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中央分析センター

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中央分析センター
九州⼤学
中央分析センター
CENTER OF ADVANCED INSTRUMENTAL ANALYSIS
KYUSHU UNIVERSITY
2015
中央分析センター案内
目次------------------------------------------------------1
中央分析センターの趣旨と概要 -----------------------------2
案内図----------------------------------------------------3
測定室案内 -----------------------------------------------5
共同利用機器リスト----------------------------------------7
共同利用機器紹介(1)伊都キャンパス ---------------------14
共同利用機器紹介(2)筑紫キャンパス ---------------------22
装置利用の手引き ----------------------------------------28
関係委員及び職員 ----------------------------------------32
センター規則等 ------------------------------------------35
- 1 -
中央分析センターの趣旨と概要
●センターの目的
科学技術の発展にともない、分析や構造解析に用いる各種機器分析装置や、特殊な研究用試料作成のた
めの大型装置が欠かせなくなってきています。これらの装置はその性能が高度化するにつれて年々大型と
なり、各講座の予算で購入できる枠をはるかに超えるとともに維持運転も容易ではありませんので、共同
利用装置として集中設置し、専従技術者を置いて有効利用することが望まれます。とくに境界領域におい
て共同利用の必要性は一層強まっています。
本センターは、このような状況に鑑み自然科学系分野の研究教育上必要な試料、あるいは物質の分析お
よび特殊研究試料作成を行うための学内共同利用施設として、昭和 57 年 4 月 1 日に設置されたものです。
本センターは、下記の業務を行うことを目的、内容として本学における高度の研究および教育態勢の一
層の充実のために、逐年その機能を充実、強化していく予定であります。
(1) 大型高性能の分析装置および測定装置を集中設置し、専従技術者の保守運転のもとにそれらの効率
的共同利用をはかる。(共同利用)
(2) 依頼に応じて迅速確実に各種の分析および測定を行いデータを提供する。(分析サービス)
(3) 高度の分析および試料の作成に関する研究と指導、教育を行う。(研究および教育)
●センターの概要
センターの共同利用装置としては、センター (筑紫地区) にオージェ電子分光分析装置、Ⅹ線光電子分
光分析装置、赤外分光分析装置、4 軸型自動Ⅹ線回折計、集中法粉末Ⅹ線回折計、光交流法比熱測定装置、
超伝導核磁気共鳴装置、超高圧物性測定装置などの 42 装置が、また伊都分室に超伝導核磁気共鳴吸収装置、
ICP 質量分析装置、走査型電子顕微鏡などの 48 装置が所属あるいは登録されており、共同利用に供されて
います。今後さらに各種の装置を整備充実する予定です。
また、センター報告、センター案内、センターニュースなどの発行や関連図書の整備によって利用者へ
の情報を提供して共同利用の円滑化を促すとともに、高度な分析や試料作成法に関する講演会あるいは講
習会を開催しています。
●センターの事業
(1) 分析装置および試料作成装置などの共同利用
当センターでは、センター所属および登録された分析装置、ならびに試料作成装置などの利用依頼
に応じています。利用方法については 10 ページを御覧下さい。
(2) 分析および試料作成などの相談
分析および試料作成などに関する質問や相談に応じる窓口を開設しています。
(3) 講習会、講演会、研究会などの開催
学内、学外の講師を迎え、分析化学、機器分析、試料作成などに関連した諸問題について講習会、
講演会、研究会などを随時開催しています。
(4) 図書、スライドなどの閲覧および貸出
14 ページに示すような分析化学、機器分析に関する便覧、データ集、分析化学教育スライドなどを
常備し、閲覧および貸出に応じています。
(5) センターニュース、センター報告、センター案内の発行
センターニュースは年 4 回発行し、新規の分析装置および試料作成装置などの紹介のほか、 セン
ターの事業についての最新の情報を掲載しています。
センター報告は、年 1 回発行し、機器分析の進歩に関する総説やセンター利用者などによる研究成
果を掲載しています。
センター案内は適宜発行し、センター所属および登録機器やその利用方法などセンターの全般的な
運営に関する事項を掲載しています。
●センターの配置と建物
センターの建物(面積 1,340m2、3 階建)は、昭和 59 年 3 月筑紫地区の大学院総合理工学研究科材料開発
工学専攻棟の南西側に新設され、24 室から構成されています。
伊都分室はウエスト 3 号館工学系研究教育棟Ⅲ(伊都地区、面積 393m2)内にあり、15 室から構成されて
います。
- 2 -
案内図
【筑紫キャンパス】
○JR 鹿児島本線・・・「大野城駅」下車 徒歩5分
○西鉄大牟田線・・・「白木原駅」下車 徒歩15分
○九州自動車道・・・太宰府インターから10分
- 3 -
【伊都キャンパス】
○JR 筑肥線・・・「九大学研都市駅」下車→昭和バス「九大工学部前」行きに乗車(約20分)
○博多駅 A 停留所から直行バス・・・西鉄バス(急行)「九大伊都キャンパス(工学部前)」行きに乗車(約50分)
中央分析センター(伊都分室)
中央分析センターは筑紫キャンパスと伊都キャンパスに設置されています。目的にあった装置を
ご都合の良いキャンパスで使用することが可能です。
【中央分析センター】
〒816-8580 春日市春日公園 6-1
TEL: 092-583-7870(ダイヤルイン)
FAX: 092-593-8421
ホームページアドレス
【中央分析センター伊都分室】
〒819-0395 福岡市西区元岡 744 番地 (ウエスト 3 号館、1,2 階)
TEL: 092-802-2857(ダイヤルイン)
FAX: 092-802-2858
http://bunseki.kyushu-u.ac.jp/bunseki/
- 4 -
- 5 -
伊都分室測定室案内
(ウエスト3号館 工学系研究教育棟Ⅲ)
1階
101
102
103
104
105
106-2
106-3
(NMR1)
(SEM1)
(SEM2)
(SEM3)
(SEM4)
(ICP-MS)
(SEM5)
106-4
107
108
106-1
2階
201
(DSC・
TG/DTA・
AFM・
XrayCT)
202
203
204
205
206
207-2
207-3
(XRD)
(XRF)
(X-Ray)
(IR)
(Raman・
(SEM6)
(SEM7)
207-1
名称
装置名(型式)
内線
101
機器分析室 A (NMR)
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECP400)
7573
102
機器分析室 B (SEM)
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500)
7574
103
機器分析室 C (SEM)
低真空分析走査電子顕微鏡(SU-6600)
・フラットミリング装置(IM-3000)・イオンミリング装置(E-3500)
7575
104
機器分析室 D (SEM)
超高分解能走査型電子顕微鏡(S-5200)
7576
105
機器分析室 E (SEM)
【管理】 林研究室
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-6701F)
イオンコーティング装置(JFC-1600)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7500c)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7700x)
7577
106-2
機器分析室 F (ICP-MS)
106-3
機器分析室 F (SEM)
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡(SU8000)
7578
106-4
機器分析室 F
ドラフト
7578
107
機器分析室 G
分析相談窓口・教員室
2857
108
機器分析室 H
事務室・図書室・複写室
7579
110
実験室 A
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500)
2897
201
202
203
2
階
(NMR2)
AutoSE)
階 部屋番号
1
階
110
204
205
206
207-1~3
熱分析(EXSTAR7000)・ドラフト
・高分解能 3 次元 X 線 CT システム(SKYSCAN1172)
・走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)・レーザー顕微鏡(OLS4000)
粉末X線回折装置(MultiFlex)
機器分析室 J (XRD)
全自動水平型多目的 X 線回折装置(SmartLab)
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX-800),(EDX-7000)
機器分析室 K (XRF)
X線分析顕微鏡(XGT5000)
単結晶高速X線構造解析装置(SMART APEX COD システム)
機器分析室 L (X-ray)
【管理】 久枝研究室
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
機器分析室 M (IR)
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
顕微レーザーラマン分光装置(LabRAM ARAMIS)
機器分析室 N (Raman)
自動薄膜計測装置(Auto SE)
走査型電子顕微鏡(SS-550)・電子線 3 次元粗さ解析装置(ERA-8900)
機器分析室 O (SEM)
・イオンコーティング装置(JFC-1600)・カーボンコータ(SC-701C)
注)研究室管理の部局管理装置のうち分析センター内に設置されている機器を含む
機器分析室 I
- 6 -
7578
7580
7581
7581
7582
7583
7584
7585
【共同利用機器リスト】
【学内用】共同利用機器一覧及び利用経費
装置担当者
(内線)
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
走査型電子顕微鏡(SS-550)
207 室
分析依頼料金
(円/件)
6,700
電子線 3 次元粗さ解析装置(ERA-8900)
207 室
12,300
1,100
No.
装置名
設置場所
*利用料金
(円/時間)
1,100
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500)
102 室
7,000
1,600
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡(SU8000)
106 室
18,000
3,200
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
103 室
14,000
3,000
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-6701F)
105 室
8,500
1,900
粉末X線回折装置(MultiFlex)
202 室
5,500
900
全自動水平型多目的X線回折装置(SmartLab)
202 室
11,000
2,500
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX-800)
203 室
3,800
1,800
エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置(EDX-7000)
203 室
4,300
2,600
X線分析顕微鏡(XGT-5000)
203 室
4,800
1,400
高分解能 3 次元 X 線 CT システム(SKYSCAN1172)
102 室
26,000
2,200
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
205 室
4,600
700
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
205 室
9,000
2,900
伊都分室
(2857)
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS)
206 室
16,000
5,000
自動薄膜計測装置(Auto SE)
206 室
5,000
900
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent 7500c)
106 室
6,400
3,500
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent 7700x)
106 室
8,500
5,600
熱分析装置(EXSTAR7000)
201 室
11,000
1,800
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
201 室
13,000
2,500
3D測定レーザー顕微鏡(OLS4000)
201 室
9,500
2,100
フラットミリング装置(IM-3000)
106 室
-
1,100
イオンミリング装置(E-3500)
106 室
-
1,100
イオンコーティング装置(JFC-1600)
105 室
1,100
700
イオンスパッタ(MC1000)
102 室
2,300
1,500
カーボンコータ(SC-701C)
105 室
2,000
1,600
オスミウムコータ(HPC-1SW)
102 室
5,000
5,800
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECP400)
101 室
6,000
**800
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500)
110 室
9,800
1,500
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AV300M)
109 室
1,500
1,100
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AVANCE500)
109 室
単結晶高速X線構造解析装置(SMART APEX CCD システム)
204 室
33
高性能X線光電子分光解析装置(ESCA5800)
112 室
34
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK)
114 室
35
超高分解能走査型電子顕微鏡(S-5200)
104 室
36
37
レーザーラマン分光光度計(NRS-2000)
114 室
紫外・可視・近赤外分光光度計(SolidSpec-3700DUV)
115 室
38
動的二次イオン質量分析装置
212 室
39
原子吸光分光光度計(AA-6700)
512 室
40
磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ)
CE61・102 室
41
差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA)
W2・1001 室
42
電界放出型走査電子顕微鏡(S-4300SE)
EN-41
105 室
- 7 -
小野助教
(2830)
山田准教授
(2832)
森川助教
(2834)
榎本准教授
(2860)
白木助教
(2841)
田中教授
(2878)
久保田助教
(2808)
稲垣助教
(3522)
小宮助教
(3431)
森川助教
(2952)
1,500
940
36,000
3,200
24,000
2,200
4,900/時間
2,300
-
1,700
-
3,300
-
1,200
56,000
-
-
6,300
-
540
-
2,900
-
2,000
☆農 4 号館・
108 室
43
高速液体クロマトグラフ質量分析計(LCMS-IT-TOF)
44
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置(AXIMA-CFR plus)
45
セルアナライザー Sony EC800
46
セルソーター Sony SH800
47
共焦点・超解像顕微鏡 TCS SP8 STED
48
次世代シーケンサー MiSeq
☆農 4 号館・
108 室
☆農 7 号館・
209 室
☆農 7 号館・
209 室
☆農 5 号館・
201-3 室
☆農 7 号館・
209 室
赤坂技術職員
(99-2899)
松永技術職員
(99-2851)
鵜木技術職員
(99-2896)
鵜木技術職員
(99-2896)
奥川技術職員
(99-2861)
河村技術職員
(99-2822)
10,000
2,100
-
-
10,000
1,800
10,000
1,800
-
1,500
-
250
注)☆は箱崎地区に設置。*利用者自身が測定する場合。**NMR(ECP400)については通常依頼測定はこちらの
料金が適用されます。
【学外用】共同利用機器一覧及び利用経費
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
装置担当者
(内線)
走査型電子顕微鏡(SS-550)
207 室
分析依頼料金
(円/件)
6,700
電子線 3 次元粗さ解析装置(ERA-8900)
207 室
15,000
3,000
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500)
102 室
8,800
3,000
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡(SU8000)
106 室
21,000
5,700
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
103 室
19,000
9,300
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-6701F)
105 室
9,500
2,800
粉末X線回折装置(MultiFlex)
202 室
5,500
900
全自動水平型多目的X線回折装置(SmartLab)
202 室
13,000
4,200
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX-800)
203 室
3,800
1,800
エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置(EDX-7000)
203 室
4,600
3,500
X線分析顕微鏡(XGT-5000)
203 室
4,800
1,400
高分解能 3 次元 X 線 CT システム(SKYSCAN1172)
102 室
42,000
4,900
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
205 室
4,600
700
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
205 室
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS)
206 室
自動薄膜計測装置(Auto SE)
No.
