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Universal Serial Bus Implementers Forum Hub High
Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 Universal Serial Bus Implementers Forum Hub High-speed Electrical Test Procedure For Agilent Infiniium Revision 1.0 Feb 5, 2002 1 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 改訂履歴 改訂履歴 Rev 日付 ファイル名 コメント 0.9 (Beta) 2001 年 11 月 23 日 Hub HS Test for Agilent.DOC USB-IF (バージョン 0.9)により作成されたテスト 手順に基づいて Agilent テスト機器を採用した High Speed テスト手順書の最初のバージョン 1.0 2002 年 2 月 5 日 Hub HS Test for Agilent.DOC 最終リリースのために編集 [email protected]まで電子メールでコメントをお送りください。 USB-IF High-speed Electrical Test Procedure ã Copyright 2001, USB Implementers Forum, Inc. All rights reserved. 2 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 保証の排除 本仕様はそのままの状態で提供され、知的所有権に対する侵害のないこと、商品性、特定目的への適合性、 権利、また提案、使用、サンプルから生じるもの、その他、明示、暗黙を問わずいかなる保証も致しかねま す。これらの保証はすべて明確に排除します。 上記の一般的な事項に限らず、USB-IF および本仕様の著者は、本仕様の使用が他社の知的所有権を侵害し ないことを保証または表明するものではありません。本仕様の使用者はこのような侵害の全てのリスクを負 い、また侵害訴訟の請求がなされた場合でも USB-IF または著者に対して訴訟上の請求をしないことに同意 するものとします。 USB-IF は、本仕様の使用から生じるいかなる派生的な損害、特別損害あるいはその他の損害に対しても責 任を負いかねます。 内部使用限定のライセンス USB-IF は、本仕様を内部使用に限り複製して配布するライセンスを供与します。他のいかなるライセンス も、明示、暗黙を問わず、禁反言その他にかかわらず供与せず、知的所有権のライセンスも供与しません。 すべての製品名は、それぞれの所有者の商標、登録商標またはサービスマークです。 3 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 目次 1 概要........................................................................................................................................... 6 概要 2 目的........................................................................................................................................... 6 目的 3 必要な機器 ................................................................................................................................ 6 3.1 機器設定.................................................................................................................................... 8 3.1.1 Infiniium 54846A ディジタル・サンプリング・オシロスコープ (DSO)............................ 8 3.1.2 81130Aディジタル・シグナル・ジェネレータ (DSG)...................................................... 8 3.2 3.2.1 3.3 3.3.1 オペレーティング・システム、ソフトウェア、ドライバおよび設定ファイル ........................ 8 オペレーティング・システム............................................................................................ 8 ソフトウェア ............................................................................................................................ 8 テスト機器設定ファイル................................................................................................... 9 4 テスト手順 テスト手順 ................................................................................................................................ 9 4.1 テストの記録 ............................................................................................................................ 9 4.2 ベンダおよび製品の情報........................................................................................................... 9 4.3 レガシーUSBコンプライアンス・テスト ............................................................................... 10 4.4 High Speedハブ信号品質: アップストリーム側ポート (EL_2、EL_46、EL_6、EL_7) ......... 10 4.5 High Speedハブ信号品質: ダウンストリーム側ポート (EL_2、EL_3、EL_6、EL_7) ........... 15 4.6 ハブ・ジッタ: ダウンストリーム側ポート (EL_47)................................................................ 17 4.7 ハブディスコネクト検出 (EL_36、EL_37) ............................................................................. 20 4.8 ハブ・パケット・パラメータ: アップストリーム側ポート (EL_21、EL_22、EL_25) ........... 22 4.9 ハブ・レシーバ感度: アップストリーム側ポート (EL_16、EL_17、EL_18) ......................... 27 4.10 ハブ・リピータ・テスト: ダウンストリーム側ポート (EL_42、EL_43、EL_44、EL_45、 EL_48) ................................................................................................................................................ 31 4.11 ハブ・リピータ・テスト: アップストリーム側ポート (EL_42、EL_43、EL_44、EL_45)..... 34 4.12 ハブCHIRPタイミング: アップストリーム側ポート (EL_28、EL_29、EL_31) ..................... 37 4.13 ハブサスペンド/リジューム/リセット・タイミング: アップストリーム側ポート(EL_27、 EL_28、 EL_38、EL_39、EL_40)......................................................................................................... 39 4.14 ハブ・テスト J/K、SE0_NAK: アップストリーム側ポート (EL_8、 EL_9) ........................... 44 4.15 ハブ・テストJ/K、SE0_NAK: ダウンストリーム側ポート (EL_8、EL_9) ............................. 46 A.4 High Speed モード対応ハブの電気テスト・データ............................................................... 48 モード対応ハブの電気テスト・データ A.4.2 ベンダおよび製品の情報......................................................................................................... 48 A.4.3 レガシーUSBコンプライアンス・テスト ................................................................................ 49 A.4.4 High Speedハブ信号品質: アップストリーム側ポート (EL_2、EL_46、EL_6、EL_7) ......... 49 A.4.5 High Speedハブ信号品質: ダウンストリーム側ポート(EL_2、EL_3、EL_6、EL_7) ............ 50 A.4.6 ハブ・ジッタ: ダウンストリーム側ポート (EL_47) ................................................................ 52 A.4.7 ハブディスコネクト検出 (EL_36、EL37) ............................................................................... 52 A.4.8 ハブ・パケット・パラメータ: アップストリーム側ポート (EL_21、EL_22、EL_25) ........... 53 A.4.9 ハブ・レシーバ感度: アップストリーム側ポート (EL_16、EL_17、EL_18).......................... 54 A.4.10 ハブ・リピータ・テスト: ダウンストリーム側ポート (EL_42、EL_43、EL_44、EL_45、 EL_48) ................................................................................................................................................ 55 A.4.11 ハブ・リピータ・テスト: アップストリーム側ポート (EL_42、EL_43、EL_44、EL_45) .... 56 A.4.12 ハブCHIRPタイミング: アップストリーム側ポート (EL_28、EL_29、EL_31) ..................... 57 A.4.13 ハブサスペンド/リジューム/リセット・タイミング: アップストリーム側ポート(EL_27、 EL_28、 EL_38、EL_39、EL_40)......................................................................................................... 58 A.4.14 ハブ・テストJ/K、SE0_NAK: アップストリーム側ポート (EL_8、EL_9) ............................. 59 A.4.15 ハブ・テストJ/K、SE0_NAK: ダウンストリーム側ポート (EL_8、EL_9) ............................. 60 4 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 B.1 81130A DSG用の設定ファイルの作成手順 ............................................................................ 62 B.1.1 “IN_ADD1.ST0”設定ファイル ................................................................................................. 62 B.1.2 “MIN_ADD1.ST0”設定ファイル .............................................................................................. 64 5 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 1 Revision 1.0 概要 USB-IF High Speed モードの電気テスト手順は、USB-IF, Inc の管理下にある USB 2.0 コンプライアンス・コ ミッティにより作成されています。High Speed モード対応ホストの電気テスト手順は、EHCI ホスト・コン トローラが対象です。High Speed モード対応ハブの電気テスト手順は、High Speed モード対応ハブが対象で す。High Speed モード対応デバイスの電気テスト手順は、High Speed モード対応デバイスが対象です。 High Speed モードの電気コンプライアンス・テスト手順は、USB 2.0 仕様に準拠して設計されたデバイスの High Speed モードでの動作を検証するものです。High Speed モード対応製品を USB-IF インテグレータ・リ ストに記載し、(ベンダが USB-IF 商標ライセンス契約に署名している場合) 当該製品に関係して USB-IF ロ ゴを使用するためには、その製品が High Speed モード・テストに合格することに加えて、これらの文書で 指定された該当するレガシーテストを満たし、合格することも必要です。