がある
• Threshold Scanは疑似的に入力した電荷に対して閾値を変え
ながらそれをヒットとみなす割合を調べ、適切な閾値を求め
るテストである
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BCC(Buffer Control Chip)
BCCヘッダ 1111001100111011・・・・
BCC
ABCN
1
11010111001001・・・・・・
ABCN
2
11010101001100・・・・・・
• ABCNチップからデータを高速に読み出すためのチップ
• ABCNチップ2系統のデータをミックスして送信する
• 受信側で逆の手順で再びデータを分離
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先行研究における
コマンド実装のアプローチ
• ATLAS実験アップグレード用シリコン検出器テストシステムの開発およびプロトタイプ
検出器の性能評価(岡村航,大阪大,2011)
• ATLAS新型シリコン検出器開発用ビーム試験DAQの構築(岸田拓也,東工大,2012)
ABCN制御コマンド : ファームウェア(SEABAS)内に実装
ABCN制御パラメータ : ソフトウェア(PC)内に実装
岸田版
ソフトウェアから受け取ったパラメータを用いて
ファームウェアが実装されたコマンドでABCNを制御
• ATLAS実験アップグレードに向けた新型シリコン検出器モジュールの読み出し
システムの開発(遠藤理樹,大阪大,2012)
ABCN制御コマンド : ソフトウェア(PC)内に実装
ABCN制御パラメータ : ソフトウェア(PC)内に実装
田窪版※
ソフトウェアから受け取ったパラメータ・コマンドを用いて
ファームウェアがABCNを制御
※田窪洋介氏(KEK助教)が現在本系統のファームウェアをサポートしていること
41
による
素粒子物理学研究室
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ATLAS検出器
ATLAS Experiment © 2012 CERN
ATLAS検出器(A Toroidal LHC ApparatuS:円環状磁場LHC測定器)
 ATLAS検出器はLHCの粒子衝突点の一つに設置された汎用粒子検出器
 Higgs粒子や標準模型を超える物理現象の探索を行う
 ATLAS検出器の内部検出器にはシリコンストリップ検出器(SCT)が用いられ
ている
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