装置名
設置場所
利用料金*
(円/時間)
1,100
9,800
4,200
25,000
10,200
206 室
6,000
2,000
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent 7500c)
106 室
6,400
3,500
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent 7700x)
106 室
8,600
7,300
熱分析装置(EXSTAR7000)
201 室
14,000
3,000
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
201 室
15,000
3,800
3D測定レーザー顕微鏡(OLS4000)
201 室
9,900
2,500
フラットミリング装置(IM-3000)
106 室
-
1,600
イオンミリング装置(E-3500)
106 室
-
1,600
イオンコーティング装置(JFC-1600)
105 室
1,100
700
イオンスパッタ(MC1000)
102 室
2,400
1,500
カーボンコータ(SC-701C)
105 室
2,100
1,800
オスミウムコータ(HPC-1SW)
102 室
5,000
5,900
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECP400)
101 室
6,000
-
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500)
110 室
12,000
-
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AV300M)
109 室
-
-
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AVANCE500)
109 室
-
-
単結晶高速X線構造解析装置(SMART APEX CCD システム)
204 室
-
-
-
-
高性能X線光電子分光解析装置(ESCA5800)
112 室
- 8 -
伊都分室
(2857)
小野助教
(2830)
山田准教授
(2832)
34
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK)
114 室
35
超高分解能走査型電子顕微鏡(S-5200)
104 室
36
37
レーザーラマン分光光度計(NRS-2000)
114 室
紫外・可視・近赤外分光光度計(SolidSpec-3700DUV)
115 室
38
動的二次イオン質量分析装置
212 室
39
原子吸光分光光度計(AA-6700)
512 室
40
磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ)
CE61・102 室
41
差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA)
W2・1001 室
42
電界放出型走査電子顕微鏡(S-4300SE)
EN-41
105 室
43
高速液体クロマトグラフ質量分析計(LCMS-IT-TOF)
44
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置(AXIMA-CFR plus)
45 セルアナライザー Sony EC800
46 セルソーター Sony SH800
注)☆は箱崎地区に設置。*利用者自身が測定する場合。
- 9 -
☆農 4 号館・
108 室
☆農 7 号館・
209 室
森川助教
(2834)
榎本准教授
(2860)
白木助教
(2841)
田中教授
(2878)
久保田助教
(2808)
稲垣助教
(3522)
小宮助教
(3431)
森川助教
(2952)
赤坂技術職員
(99-2899)
松永技術職員
(99-2851)
鵜木技術職員
(99-2896)
4,900/時間
2,300
-
1,700
-
-
-
1,900
56,000
-
-
-
-
540
-
2,900
-
-
-
-
-
-
12,000
2,600
16,000
4,600
筑紫キャンパス 【学内用】共同利用機器一覧及び利用経費
No.
装置名
設置場所
装置担当者
(内線)
分析依頼料金
(円/件)
利用料金*
(円/件)
1
超高感度示差走査熱量計(DSC6100)
306 室
―
3,000
2
高感度示差走査熱量計(DSC6220)
307 室
―
2,000
3
オージェ電子分光分析装置(JAMP7800F)
104 室
23,600
―
4
X 線光電子分光分析装置(AXIS165)
103 室
23,200
―
5
蛍光 X 線分析装置(PV9500)
204 室
6
四軸型自動 X 線回折計(CAD4)
205 室
98,100
7
光交流法比熱測定装置(ACC-1)
204 室
10,900
8
超伝導核磁気共鳴装置(Varian INOVA)
102 室
6,400
9
粒径測定システム(ELSZ-0S)
306 室
10
顕微赤外分光分析装置(MFT-2000)
11
―
1,500
―
3,800
―
―
1,100
306 室
―
520
赤外分光光度計(FTIR4200 and IRT5000)
306 室
―
1,700
12
原子間力顕微鏡(Nano ScopeⅢa)
201 室
―
1,500
13
走査型プローブ顕微鏡(5500SPM)
201 室
―
12,000
14
超高圧物性測定装置
207 室
12,300
15
雰囲気中液体急冷装置(OH-SI)
107 室
4,300
16
高周波数2極スパッタ装置(SPF-210HRF)
107 室
2,500
1,500
17
ラバープレス(W-R/P)
107 室
1,700
600
18
ICP 発光分析装置(SPS1700HVR)
307 室
永長准教授(7525)
―
7,400
19
表面形状測定装置(DEKTAK3)
202 室
大瀧教授(8835)
―
2,000
20
レーザーラマン分光光度計(NRS-2000)
307 室
橋爪准教授(7544)
―
850
21
電界放射走査型電子顕微鏡(JSM-6340F)
201 室
島ノ江教授(7876)
―
4,000
22
真空紫外分光光度計(VUV-2000)
藤野教授(8773)
―
5,000
23
蛍光寿命測定装置
―
1,500
24
FT ラマンシステム
―
1,500
25
偏光変調高感度反射フーリエ赤外分光シス
テム
―
1,500
26
X 線回折計(Rigaku RINT2200)
―
7,000
27
蛍光 X 線分析装置(Rigaku ZSX-miniX)
―
20,000
28
透過型電子顕微鏡(JEOL JEM-2100XS)
29
核磁気共鳴装置(JEOL JNM-ECA600)
30
固 体 高 分 解 能 核 磁 気 共 鳴 装 置 (JEOL
JNM-ECA400)
31
核磁気共鳴装置(JEOL JNM-LA400)
産学センター
4F
総理工 A 棟
405 室
総理工 C 棟
206 室
三浦助教(7214)
藤田准教授(7531)
総理工 C 棟
206 室
総理工 C 棟
107 室
総理工 C 棟
NMR 解析棟
- 10 -
―
永長准教授(7525)
107 室
先導研南棟
209 室
2,200
梅津技術専門職員、
田中(雄)技術職員
(8898)
出田技術専門職員
(8898)
25,000
―
7,700
―
22,000
―
1,100
―
先導研南棟
32
電子共鳴装置(JEOL JES-FA200)
33
二重収束質量分析計(JMS-700)
34
35
コールドスプレーイオン化飛行時型質量分
析装置(JMS-T100CS)
超高輝度 CCD 単結晶 X 線構造解析装置
(Varimax (Mo))
36
X 線単結晶構造解析装置(R-AXIS RAPID (Cu))
37
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛
行時間型質量分析計 (JMS-S3000)
38
超強力単結晶構造解析システム (FR-E+)
39
40
高輝度広角X線回折システム薄膜解析部
(RINT-TTRⅢ)
高輝度広角X線回折システム熱量同時評価
部 (SmartLab)
41
高分解能小角散乱装置 (NANOSTAR)
42
EPMA 電子マイクロアナライザー
4,500
401 室
先導研南棟
215 室
先導研南棟
401 室
西 技術補佐員
(8898)
田中(雄)技術職員
(8898)
先導研北棟
421 室
松本技術専門職員
(8898)
先導研南棟
215 号室
先導研北棟
421 号室
先導研北棟
205 号室
先導研北棟
205 号室
先導研北棟
205 号室
応力研材料実
験棟
EPMA 室
- 11 -
権藤技術職員
(8898)
松本技術専門職員
(8898)
松原技術専門職員
(7760)
1,900
4,500
―
3,200
―
53,000
―
42,000
―
3.100
―
41,000
―
20,000
―
27,000
―
33,000
―
47,000
―
筑紫キャンパス 【学外用】共同利用機器一覧及び利用経費
No.
装置名
設置場所
装置担当者
(内線)
分析依頼料金
(円/件)
利用料金*
(円/件)
1
超高感度示差走査熱量計(DSC6100)
306 室
―
4,900
2
高感度示差走査熱量計(DSC6220)
307 室
―
3,100
3
オージェ電子分光分析装置(JAMP7800F)
104 室
88,000
29,500
4
X 線光電子分光分析装置(AXIS165)
103 室
29,000
22,300
5
蛍光 X 線分析装置(PV9500)
204 室
6
四軸型自動 X 線回折計(CAD4)
205 室
99,000
394,000
7
光交流法比熱測定装置(ACC-1)
204 室
14,000
9,000
8
超伝導核磁気共鳴装置(Varian INOVA)
102 室
14,000
18,600
9
粒径測定システム(ELSZ-0S)
306 室
10
顕微赤外分光分析装置(MFT-2000)
11
―
4,800
―
1,200
306 室
―
1,000
赤外分光光度計(FTIR4200 and IRT5000)
306 室
―
3,300
12
原子間力顕微鏡(Nano ScopeⅢa)
201 室
―
4,200
13
走査型プローブ顕微鏡(5500SPM)
201 室
―
24,000
14
超高圧物性測定装置
207 室
13,000
3,200
15
雰囲気中液体急冷装置(OH-SI)
107 室
4,500
1,300
16
高周波数2極スパッタ装置(SPF-210HRF)
107 室
2,900
2,800
17
ラバープレス(W-R/P)
107 室
1,800
620
18
ICP 発光分析装置(SPS1700HVR)
307 室
永長准教授(7525)
―
19
表面形状測定装置(DEKTAK3)
202 室
大瀧教授(8835)
―
20
レーザーラマン分光光度計(NRS-2000)
307 室
橋爪准教授(7544)
―
6,200
21
電界放射走査型電子顕微鏡(JSM-6340F)
201 室
島ノ江教授(7876)
―
4,000
22
真空紫外分光光度計(VUV-2000)
藤野教授(8773)
―
―
23
蛍光寿命測定装置
―
―
24
FT ラマンシステム
―
―
25
偏光変調高感度反射フーリエ赤外分光シス
テム
―
―
26
X 線回折計(Rigaku RINT2200)
27
蛍光 X 線分析装置(Rigaku ZSX-miniX)
28
透過型電子顕微鏡(JEOL JEM-2100XS)
29
核磁気共鳴装置(JEOL JNM-ECA600)
30
固 体 高 分 解 能 核 磁 気 共 鳴 装 置 (JEOL
JNM-ECA400)
31
核磁気共鳴装置(JEOL JNM-LA400)
32
電子共鳴装置(JEOL JES-FA200)
産学センター
4F
総理工 A 棟
405 室
総理工 C 棟
206 室
三浦助教(7214)
藤田准教授(7531)
7,400
―
総理工 C 棟
206 室
総理工 C 棟
107 室
総理工 C 棟
7,000
―
20,000
永長准教授(7525)
107 室
先導研南棟
209 室
―
梅津技術専門職員、
田中(雄)技術職員
(8898)
NMR 解析棟
出田技術専門職員
(8898)
25,000
―
7,700
―
22,000
―
1,100
―
先導研南棟
401 室
- 12 -
4,500
1,900
33
34
35
二重収束質量分析計(JMS-700)
コールドスプレーイオン化飛行時型質量分
析装置(JMS-T100CS)
超高輝度 CCD 単結晶 X 線構造解析装置
(Varimax (Mo))
36
X 線単結晶構造解析装置(R-AXIS RAPID (Cu))
37
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛
行時間型質量分析計 (JMS-S3000)
38
超強力単結晶構造解析システム (FR-E+)
39
40
高輝度広角X線回折システム薄膜解析部
(RINT-TTRⅢ)
高輝度広角X線回折システム熱量同時評価
部 (SmartLab)
41
高分解能小角散乱装置 (NANOSTAR)
42
EPMA 電子マイクロアナライザー
先導研南棟
215 室
先導研南棟
401 室
西 技術補佐員
(8898)
田中(雄)技術職員
(8898)
先導研北棟
421 室
松本技術専門職員
(8898)
先導研南棟
215 号室
先導研北棟
421 号室
先導研北棟
205 号室
先導研北棟
205 号室
先導研北棟
205 号室
応力研材料実
験棟
EPMA 室
権藤技術職員
(8898)
松本技術専門職員
(8898)
松原技術専門職員
(7760)
4,500
―
3,200
―
53,000
―
42,000
―
3,500
―
132,000
―
23,000
―
42,000
―
83,000
―
47,000
―
総理工(総合理工学研究科)
、産学センター(産学連携センター)
、先導研(先導物質化学研究所)
、応力研(応用力学研究所)
- 13 -
【共同利用機器紹介(1)伊都キャンパス】