これらのレガシー・コンプライア ンス・テストは、本書の「レガシーUSB コンプライアンス・テスト」に記載してあります。 2 目的 この USB-IF High Speed モードの電気テスト手順には、High Speed で動作する USB 周辺機器および USB シ ステムの評価に用いる様々なテストが記載されています。これらのテストは、出荷前の製品、リファレン ス・デザイン、コンセプトの検証段階、および周辺機器、アドイン・カード、マザー・ボードまたはシステ ムのプロトタイプに組み込まれた USB チップの High Speed 動作の評価にも用います。 このテスト手順では、USB-IF USB2.0 電気テスト仕様バージョン 1.00 に記載されているテストが参照されて います。 この High Speed モード対応ハブの電気テスト手順は、3 つある USB-IF High Speed モードの電気コンプライ アンス・テスト手順の 1 つです。他の 2 つは、High Speed モード対応ホストの電気テスト手順と High Speed モード対応デバイスの電気テスト手順です。デバイス・クラスに基づいて個々の手順を採用できるため、使 いやすくなっています。 3 必要な機器 ここに記載した市販テスト機器は、UBS-IF のメンバーが USB High Speed モードの電気テストを実行して良 好であったものに基づいています。このテスト手順には、手順を作成するために使用した特定のモデルも記 載してあります。時間がたてば、使用に適した他の同等あるいはより良いテスト機器が登場します。そのよ うな場合には、手順にいくつか修正を加える可能性があります。 ディジタル・ストレージ・オシロスコープ § Agilent Technologies製のInfiniium 54846Aディジタル・ストレージ・オシロスコープ o 6 Tektronix P6247あるいはP6248、または同等の差動プローブ、数量=2 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 o Tektronix 1103 Tekprobe 電源(Tektronix P6247またはP6248と合わせて使用)、数量=1 o Agilent 1161A ミニチュア・パッシブ・プローブ、数量=2 o 短いBNCケーブル (50cm未満/50Ω)、数量=2 3½ディジタル・マルチメータ: Agilent 972A または同等品 o ミニクリップDMMリード－黒と赤1つずつ ディジタル・シグナル・ジェネレータ § 81130Aパルス/パターン・ジェネレータ o DSGは、Agilent 81132A (660MHz) の2チャネル出力を備えたAgilent 81130Aパルス/パター ン・ジェネレータにより構成されています。 o メモリーカードオプション (81130AオプションUFJ) o 6dBアッテネータ (Agilent 8493Cオプション006): レシーバ感度テスト用のDSG出力電圧の 調整用、数量=2 o 50Ω同軸ケーブル、両端がSMAコネクタ(オス)、数量=2 High Speed USB 電気テスト・フィクスチャ o High Speedホスト信号品質テスト・フィクスチャ、数量=1 o High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャ、数量=1 o 切断テスト・フィクスチャ、数量=1 o 5Vテスト・フィクスチャ用電源、数量=1 Agilent HS テスト・フィクスチャを使用する場合のテスト・ポイントの名称は、Intel のテスト・フィクスチ ャとは異なります。このテスト手順は、Intel のテスト・フィクスチャを対象に書かれています。Agilent の テスト・フィクスチャを使用する場合は、以下の対応表を使用してください。 Intel のフィクスチャ テスト・ポイントの記述 Agilent のフィクスチャ J7 テスト・ポイント TP2 J8 電源ポート J5 J10 グランド TP5 J11 グランド TP5 SMA1 D-ライン SMA2 SMA2 D+ライン SMA1 その他のケーブル o 1m USBケーブル、数量=1 o 1.5m USBケーブル、数量=1 o 10cmUSBケーブル、数量=1 o モジュラAC電源コード、数量=2 High Speed モード USB テスト・ベッド・コンピュータ これは、High Speed モード対応ハブまたはデバイスの電気テスト用 USB 2.0 適合ホスト・コントローラのホ ストとなるコンピュータ、あるいは被試験 USB2.0 ホスト・コントローラのテスト・ベッド・ホストの役割 を果たすコンピュータです。このコンピュータに搭載されている OS は、Windows 2000 Professional です。 このコンピュータを構成するステップについては、「High Speed モードの電気テスト設定手順」を参照して ください。 7 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 3.1 機器設定 3.1.1 Infiniium 54846A ディジタル・ ディジタル・サンプリング・ サンプリング・オシロスコープ (DSO) Revision 1.0 オシロスコープの電源をオンにする前に。P6247 または P6248 差動プローブを 1103 TekProbe 電源の CH1 お よび CH2 に接続し、1 本の短い BNC ケーブルを 1103 の CH1 から Infiniium 54846A のチャネル 1 に接続し、 別の短い BNC ケーブルを 1103 の CH2 から Infiniium 54846A のチャネル 3 に接続します。差動プローブの先 端にセーバが取り付けられているか確認してください。1161A ミニチュア・パッシブ・プローブを 2 本使う 場合は、BNC ケーブルをチャネル 1 およびチャネル 3 から取り外し、一方のパッシブ・プローブをチャネ ル 1 へ、もう一方のパッシブ・プローブをチャネル 3 に接続します。オシロスコープの電源をオンにして、 使用する前に 10 分間ウォームアップさせます。周囲温度が 5℃を超えて変化した場合は、Infiniium 54846A に内蔵されているユーザ校正 ([Utilities] プル・ダウン・メニューの [Calibration…] セクションにあります) を 実行します。この校正は、プローブをオシロスコープから取り外した状態で実行してください。 利得誤差とオフセット誤差を最小限にするために、2 つの 1161A ミニチュア・プローブを校正する必要があ ります。差動プローブのオフセット誤差は、後でテスト手順プロセスの一部としてキャンセルされます。差 動プローブのオフセットは、テスト手順に記載されているステップによって調整します。 P6247/P6248 差動プローブの場合は、テスト手順全体を通して次の設定を使用します。 § DC Reject <OFF> (P6247のみ) § BW <Full> (P6247のみ) § Attenuation <¸1> 注記: 注記 特定のテスト状況では、DSO と被試験デバイス (DUT) の間にグランド接続がない場合があります。こ のために、差動プローブにおいて観測される信号が中間周波数スイッチング電源により上または下に変調さ れる場合があります。DSO グランドと DUT のグランドを接続するには、共通グランドを設定する必要があ ります。 3.1.2 81130A ディジタル・ ディジタル・シグナル・ シグナル・ジェネレータ (DSG) DSG は、このテスト手順の終わりの方のレシーバ感度テストの実行に必要です。エネルギーを節約すると いうことを考えれば、測定を実行する約 15 分前に DSG の電源をオンにしてもかまいません。 3.2 オペレーティング・ オペレーティング・システム、ソフトウェア、ドライバおよび設定ファイル システム、ソフトウェア、ドライバおよび設定ファイル 3.2.1 オペレーティング・ オペレーティング・システム High Speed モードの電気テスト・ベッド・コンピュータには、Microsoft Windows 2000 Professional が必要で す。このコンピュータを構成するステップについては、「High Speed モードの電気テスト設定手順」を参照 してください。 3.3 ソフトウェア 以下のソフトウェアが必要です。このコンピュータを構成するステップについては、「High Speed モードの 電気テスト設定手順」を参照してください。 § 8 High-speed Electrical Test Tool ソフトウェア: High Speed モードの電気テスト・ベッド・コン ピュータで使用 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 3.3.1 Revision 1.0 § Intel 独自の EHCI ドライバ・スタック: High-speed Electrical Test Tool ソフトウェアでは、独 自の EHCI ドライバ・スタックを使用する必要があります。この独自の EHCI ドライバ・ス タックを使用することによって、USB EHCI ホスト・コントローラのコマンド・レジスタの 直接制御が容易になります。最終的には、非常に堅牢なテスト・ベッド環境となります。 独自の EHCI ドライバ・スタックはデバッグとテストの検証を目的に設計されているため、 Microsoft (またはデバイスのベンダ) 製の EHCI ドライバが持つ通常の機能はサポートして いません。High-speed Electrical Test Tool には自動ドライバ・スタック・スイッチング機能 が実装されているため、独自の EHCI ドライバ・スタックと Microsoft 製のドライバ・スタ ック間の切り替えが容易です。HS Electrical Test Tool ソフトウェアを呼び出すと、ドライ バ・スタックは自動的に Intel 独自の EHCI ドライバ・スタックに切り替わります。HS Electrical Test Tool ソフトウェアを終了すると、ドライバ・スタックは自動的に Microsoft EHCI ドライバ・スタックに切り替わります。 § Infiniium USB テスト・オプション (オプション B30 または E2645A): USB デバイスの電気テ スト実行用 テスト機器 テスト機器設定ファイル 機器設定ファイル これはテスト機器の設定ファイルを収納した 3½インチ・フロッピー・ディスクです。この設定ディスクを 構成するステップについては、「High Speed モードの電気テスト設定手順」を参照してください。 Infiniium USB テスト・オプション (オプション B30 または E2645A)をインストールしている場合は、 Infiniium 54846A 用の設定ディスクは不要です。 4 テスト手順 テスト手順 4.1 テストの記録 テストの記録 付録 A には、テスト結果を記入するためのフォームが記載してあります。付録 A をコピーし、コンプライ アンス・テスト申請用のテスト記録文書としてご使用ください。すべての欄に記入する必要があります。被 試験デバイスに当てはまらない欄には、理由を説明する適切な注記とともに N/A と記入してください｡記入 が終わったテスト結果は、コンプライアンス・テスト申請のために保管してください。 テスト記録のハードコピーの他に、信号品質と電源供給 (突入、ドロップおよびドループ) の結果の電子フ ァイルを、コンプライアンス・テスト申請のために保管してください。 4.2 ベンダおよび製品の情報 ベンダおよび製品の情報 以下の情報を収集して、付録 A のテスト記録のコピーに記入した後、テストを実行します。 1. テスト日付 2. ベンダ名 9 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 3. ベンダの住所、電話、担当者名 4. テスト申請ID番号 5. 製品名 6. 製品のモデルおよびリビジョン 7. USBチップ・ベンダ名 8. USBチップ・モデル 9. USBチップ・パーツ・マーキング Revision 1.0 10. USBチップ・ステッピング 11. テスト実施者 4.3 レガシーUSBコンプライアンス・テスト コンプライアンス・テスト レガシー 被試験ハブは、本書に定める High Speed モードの電気テストに加えて、その高速ハブに適用されるレガシ ー・コンプライアンス・テストにも合格しなくてはなりません。 § Low Speed信号品質: ダウンストリーム側ポートのみ § Full Speed信号品質: アップストリームおよびダウンストリーム側ポート § 突入電流: アップストリーム側ポートのみ § ドロップ/ドループ: ダウンストリーム側ポート § 相互運用性 (インターオペラビリティー) これらのテストをすべて実行し、測定値と、付録 A にまとめてある合否ステータスを記録します。 4.4 High Speedハブ信号品質 ハブ信号品質: 、EL_46、 、EL_6、 、EL_7) ハブ信号品質 アップストリーム側ポート アップストリーム側ポート (EL_2、 このテストは、ハブのアップストリーム側ポートのみが対象です。 1. オシロスコープの電源をオンにしていない場合は、オンにします。約10分間ウォームアップさせます。 1103 TekProbe電源にP6247またはP6248差動プローブを接続します。1103とチャネル1を短いBNCケーブ ルで接続します。 2. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、HS_SQ_1.SETオシロスコープ設定 ファイルを呼び出します。差動プローブには何も接続しないでください｡ゼロに近い差動測定値を捕捉 するため、オシロスコープの [sweep] ボタンを押してトリガを“Auto”に設定します。1103電源上のオフ セット・アジャスタ (OFFSET) を使ってDCレベルをゼロに調整します。調整が終わったら、[sweep] ボ タンを押してトリガを“Trig’d”に戻します。 3. 5V電源をHigh Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャのJ8に接続します。 4. 緑のPOWER LED (D1) が点灯し、TEST LED (D2) は点灯していないことを確認します。 10 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 5. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャの[TEST PORT] を被試験ハブのアップストリーム側 ポートに接続します。テスト・フィクスチャの [INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュータのポート に接続します。ハブの電源を入れます。 6. 差動プローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。プローブ上の+極性とフィクスチャ上のD+を 合わせてください。 7. High Speed電気テスト・ベッド・コンピュータ上でHigh-speed Electrical Test Toolソフトウェアを呼び出 します。メイン・メニューが表示され、USB2.0ホスト・コントローラが表示されます。 