101 室
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECP400)
導入年:2001 年 (日本電子株式会社)
溶液試料について核磁気共鳴吸収を高分解能で測定する
(使用周波数 400MHz:1H)。通常の測定核種は1H、13C、31P
であるが、多核測定、温度可変測定、長時間測定、特殊測
定等も可能。標準濃度は1H 測定では、分子量 200 位で
2mg/0.6ml (5mm 径の試料管使用時に下から約 4cm の液量)、
13
C 測定では 20mg/0.6ml が適当。
110 室
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500)
導入年:2015 年 (日本電子株式会社)
溶液試料について核磁気共鳴吸収を高分解能で測定する
(使用周波数 500MHz:1H)最新のデジタル技術と高周波技術
で開発された装置であるため、従来装置に比べて安定した
高精度、高感度の測定が可能である。DOSY 法など最先端
のアプリケーションに対応している。Delta データ処理ソフトは
フリーダウンロードが可能である(JEOL RESONANCE ホーム
ページ参照)。
102 室
低真空高感度走査電子顕微鏡 (SU3500)
導入年: 2015 年(株式会社日立ハイテクノロジーズ)
試料表面の形態を観察する装置である。
分解能;3nm (30 kV)、加速電圧:0.3~30kV、
試料サイズ;130mm 径まで全領域観察可能、
電子銃;プリセンタード W ヘアピンフィラメント。非導電性試料の観察
には導電処理して高真空で観察、前処理せずに低真空観
察、あるいは低加速高真空観察が選択できる。高感度低真
空検出器を搭載しているため、低真空観察において反射電
子像と同時に試料最表面の微細構造観察が可能である。エネルギー分散型X線分析装置を付属しており、試料
の観察と同時に元素分析が可能。検出元素範囲;B~U。
導電処理用にイオンスパッタ(MC1000, ターゲット Pt)とオスミウムコータ(HPC-1SW)を設置している。
- 14 -
103 室
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
導入年:2010 年 (株式会社日立ハイテクノロジーズ)
ショットキーエミッション形電子銃を採用し、最大プローブ電流は
200nA。低真空観察システム付属。アウトレンズ仕様であるため、
鉄系サンプルも導入可能。付属装置として EDX(エネルギー分散
型 X 線分析装置)、WDX(波長分散型 X 線分析装置)、EBSD
(電子線後方散乱回折装置),CL(カソードルミネッセンス分光装置)
を搭載し、試料の多様な情報を得ることができる。
[二次電子分解能] 1.2nm(30kV), 3.0nm(1kV)
[反射電子分解能] 3.0nm(30kV)
[低真空時真空度]10~300 Pa
フ ラ ッ ト ミ リ ン グ 装 置 ( IM-3000 ) , イ オ ン ミ リ ン グ 装 置
(E-3500)
導入年:2010 年
(株式会社日立ハイテクノロジーズ)
イオンビームミリング法は、イオン銃から放出されたままの、直径約
1mm 程度のブロードイオンビームによって、試料表面の原子を表
面からはじき出す現象(スパッタリング)を用いて、試料表面の研
磨傷の除去や多層膜の断面試料作成を行う技術である。走
査電子顕微鏡用の前処理装置として用いる。
IM-3000: 短時間で広範囲(Φ5mm)を均一に加工すること
ができる。 [最大ミリングレート(参考値)] Si で約 4μm/h (照射角-60°偏心-4mm)
[最大試料サイズ] Φ50mm×H25mm
E-3500: イオンガンは 3 電極方式のペニング形を採用、歪のない平滑な断面作成が可能。
[最大ミリングレート(参考値)] 約 100μm/h
[最大試料サイズ] 20mm(W)×12mm(D)×5mm(H)
104 室
超高分解能走査型電子顕微鏡(S-5200)
登録装置
導入年:2001 年 (株式会社日立ハイテクノロジーズ)
固体試料表面を観察する装置である。電界放射型電子銃
およびインレンズ方式の採用により、低加速電圧下での高
倍率観察(最高 80 万倍)が可能であり、エネルギー分散型 X
線分光による元素分析もできる。但し、インレンズ方式ゆえ、
標準的な試料サイズとして概ね 3mm x 5mm x 高さ 1mm よ
り小さくする必要があり、強磁性を有する物質には適用でき
ない。
- 15 -
105 室
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-6701F)
導入年:2007 年 (日本電子株式会社)
多層膜や超微粒子等の微細構造を容易に観察することがで
きる。冷陰極電界放出形電子銃採用。 2 種(SEI, LEI)の二次
電子検出器、半導体反射電子検出器を搭載しているので、
目的に応じて選択可能。鉄系試料は導入時に注意が必要。
エネルギー分散型X線分析装置付属(検出元素 B~U)。
[二次電子像分解能] 1nm (15kV), .2nm (1kV)
106 室
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡(SU8000)
導入年:2010 年
(株式会社日立ハイテクノロジーズ)
Top,Upper,Lower 検出器を搭載し、観察目的に応じた信号情
報を得ることができる。リターディング機能を搭載しているので、
極表面のコントラストが観察可能。STEM 検出器、半導体反射電
子検出器も装備。導電性の無い試料も適切な加速電圧を選
択すると、無蒸着で観察可能。磁性体試料は導入不可。
最大試料サイズは試料台を準備すれば 100mmΦまで可能。
[二次電子像分解能] 1nm (15kV), 2nm (1kV)
106 室
誘導結合プラズマ質量分析装置 (Agilent7500c)
導入年:2003 年 (アジレントテクノロジー株式会社)
誘導結合プラズマ(Inductively coupled plasma; ICP)をイオン化源
にし、四重極マスフィルタを質量分析選択部に用いた溶液試料
の超微量元素分析装置である。ppb~ppt レベルの測定。多原
子イオン干渉低減システム(H2 モード、He モード)付属。
サンプルに浮遊物、沈殿がないこと。HF の導入不可。
測定前にサンプル情報用紙に必要事項を記入して提出。
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7700x)
導入年:2011 年 (アジレントテクノロジー株式会社)
Agilent7500c の上位機種。感度が 1 桁程度上がっている。
高エネルギー He コリジョン技術により、より効果的な多原子イオン干
渉除去機能を有す。特に多原子イオン干渉を受けやすい
Cr,Fe,As,Se 等で DL(検出限界)や BEC(バックグラウンド相当濃
度)の低減が可能。サンプルに浮遊物、沈殿がないこと。
HF の導入不可。測定前にサンプル情報用紙に必要事項を
記入して提出すること。
- 16 -
201 室
熱分析システム(EXSTAR7000)
導入年:2012 年
(エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社)
本システムは高温型示差熱熱重量同時測定装置
(TG/DTA7300)、高感度示差走査熱量計(X-DSC7000)、高
温型示差走査熱量計(DSC6300)で構成される。測定温度範
囲は TG/DTA7300,DSC6300 は室温~1300℃、X-DSC7000
は-80~500℃である。
X-DSC7000 にはリアルビューシステムが付属しているので反応中
の試料の状態が記録可能。パージガスは窒素、アルゴン、空気。
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
導入年:2010 年
(ブルカーエイエックスエス)
走査型プローブ顕微鏡(Scanning probe microscope)は、マイクロ
プローブまたは刺激を加える源を試料表面に近づけて、ミクロ領
域の応答を測定するような顕微鏡(走査型トンネル顕微鏡や原
子間力顕微鏡など)の総称である。大型試料用自動ステージを
搭載。観察手法として tapping mode, contact mode, MFM, LF
などが可能。ScanAsyst 機能付。
[サンプル搭載可能サイズ] 210mm×15mm□
[スキャナ稼働範囲] 90um×90um×10um(クローズドループ)。
3D 測定レーザー顕微鏡(OLS4000)
導入年:2011 年 (株式会社島津製作所)
共焦点光学系を採用し、試料表面の微細形状を非破壊、大
気中で観察・計測する高精細顕微鏡である。接触式粗さ計と
互換性を持つ粗さモードを搭載している。
[光源]405nm 半導体レーザー [総合倍率]108~17,280 倍
[平面分解能] 0.12μm
[Z 方向表示分解能] 1nm
[最大試料高さ]100mm [試料ステージ] 100mm×100mm(電動)
高分解能 3 次元 X 線 CT システム(SKYSCAN1172)
導入年:2014 年(Bruker 株式会社)
測定対象物を回転させながら、X 線透過データを連続して収
集し、再構成のデータ処理を行なうと対象物の容積内の全
体にわたる内部構造情報を含んだデータに変換することが
できる。
[X 線源]密閉型マイクロフォーカス X 線源(出力 80kV)
[最高分解能] <800nm (但し、この場合のサンプルサイズの制限
有) [搭載可能最大サンプルサイズ] 70mmH, Φ50mm
- 17 -
202 室
粉末X線回折装置(MultiFlex)
導入年:2003 年
(株式会社リガク)
X線回折装置の測定対象試料は、セラミックス、金属、高分子等
多岐に渡るが本装置は多様な試料に対応するために、試料
を水平に保持して測定する水平型ゴニオメータを採用している。
試 料 高温 装置 ( ~ 1300 ℃ ) 付 属 。粉末 X 線 回折解 析 ソフ ト
(PDXL)及び ICDD データベースを搭載。未知試料の同定や各
種応用解析が可能。他メーカーの装置で測定したデータも解析
できる。解析ソフトはノート PC にて貸出可能。
全自動水平型多目的 X 線回折装置
導入年:2012 年
(株式会社リガク)
SmartLab GuidanceTM ソフトウェアで、各アプリケーションに最
適な光学系ユニットの選択から、測定条件の設定・実行まで
の測定シーケンスを自動的に設定可能。試料水平保持方式
であるため、薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けるこ
とができる。高速 1 次元 X 線検出器を搭載しているので、高
係数率・高エネルギー・低ノイズのデータが取得できる。粉末
測定、薄膜測定、微小部測定に対応している。
203 室
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX-800)
導入年:1999 年 (株式会社島津製作所)
試料にX線を下面から照射することにより、試料に含まれる
元素から発生する蛍光X線を測定することでその組成を分析
する。C~U までの元素の非破壊、迅速測定が可能。粉末、
バルク、液体、オイル等試料の状態を問わない(ガス以外測定可
能)。試料室の対応最大径 300mm、最大高さは 150mm であ
る。軽元素の感度向上のために真空、He 雰囲気での測定に
対応している。不明試薬の分析にも利用可能。FP(ファンダメンタ
ルパラメータ)法により標準試料を準備しなくても定量可能であるが、標準試料を用意すればより正確に定量可能。
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX-7000)
導入年:2015 年 (株式会社島津製作所)
EDX800 の上位機種。試料観察カメラ付属。
[測定範囲] Na~U
液体窒素レス検出器搭載
[試料サイズ] 最大 300mm 径、100mm 高さ
[照射面積] 1,3,5,10mmΦ(4 種自動交換)
ターレットユニットを付属しているので、連続測定が可能。
- 18 -
X線分析顕微鏡(XGT5000)
導入年:2004 年 (株式会社堀場製作所)
試料の光学像から測定位置を指定して透過X線像、蛍光X
線像(マッピング)及び蛍光X線スペクトルを同時に測定・分析する
装置である。Na~U まで測定可能。
[空間分解能]100um,10um(選択可)
[最大測定エリア] 100mm×100mm
[最大試料サイズ] 350mm×400mm×40mm
204 室
単結晶高速 X 線構造解析装置
(SMART APEX CCD システム)
導入年:2001 年
(ブルカー株式会社)
登録装置
有機、無機の単結晶試料の結晶構造を MoKa を X 線源とし
て、検出器には CCD カメラを用いて短時間・高精度で解析す
る。低温測定装置も付属する。
(詳細はセンターニュース Vol.24,No.2,2005 参照)
205 室
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
導入年:1997 年
(日本分光株式会社)
分子の振動及び回転状態は、赤外領域の電磁波を吸収する
ことによって励起されるので、これを利用して赤外スペクトルか
ら分子の振動および回転に関する情報を得ることができる。
測定範囲は 7000~400cm-1 であり、分解能は 0.25cm-1。サンプ
ルが粉末の場合は一般的には KBr錠剤とし、透過法で測定
する。真空対応仕様であるので、短時間で CO2 や水蒸気を
除去することが可能。遠赤外領域(~50cm-1)の測定にも対
応できる。測定範囲は 7800~350cm-1、分解能は 0.25cm-1、
波数正確さは±0.01 cm-1 以内(理論値)。付属品:反射装置、多重反射 ATR、一点反射 ATR、拡散反射、高感
度反射測定装置。各種データベースを搭載している。
マルチチャンネル赤外顕微鏡(IRT-7200)
導入年:2015 年
(日本分光株式会社)
赤外分析におけるイメージング測定は、試料の化学的な構
造を可視化し解析する上で必要不可欠になっている。本装
置では単素子検出器と 16 チャンネルリニアアレイ検出器が
搭載されているので、用途に応じて使い分けができる。リニ
アアレイ検出器と高速自動ステージにより従来機に比べ測
定時間が大幅に短縮されている。本体部 FT/IR-6800 の仕
様は以下の通りである。[測定範囲]7800~350cm-1、
[分解能] 0.07cm-1、 [S/N 比] 55000:1 [付属品]一点反射 ATR、高感度反射測定装置。MCT 検出器も搭載し
ているので、高感度反射測定装置(RAS)と組み合わせると高感度の測定が可能である。
- 19 -
206 室
顕微レーザーラマン分光装置(LabRAM ARAMIS)
導入年:2010 年
(株式会社堀場製作所)
ラマン分光法は分子や結晶の振動スペクトルを測定する分光分
析法であり、次のような利点がある; 顕微法によりμm オーダ
ーの空間分解能がある。非接触分析が可能。in-situ 分析が
可能。無機物の分析が可能。 本装置は検出器、レーザー、グ
レーティングの切換えが自動であるので、人為的ミスが少なく操作
性が良い。広範囲高速マッピングと高空間分解能マッピング
(DuoScan)が可能である。
[搭載レーザ波長] 532,633,785nm
[検出器] CCD(200~1000nm), InGaAs(850~1600nm)
207 室 (SEM3)
走査型電子顕微鏡(SS-550)
導入年:2001 年
(株式会社島津製作所)
試料表面の形態を観察する装置である。分解能:3.5 nm (30
kV)、加速電圧:0.5~30kV、試料サイズ:125mm 径まで全領域
観察可能、電子銃:プリセンタード W ヘアピンフィラメント。非導電性試
料の観察には導電処理して高真空で観察、前処理せずに低
真空観察、あるいは低加速高真空観察が選択できる。エネルギ
ー分散型X線分析装置(Genesis2000)を付属しており、試料の
観察と同時に元素分析が可能。検出元素範囲;B~U。
電子線 3 次元粗さ解析装置(ERA8900)
導入年:2008 年
(エリオニクス株式会社)
走査電子顕微鏡に 4 台の二次電子検出器が装備されている
ため、極微な凹凸やうねりのある試料を容易に観察すること
ができる。また検出器に入る二次電子信号量を定量的に捉え、
試料の X,Y の傾斜角度を計算し、3 次元形状を測定し、表面
粗さ等の計測を行うことができる。2010 年に EDX システムを導
入したので元素分析が可能。
[二次電子分解能] 3.5nm [電子銃] プリセンタードタングステン
[加速電圧] 0.3~35kV [試料サイズ] Φ125×H10mm(最大径), Φ50×H30mm(最大厚), Φ10×H10mm
[3 次元測定系] Z 方向分解能 1nm [ビーム走査] デジタル走査, [測定方向] X 方向、Y 方向
[測長] X,Y 方向の距離、Z 方向の距離 [傾斜角度解析機能] 等高線、面積率、山数、粒度、表面積、鳥瞰図、
JIS 規格粗さパラメータ
- 20 -
カーボンコータ(SC-701C)
導入年:2010 年 (サンユー電子株式会社)
電子顕微鏡における試料作成用に低真空状態で導電性カー
ボン膜を蒸着(コーティング)する装置である。
[カーボンホルダー]カートリッジタイプ
[コーティング回数] 1~19 回(任意)
[コーティング時間] 0.3 秒/回 (1フラッシュ=約 3nm)
[蒸着方法] アーク放電
イオンコーティング装置 (JFC-1600)
導入年:2007 年
(日本電子株式会社)
走査電子顕微鏡の前処理装置として、非導電性試料のコーティ
ングを短時間で行うことができる。
[スパッタリング方式] マグネトロン型 [使用圧力] 20Pa 以下
[ターゲット] Pt [試料台] 直径 64mm
注)105 室にも同じ装置が設置されている。
- 21 -
【共同利用機器紹介(2)筑紫キャンパス】
1. 超高感度示差走査熱量計(セイコーインスツルメンツ DSC6100)
[1998 年導入]
試料と基準物質との温度差を測定して熱の出入
りを観測する。超高感度であるため生体高分子
(蛋白質、DNA、生体膜など)の相転移やゾル-ゲ
ル転移といった極めて微量な潜熱を伴う転移を
観測するのに有効。
測定温度範囲:-150℃~500℃
熱流計測方式:熱流束型
感
度:0.2μW
昇降温プログラム速度:0.01~20℃/min
最大試料量:密封容器 70μl
試料容器の種類:
〈密 封 型〉Ag(15μl、70μl)、Al(15μl、 70μl)、SUS(15μl、70μl)
〈簡易密封型〉Al(15μl)
2. 高感度示差走査熱量計((株)エスアイアイ・ナノテクノロジー DSC6220)
[2004 年導入]
金属、無機化合物、セラミックスなどの試料では転移に伴う
吸・発熱量が比較的大きいためこちらの高感度 DSC を使用
する。
測定温度範囲:-150℃~725℃
熱流計測方式:熱流束型
感
度:1.6μW
昇降温プログラム速度:0.01~100℃/min
最大試料量:密封容器 15μl、オープン型容器 45μl
試料容器の種類: 〈密 封 型〉Ag 15μl
Al 15μl
〈オープン型〉Al (φ5.2mm, h2.5mm)
3. オージェ電子分光分析装置(日本電子製 JAMP-7800F)
[1996 年導入]
固体試料表面に電子線を照射したときに、試料から発生す
るオージェ電子のエネルギーを分光し、元素分析を行う。Li
より原子番号の大きい元素の組成分析ができる。電子線ビ
ーム径を絞ることが出来るため、2 次電子像を見ながら試料
の局所領域をねらって測定できる(この点でXPSよりも優れ
ている)。ただし試料のチャージアップ(特に絶縁物)には注
意が必要である(この点でXPSよりに劣る)。測定は超高真
空環境で行われる。試料ホルダーは 20mmφ×6mmH と
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12mmφ×4mmH の 2 種類があり試料サイズによって使い分ける。フィールドエミッション型電子銃を搭載し、オ
ージェ分析領域は最小で 15nm であるが通常は10~100μmΦの分析径で測定する。1wt.%.程度の元素濃
度であれば測定可能。半球型静電アナライザーを搭載。Ar スパッタによるデプスプロファイル分析、オージェ電
子像による元素分布の測定(ライン分析とマッピング分析)、2次電子像による形態観察が出来る。静専用試料
室での試料の冷却・加熱や破断・イオンエッチングが可能。各種データ処理機能(元素の帰属、スペクトルの微
分、定量分析など)も用意されている。また、オプションとして質量範囲1~500amu の簡易型2次イオン質量分
析装置が組み込まれている。
4. X 線光電子分光分析装置(島津/KRATOS 製作所社製 AXIS-165)
[1996 年導入]
物質に単色 X 線を照射し、X 線
によって励起されて物質表面から
放出される光電子のエネルギー
を分光分析する。金属、絶縁物、
有機物等あらゆる固体表面の元
素分析に適用出来る。シャープな
シグナルが得られるため化学状
態(特に酸化数)の推定に威力を
発揮する(この点でAESよりも優
れる)。測定は超高真空環境で行
われる。試料は試料ホルダー(直
径15mm)にカーボンテープを使ってを固定する。粉末も可能である。X 線銃はデュアルアノード(MgKαと AlK
α)と単色化 X 線源(AlKα)の 2 種類を搭載している。MgKαの半値幅約0.7eV、AlKα(モノクロメーター使
用で)の半値幅0.2~0.3eV。最小分析径は30μmであるが、通常は1mm角程度の分析面積で測定する。
1wt.%.程度の元素濃度であれば測定可能。試料の局所領域をねらって測定することはAESよりも劣る。試料
のチャージアップを抑えるための中和銃が付いている。従って絶縁物も測定可能(AESよりも優れた点)。測定
対象元素は 3Li~92U。180°静電半球型アナライザー搭載。必要に応じてイオンエッチング、加熱・冷却などの
試料前処理が可能。深さ方向の分析、マッピング測定が出来る。各種データ処理機能(元素の帰属、定量分析、
波形分離など)も用意されている。
5. 蛍光 X 線分析装置(Philips 社製 PV9500 型)
[1985 年導入]
試料にX線を照射し発生する蛍光 X 線を分光して元素分析
に用いる。Si(Li)を検出器とするエネルギー分散型の X 線分
析装置である。半導体検出器は液体窒素で冷却する。分析
対象となるのは Na より重い元素である。LSI-11 による定性、
定量分析(各種プログラム付き)ができる。
- 23 -
6. 四軸型自動 X 線回折計(Nonius 社製 CAD-4型)
[1985 年導入]
単結晶の構造解析に用いる。結晶のサイズは0.2mm角程度が適当(必要に
応じて整形)。測定・解析を進めるには結晶性の質が重要である。X 線源は封入
管球(2kW)。ミニコン(VAX3100)制御の回折計。各種ソフトウェア完備。回折測定、
データ解析(2組)の同時処理可能。低温用(100K まで)、高温用(1000K まで)の
両アタッチメントがある。散漫散乱測定などにも適している。
7. 光交流法比熱測定装置(真空理工製 ACC-1)
[2000 年導入]
直径4~5mm、熱さ 50~250μm の板状試料の比熱(熱容
量)を測る。 潜熱を伴わない(物質の)相転移(相変態)の比
熱異常測定に最適。 示差熱分析装置と相補的関係にある。
測定温度範囲 80~500K(液体窒素使用)。 試料の昇降温
スピード(最小値1K/hour,標準値 20~60K/hour)。 ロックイ
ンアンプタイムコンスタント1sec。光のチョッピング周波数(1
~20Hz)。 試料温度計測用熱電球(アルメル・コンスタンタン
25μmφ)。 炉温存制御用温度計(白金抵抗温度計)。
8.超伝導核磁気共鳴装置(Varian 製 UNITY INOVA)
[2005 年更新]
NMR は超伝導磁石によって強磁場をつくりだし原子核の
磁気共鳴現象を利用して測定する装置である。この装置は
磁場強度11.7テスラ(プロトンの共鳴周波数で500MHz)、
液体専用機である。分子構造・分子運動に関する情報を得
ることが出来る。プローブは汎用タイプ(スイッチャブル)、プ
ロトン専用(インダイレクト)、ナノプローブ(試料が少量の場
合使用)の3本が用意されており、磁場勾配パルスの使用
が可能。通常の測定では汎用タイプで十分である。測定メ
ニューは豊富で様々な1次元・2次元測定、array による連
続測定、数種類の溶媒消去測定が用意されている。乾燥空
気を使った冷却装置が取り付けられており(低温側で-20℃程度まで可能)温度可変測定が長時間にわたり
できる。データ処理にも様々な工夫があり、種々のウィンドー関数、ゼロフィリング、線形予測、デジタルフィルタ
ーが使える。データは USB フラッシュメモリに保存できる。
- 24 -
9. 粒径測定システム (大塚電子製 ELSZ-0S)
[2011 年導入]
動的光散乱法(光子相関)を利用し、測定角度165度(後方
散乱)、)0.6nm~7μm の範囲の粒径分布を測定すること
が出来る。光源には半導体レーザー(30mW)を、検出器に
は光電子倍増管を使用。測定試料の濃度は0.001~4
0%の範囲で可能。溶媒は水あるいは有機溶媒。試料温度
は0~80℃の範囲で調節可能。そのほかに、パーソナルコ
ンピュータ(WindowsXP)、プリンタ、種々のソフトウェア(キュ
ムラント平均粒径法、ヒストグラム法、重ね書きプロット、粒
径モニタープロット等)を装備。
10. 顕微赤外分光分析装置(日本分光製 MFT-2000)
[1996 年導入]
顕微赤外分光法では試料を観察したうえで微小部分(物)
をねらって分析できる特徴がある。測定波数範囲 5000~
600cm-1。分解能1cm-1。最小分析領域3μm×3μm。
接眼レンズ 10 倍、対物レンズ 10~38 倍。顕微多重反射測
定装置、高感度反射装置、および加熱・冷却装置(-185℃
~+600℃)を装備。
11. 赤外分光光度計(日本分光製 FT/IR-4200 and IRT-5000(赤外顕微鏡))
[2012 年導入]
赤外分光光度計は赤外光領域のエネルギーをもつ分子振
動・格子振動に関する情報を得て物質に含まれる分子の構
造推定に利用される。IR スペクトル変化の追跡による構造変
化、材料評価、異物分析などに役立つ。本装置は、従来から
の装置(上記)よりも感度が 3 倍向上しており、短時間でスペ
クトルの収集が可能である。
●FT/IR-4200:測定周波数範囲:7800~350cm-1。分解
能(最大):0.5cm-1(1 ,2, 4cm-1 に可変可能)。通常の IR スペ
クトルと全反射法(ATR 法)測定が可能。ATR 測定では表面
から2~3μmの深さまでの情報が得られる。
●IRT-5000(赤外顕微鏡):測定周波数範囲:7800~650cm-1。最小測定領域:3μm×3μm。対物レン
ズ:10, 16, 32 倍選択可。アパーチャーサイズ:10~200μm角。反射/透過測定、自動2次元マッピング測定が
可能。
- 25 -
12. 原子間力顕微鏡(Digital Instruments 製 走査型プローブ顕微鏡 Nano Scope3a)
[1996 年導入]
カンチレバーで掃引し、そのたわみで試料の原子1個1個
の凹凸を分析する。原子間力顕微鏡(AFM)機能として、コン
タクトモード AFM、ノンコンタクト AFM、高振幅モード AFM、電
気化学 AFM、摩擦力顕微鏡(LFM)、磁気力顕微鏡(MFM)
が可能。試料サイズ 15mmφ×5mm 厚。走査範囲 10μm×
10μm、垂直 2.4μm。
13. 走査型プローブ顕微鏡(Agilent Technologies 社製 5500 Scanning probe Microscope)
[2010 年導入]
表面形状観察のための原子間力顕微鏡法(Atomic Force
Microscopy : AFM)と電気特性を調べるための走査ケルビン
プ ロ ー ブ 原 子 間 力 顕 微 鏡 法 ( Kelvin probe Force
Microscopy : KFM)が可能。
(1) AFM 測定 : カンチレバーの先端に取り付けられた
鋭い探針(先端が数 nm の針)で試料表面をなぞり、探針と試
料表面間に働く力を検知することにより表面形状の情報を得
ることが出来る。DC と AC モードの2つが使用できる。高さ方
向の分解能は 0.1nm 程度。
(2) KFM 測定 : 探針に電圧を加えて試料表面の静電気力を検知することにより、表面電位測定や絶縁体