High-speed Electrical Test Tool メイン・メニュー 8. [Hub] を選択し、[TEST] ボタンをクリックして [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューを起動しま す。被試験ハブのVIDとUSBアドレスが表示されます。 [High-speed Electrical Test Tool – Hub Test] メニュー 9. [Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [TEST_PACKET] を選択して、[EXECUTE] をクリッ クします。これにより被試験ハブがテスト・パケットを連続して送信します。 11 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 ハブ・アップストリーム TEST_PACKET 10. テスト・スイッチ (S1) をTESTの位置に合わせ、黄色のTEST LEDが点灯しているか確認します。 11. オシロスコープを使用して、テスト・パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します。 必要に応じてトリガ・レベルを調整します。トリガ・レベルを調整してもトリガが安定しない場合は、 “trigger holdoff”を少し変更してみてください｡“holdoff”は、[Setup] プル・ダウン・メニュー>> [Trigger…] >> [Conditioning…] ボタンを選択することで調整できます。 12. [STOP] ボタンを使ってオシロスコープのデータ取得を一時停止します。 13. オシロスコープで2つの縦カーソルを1つのテスト・パケットに合わせます。一方はsyncフィールドのす ぐ (約1ビット時間) 前に、もう一方はEOP (END OF PACKET) のすぐ後 (約1ビット時間) に合わせます。 次の図を参照してください。 Position Cursors as shown. 4 bit times before the sync & 4 bit times after the eop. sync. eop. テスト・パケット: アップストリーム側ポート 12 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 14. Infiniium 54846Aの [Analyze] プル・ダウン・メニューから、[USB Test] を選択してUSBテストを呼び出 します。 15. USBテスト・オプション・グラフィカル・ユーザ・インタフェースで、[USB Test] セクションの [Signal Integrity] を選択します。 High-speed Near End ([Tier] 設定は 6 のままにします) [USB Test] オプション 16. [Save Results] の [Data File] の空欄に分かりやすいファイル名 (例えば、TIDxxxxxxx USNE.tsv) を入力し ます。 17. ディレクトリ・パス、ファイル名および選択したテストが正しいか確認します。[USB test] オプション の一番下にある [Start Test] をクリックします。 18. 結果はInternet Explorerに表示されます。信号アイ、EOP幅およびシグナリング・レートのすべてが合格 か確認します。Internet Explorerに表示される結果は、[Data Path] (例えば、c:\scope\data)で指定されたデ ィレクトリにあるHTMLレポートにも記録されます。 13 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 High Speed SQ HTML レポート 19. テストの間に作成されたすべてのファイルを保存します。結果をフロッピー・ディスクに保存するには、 フロッピーをInfiniiumのフロッピー・ドライブに差し込み、Internet Explorerを終了した後に [Copy Results] をクリックします。[Exit] ボタンをクリックしてInfiniiumの [USB test] オプションを終了します。 テスト結果をEL_2、EL_46、EL_6およびEL_7に記録します。 14 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 20. テスト・フィクスチャのテスト・スイッチ (S1) をNormalの位置に戻し、TEST LEDが点灯していないこ とを確認します。以後のテストの準備のためにハブの電源を入れ直します。 4.5 High Speedハブ信号 ハブ信号品質 、EL_3、 、EL_6、 、EL_7) ハブ信号品質: 品質 ダウンストリーム側ポート (EL_2、 このセクションは、被試験ハブのダウンストリーム側ポートのみを対象としています。 1. 5V電源をHigh Speedホスト信号品質テスト・フィクスチャのJ8に接続します。 2. テスト・スイッチをTESTの位置に設定します。緑のPOWER LED (D1) と黄色のTEST LED (D2) の両方 が点灯しているか確認します。 3. 差動プローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。プローブ上の+極性とフィクスチャ上のD+を 合わせてください。 4. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、HS_SQ_1.SETオシロスコープ設定 を呼び出します。 5. ハブのアップストリーム・ポートを、テスト・ベッド・コンピュータのHigh Speedルート・ポートに接 続します。 6. High Speedホスト信号品質テスト・フィクスチャの [TEST PORT] を被試験ハブのダウンストリーム側ポ ートに接続します。ハブの電源を入れます。 7. [Enumerate Bus] ボタンを1回クリックします。被試験ハブのVIDとUSBアドレスが表示されます。 8. [Port Control] ドロップ・ダウン・メニューから [TEST_PACKET] を選択します。テストしているハブ・ ポートのポート番号を入力して、[EXECUTE] をクリックします。これにより、被試験ハブがテスト・ パケットを連続して送信します。 ハブ・ダウンストリーム TEST_PACKET 9. オシロスコープを使って、テスト・パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します。必 要に応じてトリガ・レベルを調整します。トリガ・レベルを調整してもトリガが安定しない場合は、 “trigger holdoff” を 少 し 変 更 し て み て く だ さ い ｡ “holdoff” は 、 [Setup] プ ル ・ ダ ウ ン ・ メ ニ ュ ー >> [Trigger…] >> [Conditioning…] ボタンを選択することで調整できます。 15 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 10. [STOP] ボタンを使ってオシロスコープのデータ取得を一時停止します。 11. オシロスコープ上で、2つの縦カーソルで1つのテスト・パケットを囲みます。一方はsyncフィールドの 直前、もう一方はEOPの直後です。次の図を参照してください｡ Position Cursors as shown. 4 bit times before the sync & 4 bit times after the eop. sync. eop. テスト・パケット－ダウンストリーム側ポート 12. Infiniium 54846Aの [Analyze] プル・ダウン・メニューから、[USB Test] を選択してUSBテストを呼び出 します。 13. USBテスト・オプション・グラフィカル・ユーザ・インタフェースで、[USB Test] セクションの [Signal Integrity] を選択します。 High-speed Near End ([Tier] 設定は6のままにします) 14. [Save Results] の [Data File] の空欄に分かりやすいファイル名 (例えば、TIDxxxxxxx USNE.tsv) を入力し ます。 15. ディレクトリ・パス、ファイル名および選択したテストが正しいか確認します。[USB test] オプション の一番下にある [Start Test] をクリックします。 16. 結果はInternet Explorerに表示されます。信号アイ、EOP幅およびシグナリング・レートのすべてが合格 か確認します。Internet Explorerに表示される結果は、[Data Path] (例えば、c:\scope\data) で指定されたデ ィレクトリにあるHTMLレポートにも記録されます。テスト結果をEL_2、EL_3、EL_6およびEL_7に記 録します。 16 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 17. テストの間に作成されたすべてのファイルを保存します。結果をフロッピー・ディスクに保存するには、 フロッピーをInfiniiumのフロッピー・ドライブに差し込み、Internet Explorerを終了した後に [Copy Results] をクリックします。[Exit] ボタンをクリックしてInfiniiumの [USB test] オプションを終了します。 18. テスト・フィクスチャを、テストしたダウンストリーム側ポートから取り外します。テスト・フィクス チャを、テストする次のダウンストリーム側ポートに再度接続します。 19. ステップ6からステップ18までを残りのすべてのポートで繰り返します。 20. 以後のテストの準備のために被試験ハブの電源を入れ直します。 注記: 注記 特定のポートは、TEST_PACKET コマンドがハブに対して数回発行されると TEST_PACKET モードに 入れなくなります。電源を入れ直して [Enumerate Bus] をクリックすると、この問題はなくなります。 4.6 ハブ・ ハブ・ジッタ: ジッタ ダウンストリーム側ポート ダウンストリーム側ポート (EL_47) このセクションは、被試験ハブのダウンストリーム側ポートのみを対象としています。 注記: 注記 このテストは、USB-IF が提供している現在の USB 電気テスト解析スクリプト (USB Electrical Test Analysis Scripts) では実行できません。USB 電気テスト解析スクリプトの新バージョンが間もなく入手可能 になります。 1. 5V電源をHigh Speedホスト信号品質テスト・フィクスチャのJ8に接続します。テスト・フィクスチャの テスト・スイッチをTESTの位置に設定します。緑のPOWER LED (D1) と黄色のTEST LED (D2) の両方 が点灯しているか確認します。 2. 差動プローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。プローブ上の+極性とフィクスチャ上のD+を 合わせてください。[File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、HS_SQ_1.SET オシロスコープ設定を呼び出します。 3. 10cm USBケーブルを使用して、アップストリーム側ポートをテスト・ベッド・コンピュータの既知の 良好な高速ルート・ポートに接続します。[Enumerate Bus] ボタンを1回クリックします。被試験ハブの VIDとUSBアドレスが表示されます。 4. High Speedホスト信号品質テスト・フィクスチャの[TEST PORT] を被試験ハブのダウンストリーム側ポ ートに接続します。 注記: 注記 既知の良好な高速ポートは、信号品質アイが優れていて、クロック・ジッタが最小限でなければなり ません。アイ品質またはクロック・ジッタの良くないホスト・コントローラは、被試験ハブの結果に悪影響 を及ぼします。 5. [Port Control] ドロップ・ダウン・メニューからTEST_FORCE_ENABLEを選択します。テストしている ハブ・ポートのポート番号を入力し、[EXECUTE] を1回クリックして強制的に被試験ハブ・ポートを有 効にします。 17 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 ハブ・ダウンストリームポートを強制的に有効にする 6. [Hub Command] ドロップ・ダウン・メニ ューから [PARENT PORT TEST_PACKET] を選択して、 [EXECUTE] をクリックします。これにより、ハブが接続されている親ポートが連続してテスト・パケ ットを出力します。被試験ハブ・ポートによりこれらのテスト・パケットが繰り返され、信号品質とジ ッタ・テストの準備が完了します。 親ポートを TEST_PACKET モードに設定する 7. オシロスコープを使用して、テスト・パケットが被試験ポートから送信されていることを確認します。 必要に応じてトリガ・レベルを調整します。 8. [STOP] ボタンを使ってオシロスコープのデータ取得を一時停止します。 9. オシロスコープ上で、2つの縦カーソルで1つのテスト・パケットを囲みます。一方はsyncフィールドの 直前、もう一方はEOPの直後です。次の図を参考として参照してください。 18 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 Position Cursors as shown. 4 bit times before the sync & 4 bit times after the eop. sync. eop. テスト・パケット－ダウンストリーム側リピータ・ジッタ 10. Infiniium 54846Aの [Analyze] プル・ダウン・メニューから、[USB Test] を選択してUSBテストを呼び出 します。 11. USBテスト・オプション・グラフィカル・ユーザ・インタフェースで、[USB Test] セクションの [Signal Integrity] を選択します。 High-speed Near End ([Tier] 設定は 6 のままにします) 12. [Save Results] の [Data File] の空欄に分かりやすいファイル名 (例えば、TIDxxxxxxx USNE.tsv) を入力し ます。 13. ディレクトリ・パス、ファイル名および選択したテストが正しいか確認します。[USB test] オプション の一番下にある [Start Test] をクリックします。 14. 結果はInternet Explorerに表示されます。信号アイ、EOP幅およびシグナリング・レートのすべてが合格 か確認します。Internet Explorerに表示される結果は、[Data Path] (例えば、c:\scope\data) で指定されたデ ィレクトリにあるHTMLレポートにも記録されます。テスト結果をEL_47に記録します。 15. ステップ4からステップ14までを残りのすべてのポートで繰り返します。 16. テストの間に作成されたすべてのファイルを保存します。結果をフロッピー・ディスクに保存するには、 フロッピーをInfiniiumのフロッピードライブに差し込み、Internet Explorerを終了した後に [Copy Results] をクリックします。