の帯電分布の観察が出来る。試料サイズは縦横 1 cm × 1 cm 程度、高さ数 mm 程度。走査範囲は数10μ
m。
14. 超高圧物性測定装置(三啓社製 OH-SI)
[1988 年導入]
ネジ式、レバー式、クランプ式の3種類のダイアモンドアン
ビルセルを常備。ルビーの R1 蛍光波長の変化を測定するた
め、He-Cd レーザー、顕微鏡、分光器等より構成されている。
また高圧下での X 線回折実験用に X 線発生装置とラウエカ
メラが設置されている。
- 26 -
15. 雰囲気中液体急冷装置(真壁鉄工所製)
[1984 年導入]
溶融状態の合金を真空もしくは不活性ガス雰囲気中で急冷し、細線あるい
はリボン状の強制固溶体もしくはアモルファス合金を作成することができる。冷
却は銅あるいはステンレス鋼製の単ローラー法で行い、冷却速度は任意に設
定することができる。一度に作成できる量は数グラムである。
16. 高周波2極スパッタ装置(日電アネルバ製 SPF-210HRF 型)
[1985 年導入]
2極プレーナ型の高周波スパッタ装置で、各種薄膜試料の
作成とスパッタエッチングができる。スパッタ速度は SiO2 ター
ゲットで 1,000Å/min である。なお装置には薄膜モニターが付
いている。
17. ラバープレス(油研工業製 W-R/P)
[1984 年導入]
あらかじめゴム製または薄いゴム袋に充填した粉体を高圧水に
より加圧成形する。最高使用圧力は 3,000kg/c ㎡、ゴム型挿入部
の有効容積は 50mm(φ)×300mm(L)である。
- 27 -
装置利用の手引き
●申込みと利用
共同利用機器リストより利用目的に応じて選択の上、次の要領で申込みと利用を行って下さい。
装置は中央分析センターが管理する所管装置と研究室が管理する部局管理装置(登録装置)があります。
(1) 装置の利用方法としては、担当オペレーターに依頼する場合と、利用責任者の側で装置を利用
する場合の二つの方法があります。この各々の場合では装置利用経費が異なりますので、装置
利用経費表をご覧下さい。
(2) HP の装置予約状況を確認の上、予約は原則としてメールでお願いします。
(3) 利用申込書は HP よりダウンロードし、必要事項を記入の上、利用当日に持参して下さい。
(4) 利用の許可は、センター長または伊都分室長が行います。
但し、次の各号のいずれかに該当する場合は、利用が認められない場合もありますので、ご留意下さい。
・利用申込書の記載が不備の楊合
・試料がオペレーターまたは装置に害を及ぼすおそれのあるもの
・試料の準備処理が不十分で、装置にかけるのが不適当と判断されるもの
・測定が異常に長時間に及ぶもの
・その他センター長(伊都分室長)が不適当と認めたもの
(5) 利用当日は必要事項を記入した申込書を、試料と共に持参して下さい。
・依頼分析の場合は、担当オペレーターに試料を渡し、測定終了時に測定室に行き、担当
オペレーターから測定結果を直接受け取って下さい。
・利用責任者の側で装置を利用する場合は、装置管理者の指示に従って装置を利用し、装置利用
後は利用記録などに必要事項を記入して下さい。
(6) 装置利用後には、利用者は装置管理者から申込書に所定の事項を記入してもらい、これを
センター事務室(伊都分室事務室)に提出して下さい。
(7) 利用責任者の提出した試料が不可抗力によって損害を受けたときは、センターは、その生じた
損害を賠償しませんのでご了承下さい。
謝辞ならびに論文別刷の寄贈について
中央分析センターの機器を利用して行った研究の成果を学会誌等に発表される場合には、論文にその
旨ご記載していただくと共に(文例下記)
、その論文の別刷 1 部を当センターにご寄贈いただくようお願
いします。
文例(実験の項または論文末尾に記入)
○ (本研究における)○○○の測定(分析)には、九州大学中央分析センターの○○○(装置)
を利用した。
○ The measurement of ○○○ was made
The ○○○ analysis was performed
using ○○○ at the Center of Advanced Instrumental
Analysis,Kyushu University.
○ We are indebted to Dr.(Mr.) ○○○,the Center of Advanced Instrumental
Analysis,Kyushu University for
the measurement of ○○○
the ○○○ analysis.
- 28 -
中央分析センター伊都分室 利用申込書
◆利用終了後に太線枠内を全てご記入の上ご提出ください。
◆学外利用の場合は*のみをご記入の上ご提出ください。
項
目
利用責任者
利
用
職
究
利用装置名
印
所 属 部 局 ・部 門 ・講 座 等
教授 ・ 准教授 ・ 講師 ・ 助教 ・ 技官 ・ 学部生 ・ 修士 ・ 博士 ・ 各種研究員 ・ その他
目
□所管
□部局管理
*
予算コード
支 払 希 望 経 費 運営費交付金・使途特定寄付金・科学研究費・共同研究費・受託研究費
利 用 日 時
連絡先(Tel)
下記該当箇
所に○
者
題
名
*
利用者の身分
研
氏
年
*
月
日
:
利用時間計
~
[
サンプル件数 *
:
]
◆依頼分析の場合は下記もご記入ください。
爆発性の 有 無
毒性の 有
刺激性の 有 無
腐 食 性 の有
無
吸 湿 性 の有
試料名称等
無
試
料
試 料 の返 却
要
無
不要
悪臭の 有
無
件数
測定条件等
【ご注意】
(1)
所管装置の利用料金は上記 5 種類の経費で支払うことが可能です。請求は月末締めで行いますので、提出
時に必ず支払い予算種別をご記入下さい。外部資金(寄附金を除く)での利用料金の支払いは2月分利用料
までです。3月分利用料は「運営費交付金・使途特定寄付金」に限定されます。
(2)
科研費の場合は、4月の交付申請書提出時、機器使用料の項目を記入して申請して下さい。
(3)
科学技術振興調整費による支払いはできませんので、ご注意下さい。
(4)
利用終了後に利用時間とサンプル件数をご記入の上(利用記録簿と同じ内容)、ご提出ください。
(5)
工学研究院所属の部局管理装置(旧名称;登録装置)の利用料金の支払いも外部資金での支払が可能です。
上記(1)と同様の処理を行います。
(6)
部局管理装置利用終了後は、利用者は装置責任者による押印・必要事項の記入を受け、ご提出ください。
(7)
部局管理装置担当者は利用者の利用終了後に、「利用承認印」と「測定及び利用」の欄の押印と必要事項の
記入をお願いします。
【以 下 セ ン タ ー 及 び 登 録 装 置 責 任 者 記 入】
受付期日
年
月
(部局管理装置担当者は*に押印・ご記入ください)
日
受付番号
利
用
承
認
印
装置管理者*
センター長(伊都分室長)
測 定 及 び利 用 (装 置 責 任 者 記 入 )
利 用 装 置 名
*
利用日・件数・時間*
利用の種類*
年
月
装置責任者氏名*
日
A:担当オペレーター
B:利用者自身
件
時間
印
利用経費
中
項
利
分
目
用
責
利
析
セ
職
任
氏
ン
タ
名
ー
利
用
申
込
書
所属部局・学科
(または教室)講座等
印
連 絡 先
(電 話)
者
用
研
央
究
者
課
題
分析および試料の内容
希 望 利 用 装 置 名
名
(装置番号
称
数量(件数)
試 含有元素あるいは化合物
状
態(気・液・固体)
特
性(融点・沸点等)
構造式
爆発性の
有
無
毒性の
有
無
吸湿性の
有
無
料 刺激性の
有
無
腐蝕性の
有
無
悪臭の
有
無
試料の返却
要
希
望
利
用
条
件
希
望
利
用
日
時
・
不要
その他
年
X 線取扱者登録の有無
月
日
時から
受付期日
利
セ
ン
タ
ー
長
(伊
都
分
室
長)
利
用
予
定
日
測
定
お
よ
用
年
承
装
年
び
無
(工学部登録番号)
(以下センター記入)
利
認
置
月
月
期 日
利用件数(時間)
利 用 の 種 類
管
理
日
受付番号
者
時から
用(装置責任者記入)
時まで
利 用 経 費
利 用 経 費
年
月
日
件
時から
(時間
時まで
納入年月日
年
月
)
A (担当オペレーター)
確
B (依頼者)
装置責任者氏名
日
印
利 用 装 置 名
用
時まで
有:中央分析センター登録番号
(X 線装置利用者のみ記入)
利
)
センター長
㊞
(伊都分室長)
認
印
日
外部資金による装置利用申し込み書(中央分析センター)
項
目
職
氏
名
印
所属部局・学科・講座等
連絡先(電話)
利用責任者
利
研
用
究 題
者
目
試料の内容
毒性の 有・無
腐食性の 有・無
希望利用日時
年
月
刺激性の 有・無 吸湿性の 有・無
日
時から
科学研究費
№
装
置
超高感度示差走査熱量計(DSC6100)
2
高感度示差走査熱量計(DSC6220)
3
オージェ電子分光分析装置(JAMP-7800F)
4
X 線光電子分光分析装置(AXIS-165)
5
蛍光 X 線分析装置(PV9500)
7
8
9
時まで
共同研究費
受託研究費
その他
名
1
6
爆発性の 有・無
自主
依頼
自主
依頼
自主
依頼
自主
依頼
測定
測定
測定
測定
測定
測定
測定
測定
*4軸型自動 X 線回折計(CAD-4)
赤外分光分析装置(FT/IR4200, IRT-5000)
光交流法比熱測定装置
*超伝導核磁気共鳴装置(VARIAN)
10
粒径測定システム(ELSZ-0Z)
11
顕微赤外分光分析装置(MFT-2000)
12
赤外分光分析装置(FT/IR-550)
13
原子間力顕微鏡(NanoScopeⅢa)
14
超高圧物性測定装置
15
光散乱光度計(SLS-600)
16
雰囲気中液体急冷装置
17
走査型プローブ顕微鏡(Agilent5500)
18
高周波2極スパッタ装置(SPF-210HRF)
19
ラバープレス
外
部
資 金
コ
ー ド
番
号
(1) *印は、担当オペレータが操作する装置で依頼者は操作できません。
(2) 科研費の場合は、4月の交付申請書提出時、機器使用料の項目を書いて申請して下さい。
(3) 「科学技術振興調整費」による支払いは出来ませんので、ご注意下さい。
(4)
「外部資金コード番号」は会計処理時に必要となりますので、各研究室等の会計システムにてご確認のうえ
ご記入ください。
センター長(分室長)利用承認印
利用件数(時間)
㊞
( ) 利用経費
装置責任者確認印
㊞
会計処理
年月日
年
月
日
関係委員及び職員
九州大学中央分析センター委員会委員
(任期:平成26年4月1日~平成28年3月31日)
委員長 センター長
教 授
島 ノ 江 憲 剛
委員
教 授
古 田 弘 幸
伊都分室長
工学研究院長
教 授
高 松
洋(*)
総合理工学研究院長
教 授
原 田
明(*)
理学研究院
教 授
渡 部 行 男
〃
教 授
徳 永
工学研究院
教 授
今 任 稔 彦
〃
教 授
岸 田 昌 浩
農学研究院
教 授
下 田 満 哉
比較社会文化研究院
教 授
狩 野 彰 宏
医学研究院
教 授
康
歯学研究院
教 授
清 島
薬学研究院
教 授
王 子 田 彰 夫
芸術工学研究院
教 授
浦 濱 喜 一
システム情報科学研究院
教 授
興
総合理工学研究院
教 授
大 瀧 倫 卓
応用力学研究所
教 授
新 川 和 夫
先導物質化学研究所
教 授
横 山 士 吉
工学部等事務部長
事務部長 藤 野 充 幸
信
東 天
保
雄 司
事務部長 吉 田 隆 男(*)
筑紫地区事務部長
(*)
平成27年4月1日~平成28年3月31日
- 32 -
九州大学中央分析センター運営委員会委員
(任期:平成26年4月1日~平成28年3月31日)
委員長 センター長
教 授
島 ノ 江 憲 剛
委員 伊都分室長
教 授
古 田 弘 幸
理学研究院
教 授
徳 永
医学研究院
教 授
池 田 典 昭
薬学研究院
准教授
濱 瀬 健 司
工学研究院
教 授
今 任 稔 彦
システム情報科学研究院
准教授
吉 田
敬
総合理工学研究院
准教授
高 曽
徹
農学研究院
教 授
松 井 利 郎
歯学研究院
准教授
都 留 寛 治
先導物質化学研究所
教 授
横 山 士 吉
信
中央分析センター伊都分室委員会委員 (平成26・27年)
委 員 長
工学研究院委員
分 室 長
教 授
古田 弘幸
(環 境 都 市)
教 授
島岡 隆行
(機 械 系)
准教授
森 英男
(化 学 工 学)
准教授
竹中 壮
(応用化学・機能)
准教授
中野 幸二
(応用化学・分子)
准教授
森
(地球資源システム工学)
教 授
笹木 圭子
(材 料 工 学)
准教授
佐藤 幸生
(航空宇宙工学)
教 授
高橋 厚史
健
(海洋システム工学)
准教授
後藤 浩二
(エネルギー量子工学)
准教授
稲垣 八穂広
- 33 -
システム情報科学研究院委員
准教授
吉田 敬
人間環境学研究院委員
准教授
小山 智幸
理学研究院委員
地球惑星科学部門
准教授
石橋 純一郎
生物科学部門
准教授
古賀 誠人
農学研究院委員
生命機能科学部門
教 授
松井 利郎
生命機能科学部門
准教授
中山 二郎
教 授
久枝 良雄
中央分析センター運営委員会工学研究院委員
中央分析センター職員
センター長
教 授
島ノ江 憲剛
助 教
三浦 好典
(兼任:総合理工学研究院)
事務補佐員 敷田 万理
中央分析センター伊都分室職員
分 室 長
教 授
古田 弘幸 (兼任:工学研究院)
助 教
渡辺 美登里
教務員
岩永 知奈
- 34 -
センター規則等
●センター規則、運営細則、伊都分室利用規定、運営内規
九州大学中央分析センター規則
平成1 6 年度九大規則第3 5 号
施行:平成16年4月1日
最終改正:平成20年4月1日
(趣 旨)
第1条 この規則は、九州大学学則(平成16年度九大規則第1号。以下「学則」という。)第13条第2項の規
定に基づき、中央分析センター(以下「センター」という。)の内部組織その他必要な事項を定めるものとする。
(目 的)
第2条 センターは、九州大学(以下「本学」という。)において教育研究に従事する者のために教育研究上必要
な分析及び試料作成等を行うことにより、本学の教育研究の進展に資することを目的とする。
(業 務)
第2条の2 センターは、次の各号に掲げる業務を行う。
(1) 大型高性能分析装置及び測定装置の共同利用に関すること。
(2) 各種分析及び測定を行い、データを提供すること。
(3) 大型試料作成装置による研究用特殊試料の作成を行うこと。
(4) 各種分析、測定及び試料作成に関する教育研究及び広報に関すること。
(センター長)
第3条 学則第26条の規定により、センターに、センター長を置く。
2 センター長は、本学の教授のうちから第7条に規定するセンター委員会(以下次条及び第6条において同じ。)
の推薦により、総長が任命する。
3 センター長の任期は、2年とする。ただし、欠員が生じた場合の後任者の任期は、前任者の残任期間とする。
4 センター長は、再任されることができる。
(副センター長)
第4条 学則第26条の規定により、センターに、副センター長を置くことができる。
2 副センター長は、本学の教授のうちからセンター委員会の推薦により、総長が任命する。
3 副センター長の任期は、2年とする。ただし、欠員が生じた場合の後任者の任期は、前任者の残任期間とする。
4 副センター長は、再任されることができる。
(伊都分室)
第5条 センターに、伊都分室を置く。
(室長)
第6条 伊都分室に、室長を置く。
2 室長は、本学の教授のうちからセンター委員会の推薦により、総長が任命する。
3 室長は、センター長を助け、当該分室の業務を掌理する。
4 室長の任期は、2年とする。ただし、欠員が生じた場合の後任者の任期は、前任者の残任期間とする。
5 室長は、再任されることができる。
(センター委員会)
第7条 学則第39条の規定により、センターに、センターの重要事項を審議するため、センター委員会を置く。
2 センター委員会は、次の各号に掲げる事項を審議する。
(1) センター長の選考に関すること。
(2) センターの教員人事に関すること。
(3) 教員の研究業務に係る重要事項に関すること。
(4) 共同利用に係る業務の重要事項に関すること。
(5) 研究員等に関すること。
(6) 研究生等に関すること。
(7) センター内の諸規則等の制定改廃に関すること。
(8) センターの自己点検・評価に関すること。
(9) その他センターの管理運営に関すること。
3 前項第2号に掲げる事項のうち、教員の選考のための資格審査については、原則として、センターに設置する
教員選考委員会において行うものとする。ただし、必要に応じて、センターの教育研究に関係する部局の教授会に
おいて行うことができる。
第8条 センター委員会は、次の各号に掲げる委員をもって組織する。
- 35 -
(1) センター長及び伊都分室の室長
(2) 第4条第1項の副センター長を置いた場合は、その副センター長
(3) 工学研究院長及び総合理工学研究院長
(4) 理学研究院、工学研究院及び農学研究院の教授のうちから選ばれた者各2人
(5) 比較社会文化研究院、医学研究院、歯学研究院、薬学研究院、芸術工学研究院、システム情報科学研究院、総
合理工学研究院、応用力学研究所及び先導物質化学研究所の教授のうちから選ばれた者各1人
(6) 工学部等事務部長及び筑紫地区事務部長
2 前項第4号及び第5号に掲げる委員の任期は、2年とし、再任を妨げない。ただし、委員に欠員が生じた場合
の後任の委員の任期は、前任の委員の残任期間とする。
第9条 センター委員会に委員長を置き、委員の互選により定める。
2 委員長は、センター委員会を主宰する。
第10条 センター委員会は、委員の2分の1以上が出席しなければ、議事を開き、議決することができない。
2 センター委員会の議事は、出席した委員の過半数で決し、可否同数のときは、委員長の決するところによる。
ただし、第7条第2項第2号の議事は、出席した委員の3分の2以上の賛成をもって決する。
第11条 センター委員会の委員は、総長が任命する。
(運営委員会)
第12条 センターに、センターの運営等に関する具体的事項について審議するため、センター長の諮問機関とし
て、運営委員会を置く。
第13条 運営委員会は、次の各号に掲げる委員をもって組織する。
(1) センター長及び伊都分室の室長
(2) 副センター長を置いた場合は、副センター長
(3) センターの専任の准教授又は講師
(4) 教授又は准教授のうちから次の区分により選ばれた者
イ理学研究院、薬学研究院、工学研究院、システム情報科学研究院、総合理工学研究院及び農学研究院から各1人
ロ医学研究院及び歯学研究院から1人
ハ比較社会文化研究院、応用力学研究所及び先導物質化学研究所から1人
2 前項第4号に掲げる委員は、センター委員会の議を経て、センター長が委嘱する。
3 第1項第4号の委員の任期は、2年とし、再任を妨げない。ただし、委員に欠員が生じた場合の後任の委員の
任期は、前任の委員の残任期間とする。
第14条 運営委員会に委員長を置き、センター長をもって充てる。
2 委員長は、運営委員会を主宰する。
第15条 運営委員会は、委員の過半数が出席しなければ議事を開き、議決することができない。
2 運営委員会の議事は、出席した委員の過半数で決し、可否同数のときは、委員長の決するところによる。
(専門委員会)
第16条 運営委員会に、専門的事項を審議するため、必要に応じて専門委員会を置くことができる。
(伊都分室委員会)
第17条 運営委員会に、伊都分室の運営に関する具体的事項について審議するため、伊都分室委員会を置く。
2 委員長は、伊都分室の室長をもって充てる。
(装置の登録)
第17条の2 センター長は、センター以外の部局が管理する分析装置、測定装置及び試料作成装置等(以下「部
局管理装置」という。)の有効利用を図るため、当該部局の長との協議の上、共同利用に供することが適当と認め
られる部局管理装置をセンターに登録し、第2条の2第1号に規定する業務に利用することができる。
2 前項の装置の登録に関し必要な事項は、センター委員会が別に定める。
(利 用)
第18条 センターの利用を希望する者は、センター長の許可を得なければならない。
2 センター長は、第2条の目的を妨げない範囲内で、他大学及び民間機関等に所属する研究者にセンターを利用
させることができる。
3 センター長は、センターに登録された部局管理装置の利用を希望する者がいる場合は、当該装置を管理する部
局の長との協議の上、当該利用の許可又は不許可を決定する。
4 前項のほか、センターの利用に関し必要な事項は、別に定める。
(幹 事)
第19条 センター又は伊都分室における具体的事項を円滑に処理するため、
それぞれ幹事若干人を置くことがで
きる。
2 センター又は伊都分室の幹事は、
それぞれ運営委員会又は伊都分室委員会の同意を得てセンター長が委嘱する。
(事 務)
第19条の2 センター及び伊都分室に関する事務は、当分の間、筑紫地区事務部及び工学部等事務部において処
理する。
- 36 -
(雑 則)
第20条 この規則に定めるもののほか、センターの組織及び運営に関し必要な事項は、センター委員会の議を経
て、センター長が定める。
附則
1 この規則は、平成16年4月1日から施行する。
2 この規則施行の際現に九州大学中央分析センター規則(昭和57年4月1日施行。以下「旧規則」という。)
の規定に基づき、センター委員会の委員に任命されている者は、この規則の相当規定に基づき任命されたものとみ
なし、任期の定めのある委員の任期については、旧規則による当該委員会の委員として在任した期間を控除した期
間とする。
附則(平成17年度九大規則第45号)
この規則は、平成18年4月1日から施行する。
附則(平成18年度九大規則第49号)
この規則は、平成19年4月1日から施行する。
附則(平成19年度九大規則第66号)
この規則は、平成20年4月1日から施行する。
九州大学中央分析センター運営細則
(趣 旨)
第 1 条 この細則は、九州大学中央分析センター(以下「センター」という。
)の運営に関し、必要な事項を定め
るものとする。
(装置の管理等)
第 2 条 センターに所属する分析装置、試料作成等の装置及びセンターでの利用に供するためセンター長に届け
出た装置(以下「装置」という。
)の管理は、それぞれセンター及び当該装置の所属する部局が行う。
2 前項の届出及び届出の変更は、センター及び伊都分室を通じて行い、センター運営委員会の承認を得るもの
とする。
(装置管理者及び装置担当オペレーター)
第 3 条 前条の装置の届出にあたっては、装置の利用について監督指導させるため装置ごとに装置管理者を、高
度の専門的知識及び技術を要する装置については、その操作を行わせるため装置担当オペレーターを届け出る
ものとする。
2 装置担当オペレーターは、当該装置管理者の指示に従って、装置の操作にあたるものとする。その場合、当
該装置管理者は、必要に応じて第 7 条に規定する利用責任者に操作の補助を求めることができる。
(センターの利用)
第 4 条 センターは、九州大学の各部局において行われている研究のために必要な分析及び試料作成について利
用の申込みに応じる。
2 前項の利用とは、装置を使用すること又は装置による測定若しくは試料作成を委託することをいう。
(利用者窓口)
第 5 条 センターに次の利用者窓口をおく。
(1) センター事務室
(2) 伊都分室事務室
(利用の申込み及び許可)
第 6 条 利用にあたっては、講座担当教官又はそれに準ずる教官が責任者となり、所定の利用申込書を提出し、
センターの長の許可を得なければならない。
2 次の各号のいずれかに該当するものは、利用申込書を受理しない。
(1) 利用申込書に利用責任者の氏名及び押印がない等申込書の記載に不備があるもの
(2) 試料がオペレーター又は装置に害を及ぼすおそれがあるもの
(3) 試料の準備処理が不十分で、装置にかけるのが不適当と判断されるもの
(4) 測定が異常に長時間に及ぶもの
(5) その他センターの長が不適当と認めたもの
(装置の使用者)
第 7 条 利用責任者の申込みにより装置を使用できる者(以下「装置使用者」という。
)は、次のとおりとする。
(1) 九州大学の職員で教育研究に従事する者
(2) その他センターの長が適当と認める者
(利用許可の取消し)
第 8 条 利用責任者又は装置使用者がこの細則に違反したとき、又はその他センターの運営に重大な支障を生じ
- 37 -
せしめたときは、センターの長は、利用の途中であっても当該利用の許可を取消すことができる。
(経費の負担)
第 9 条 利用責任者は、別に定めるところにより、経費を負担しなければならない。
2 前項の経費の負担は、次の各号に掲げる方法によるものとする。
(1) 学内の経費のうち、大学運営経費・受託研究費・共同研究費・科研費および寄附金で負担する場合は、経費
精算による。
(2) 前号以外の場合においては、国立大学法人九州大学が発行する請求書による。
(装置使用者の遵守事項)
第 10 条 装置使用者は、この細則を遵守し、かつ、装置管理者の指示に従わなければならない。
2 装置使用者は、装置の破損、故障、汚染等異常を認めたときは、直ちに当該装置管理者に連絡しなければな
らない。
3 勤務時間外の利用は、あらかじめ当該装置管理者に申出てその承認を受けなければならない。
第 11 条 装置使用者は、当該装置に備える帳簿に装置の使用状況等必要事項を記入しなければならない。
第 12 条 装置使用者が、災害等緊急の事態を発見したときは、災害の拡大及び危険の防止に努めるとともに、直
ちに別に定める緊急連絡を行わなければならない。
(損害賠償)
第 13 条 装置使用者の責に帰すべき事由により装置又は装置室等を滅失し、き損し、又は汚染したときは、当該
利用責任者は、当該損害に相当する金額を賠償しなければならない。
第 14 条 利用責任者の提出した試料が不可抗力によって損害を受けたときは、センターは、その生じた損害の賠
償の責に任じないものとする。
(小委員会)
第 15 条 大型装置の維持、管理、共同利用等に関して、特に必要と認められる場合には、センター運営委員会の
同意を得て、当該装置小委員会を置くことができる。
附 則
この細則は、昭和 58 年 7 月 22 日から施行する。
九州大学中央分析センター利用規程
平成1 8 年度九大規程第5 6 号
制定:平成19年4月1日
最終改正:平成27年3月30日
(平成26年度九大規程第114号)
(趣旨)
第1条この規程は、九州大学学内共同教育研究センター規則(平成26年度九大規則第92号)第31条の規定に
基づき、中央分析センター(以下「センター」という。)の利用に関し必要な事項を定めるものとする。
(利用の手続)
第2条センターの設備の使用を希望する者及び試料の分析等の依頼を希望する者は、所定の申込書によりセンター
長に申請し、その許可を得なければならない。
(設備の使用者の義務)
第3条設備の使用者(以下「使用者」という。)は、センターの利用心得及び職員の指示に従い、善良なる管理者
の注意をもって設備を使用しなければならない。
(損害賠償)
第4条使用者が、その責めに帰すべき事由により、施設の設備、備品等を滅失、破損又は汚損したときは、これを
原状に回復し、又はその損害を賠償しなければならない。
(利用料)
第5条使用者及び試料の分析等の依頼者は、設備の利用に要する利用料を納付するものとし、その額は別表のとお
- 38 -
りとする。
2 前項に規定する利用料は、経費の振替又は九州大学が指定する口座への振込により、所定の期日までに支払わ
なければならない。
3 前2項の規定にかかわらず、総長が特に必要と認めるときは、利用料の全部又は一部を免除することができる。
4 既納の利用料は、原則として返還しない。
(雑則)
第6条この規程に定めるもののほか、センターの利用に関し必要な事項は、センター長が別に定める。
附則
この規程は、平成19年4月1日から施行する。
附則(平成19年度九大規程第49号)
この規程は、平成20年4月1日から施行する。
附則(平成20年度九大規程第106号)
この規程は、平成21年4月1日から施行する。
附則(平成21年度九大規程第7号)
この規程は、平成21年6月1日から施行する。
附則(平成21年度九大規程第22号)
この規程は、平成21年7月1日から施行する。
附則(平成21年度九大規程第37号)
この規程は、平成21年9月1日から施行する。
附則(平成21年度九大規程第66号)
この規程は、平成21年11月1日から施行する。
附則(平成21年度九大規程第102号)
この規程は、平成22年4月1日から施行する。
附則(平成22年度九大規程第21号)
この規程は、平成22年7月1日から施行する。
附則(平成22年度九大規程第25号)
この規程は、平成22年8月1日から施行する。
附則(平成22年度九大規程第62号)
この規程は、平成22年10月1日から施行する。