[Exit] ボタンをクリックしてInfiniiumの [USB test] オプションを終了します。以後 のテストの準備のために被試験ハブの電源を入れ直します。 19 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 4.7 Revision 1.0 ハブディスコネクト検出 (EL_36、 、EL_37) このセクションのディスコネクト検出テストは、ハブのダウンストリーム側ポートのみが対象です。 このセクションでは、ディスコネクトテスト・フィクスチャを使用し、切断状態をシミュレートすることで 被試験ポートの切断しきい値を確認します。 テスト・フィクスチャ上のテスト・スイッチが Test の位置にある場合、被試験ポートには＜525mV のしき い値が加わります。この場合、ポートが切断を検出してはなりません。 テスト・スイッチが Normal の位置にある場合、被試験ポートには＞625mV のしきい値が加わります。この 場合、ポートが切断を検出しなければなりません。 1. 5V電源をディスコネクトテスト・フィクスチャ (J8) に接続します。 2. 差動プローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。プローブの+チップとフィクスチャ上のD+を 合 わ せ て く だ さ い 。 [File] プ ル ・ ダ ウ ン ・ メ ニ ュ ー か ら [Load] >> [Setup…] を 選 択 し て 、 DISCDETE.SETオシロスコープ設定ファイルを呼び出します。 3. テスト・スイッチをTESTの位置に設定します。緑のPOWER LED (D1) が点灯し、黄色のTEST LED (D2) も点灯していることを確認します。これにより、切断されてはならないしきい値をエミュレート するようにテスト・フィクスチャが設定されます。 4. 被試験ハブの電源を入れ直します。[Enumerate Bus] を1回クリックして、ハブが正常にエミュレートを 行っているかどうかを確認します。テスト・フィクスチャの [TEST PORT] を被試験ポートに接続します。 [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで [Port Control] ウィンドウから[TEST_FORCE_ENABLE] を 選択します。ポート番号を入力し、[EXECUTE] を1回クリックして、Status Windowで動作が正常か確認 します。 ハブ・ダウンストリームポートを強制的に有効にする 5. 20 [Disconnect Notify] チェック・ボックスをクリックして、Status Windowで切断ステータスをモニタしま す。 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 Disconnect Notify を有効にする 6. オシロスコープを使用して、SOFパケットが被試験ポートから送信されていることを確認します。差動 振幅が±525mV未満でなければなりません。Status WindowにDisconnect Event Detectedと表示されていな いことを確認します。合否結果をEL_37に記録します。 7. ディスコネクトテスト・フィクスチャのテスト・スイッチをNormalの位置に設定し、黄色のTEST LED (D2) が点灯していないことを確認します。 8. オシロスコープのモニタを使用して、SOPの差動振幅をモニタします。差動振幅が±625mVを超えてい なければなりません。Status Windowに今度はDisconnect Event Detectedと表示されているか確認します。 合否結果をEL_36に記録します。 21 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 切断イベントの検出 9. フィクスチャのテスト・スイッチをTESTの位置に戻し、黄色のTEST LED (D2) が点灯していることを 確認します。 10. ステップ4からステップ9までを残りのすべてのポートで繰り返します。 11. ディスコネクトテスト・フィクスチャを被試験ポートから取り外した後、次に進みます。 4.8 ハブ・ 、EL_22、 、EL_25) ハブ・パケット・ パケット・パラメータ: パラメータ アップストリーム側ポート アップストリーム側ポート (EL_21、 1. デバイス信号品質テスト・フィクスチャの [INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュータのHigh Speed 対応ポートに接続します。 2. デバイス信号品質テスト・フィクスチャ [TEST PORT] を被試験ハブのアップストリーム側ポートのBレ セプタクルに接続します。ハブの電源を入れます。 22 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 注記: 注記 High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャを使用することで、デバイスにより生成されたパ ケットでトリガすることが可能になります。これは、差動プローブがデバイス・トランスミッタの近くに配 置され、その結果デバイス・パケットの振幅がより大きくなるからです。 3. チャネル1の差動プローブを、デバイス・コネクタの近くにあるフィクスチャのJ7に取り付けます。プ ローブ上の+極性とフィクスチャ上のD+を合わせてください。 4. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、PACKPARA.SETオシロスコープ設 定ファイルを呼び出します。 5. [Return to Main button] をクリックして [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューを終了します。 6. [HS Electrical Test Tool] メイン・メニューから [Device] を選択し、[TEST] をクリックして[Device Test] メニューを起動します。 [HS Electrical Test Tool] メイン・メニュー 7. 図のように [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューが表示されます。 [HS Electrical Test Tool – Device Test ] メニュー 8. オシロスコープを使用して、SOF (Start Of Frame) パケットが被試験ポート上で送信されていることを確 認します。トリガ・レベルを400mVのいくらか下へ下げる必要がある場合があります。 9. ここで、オシロスコープのトリガ・レベルを、SOF (またはホスト・トラヒック) でトリガしなくなると ころまでゆっくりと上げます。通常これは、ハブとフィクスチャで使用されているケーブルの長さによ りますが、400mV前後です。オシロスコープが実行 (“RUN”) されており“Trig’d”モードであることを 確認します。オシロスコープが他のモードにある場合には、フロント・パネルの [Sweep] ボタンを使っ てモードを調整します。 23 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 10. [HS Electrical Test Tool – Device Test] で、被試験ハブが選択 (強調表示) されていることを確認します。 [Device Command] ウィンドウから [SINGLE STEP SET FEATURE] を選択します。 ハブのデバイス・ダウンストリームでのシングル・ステップ設定機能 11. [EXECUTE] を1回クリックします。オシロスコープ・キャプチャは次のようになります。オシロスコー プの [STOP] を押してそれ以上トリガしないように一時停止します。オシロスコープがデバイス・トラ ヒックでトリガしない場合は、トリガ・レベルの設定が高すぎます。トリガ・レベルを少し下げ (ただ し、ホストSOFでトリガするほど低くなく)、ステップ8からを繰り返します。 ホスト・パケットおよびハブ・パケット 12. オシロスコープの [Horizontal] ノブまたはズーム・ボックス機能を使用して、オシロスコープ上の(デバ イスから) 3番目のパケットのsyncフィールドの長さ (ビット数) を測定し、それがEL_21の記述のように 32ビットであることを確認します (ズーム・ボックス機能を使用するには、オシロスコープのマウスの 左ボタンを押して対象のパケットの周りでドラッグして「ズーム・ボックス」を描き、このボックス内 でクリックしてズーム・インします)。基準波形については下の図を参照してください｡Syncフィールド は、High Speedアイドル遷移から (最初のゼロによる) 立ち下がりエッジにかけて始まることに注意して ください｡最初に1が2つ連続するまで立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの両方を数えます。これに は最初の1を含めます。数値をEL_21に記録します。 24 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 Sync フィールド幅 (アップストリーム・パケット) 13. オシロスコープ上の3番目のパケットのEOP長 (ビット数) を測定し、これがEL_25の記述のように8ビッ トであることを確認します。カーソルを使用してEOPパルス幅を測定して2.08ns/ビット (480Mbps) を基 にしてビット数を求めることを推奨します。結果をEL_25に記録します。 注記: 注記 差動測定では、EOP は立ち下がりパルスの場合と立ち上がりパルスの場合があります。下の図は立ち 下がりパルスの場合です。 EOP 幅 (アップストリーム・パケット) 14. オシロスコープ上に表示された(ホストから) 2番目のパケットと(ホストに応答するハブから) 3番目のパ ケット間のギャップを、オシロスコープのマーカ機能を使用して測定します。マーカには、[Measure] プル・ダウン・メニューから、またはディスプレイのすぐ下にある [Marker] キーを押すことでアクセ スできます。2番目はホストパケットで、3番目 (振幅がより高い) はハブの応答です。測定した時間を 2.08nsで割ってビット数を計算します。必要条件は、計算した値が8ビットから192ビットの間でなけれ ばならないということです(EL_22)。計算したビット数をEL_22に記録します。次の数ステップで、パ ケット間ギャップのサンプルをもう1つ測定します。 25 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 パケット間ギャップ (受信後の送信) 15. オシロスコープがアーミングされているか確認します。[HS Electrical Test Tool - Device Test] メニューで、 [Step] ボタンを1回クリックします。これは、2つのステップがあるSingle Step Set Featureコマンドの2番 目のステップです。 SINGLE STEP SET FEATURE の [Step] ボタン 16. キャプチャされたオシロスコープの取得内容は次のようになります。オシロスコープの [STOP] を押し てそれ以上トリガしないように一時停止します。 26 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 ホスト・パケットに続くハブ・パケット 17. オシロスコープ上に表示された(ホストから) 1番目のパケットと(ホストに応答するハブから) 2番目のパ ケット間のギャップがオシロスコープ上に表示されます。1番目 (振幅がより低い) はホストからのもの で、2番目 (振幅がより高い) はハブの応答です。測定した時間を2.08nsで割ってビット数を計算します。 必要条件は、計算した値が8ビットから192ビットの間でなければならないということです(EL_22)。計 算したビット数をEL_22に記録します。 18. [Return to Main button] ボタンをクリックして [HS Electrical Test Tool – Device Test] メニューを終了します。 19. [HS Electrical Test Tool] メイン メニューから [Hub] を選択し、[TEST] をクリックして[Hub Test] メニュ ーを起動します。 4.9 ハブ・ 、EL_17、 、EL_18) ハブ・レシーバ感度: レシーバ感度 アップストリーム側ポート (EL_16、 このセクションでは、被試験ハブのアップストリーム側ポートでレシーバの感度をテストします。Agilent 81130A パルス/パターン・ジェネレータは、ハブ・ポートからデバイス・アドレス 1 への“IN”コマンドをエ ミュレートします。 1. 5V電源をデバイス・レシーバ・テスト・フィクスチャ (J8) に接続し、緑のPOWER LED (D1) が点灯し ているか確認します。テスト・スイッチはNormalの位置のままにします。黄色のLED (D2) のが点灯し ていないはずです。 2. テスト・フィクスチャの [INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュータのポートに接続します。フィク スチャの [TEST PORT] を被試験ハブのアップストリーム側ポートに接続します。ハブの電源を入れま す。[Enumerate Bus] をクリックして、ハブが適切に表示されるか確認します。 3. それぞれに6dBアッテネータが挿入されたSMAケーブルが2セット必要です。6dBアッテネータをAgilent 81130Aパルス/パターン・ジェネレータのOUTPUT1およびOUTPUT2に接続します。OUTPUT 1 をデバ イス・レシーバ感度テストフィクスチャのSMA2へ、OUTPUT 2 をSMA1にSMAケーブルを使用して接 続します。 27 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 4. 差動プローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。[File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、RCVRSENS.SETオシロスコープ設定ファイルを呼び出します。 5. 81130A上 で、[MEMCARD] ソ フ トキ ーを 選択 し ます 。メ ニ ュー に [MEMCARD] がな い 場合 は 、 [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモリの内容が画面上に表示されます (設定 ファイルの作成については、付録Bを参照してください)。カーソルと回転ノブを使用して、 MIN_ADD1.ST0設定ファイルを選択します。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、ノブを回して [Recall] を選択します。次に、[ENTER] キーを押してロードします。これにより、12ビットSYNCフィ ールドの (適合した振幅の) “IN”パケットが生成されます。 6. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、[Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [TEST_SE0_NAK] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてハブをTEST_SE0_NAKテスト・モー ドにします。 TEST_SE0_NAK (ハブ・アップストリーム・ポート) 7. テスト・フィクスチャのテスト・スイッチ (S1) をTESTの位置にします。これにより、ホスト・コント ローラに代わってデータ・ジェネレータに切り替わります。データ・ジェネレータがホスト・コントロ ーラからの“IN”パケットをエミュレートします。 8. データ・ジェネレータからのすべてのパケットに対して被試験ポートからNAKが返されるか確認しま す。合否をEL_18に記録します。 9. データ・ジェネレータ上で、[MEMCARD] ソフトキーを選択します。メニューに [MEMCARD] がない 場合は、[MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモリの内容が画面上に表示され ます (設定ファイルの作成については、付録Bを参照してください)。カーソルと回転ノブを使用して、 IN_ADD1.ST0設定ファイルを選択します。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、ノブを回して [Recall] を選択します。次に、[ENTER] キーを押してこれをロードします。 10. すべてのパケットに対してNAKが返されると同時に、データ・ジェネレータからのシグナリングがお およそ400 mV の公称しきい値であるか確認します。オシロスコープは次の図のようになります。 28 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 Data generator Device packet response データ・ジェネレータからの IN に対する NAK によるレシーバの応答 11. 各チャネルの出力レベルを次のように調整します。 12. [LEVELS] ソフトキーを選択します。メニューに [LEVELS] がない場合は、[LEVELS] が表示されるま で [MORE] キーを押します。次にカーソルを [High] 電圧値の数値まで移動します。回転ノブまたは数 字キーを使って、オシロスコープ上で実際のレベルをモニタしながら出力レベルを調整します。カーソ ル矢印ボタンを使って変更するチャネルを選択します。 13. データ・ジェネレータ・パケットの振幅を (アッテネータの前のジェネレータで) デバイスからのNAK 応答をオシロスコープでモニタしながら20mVステップで減少させます。データ・ジェネレータの表示 値が示すOUTPUT1とOUTPUT2が一致するように、両チャネルを調整する必要があります。NAKパケッ トが断続的になり始めるまで振幅を減少させます。次に、NAKパケットが断続的にならないように振 幅を増加させます。これが、スケルチ前の最小レシーバ感度レベルのすぐ上となります。 14. 次の方法を用いてデータからパケットのゼロ-正ピークとゼロ-負ピークを測定します。最初に、オシロ スコープのマウスを使い、「左」ボタンを押してマウスをドラッグすることでズーム・ボックスをデー タ・ジェネレータ・パケットの周囲に描きます。「ズーム・ボックス」内でクリックして波形にズー ム・インします (下の「ズーム・ボックス」の図を参照)。パケットが測定のために適切なサイズになる までこのステップを繰り返します (下の「パケット振幅の測定」の図を参照)。 15. オシロスコープのディスプレイの下にある [Marker A] を押してマーカをオンにします。オシロスコープ のディスプレイの一番下にある「マーカ」セクションで「右」マウス・ボタンをクリックして、 “Markers Manual Placement”を選択します。[By] を正のピークにドラッグし、[Ay] を負のピークにドラッ グします。オーバシュートにより表示値が大きくなることを避けるために、より幅広いパルスの平坦部 分でピークを読み取る必要があります。[Ay] 値と [By] 値を読み取り、測定値をEL_17に記録します (下 のパケット振幅の測定の図を参照)。±150mVを超えるデータ・ジェネレータ・パケットに対してレシ ーバがNAKを返し続ける限り、テストに合格したと見なされます。合否をEL_17に記録します。 29 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 ズーム・ボックス パケット振幅の測定 16. 波形が表示されていないメイン・オシロスコープ画面で「右」マウス・ボタンをクリックします。メニ ューから、ステップ9の画面ショットが表示されるまで“Undo Zoom”を選択します。ここで、データ・ ジェネレータからのパケットの振幅を小さいステップでさらに減少させます。レシーバがちょうど NAKで応答しなくなるまで、OUTPUT1とOUTPUT2の間のバランスを維持します。これがレシーバのス ケルチ・レベルです。 30 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 17. ステップ15とステップ16を用いて、データ・ジェネレータからのパケットのゼロ-正ピークとゼロ-負ピ ークを測定します。合否をEL_16に記録します。レシーバが±100mV未満のデータ・ジェネレータ・パ ケットにNAK応答しない限り、テストに合格したと見なされます。合否をEL_16に記録します。 パケット振幅の測定 18. 以後のテストの準備のためにハブの電源を入れ直します。 注記: 注記 特定のデバイスでは、過剰な反射成分のためデータ・ジェネレータからの In パケットの正確なゼロピーク測定を行うことが難しい場合があります。また、ケーブルが固定されているデバイスでは、テスト・ フィクスチャで測定した In パケットのゼロ-ピーク振幅が、デバイスレシーバにおける振幅よりもかなり高 くなる場合があります。このような状態では、PCB 上のデバイス・レシーバ・ピンに近いところで測定す ることを推奨します。 4.10 ハブ ハブ・ ・リピータ・ 、EL_43、 、EL_44、 、EL_45、 、 リピータ・テスト: テスト ダウンストリーム側ポート (EL_42、 EL_48) このセクションでは、差動プローブが 2 セット必要で、一方はアップストリーム側ポートでのパケットのモ ニタ用で、もう一方はダウンストリーム側ポートでのパケットのモニタ用です。1 つ目の差動プローブはオ シロスコープのチャネル 1 で必要です。2 つ目の差動プローブはチャネル 3 で必要です。ホスト信号品質フ ィクスチャとデバイス信号品質フィクスチャが必要です。 注記: 注記 ほとんどのハブに複数のダウンストリーム・ポートがありますが、テスト時間を省略するために 1 つ のポートをテストすることだけでかまいません。 1. ハブのアップストリーム側ポートのホスト・コントローラ・ポートの間にデバイス信号品質フィクスチ ャを接続します。チャネル 1の差動プローブをフィクスチャのJ7に接続します。プローブ上の+極性と フィクスチャ上のD+を合わせてください。 2. ハブの被試験ダウンストリーム・ポートと既知の良好なHigh Speedデバイスの間にホスト信号品質テス ト・フィクスチャに接続します。チャネル3の差動プローブをフィクスチャのJ7に接続します。プロー ブ上の+極性とフィクスチャ上のD+を合わせてください。既知の良好なHigh Speedデバイスをこのテス ト・フィクスチャの [INIT PORT] に接続します。ハブと既知の良好なデバイスの電源を入れます。 31 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 3. Revision 1.0 [Enumerate Bus] ボタンを1回クリックします。被試験ハブのVIDとUSBアドレスが表示されます。同様 に、既知の良好なデバイスのVIDとそのデバイスが接続されているハブ・ポートも表示されます。 表示されたハブおよび DS デバイス 4. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、REPEATER.SETオシロスコープ設 定ファイルを呼び出します。 5. オシロスコープを使って、SOF (Start Of Frame) パケットがダウンストリーム側ポート上 (Channel 3) で 送信されていることを確認します。SOFパケットを1つ捕捉し、[STOP] ボタンを使用して取得を一時停 止します。キャプチャされたオシロスコープの取得内容は次のようになります。 32 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 パケット遅延 (ダウンストリーム側リピータ) 6. 図のカーソルの位置で示されたハブのアップストリーム側ポート (チャネル1) のパケットの始まりとハ ブの被試験ダウンストリーム・ポート (チャネル3) のパケットの始まりの間の遅延を測定します。これ がハブを経由するSOFパケットの遅延です。これが79ns (36ビット+4ns) 以下か確認します。結果を EL_48に記録します。 7. チャネル3のsyncフィールドのビット数を数えます。個々の立ち下がりまたは立ち上がりエッジを1ビッ ト (NRZIフォーマットの連続したゼロ) として数え、最初に同じ間隔で遷移が発生しないところ (NRZI フォーマットの連続したゼロに続く最初の1) までを数えます (最初の1を含む)。例として次の図の下の トレース (Ch 3) を参照してください。この場合は、ダウンストリームSOF (Ch 3) のsyncフィールドのみ が28ビットで、これはアップストリームSOF (Ch 1) の全体の32ビットから4ビットが切り捨てられるた めです。ハブによって切り捨てられたsyncビット数を確認します。結果をEL_42に記録します。 Sync ビット (ダウンストリーム側リピータ) 33 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 8. チャネル1と比較して (ステップ7で確認した) 連続したゼロが切り捨てられている以外に、チャネル3の syncフィールドが破損していないか確認します。結果をEL_43に記録します。 9. チャネル1のパケットのEOP幅の時間を測定します。チャネル3のパケットのEOP幅の時間を測定します。 測定値を2.08nsで割って、個々のビット数を求めます。チャネル3のビット数が、チャネル1のビット数 (40ビットのはずです) と比べて4ビット (EOPドリブル) 長くなっていないことを確認します。結果を EL_44に記録します。 10. チャネル3のEOPが破損していないことも確認します。結果をEL_45に記録します。 4.11 ハブ・ 、EL_43、 、EL_44、 、EL_45) ハブ・リピータ・ リピータ・テスト: テスト: アップストリーム側 アップストリーム側ポート トリーム側ポート (EL_42、 このセクションでも、差動プローブが 2 セット必要です。一方はアップストリーム側ポートでのパケットの モニタ用で、もう一方はダウンストリーム側ポートでのパケットのモニタ用です。ここでは、デバイスから のパケットでトリガできるようにするためには、チャネル 3 の差動プローブをハブポートよりデバイスの近 くに置く必要があります。そのためには、デバイスの近くでプロービングができるフィクスチャを使用しま す。このセクションの 2 つのテスト・フィクスチャは、セクション 4.10 での接続に対して逆になるため注 意してください。 1. ハブのアップストリーム側ポートのデバイス・コントローラ・ポートの間にデバイス信号品質フィクス チャを接続します。チャネル1の差動プローブをフィクスチャのJ7に接続します。プローブ上の+極性と フィクスチャ上のD+を合わせてください。 2. ハブの被試験ダウンストリーム・ポートと既知の良好な高速デバイスの間にデバイス信号品質テスト・ フィクスチャを接続します。チャネル3の差動プローブをフィクスチャのJ7に接続します。プローブ上 の+極性とフィクスチャ上のD+を合わせてください。既知の良好な高速デバイスをこのテスト・フィク スチャの [TEST PORT] に接続します。ハブと既知の良好なデバイスの電源を入れます。 3. [Enumerate Bus] ボタンを1回クリックします。被試験ハブのVIDとUSBアドレスが表示されます。同様 に、既知の良好なデバイスのVIDとそのデバイスが接続されているハブ・ポートも表示されます。 4. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、HUBUP.SETオシロスコープ設定フ ァイルを呼び出します。 5. オシロスコープを使って、SOF (Start Of Frame) パケットがダウンストリーム側ポート上 (チャネル3) で 送信されていることを確認します。トリガ・レベルを400mVのいくらか下へ下げる必要のある場合があ ります。 6. ここで、オシロスコープのトリガ・レベルを、ちょうどSOF (またはホスト・トラヒック) でトリガしな くなるところまでゆっくりと上げます。通常これは、ハブとフィクスチャで使用されているケーブルの 長さによりますが、400mV前後です。オシロスコープが実行 (“RUN”) されており“Trig’d”モードである ことを確認します。オシロスコープが他のモードにある場合には、フロント・パネルの [Sweep] ボタン を使ってモードを調整します。 34 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 7. Revision 1.0 [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、 [Downstream Device Control] ドロップ・ダウン・メニュ ーから [SINGLE STEP SET FEATURE] を選択して、[EXECUTE] を1回クリックします。 SINGLE STEP SET FEATURE (ダウンストリーム・デバイス) 8. 捕捉されたオシロスコープのサンプルは下の図のようになります。オシロスコープがハブ・トラヒック でトリガしない場合は、トリガ・レベルの設定が高すぎます。トリガ・レベルを少し下げ (ただし、ホ ストSOFでトリガするほど低くなく)、ステップ5からを繰り返します。オシロスコープ・トリガ上の [STOP] を押します。 アップストリームへの繰り返しパケット (上のトレース) 9. チャネル1の3番目のパケット上のsyncフィールドのビット数を数えます。個々の立ち下がりまたは立ち 上がりエッジを1ビット (NRZIフォーマットの連続した0) として数え、最初に同じ間隔で遷移が発生し ないところ (NRZIフォーマットの連続したゼロに続く最初の1) までを数えます (最初の1を含む)。例と してsyncフィールドのビット数が28の、次の図の上のトレース (Ch 1) を参照してください。syncフィー ルドの切り捨てが4ビット以下であることを確認します (チャネル1のsyncビット数は、チャネル3のsync ビット数以下でなければなりません)。結果をEL_42に記録します。 