附則(平成22年度九大規程第101号)
この規程は、平成22年12月1日から施行する。
附則(平成22年度九大規程第117号)
この規程は、平成23年1月16日から施行する。
附則(平成22年度九大規程第191号)
この規程は、平成23年4月1日から施行する。
附則(平成23年度九大規程第15号)
この規程は、平成23年6月1日から施行する。
附則(平成23年度九大規程第25号)
この規程は、平成23年8月1日から施行する。
附則(平成23年度九大規程第77号)
この規程は、平成23年12月1日から施行する。
- 39 -
附則(平成23年度九大規程第109号)
この規程は、平成24年4月1日から施行する。
附則(平成24年度九大規程第67号)
この規程は、平成25年3月1日から施行する。
附則(平成25年度九大規程第4号)
この規程は、平成25年5月1日から施行する。
附則(平成25年度九大規程第55号)
この規程は、平成25年12月1日から施行する。
附則(平成25年度九大規程第125号)
この規程は、平成26年4月1日から施行する。
附則(平成26年度九大規程第1号)
この規程は、平成26年5月1日から施行する。
附則(平成26年度九大規程第5号)
この規程は、平成26年6月16日から施行する。
附則(平成26年度九大規程第9号)
この規程は、平成26年8月1日から施行する。
附則(平成26年度九大規程第63号)
この規程は、平成26年12月1日から施行する。
附則(平成26年度九大規程第88号)
この規程は、平成27年2月1日から施行する。
附則(平成26年度九大規程第95号)
この規程は、平成27年4月1日から施行する。
附則(平成26年度九大規程第114号)
この規程は、平成27年4月1日から施行する。
別表(第5条第1項関係)
1.1件当たりの利用料を設定する設備
管理部局
中央分析
センター
設備の
設置場所
筑紫地区
設備名
超高感度示差走査熱量計(DSC6100)
高感度示差走査熱量計(DSC6220)
蛍光 X 線分析装置(PV9500)
光交流法比熱測定装置
レーザー粒径解析装置(LPA-3000/3100)
顕微赤外分光分析装置(MFT-2000)
原子間力顕微鏡(NanoScopeⅢa)
超高圧物性測定装置
高周波 2 極スパッタ装置(SPF-210HRF)
ラバープレス
オージェ電子分光分析装置(JAMP-7800F)
X 線光電子分光分析装置(AXIS-165)
4 軸型自動 X 線回析計(CAD-4)
超伝導核磁気共鳴装置(Varian INOVA)
雰囲気中液体急冷装置
環境制御型走査型プローブ顕微鏡(Agilent5500)
フーリエ変換赤外分光光度計(4200ST)
- 40 -
利用料(円/件)
本学が管理する 左記以外の経
経費による場合 費による場合
3,000
4,900
2,000
3,100
1,500
4,800
3,800
9,000
1,100
1,200
520
1,000
1,500
4,200
2,200
3,200
1,500
2,800
600
620
12,000
1,700
29,500
22,300
394,000
18,600
1,300
24,000
3,300
備考
1回に
つき
比較社会文
化研究院
総合理工
学研究院
先導物質
化学研究所
伊都地区
X 線回折装置(RINT-2100V)
筑紫地区
ICP 発光分析装置(SPS1700HVR)
X線回折計(RINT2200)
蛍光X線分析装置(ZSX-mini)
レーザーラマン分光分析装置(NRS2100)
電界放射走査型電子顕微鏡(JSM-6340F/-5310)
筑紫地区
電子スピン共鳴装置(JES-FA200)
3,700
3,700
7,400
7,000
20,000
850
4,000
7,400
7,000
20,000
6,200
4,000
1,900
1,900
2.1時間当たりの利用料を設定する設備
管理部局
設備の
設置場所
中央分析
センター
伊都地区
工学研究院
伊都地区
利用料(円/時間)
本学が管理する 左記以外の経
経費による場合 費による場合
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECP400)
800
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7500c)
3,500
3,500
X線回折計(MultiFlex)
900
900
X線分析顕微鏡(XGT-5000)
1,400
1,400
蛍光X線分析装置(EDX-800)
1,800
1,800
走査型電子顕微鏡(SS-550)
1,100
1,100
電界放出型走査電子顕微鏡(JSM-6701F)
1,900
2,800
イオンコーティング装置(JFC-1600)
700
700
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-700)
800
800
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
700
700
電子線 3 次元粗さ解析装置(ERA8900)
1,100
3,000
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS)
5,000
10,200
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡(SU8000)
3,200
5,700
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
3,000
9,300
フラットミリング装置(IM-3000)
1,100
1,600
イオンミリング装置(E-3500)
1,100
1,600
カーボンコータ(SC-701C)
1,600
1,800
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
2,500
3,800
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7700x)
5,600
7,300
3D 測定レーザー顕微鏡(OLS4000)
2,100
2,500
全自動水平型多目的 X 線回折装置(SmartLab)
2,500
4,200
熱分析装置(EXSTAR7000)
1,800
3,000
自動薄膜計測装置(Auto SE-UK)
900
2,000
高分解能 3 次元 X 線 CT システム(SKYSCAN1172)
2,200
4,900
エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置(EDX-7000)
2,600
3,500
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
2,900
4,200
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500)
1,500
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500)
1,600
3,000
イオンスパッタ(MC1000)
1,500
1,500
オスミウムコータ(HPC-1SW)
5,800
5,900
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AV300M)
1,100
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AVANCE500)
940
単結晶高速 X 線構造解析装置(SMART APEX)
3,200
高性能 X 線光電子分光解析装置(ESCA5800)
2,200
超高分解能走査型電子顕微鏡(S-5200)
1,700
1,700
レーザーラマン分光光度計(NRS-2000)
3,300
磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ)
540
540
差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA)
2,900
2,900
原子吸光分光光度計(AA-7000)
6,300
紫外・可視・近赤外分光光度計(SolidSpec-3700DUV)
1,200
1,900
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK)
2,300
2,300
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
2,000
設備名
- 41 -
備考
農学研究院
箱崎地区
セルアナライザー Sony EC800
セルソーター Sony SH800
共焦点・超解像顕微鏡 TCS SP8 STED
次世代シーケンサー MiSeq
1,800
1,800
1,500
250
2,600
4,600
3.次の設備を使用する試料の分析等を依頼する場合
管理部局
中央分析
センター
設備の
設置場所
筑紫地区
設備名
オージェ電子分光分析装置(JAMP-7800F)
X 線光電子分光分析装置(AXIS-165)
4 軸型自動 X 線回析計(CAD-4)
光交流法比熱測定装置
超伝導核磁気共鳴装置(Varian INOVA→JIM-GSX500)
超高圧物性測定装置
雰囲気中液体急冷装置
高周波 2 極スパッタ装置(SPF-210HRF)
ラバープレス
比較社会文
化研究院
工学研究院
利用料(円/件)
本学が管理する 左記以外の経
経費による場合 費による場合
23,600
88,000
23,200
29,000
98,100
99,000
10,900
14,000
6,400
14,000
12,300
13,000
4,300
4,500
2,500
2,900
1,700
1,800
伊都地区
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECP400)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7500c)
X線回折計(MultiFlex)
X線分析顕微鏡(XGT-5000)
蛍光X線分析装置(EDX-800)
走査型電子顕微鏡(SS-550)
電界放出型走査電子顕微鏡(JSM-6701F)
イオンコーティング装置(JFC-1600)
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-700)
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
電子線 3 次元粗さ解析装置(ERA8900)
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS)
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡(SU8000)
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
カーボンコータ(SC-701C)
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
誘導結合プラズマ質量分析装置(Agilent7700x)
3D 測定レーザー顕微鏡(OLS4000)
全自動水平型多目的 X 線回折装置(SmartLab)
熱分析装置(EXSTAR7000)
自動薄膜計測装置(Auto SE-UK)
高分解能 3 次元 X 線 CT システム(SKYSCAN1172)
エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置(EDX-7000)
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500)
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500)
イオンスパッタ(MC1000)
オスミウムコータ(HPC-1SW)
6,000
6,400
5,500
4,800
3,800
6,700
8,500
1,100
4,000
4,600
12,300
16,000
18,000
14,000
2,000
13,000
8,500
9,500
11,000
11,000
5,000
26,000
4,300
9,000
9,800
7,000
2,300
5,000
6,000
6,400
5,500
4,800
3,800
6,700
9,500
1,100
4,000
4,600
15,000
25,000
21,000
19,000
2,100
15,000
8,600
9,900
13,000
14,000
6,000
42,000
4,600
9,800
12,000
8,800
2,400
5,000
伊都地区
X 線回折装置(RINT-2100V)
24,000
24,000
伊都地区
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AV300M)
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AVANCE500)
単結晶高速 X 線構造解析装置(SMART APEX)
高性能 X 線光電子分光解析装置(ESCA5800)
動的二次イオン質量分析装置(SIMS4000)
1,500
1,500
36,000
24,000
56,000
56,000
4,900
4,900
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK)
- 42 -
備考
1回に
つき
1 時間
当たり
農学研究院
応用力学
研究所
先導物質
化学研究所
箱崎地区
筑紫地区
筑紫地区
高速液体クロマトグラフ質量分析計
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置
セルアナライザー Sony EC800
セルソーター Sony SH800
10,000
2,100
10,000
10,000
12,000
16,000
電子線マイクロアナライザー(EPMA)
47,000
47,000
透過型電子顕微鏡(JEM-2100XS)