35 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 Sync ビット切り捨て (4 ビット以下) 10. チャネル3と比較して (ステップ9で確認した) 連続したゼロが切り捨てられている以外に、チャネル1の syncフィールドが破損していないか確認します。結果をEL_43に記録します。 11. チャネル1のパケットのEOP幅の時間を測定します。チャネル3のパケットのEOP幅の時間を測定します。 次の図を参考として参照してください。測定値を2.08nsで割って、個々のビット数を求めます。チャネ ル1のビット数がチャネル3 (8ビットのはずです) のビット数と比べて4ビット少なくなっていないこと を確認します。結果をEL_44に記録します。 36 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EOP 幅 (追加されたビット数は 4 以下) 12. チャネル3のEOPが破損していないことも確認します。結果をEL_45に記録します。 13. 両方の差動プローブを取り外します。ハブのダウンストリーム側ポートの接続も外します。 4.12 ハブCHIRPタイミング タイミング: 、EL_29、 、EL_31) ハブ タイミング アップストリーム側ポート (EL_28、 このテストは、被試験ハブのアップストリーム側ポートのみを対象としています。 1. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャの[INIT PORT] をHSホスト・コントローラのUSB2.0 対応ポートに接続します。 2. BNCケーブルをチャネル1とチャネル3に配置します。1161Aミニチュア・パッシブ・プローブをチャネ ル1、別のプローブをチャネル3とします。これらのプローブをテスト・フィクスチャのJ7に接続します。 Ch1をD-に、Ch3をD+に接続します。これらのプローブのグランドをJ10とJ11に接続します。 3. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、CHRP1&3.SET オシロスコープ設定 を呼び出します。 4. フィクスチャの [TEST PORT] をハブのアップストリーム側ポートに接続します。ハブの電源を入れま す。[Enumerate Bus] をクリックして、下の図のようにCHIRPハンドシェークを捕捉します。 37 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Device Chirp Latency Device Chirp K Revision 1.0 Device Turn on HS Termination ハブ・チャープ (速度検出) 5. アップストリーム・ホスト・ポートからのリセットに応答するハブのCHIRP-Kレイテンシ (TWTRSTFS) を 測定します。このタイミングが2.5μs≦TWTRSTFS≦3.0msかどうか確認します。結果をEL_28に記録しま す。 ハブ・チャープ-K レイテンシ 6. ハブのCHIRP-K時間を測定します。このアサーション時間が1.0ms (TUCH) ≦CHIRP-Kの時間≦7.0ms (TUCHEND) かどうかを確認します。結果をEL_29に記録します。 7. Chirp-KとChirp-Jの交互シーケンスのホスト・アサーションの後、ハブがその高速ターミネーションを オンにすることで応答しなくてはなりません。これは、Chirp-KとChirp-Jが公称800mVから公称400mV への交互シーケンスの振幅の降下から明らかです。Chirp K-J-K-J-K-J (Chirp-K-Jの3つのペア) の最後のJ の始めから、ハブが高速ターミネーションをオンするまでの時間を測定します。これが500μs以下か確 認します。結果をEL_31に記録します。 38 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 8. Revision 1.0 ハブはその高速ターミネーションをオンにすることの他に、Chirp-KとChirp-Jの交互シーケンスのホス トのアサーションに応答してD+プルアップ抵抗も切り離さなければなりません。これを示すのは、ホ ストからのChirp-Kの間のD+レベルのわずかな降下です。Chirp K-J-K-J-K-J (Chirp-K-Jの3つのペア)の最 後のJの始めから、D+プルアップ抵抗が切り離されるまでの時間を測定します。これが500μs以下か確 認します。結果をEL_31に記録します。 4.13 ハブサスペンド/リジューム 、 ハブサスペンド リジューム/リセット リジューム リセット・ リセット・タイミング: タイミング アップストリーム側ポート(EL_27、 アップストリーム側ポート EL_28、 、EL_38、 、EL_39、 、EL_40) 1. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャの[INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュータの High Speedモード対応ポートに接続します。 2. チャネル1およびチャネル3の1161Aミニチュア・パッシブ・プローブをテスト・フィクスチャのJ7に接 続します。Ch1をD-に、Ch3をD+に接続します。これらのプローブのグランドをJ10とJ11に接続します。 3. フィクスチャの [TEST PORT] をハブのアップストリーム側ポートに接続します。ハブの電源を入れま す。[Enumerate Bus] ボタンを1回クリックします。被試験ハブのVIDとUSBアドレスが表示されます。 4. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、SUSP1&3.SETオシロスコープ設定 を呼び出します。 5. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、[Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [SUSPEND] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてハブを中断します。キャプチャされたサス ペンドの遷移は、下の図のようになります。 39 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 ホストからのサスペンドに対する応答 (アップストリーム側ポート) 6. ハブが発行した最後のSOFパケットの終わりから、ハブがそのフル・スピード・プルアップ抵抗をD+ に接続した時点までの時間間隔を測定します。これは、最後のSOFパケットの終わりと、フルスピード J状態への立ち上がりエッジ遷移の間の時間です。この時間が3.000msから3.125ms (TTWTHS) の間にある か確認します。結果をEL_38に記録します。 7. オシロスコープがアーミングされているか確認します。オシロスコープの [sweep] ボタンを押してデバ イスがまだサスペンド状態にあることを確認することで、トリガを“Auto”に設定します。D+は公称値 で3.3Vでなければなりません。D-は0.7V未満でなければなりません。合否をEL_39に記録します。 被試験ハブのリジューム応答を確認するステップは次のとおりです。 8. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、RESUM1&3.SETオシロスコープ設 定を呼び出します。オシロスコープがアーミングされているか確認します。 9. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、[Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [RESUME] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてハブをサスペンドからリジュームします。捕 捉されたリジュームの遷移は、下の図のようになります。 40 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 ハブの High Speed へのリジューム 10. ハブがHigh Speedモードへリジュームします。これはホスト・コントローラによりドライブされるK状 態に続いてHigh Speed SOFパケット (公称振幅は400mV) があることから分かります。公称振幅が400mV のSOFがあることが、ハブがHigh Speed動作を再開したことを示します。合否をEL_40に記録します。 ハブが High Speed での動作からリセットされた後に High Speed 動作を再開したことを確認するステップは 次のとおりです。 11. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、RSTFHS1&3.SETオシロスコープ設 定を呼び出します。 12. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、[Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [RESET] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてHigh Speedで動作しているハブをリセットしま す。捕捉されたリジュームの遷移は、下の図のようになります。 41 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 Device Chirp K High Speed からのリセットに応答するハブの Chirp-K 13. リセットに続いてデバイスがチャープ・ハンドシェークを送信します。リセット前の最後のSOFの始め と、デバイスChirp-Kの始めの間の時間を測定します。これが3.1msと6msの間か確認します。合否を EL_27に記録します。 サスペンドからリセットされた後のハブのチャープ応答を確認するステップは次のとおりです。 14. [File] プル・ダウン・メニューから [Load] >> [Setup…] を選択して、RSTRSUSP1&3.SETオシロスコープ 設定を呼び出します。 15. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、[Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [SUSPEND] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてデバイスをサスペンドにします。 42 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 ハブサスペンド 16. オシロスコープがアーミングされているか確認します。オシロスコープの [sweep] ボタンを押してデバ イスがまだサスペンド状態にあることを確認することで、トリガを“Auto”に設定します。D+は公称値 で3.3Vでなければなりません。D-は0.7V未満でなければなりません。終わったら、[sweep] ボタンを押 してトリガを“Trig’d”に戻します。 17. オシロスコープがアーミングされているか確認します。[HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、 [Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [RESET] を選択します。 [EXECUTE] を1回クリック してデバイスをサスペンドからリセットします。キャプチャされたサスペンドからリセットへの遷移は、 下の図のようになります。 ハブのサスペンドからのリセット 43 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 デバイスのサスペンドからのリセット 18. ハブはChirp-Kによりリセットに応答します。D+の立ち下がりエッジとデバイスChirp-Kの始めの間の時 間を測定します。これが2.5μsと3msの間か確認します。合否をEL_28に記録します。 4.14 ハブ・ 、SE0_NAK: アップストリーム側ポート (EL_8、 、 EL_9) ハブ・テスト J/K、 1. 5V電源をHigh Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャのJ8に接続します。 2. 緑のPOWER LED (D1) が点灯し、黄色のテストLED (D2) はオフであることを確認します。 3. High Speedデバイス信号品質テスト・フィクスチャの[TEST PORT] を被試験ハブのアップストリーム側 ポートに接続します。テスト・フィクスチャの [INIT PORT] をテスト・ベッド・コンピュータのポート に接続します。ハブの電源を入れます。[Enumerate Bus] ボタンを1回クリックします。ハブが [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューに表示されているか確認します。 4. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、[Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [TEST_J] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてハブをTEST_Jテスト・モードにします。 44 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 5. テスト・フィクスチャをTESTの位置に切り替えます。DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11が グランド・ピンです) を基準としたD+ ラインのDC電圧をJ7で測定します。セクションEL_8に記録しま す。 6. DVMを使用して、グランドを基準としたD-ラインのJ7のDC電圧を測定します。セクションEL_8に記録 します。テスト・スイッチをNORMALの位置に戻します。 7. ハブの電源を入れ直します。これにより、ハブが通常動作に戻ります。 8. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで、[Hub Command] ドロップ・ダウン・メニューから [TEST_K] を選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてハブをTEST_Kテスト・モードにします。 9. テスト・フィクスチャをTESTの位置に切り替えます。DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11が グランド・ピンです) を基準としたD+ ラインのDC電圧を測定します。セクションEL_8に記録します。 10. DVMを使用して、グランドを基準としたD-ラインのJ7のDC電圧を測定します。セクションEL_8に記録 します。テスト・スイッチをNORMALの位置に戻します。 11. ハブの電源を入れ直します。これにより、ハブが通常動作に戻ります。 12. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで [Enumerate Bus] を1回クリックします。[Hub Command] ド ロップ・ダウン・メニューからTEST_SE0_NAKを選択します。[EXECUTE] を1回クリックしてハブを TEST_SE0_NAKテスト・モードにします。 13. テスト・フィクスチャをTESTの位置に切り替えます。DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11が グランド・ピンです) を基準としたD+ ラインのDC電圧を測定します。セクションEL_9に記録します。 14. DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11がグランド・ピンです) を基準としたD-ラインのDC電圧 をJ7で測定します。セクションEL_9に記録します。テスト・スイッチをNORMALの位置に戻します。 15. 以後のテスト用にハブを準備するためにハブの電源を入れ直します。 45 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 4.15 Revision 1.0 ハブ・ 、SE0_NAK: ダウンストリーム側ポート (EL_8、 、EL_9) ハブ・テストJ/K、 テスト 1. 5V電源をホスト信号品質テスト・フィクスチャ (J8) に接続し、緑のPOWER LED (D1) が点灯している か確認します。テスト・スイッチ (S1) をTESTの位置にします。黄色のTEST LEDが点灯しているか確 認します。 2. テスト・フィクスチャを被試験ダウンストリーム側ポートに取り付けます。ハブの電源を入れます。 3. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで [Enumerate Bus] を1回クリックします。[Port Command] ド ロップ・ダウン・メニューからTEST_Jを選択します。ポート番号を入力し、[EXECUTE] を1回クリッ クして被試験ポートをTEST_Jテスト・モードにします。 4. DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11がグランド・ピンです) を基準としたD+ ラインのDC電 圧をJ7で測定します。セクションEL_8に記録します。 5. DVMを使用して、グランドを基準としたD-ラインのJ7のDC電圧を測定します。セクションEL_8に記録 します。 6. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで [Enumerate Bus] を1回クリックします。[Port Command] ド ロップ・ダウン・メニューからTEST_Kを選択します。ポート番号を入力し、[EXECUTE] を1回クリッ クして被試験ポートをTEST_Kテスト・モードにします。 7. DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11がグランド・ピンです) を基準としたD+ ラインのDC電 圧をJ7で測定します。セクションEL_8に記録します。 8. DVMを使用して、グランドを基準としたD-ラインのJ7のDC電圧を測定します。セクションEL_8に記録 します。 9. [HS Electrical Test Tool – Hub Test] メニューで [Enumerate Bus] を1回クリックします。[Port Command] ド ロップ・ダウン・メニューからTEST_SE0_NAKを選択します。ポート番号を入力し、[EXECUTE] を1回 クリックして被試験ポートをTEST_SE0_NAK テスト・モードにします。 10. DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11がグランド・ピンです) を基準としたD+ ラインのDC電 圧をJ7で測定します。セクションEL_9に記録します。 11. DVMを使用して、グランド (ピンJ10およびJ11がグランド・ピンです) を基準としたD-ラインのDC電圧 をJ7で測定します。セクションEL_9に記録します。 46 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 12. ステップ2からステップ11までを残りのポートで繰り返します。 注記: 注記 特定のポートは、テスト・モード・コマンドがハブに対して数回発行されると特定のテスト・モード に入れなくなります。ハブの電源を入れ直すとこの問題はなくなります。 47 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 付録A 付録 A.4 High Speedモード対応ハブの電気テスト モード対応ハブの電気テスト・ モード対応ハブの電気テスト・データ このセクションは、実際のテスト結果を記録するためのものです。テストする各デバイスごとにコピーを使 用してください｡ A.4.2 ベンダおよび製品の情報 すべての欄に記入してください｡チップ情報が分からない場合はチップ・メー カに連絡してください｡ テスト日付 ベンダ名 ベンダの住所 ベンダの電話番号 ベンダの担当者、役職 テスト ID 番号 製品名 製品のモデルおよびリビジョン USB チップ・ベンダ名 USB チップ・モデル USB チップ・パーツ・マーキング USB チップ・ステッピング テスト者 48 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium A.4.3 Revision 1.0 レガシーUSB レガシーUSBコンプライアンス・テスト USBコンプライアンス・テスト レガシーUSB コンプライアンス・テスト レガシー レガシーテスト 合否 コメント LS SQ (ダウンスト リーム) FS SQ (アップスト リームおよびダウ ンストリーム) 突入 (アップストリ ーム) ドロップ/ドループ (ダウンストリーム) 相互運用性 P = 合格 F = 不合格 N/A = 適用されず A.4.4 High Speedハブ信号品質 ハブ信号品質: 、EL_46、 、EL_6、 、EL_7) ハブ信号品質 アップストリーム側ポート (EL_2、 EL_2 USB 2.0 High Speed トランスミッタ・データ・レートは、480 Mb/s ±0.05%でなければなりません。 参照文書: 参照文書 USB 2.0仕様、セクション7.1.11. q 合格 q不合格 q N/A コメント EL_46 ハブ・アップストリーム・リピータは、TP3 で測定されたテンプレート 1 に変換された波形要件を 満たす必要があります。 49 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_6 USB 2.0 HS ドライバの 10%から 90%への差動立ち上がり時間および立ち下がり時間は 500ps より 長くなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_7 USB 2.0 HS ドライバのデータ遷移は、適切なアイ・パターン・テンプレートで指定されている縦 の開口部に渡って単調でなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.5 High Speedハブ信号品質 ハブ信号品質: 、EL_3、 、EL_6、 、EL_7) ハブ信号品質 ダウンストリーム側ポート(EL_2、 ダウンストリーム側ポート EL_2 USB 2.0 High Speed トランスミッタ・データ・レートは、480 Mb/s ±0.05%でなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. ポート P1 合格 不合格 NA 全体の結果: 全体の結果 q 合格 q 不合格 q N/A コメント 50 P2 P3 P4 P5 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EL_3 USB 2.0 ダウンストリーム側ポートは、TP2 (各ハブ・ダウンストリーム・ポート) で測定されたテ ンプレート 1 に変換された波形要件を満たす必要があります。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格 不合格 NA 全体の結果: 全体の結果 q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_6 USB 2.0 HS ドライバの 10%から 90%への差動立ち上がり時間および立ち下がり時間は 500ps より 長くなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格 不合格 NA q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_7 USB 2.0 HS ドライバのデータ遷移は、適切なアイ・パターン・テンプレートで指定されている縦 の開口部に渡って単調でなければなりません。 参照文書: 参照文書 USB 2.0仕様、セクション7.1.2.2. ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格 不合格 NA 51 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.6 ハブ・ ハブ・ジッタ: ジッタ: ダウンストリーム側ポート (EL_47) EL_47 USB 2.0 ダウンストリーム側リピータは、TP2 (各ハブ・ダウンストリーム・ポート) で測定された テンプレート 1 に変換された波形要件を満たす必要があります。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.14.2. ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格 不合格 NA 全体: 全体 q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.7 ハブディスコネクト検出 (EL_36、 、EL37) EL_37 USB 2.0 ダウンストリーム側ポートは、ダウンストリーム側ドライバのコネクタにおける差動信号 が≦525 mV の場合には High Speed 切断状態を検出してはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.3. ポート P1 合格 不合格 NA 全体: 全体 q 合格 q 不合格 q N/A コメント 52 P2 P3 P4 P5 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EL_36 USB 2.0 ダウンストリーム側ポートは、ダウンストリーム側ドライバのコネクタにおける差動信号 が≧625 mV の場合に High Speed 切断状態を検出しなくてはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.3. ポート P1 P2 P3 P4 P5 合格 不合格 NA 全体: 全体 q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.8 ハブ・ 、EL_22、 、EL_25) ハブ・パケット・ パケット・パラメータ: パラメータ: アップストリーム側ポート (EL_21、 EL_21 送信されるすべてのパケットの SYNC フィールド (繰り返しパケットではない) が、32 ビット SYNC フィールドで始まっていなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション8.2. データ・ フィールド データ・パケットSYNCフィールド パケット q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_25 送信されたすべてのパケットの EOP(SOF を除く)がビット・スタッフィングなしの 8 ビット NRZ バイトの 01111111 でなければなりません(より長い EOP は除外できることに注意してください)。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.13.2 q 合格 q 不合格 q N/A コメント 53 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EL_22 パケットを受信した後に送信する場合、ホストとデバイスは、パケット間のギャップが最低限 8 ビ ット時間、かつ 192 ビット時間未満でなければなりません。 参照文書 参照文書: 文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.18.2. q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.9 ハブ・ 、EL_17、 、EL_18) ハブ・レシーバ感度: レシーバ感度: アップストリーム側ポート (EL_16、 EL_18 High Speed モード対応デバイスの送信エンベロープ・ディテクタは、HS レシーバによるデータ送 信の検出、DLL のロック、12 ビット時間以内での SYNC フィールドの終わりの検出が可能となる程度に十 分に速くなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_17 High Speed モード対応デバイスは、レシーバが 150mV の差動振幅を超えた場合にスケルチを示さ ない (すなわち確実にパケットを受信する) 送信エンベロープ・ディテクタを実装していなくてはなりませ ん。 注記: 注記 150mV 差動振幅の±50mV においてスケルチをレシーバが示さなくてもテストの許容範囲と見なされ ます。これは、レシーバ・ピンから遠くにあるオシロスコープ・プローブ・ポイントを補償するためです。 参照文書 参照文書: 文書: USB 2.0仕様、セクション7.1. q 合格 q 不合格 q N/A コメント 54 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EL_16 High Speed モード対応デバイスは、レシーバの入力が 100mV の差動振幅未満になった場合にスケ ルチを示す (すなわち決してパケットを受信しない) 送信エンベロープ・ディテクタを実装していなくては なりません。 注記: 注記 100mV 差動振幅の±50mV においてスケルチをレシーバが示せばテストの許容範囲と見なされます。 これは、レシーバ・ピンから遠くにあるオシロスコープ・プローブ・ポイントを補償するためです。 