飛行時型質量分析計(JMS-T100CS)
二重収束質量分析計(JMS-700)
超高輝度迅速型単結晶 X 線回折装置(Varimax(Mo))
固体超伝導核磁気共鳴装置(JNM-ECA400)
超伝導核磁気共鳴装置(JNM-ECA600)
電子スピン共鳴装置(JES-FA200)
単結晶X線構造解析装置(R-AXIS RAPID(Cu))
超伝導核磁気共鳴装置(JNM-LA400)
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型
質量分析装置(JMS-S3000)
超強力単結晶X線結晶構造解析装置(FR-E+)
高輝度広角X線回折システム薄膜解析部(RINT-TTR
Ⅲ)
高輝度広角X線回折システム熱量同時評価部
(SmartLab)
高分解能小角散乱装置(NANOSTAR)
25,000
3,200
4,500
53,000
22,000
7,700
4,500
42,000
1,100
25,000
3,200
4,500
53,000
22,000
7,700
4,500
42,000
1,100
3,100
3,500
41,000
132,000
20,000
23,000
27,000
42,000
33,000
83,000
九州大学中央分析センター(伊都分室)運営内規
(趣 旨)
第 1 条 九州大学中央分析センター(伊都分室)
(以下「伊都分室」という。
)の組織及び運営に関しては、九州
大学中央分析センター規則(以下「センター規則」という。
)および運営細則に定めるもののほか、この内規の
定めるところによる。
(伊都分室の設置場所)
第 2 条 伊都分室は、九州大学伊都地区に設置する。
(伊都分室委員会〉
第 3 条 センター規則第 15 条に規定する伊都分室委員会は、次の各号に掲げる委員をもって組織する。
(1) 伊都分室長
(2) 工学部及び大学院システム情報科学研究科の教授、助教授及び講師のうちから各学科等ごとに選ばれた者
各1人
(3) 理学部及び農学部の教授、助教授及び講師のうちから選ばれた者各 2 人
(4) 中央分析センター運営委員会工学部委員
2 前項第 2 号及び第 3 号の委員の任期は、2 年とする。
第 4 条 伊都分室委員会は委員長が招集し委員長はその議長となる。
第 5 条 伊都分室委員会は、委員の過半数が出席しなければ議事を開き、議決をすることができない。
2 伊都分室委員会の議事は、出席した委員の過半数で決し、可否同数のときは、議長の決するところによる。
(利 用)
第 6 条 伊都分室を利用しようとする者は、センター委員会及び伊都分室委員会の定めるところにより、伊都分
室長の承認を得たうえセンター長の許可を得なければならない。
附 則(昭和 58 年 2 月 1 日)
この内規は、昭和 58 年 2 月 1 日から施行する。
附 則(昭和 58 年 7 月 22 日)
この内規は、昭和58年7月22日から施行する。
- 43 -
中央分析センター防災心得
(平成2年6月30日 中央分析センター運営委員会決定)
中央分析センター(以下「センター」という。
)に所属する者並びにセンターにおいて実験あるいは測定を
行う者(学生及び研究生を含む。
)は、センター建物内において次の事項を遵守しなければならない。
1.一般的心得
(1)入退出時には、事務室前の名標板の自己の名札を点検し、センター建物内での在・不在を明示してお
くこと。
(2)退出時及び長時間不在にする場合には、電源スイッチを切り、ガス及び水道の元栓を締める等の処置
を行い、戸締りと火気の安全を確認すること。
(3)平日午後5時以後(土曜日、日曜日、祝祭日等の休日は終日)にセンター建物内に在室する者は、セ
ンター責任者並びに利用責任者の承認を得た上で、別記様式の「時間外在室届」を同日午後3時(土曜日、
休日の場合は前日の提出期限時刻)までにセンター事務室に提出すること。ただし、止むを得ない理由のた
めに定刻までに責任者の承認が得られない場合には、承認が得られ次第できるだけ速やかに警務員に直接提
出すること。
(4)時間外在室中に実験室、研究室を一時不在にする場合には、出入口扉に行き先を明示し、施錠するこ
と。
(5)消火器具、消火栓、火災報知機、非常電話、避難器具の設置場所を確認しておくと共に、これらの操
作法についても熟知しておくこと。
(6)特に指定された場所以外では喫煙しないこと。また、指定された場所における吸い殻、マッチ等の火
気の後始末を確実に行うこと。
(7)センター建物内においては、事故発生時に迅速に避難ができるような適切な服装と履物を着用するこ
と。
2.研究実験従事者の心得
(1)研究実験における事故防止並びに、建物の効率的使用を図るため、常に実験台上、研究室内外の整理
及び整頓に努めること。
(2)大量の有機溶媒等の引火性物質、劇毒物や爆発性物質等の危険薬品、揮発性の悪臭物質、刺激性物質
等を使用する場合には、前以てセンター職員の承認を得た上で使用すること。また、同室者にもその使用を
周知させること。
(3)危険物質あるいは有害物質を取り扱う実験においては使用に先立って、次項に示すような想定される
事故の対策及び処置を検討し、必要な薬品、器具等を準備しておくこと。
(イ)引火性物質に対する消火方法。
(ロ)劇毒物に対する除害・洗浄方法。
(ハ)揮発性の悪臭および刺激性物質に対する洗気・除害方法。
(4)危険薬品等は、適切な危険物保管専用容器を用意してその中に安全に保管し、使用する場合には実験
に必要な量だけを取り出すこと。
(5)揮発性の悪臭物質あるいは刺激性物質を発生する実験においては、次の事項を遵守すること。
(イ)ドラフト設備内で行ない、密閉型実験装置を使用すること。
- 44 -
(ロ)実験装置から排出される悪臭又は刺激性物質は適切な洗気・除害装置を通して実験装置外に導く
こと。
(6)有害物質を含む有機および無機実験廃液は、九州大学排出水および廃棄物処理規則・細則に従って逐
次処理すること。大量の実験廃液を実験室内に貯溜しないこと。
(7)危険を伴う実験を行なう場合には二人以上で行なうこと。
(8)終夜無人運転を行なう場合には、実験室出入り口扉にその旨を表示し、連絡先(電話番号)
、運転中の
装置及びその実験内容を併記すること。
(9)高圧ガス容器を使用または保管する場合には、転倒を防ぐ適切な措置を講じること。
(10)実験用電気配線には、使用電力に充分耐える性能の電線を使用し、必要な場合には過電流防止のた
めのブレーカーをつけること。
(11)放射性同位体元素等を使用する場合には、九州大学放射線障害予防規則等の関連規則を順守するこ
と。
(12)危険薬品を取り扱う実験に際しては、上記(1)~(11)項の注意事項に加えて次の事項を遵守する
こと。
(イ)実験中は必ず防災眼鏡を着用すること。
(ロ)金属ナトリウム、カリウム、有機金属化合物等の禁注水性試薬は、使用後必ず適切な専用容器に
安全に保管すること。
(ハ)引火性の低沸点物質の取扱い並びに冷蔵庫等の密閉室中での保存には特別の注意を払い、防災に
努めること。
(ニ)ドラフト設備内でのガス栓、水道管、及び電気配線の腐食に対する保守に不断の注意を払うこと。
(13)高電圧、高電流、高圧、高温度、極低温等を伴う装置、レーザー光源、重量物等を取り扱う実験、
大型実験装置の組み立て及び工作作業等を行う場合には、上記(1)~(11)項の注意事項に加えて、次の事
項を遵守すること。
(イ)大型実験装置の組み立て、重量物を取り扱う場合等には、安全靴とヘルメットを着用し、安全に
留意すること。
(ロ)水銀灯、レーザー光源等の強力な光線を取り扱う実験においては、遮光眼鏡を着用すること。
3.実 施
この心得は、平成2年6月30日から実施する。
- 45 -
別記: 時間外在室様式
中央分析センター時間外在室届
センター責任者 氏名・職
印
氏名・職
利用責任者
印
連 絡 先
電話番号(
-
)
・内線(
)
所 属
在室者氏名
所属・身分
在 室 年 月 日・時 間
平成
内線(
室 名
)
年
月
日(
曜日)
時
分
月
日(
曜日)
時
分
~
装 置 名
注 意:
1.平日午後 5 時以降(土、日曜日、祝祭日等の休日は終日)にセンター建物内に
在室する者は、センター責任者及び利用責任者の承認を得た上で、
「時間外在室
届」を午後 3 時(休日の場合は前日の提出期限時刻)までにセンター事務室に
提出すること。
2.事務室備え付けの時間外在室ノートに必要事項を記入し、部屋の鍵を借り受け
ること。鍵は時間外在室終了後、所定の場所に返却すること。
3.止むを得ない理由のために定刻までに責任者の承認が得られない場合には、承
認を取り次第できるだけ速やかに警備員に直接提出すること。
4.時間外在室中は、利用責任者が使用室及び装置の管理の責任を負うこと。
5.センター責任者が不在の場合には、助教授、講師、助手が代わって時間外在室
の要否を判断し、承認印を捺印すること。
以上
- 46 -
中央分析センター伊都分室防災心得
(平成 2 年 10 月 25 日 中央分析センター工学分室委員会決定)
中央分析センター(伊都分室)
(以下「伊都分室」という。
)に所属する者並びに伊都分室を利用する者(学生及び研
究生を含む)は、伊都分室測定室において次の事項を遵守しなければならない。
1. 一般的心得
(1) 機器使用時は、測定室出入口扉の札で在・不在を明示しておくこと。
(2) 退出時及び長時間不在にする場合には、所定の電源スイッチを切り、戸締まりと火気の安全を確認すること。
(3) 平日午後 5 時以後(土曜日、日曜日、祝祭日等の休日は終日)に伊都分室測定室に在室する者は、伊都分室責任
者並びに利用責任者の承認を得た上で、別記様式の「時間外在室届」を同日午後 3 時(土曜日、日曜日、祝祭日の場
合は前日の提出期限時刻)までに伊都分室事務室に提出すること。
(4) 時間外在室中に測定室を一時不在にする場合には、必ず施錠すること。
(5) 消火器具、消火栓、火災報知器、非常電話、避難器具の設置場所を確認しておくと共に、これらの操作法につい
ても熟知しておくこと。
(6) 測定室内(廊下も含める)では絶対に喫煙しないこと。
(7) 伊都分室測定室内においては、事故発生時に迅速な避難ができるように安全な履物を着用すること。
2. 機器利用者の心得
(1) 機器利用における事故防止並びに測定室の効率的使用を図るため、常に実験台上、測定室内外の整理及び整頓に
努めること。
(2) 引火性物質、劇毒物や爆発性物質等の危険薬品、揮発性の悪臭物質、刺激性物質等を使用せざるを得ない場合に
は、前もって伊都分室職員の承認を得た上で使用すること。また、同室者にもその使用を周知させること。
(3) 揮発性の悪臭物質あるいは刺激性物質を発生する可能性のある試料の測定は避けること。また、やむを得ずその
ような試料を測定室内において使用する場合は、悪臭物質あるいは刺激性物質が室内に漏れ出さない状態に保つこと。
(4) 危険物質あるいは有害物質を取り扱う実験においては、使用に先立って次項に示すような想定される事故の対策
及び処置を検討し、必要な薬品、器具等を準備しておくこと。
① 引火性物質に対する消火法。
② 劇毒物に対する除害・洗浄法。
③ 揮発性の悪臭及び刺激性物質に対する洗気・除害方法。
(5) 測定室内に持ち込む危険薬品等は必要最低限にし、測定終了後は直ちに持ち帰ること。
(6) 有害物質を含む有機及び無機廃液は、必ず持ち帰って処理すること。
(7) 時間外測定並びに無人運転を行う場合には、測定室出入口扉にその旨を表示し、
「時間外在室届」を提出すること
(別記「時間外在室届」提出の際の注意事項参照)
。
(8) 高圧ガス容器を使用又は保管する場合には、転倒を防ぐ適切な措置を講じること。
(9) 実験用電気配線には、使用電力に充分耐える性能の電線を使用し、必要な場合には漏電防止のためのブレーカを
付けること。
(10) 国際規制物資を使用する場合には、伊都分室職員に連絡し、必要な指示を受けること。
(11) 危険薬品を取り扱う実験に際しては、上記(1)~(10)項の注意事項に加えて、次の事項を遵守すること。
① 測定中は必ず防災眼鏡を着用すること。
② 金属ナトリウム、カリウム、有機金属化合物等の禁注水性試薬は、使用後必ず適切な専用容器に安全に保管す
ること。
③ 引火性の低沸点物質の取扱い並びに冷蔵庫等の密閉室中での保存には特別の注意を払い、防災に努めること。
④ ドラフト設備内でのガス栓、水道管、及び電気配線の腐食に対する保守に不断の注意を払うこと。
(12) 高電圧、高電流、高圧、高温度、極低温等を伴う装置、レーザー光源、重量物等を取り扱う実験、大型実験装置の
組み立て及び工作作業等を行う場合には、上記(1)~(11)項の注意事項に加えて、次の事項を遵守すること。
① 大型実験装置の組み立て、重量物を取り扱う場合等には、安全靴とヘルメットを着用し、安全に留意すること。
② 水銀灯、レーザー光源等の強力な光線を取り扱う実験においては、遮光眼鏡を着用すること。
3. 実 施
この心得は、平成 2 年 10 月 25 日から実施する。
※「時間外在室届」提出上の注意
① 平日午後 5 時以後(土曜日、日曜日、祝祭日等の休日は終日)に伊都分室測定室に在室する者は、伊都分室責任者並
びに利用責任者の承認を得た上で、同日午後 5 時(土曜日、日曜日、祝祭日の場合は前日の提出期限時刻)までに伊都分室
事務室に提出すること。
② 時間外在室届提出の際に測定室の鍵を借り受けること。なお、鍵は翌日の午前 11 時までに返却すること。
③ 時間外在室中は、利用責任者が使用室及び装置の管理の責任を負うこと。
④ 緊急時の連絡先は、夜間連絡が可能な電話番号(自宅等)を記入すること。
- 47 -
別記:「時間外在室届」様式
中央分析センター伊都分室
時 間外在 室届
所
属
利 用 責 任 者
職 ・ 氏 名
(
教
員
印
)
連
絡
所
先 内線
属
装 置 利 用 者 身分・氏名
連
絡
先 内線
使 用 室 名
使 用 装 置 名
試料の危険性
在 室 期 間
年
月
日
:
~
年
月
日
:
職員氏名
緊急時連絡先
電話番号
鍵の貸出
有 ・ 無
鍵№
返却確認
カードの貸出
有 ・ 無
カード№
返却確認
[注意] 時間外在室届は平日 17 時までに提出して鍵(必要に応じてカード)を借り受けてください。
利用終了後は速やかに鍵とカードを返却してください(107 室前のケースに返却)。
- 48 -
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