参照文書: 参照文書 USB 2.0仕様、セクション7.1. q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.10 ハブ・ 、EL_43、 、EL_44、 、EL_45、 、 ハブ・リピータ・ リピータ・テスト: テスト ダウンストリーム側ポート (EL_42、 EL_48) EL_48 ハブ・リピータによるパケットの遅延は、36 ビット時間+4ns を超えてはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.14.2 q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_42 ハブ・リピータによる繰り返し SYNC パターンからの切り捨てが 4 ビットを超えてはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.10 q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_43 ハブが SYNC フィールドの繰り返しビットを破損させてはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.10 q 合格 q 不合格 q N/A コメント 55 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EL_44 ハブは、パケットを繰り返す際に EOP フィールドの終わりに最大で 4 つのランダム・ビットを加 えることができます。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.13.2 q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_45 ハブは、パケットを繰り返す際に有効な EOP ビットを破損させてはなりません。 参照文書 参照文書: 文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.13.2 q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.11 ハブ・リピータ・テスト: 、EL_43、 、EL_44、 、EL_45) ハブ・リピータ・テスト アップストリーム側ポート (EL_42、 EL_42 ハブ・リピータによる繰り返し SYNC パターンからの切り捨てが 4 ビットを超えてはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.10 q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_43 ハブが SYNC フィールドの繰り返しビットを破損させてはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.10 q 合格 q 不合格 q N/A コメント 56 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EL_44 ハブは、パケットを繰り返す際に EOP フィールドの終わりに最大で 4 つのランダム・ビットを加 えることができます。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.13.2 q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_45 ハブは、パケットを繰り返す際に有効な EOP ビットを破損させてはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.13.2 q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.12 ハブCHIRPタイミング タイミング: 、EL_29、 、EL_31) ハブ タイミング アップストリーム側ポート (EL_28、 EL_28 デバイスは、中断または Full Speed 状態からリセットされてから 2.5μs を超え、かつ 3ms 未満でチ ャープ・ハンドシェークを送信しなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_29 デバイスにより生成されるチャープ・ハンドシェークは、持続時間で最低限 1ms、かつ 7ms 以下で なければなりません 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント 57 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EL_31 デバイス・スピード検出中では、デバイスが有効な Chirp K-J-K-J-K-J シーケンスを検出した場合、 このデバイスは 500μs 以内にその 1.5kΩプルアップ抵抗を切り離して高速ターミネーションを有効にしな くてはなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.13 ハブサスペンド/リジューム 、 ハブサスペンド リジューム/リセット リジューム リセット・ リセット・タイミング: タイミング アップストリーム側ポート(EL_27、 アップストリーム側ポート EL_28、 、EL_38、 、EL_39、 、EL_40) EL_38 デバイスは、バス上で 3ms のアイドル時間があれば、その後 125μs 以内に Full Speed ターミネー ションに戻らなければなりません。 参照文書 参照文書: 文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.6. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_39 デバイスはサスペンド状態をサポートしていなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.6. q 合格 q 不合格 q N/A コメント 58 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 EL_40 デバイスがサスペンド状態にあり、サスペンドする前に High Speed モードで動作していた場合、 このデバイスはリジュームシグナリングの終わりから 2 ビット時間以内に High Speed 動作に戻らなければ なりません。 注記: 注記 ハブがリジュームシグナリングの終わりから 2 ビット時間以内に High Speed 動作に戻るのを測定する ことは不可能です。このテストでは、再開シグナリングに続いて公称 400mV の振幅の SOF があることで十 分です。 参照文書 参照文書: 文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.7. q 合格 q 不合格 q N/A EL_27 デバイスは、サスペンドされていない High Speed モードからリセットされてから 3.1ms を超え、か つ 6ms 未満でチャープ・ハンドシェークを送信しなければなりません。このタイミングは、リセットが始 まる前に送信された最後の SOF の始めから測定します。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_28 デバイスは、サスペンドまたは Full Speed 状態からリセットされてから 2.5μs を超え、かつ 3ms 未 満でチャープ・ハンドシェークを送信しなければなりません。 参照文書 参照文書: 文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.7.5. q 合格 q 不合格 q N/A コメント: A.4.14 ハブ・ 、SE0_NAK: アップストリーム側ポート (EL_8、 、EL_9) ハブ・テストJ/K、 テスト EL_8 D+または D-のいずれかがハイになった場合、45Ω抵抗でグランドに終端されているときの出力電 圧は 400mV±10%でなければなりません。 59 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.1.3. テスト D+電圧 電圧 (mV) D-電圧 電圧 (mV) J K q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_9 D+または D-のいずれかがドライブされていない場合、45Ω抵抗でグランドに終端されているとき の出力電圧は 0V±10mV でなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.1.3. 電圧 (mV) D+ D- q 合格 q 不合格 q N/A コメント A.4.15 ハブ・ 、SE0_NAK: ダウンストリーム側ポート (EL_8、 、EL_9) ハブ・テストJ/K、 テスト EL_8 D+または D-のいずれかがハイになった場合、45Ω抵抗でグランドに終端されているときの出力電 圧は 400mV±10%でなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.1.3. 1 ポート テスト TEST_J TEST_K 60 D+ 2 D- D+ 3 D- D+ 4 D- D+ 5 D- D+ D- Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 q 合格 q 不合格 q N/A コメント EL_9 D+または D-のいずれかがドライブされていない場合、45Ω抵抗でグランドに終端されているとき の出力電圧は 0V±10mV でなければなりません。 参照文書: 参照文書: USB 2.0仕様、セクション7.1.1.3. 1 ポート 信号 D+ 2 D- D+ 3 D- D+ 4 D- D+ 5 D- D+ D- WRT グランド の測定 (mV) q 合格 q 不合格 q N/A コメント 61 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium Revision 1.0 付録B 付録B B.1 81130A DSG用の設定ファイルの作成手順 用の設定ファイルの作成手順 このセクションでは、81130A DSG 用の設定ファイル“IN_ADD1.ST0”および“MIN_ADD1.ST0”を説明します。 設定ファイルの保存にはオプションの 1MB SRAM メモリカードが必要です。 (オプション UFJ) B.1.1 “IN_ADD1.ST0”設定ファイル 設定ファイル “IN_ADD1.ST0”設定ファイルは、32 ビット sync フィールド・パケット・パターンを持つ IN TOKEN 用です。 1. [SHIFT] キー+ [STORE (RECALL)] キーを押して0を選択すると、 81130Aがデフォルト設定に リセットされます。 2. [MODE/TRG] ソフトキーを選択し、カーソルとノブを使用して次のように設定します。 CONTINUOUS PATTERN Pulses NRZ Out 1: of Out2: NRZ PRBS Polynom : 2^7 –1 Trigger Output at Segm1 Start 3. [TIMING] ソフトキーを選択します。カーソルをPerに移動し、回転ノブを使用してFreq に変更 します。 周波数を480MHzに設定します。 4. [LEVELS] ソフトキーを選択し、カーソルとノブを使用して次のように設定します。 Ch 1 Ch 2 Separate Outputs 5. 62 High +800mV High +800mV Low +0mV Low +0mV [PATTERN] ソフトキーを選択して、次のように設定します。 Segment Length Loopcnt 1 32 1 2 32 3 896 4 0 Update Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium 6. Revision 1.0 各セグメントを次のように定義します。 Segment 1: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 CH2 1 0 1 1 0 0 0 1 1 0 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 Segment 2: Segment 3: すべてを0に設定 7. [SHIFT] キーの後に [0] キーでOUTPUT1に、[SHIFT] キーの後に [+/-] キーでOUTPUT2にデー タ・ジェネレータは出力を開始します。 8. メモリカードを81130Aに差し込みます。[MEMCARD] ソフトキーを選択します。メニューに [MEMCARD] がない場合は、[MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモ リの内容が画面上に表示されます。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、ノブを回して [Store] を選択します。次に [ENTER] キーを押します。ノブを回してファイル名をIN_ADD1と して入力し、次に [ENTER] を押してメモリ・カードに保存します。 63 Hub High Speed Electrical Test Procedure for Agilent Infiniium B.1.2 Revision 1.0 “MIN_ADD1.ST0”設定ファイル 設定ファイル “MIN_ADD1.ST0”設定ファイルは、12 ビット sync フィールド・パケット・パターンを持つ IN TOKEN 用で す。 1. メモリカードを81130Aに差し込みます。[MEMCARD] ソフトキーを選択します。メニューに [MEMCARD] がない場合は、[MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモ リの内容が画面上に表示されます。カーソルと回転ノブを使用して、IN_ADD1.ST0設定ファ イルを選択します。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、ノブを回して [Recall] を選択 します。次に、[ENTER] キーを押してロードします。 2. [PATTERN] ソフトキーを選択し、1つ目のセグメントを次のように変更します。 Segment 1: 3. 64 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 CH1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 CH1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 CH2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 CH1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 CH2 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 [MEMCARD] ソ フ ト キ ー を 選 択 し ま す 。 メ ニ ュ ー に [MEMCARD] が な い 場 合 は 、 [MEMCARD] が表示されるまで [MORE] キーを押します。メモリの内容が画面上に表示され ます。カーソルを [Perform Operation] まで移動し、ノブを回して [Store] を選択します。次に [ENTER] キ ー を 押 し ま す 。 ノ ブ を 回 し て フ ァ イ ル 名 を MIN_ADD1 と し て 入 力 し 、 次 に [ENTER] を押してメモリ・カードに保存します。